一种低压差线性稳压器校准的方法
【技术领域】
[0001]本发明属于单片机的技术领域，特别涉及一种低压差线性稳压器的校准方法。
【背景技术】
[0002]随着市场应用对存储器擦写次数需求的提高，flash等支持多次擦除的存储器在单片机得到广泛应用。由于flash对电压要求较高，因此选择低压差线性稳压器LD0( lowdropout regulator)为其供电是一种比较普遍的方法。
[0003]由于制造工艺本身的偏差，导致相同电压下每一颗芯片中，LD0供给flash的电压偏离中心值幅度不同，部分偏离较大的芯片因超出flash正常工作所需电压范围而不能正常工作。因此，常采用trimming校准的方法将LD0校正到flash正常工作电压中心值，并且将trimming值预先存储在flash的某个地址。上电后读出存放在Flash中的trimming值对LD0进行校正，然后再进入正常工作。通过此方法，可以减少工艺偏差等原因导致的芯片无法正常工作，提高芯片的良率。然而系统上电后，若LD0实际供电电压偏离flash正常工作电压范围，无法正确读取存放在flash中的trimming值，从而也无法正常工作。
[0004]如专利申请201310382976.5公开了一种应用于两点调制的数/模转换器的校准方法，该校准方法包括:获取用于校准数/模转换器增益的控制信号的取值范围；利用二分法处理所述取值范围并从中确定所述控制信号的校准输出值。由于该申请采用二分法的方式确定用于校准数/模转换器增益的控制信号的取值，因此可以极大地缩短数/模转换器的校准时间、以及提高数/模转换器的校准效率。
[0005]
【发明内容】
[0006]因此本发明的首要目地是提供一种低压差线性稳压器校准的方法，该方法可以使得LD0初始输出电压落在flash正常工作所需电压范围外部分芯片可以正常工作，而不成为废片。
[0007]本发明的另一个目地在于提供一种低压差线性稳压器校准的方法，该低电压检测电路可以提尚芯片良率，降低成本。
[0008]为实现上述目的，本发明的技术方案为:
[0009]一种低压差线性稳压器校准的方法，该方法包括步骤有:
[0010]101.首先存储LDO trimming值到flash中时，同时存储一个LD0密钥到flash的另一个地址；
[0011]102.上电后，LD0硬件Trimming模块首先从flash读取LD0密钥，并根据所读取到的LD0密钥是否正确来确定是否调整LD0输出电压；
[0012]103.当读取到的LD0密钥不正确，则通过二分法调整LD0输出电压LD0_VDD，待LD0_VDD稳定，再次读取LD0密钥；
[0013]104.当读取到正确的LD0密钥后，认为当前LD0输出电压可以支持flash正常读取，接下来读取存放在flash当中的LDO trimming值，将LDO输出电压调整到电压中心值；
[0014]105.进入正常工作。
[0015]所述的LD0密钥可以为已知的任意序列。
[0016]步骤102中，上电时默认的Trimming值对应理想状态LD0输出电压中心值。
[0017]更进一步，所述方法具体为:
[0018]201、给单片机供电后，电压达到工作电压，LD0开始工作。
[0019]202、LD0使用LD0硬件Trimming模块传送的默认Trimming值输出“LD0默认输出电压①” LD0_VDDo
[0020]203、LD0硬件Trimming模块在LD0_VDD稳定后读取存储在Flash中的密钥。
[0〇21 ] 204、LD0硬件Trimming模块判断所读取到的密钥是否正确。
[0〇22] 205、密钥不正确，贝IjLDO硬件Trimming模块改变输出给LD0模块的Trimming值，依次使其输出LD0硬件校正后输出电压②” LD0硬件校正后输出电压③” LD0硬件校正后输出电压④”LD0硬件校正后输出电压⑤”。跳转到执行步骤203。
[0023]206、密钥正确。则读取存储在Flash中的LDO Trimming值。
[0024]207、将读取到的LDO Trimming值发送给LD0。
[0025]208、待LD0_VDD稳定后，进入正常工作。
[0026]由此，本发明具有如下技术效果:
[0027]1、可以使得LD0初始输出电压落在flash正常工作所需电压范围外部分芯片可以正常工作，而不成为废片。
[0028]2、提高芯片良率，降低成本。
【附图说明】
[0029]图1是本发明所实施的硬件结构图。
[0030]图2是本发明所实施的校准原理图。
[0031 ]图3是本发明所实施的几种情况的校准示意图。
[0032]图4是本发明所实施的控制过程图。
【具体实施方式】
[0033]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0034]图1所示，为本发明所实施LD0硬件校准所包括的硬件电路结构。主要包括UXKLD0硬件Trimming模块和存储单元flash。各电路单元的功能如下:
[°035] LD0:当接电源电压VDD后，根据LD0硬件Trimming模块所发送的trimming值产生供Flash使用的LD0输出电压LD0_VDD。
[0036]LDO硬件Trimming模块:读取存储在Flash中的LDO密钥、LDOtrimming值，提供LD0Trimming 值给 LD0，从而改变 LD0_VDD。
[0037]存储单元Flash:用来存放LD0密钥、使LD0_VDD等于Flash正常工作的中心电压所对应的LDO trimming值。
[0038]主要的实现方案如下:
[0039]101.首先存储LDO trimming值到flash中时，同时存储一个LD0密钥到另一个地址。LD0密钥可以为已知的任意序列。
[0040]102.上电后，LD0硬件Trimming模块首先读取LD0密钥，并根据所读取到的LD0密钥是否正确来确定是否调整LD0输出电压。
[0041 ] 103.当读取到的LD0密钥不正确，则通过二分法调整LD0输出电压LD0_VDD，待LD0_VDD稳定，再次读取LDO密钥。上电时默认的Trimming值对应理想状态LD0输出电压中心值。
[0042]104.当读取到正确的LD0密钥后，认为当前LD0输出电压可以支持flash正常读取，接下来读取存放在flash当中的LDO trimming值，将LD0输出电压调整到电压中心值。电压稳定后进入正常工作。
[°°43] 所述二分法Trimming的原理如图2所示。
[0044]电源电压VDD拉高后，LD0会使用LD0硬件Trimming模块给出的默认Trimming值产生LD0_VDD供FLASH使用，即附图2中“LD0默认输出电压①”电压；当该LD0_VDD电压不处于Flash工作电压范围，则LD0硬件Trimming模块从Flash中读取的LD0密钥不正确。
[0045]LD0硬件Trimming模块判断所读取的LD0密钥不正确后，输出附图2中“LD0硬件校正后输出电压②”所对应LDO Trimming值给LD0，以产生“LD0硬件校正后输出电压②”电压LD0_VDD供Flash使用;待电压稳定后，LD0硬件Trimming模块再次读取LD0密钥。
[0046]如读取密钥不正确，则依次调整Trimming值使LD0产生附图2中“LD0硬件校正后输出电压③” “LD0硬件校正后输出电压④” “LD0硬件校正后输出电压⑤”所对应LD0_VDD继续读取。“LD0硬件校正后输出电压④” “LD0硬件校正后输出电压⑤”分别对应“LD0默认输出电压①”到“LD0硬件校正后输出电压②”和“LD0硬件校正后输出电压③”的二分之一电压。
[0047]通过上述方法。可以对“LD0默认输出电压①” LD0_VDD不处于Flash正常工作电压要求范围的芯片进行校准，使其可以正常工作。
[0048]图3中是其中的几种校准的情况。
[0049 ]具体的实现过程如图4所示。
[0050]201、给单片机供电后，电压达到工作电压，LD0开始工作。
[0051 ] 202、LD0使用LD0硬件Trimming模块传送的默认Trimming值输出“LD0默认输出电压①” LD0_VDDo
[0052]203、LD0硬件Trimming模块在LD0_VDD稳定后读取存储在Flash中的密钥。
[°°53] 204、LD0硬件Trimming模块判断所读取到的密钥是否正确。
[0〇54] 205、密钥不正确，贝IjLDO硬件Trimming模块改变输出给LD0模块的Trimming值，依次使其输出LD0硬件校正后输出电压②” LD0硬件校正后输出电压③” LD0硬件校正后输出电压④”LD0硬件校正后输出电压⑤”。跳转到执行步骤203。
[0055]206、密钥正确。则读取存储在Flash中的LDO Trimming值。
[0056]207、将读取到的LDO Trimming值发送给LD0。
[0057]208、待LD0_VDD稳定后，进入正常工作。
[0058]通过本发明，可以使得LD0初始输出电压落在flash正常工作所需电压范围外部分芯片可以正常工作，而不成为废片。同时还能够提高芯片良率，降低成本。
[0059]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种低压差线性稳压器校准的方法，该方法包括步骤有: .101.首先存储LDO trimming值到flash中时，同时存储一个LDO密钥到flash的另一个地址； .102.上电后，LDO硬件Trimming模块首先从flash读取LDO密钥，并根据所读取到的LDO密钥是否正确来确定是否调整LDO输出电压； .103.当读取到的LD0密钥不正确，则通过二分法调整LD0输出电压LD0_VDD，待LD0_VDD稳定，再次读取LDO密钥； .104.当读取到正确的LD0密钥后，认为当前LD0输出电压可以支持flash正常读取，接下来读取存放在flash当中的LDO trimming值，将LD0输出电压调整到电压中心值； .105.进入正常工作。2.如权利要求1所述的低压差线性稳压器校准的方法，其特征在于所述的LD0密钥可以为已知的任意序列。3.如权利要求1所述的低压差线性稳压器校准的方法，其特征在于所述步骤102中，上电时默认的Trimming值对应理想状态LD0输出电压中心值。4.如权利要求1所述的低压差线性稳压器校准的方法，其特征在于所述方法具体为: .201、给单片机供电后，电压达到工作电压，LD0开始工作； .202、LD0使用LD0硬件Trimming模块传送的默认Trimming值输出“LD0默认输出电压①”LD0_VDD； .203、LD0硬件Trimming模块在LD0_VDD稳定后读取存储在Flash中的密钥； .204、LDO硬件Trimming模块判断所读取到的密钥是否正确； .205、密钥不正确，贝ijLDO硬件Trimming模块改变输出给LDO模块的Trimming值，依次使其输出LD0硬件校正后输出电压②” LD0硬件校正后输出电压③” LD0硬件校正后输出电压④” LD0硬件校正后输出电压⑤”，然后跳转到执行步骤203; .206、密钥正确，则读取存储在Flash中的LDOTrimming值； .207、将读取到的LDOTrimming值发送给LD0； .208、待LD0_VDD稳定后，进入正常工作。
【专利摘要】本发明公开了一种低压差线性稳压器校准的方法，该方法首先存储LDO？trimming值到flash中时，同时存储一个LDO密钥；上电后，首先从flash读取LDO密钥，并根据所读取到的LDO密钥是否正确来确定是否调整LDO输出电压；当读取到的LDO密钥不正确，则通过二分法调整LDO输出电压LDO_VDD；当读取到正确的LDO密钥后，认为当前LDO输出电压可以支持flash正常读取，接下来读取存放在flash当中的LDO？trimming值，将LDO输出电压调整到电压中心值；进入正常工作。本发明使得LDO初始输出电压落在flash正常工作所需电压范围外部分芯片可以正常工作，同时还能够提高芯片良率，降低成本。
【IPC分类】G05F1/565
【公开号】CN105446410
【申请号】CN201510848482
【发明人】秦宗庆
【申请人】深圳市芯海科技有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月27日