一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法

文档序号:255651阅读:1702来源:国知局
一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法
【专利摘要】本发明涉及一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法,即梨树高接后第二年春季,在树冠上选择超长枝进行刻芽,使得其上发生的新梢长势更加均匀,中短枝比例和成花量显著增加,长枝基部发生部分中长枝,有助于延长结果枝组寿命,对于提早恢复产量和保持高产稳产具有良好的效果。
【专利说明】一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。
【背景技术】
[0002]梨树髙接换优是我国生产上常用的技术。梨树高接后树冠往往发生大量的超长枝。在自然生长状态下,第二年枝条生长仍较旺,枝条两级分化严重,成花量较少,且原超长枝的下部常出现短枝,由于结果年限较短,易导致结果部位外移。
[0003]针对上述问题,本发明对高接后树冠发生的所有超长枝进行刻芽,促使长枝上发生的新梢长势更加均匀,不仅中短枝比例显著增加,而且刻芽后长枝的下部能够抽生部分中、长枝,这样,能够有效地延长结果枝组寿命,在一定程度上控制了结果部位的外移。

【发明内容】

[0004]本发明建立了一种用于高接梨树侧生超长枝刻芽的方法。
[0005]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:梨树髙接后第二年春季,选择树冠上发生的超长枝,于萌芽前进行刻芽,从而达到促进枝量增加和花芽形成、有效控制结果部位外移的目的。采用本发明技术后,高接树树势缓和加快,产量恢复快,树冠立体结果能力强。
[0006]本发明的具体内容,即一种高接梨树侧生超长枝刻芽的方法如下:
1、超长枝选择:选择高接树树冠上抽生的长度在80cm以上、基部直径在0.6cm以上的枝条。
[0007]2、刻芽时期:春季梨树萌芽前一周内。
[0008]3、拉枝开角:如果超长枝角度小于45°,先将其拉至70°、0°。
[0009]4、刻芽方法:在超长枝上,除了顶端30cm不刻芽外,对其上所有的芽均进行刻伤处理。刻芽工具可采用壁纸刀或长柄手术刀。对于超长枝两侧和背下芽,刻芽部位在芽上方0.5cm处;对于超长枝的背上芽,刻芽部位则在芽下方0.5cm处,刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3,深达木质部。
[0010]本发明专利的有益效果是:采用上述刻芽方法,加速了髙接梨树生长势缓和,当年成花量显著增加,产量恢复快,结果部位不易外移。
【具体实施方式】
[0011]2008~2012年,对 河北蠡县、晋州、高阳、山西太谷等地髙接梨园树冠发生的超长枝,于翌年春季萌芽前进行了刻芽,对于长枝两侧和背下芽,刻芽部位在芽上方0.5cm处,对于长枝的背上芽,刻芽部位则在芽下方0.5cm处,刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3,深达木质部。刻芽效果表明:刻芽后超长上发生的新梢势力比较均匀,中短枝比例和成花量显著提高,长枝基部发生了一些中长枝,有效地控制了结果部位外移。
【权利要求】
1.一种高接梨树侧生超长枝刻芽方法,其特征在于包括以下几个步骤: (1)刻芽对象梨树高接后第二年春季萌芽前,选择长度在80cm以上,粗度在0.6cm以上的侧生枝条作为刻芽对象; (2)刻芽时间与部位萌芽前一周,对树上所有的侧生超长枝进行刻芽,每个长枝除了顶端30cm部位不刻芽外,对其它所有的芽均刻伤;(3)刻芽方法超长枝条上的侧生和背下芽在芽上方0.5cm处刻,背上芽则在芽下方.0.5cm处刻,刻伤长度为枝条周长的1/2~2/3,深达木质部。
【文档编号】A01G7/06GK103999705SQ201410255918
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年6月11日 优先权日:2014年6月11日
【发明者】李英丽, 张建光, 许建锋, 张玉星, 张江红 申请人:河北农业大学
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