专利名称：一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法
技术领域：
本发明涉及服饰领域，尤其涉及一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法。
背景技术：
服装人体工学有两个主要的研究思路。一是从服用性能的角度出发，研究服装与 服装材料的热、湿传递性能和触感舒适性；一是从服装合体性的角度出发，研究人体体型与 服装的关系。目前，服装合体性研究的主要对象是人体的躯干与四肢的形态与相应服装的 关系。而针对帽子合体性有关的人体头面部尺寸与帽子结构的专门研究还比较少，这其 中对于青少年头部尺寸的研究更是寥寥无几，这与我国将近3亿青少年的需求不符，更与 帽子在日常生活中发挥的作用是不相称。头部是人体功能器官的重要位置，安全感与舒适 感对人类活动产生重要影响。目前，在我国对于青少年帽子的生产，多数以经验为主或者直接借用日本或欧美 的尺寸，我国在对青少年头部尺寸的研究上还没有一个固定的标准，因此如何通过准确测 量来得到适合青少年头部尺寸的方法是本发明的申请人致力于研究的问题。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，而提供一种13-17岁青少年头部尺寸测 量方法，通过对实验数据的测量、统计和分析，得出了适合国内13-17岁青少年头部尺寸号 型，为帽子尺寸系列设计、帽子结构设计及其他帽子合体性研究提供了理论依据。实现上述目的的技术方案是一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法，其中，包括 以下步骤采集步骤，采用非接触式测量方法对若干个13-17岁青少年的头部进行测量，该 头部的测量项目包括头长、头矢状弧、斜头围、形态面长、全头高、头宽、耳屏间弧、头围；标准差计算步骤，分别计算每一测量项目的标准差；主参数选择步骤，根据标准差计算步骤中计算出的标准差来计算任意两个测量项 目的斜方差，选取斜方差最大的测量项目作为第一主参数，斜方差计算公式为两个测量项目的斜方差Sij = Si*Sj*Ri j ；其中，Si为测量项目i的标准差，Sj为测量项目j的标准差，Rij为测量项目i和 j的相关系数；第二主参数选择步骤，计算条件斜方差，计算时，需先排除第一主参数，选择条件 斜方差最大的项目作为第二主参数；中间号尺寸的确定步骤，在主参数和第二主参数中，选择覆盖率最大的范围来确 定中间号尺寸。上述的13-17岁青少年头部尺寸测量方法，其中，所述的头长为眉间点和枕后点之间的距离；
所述的头矢状弧为从眉间点经过头顶点到枕后点的弧长；所述的斜头围为发迹点绕过枕后点下2cm处的弧长；所述的形态面长为在冠状平面上通过两耳上附着点并绕过头顶的弧长；所述的全头高为头顶点到颊下点的垂直距离；所述的头宽为两耳上方与正中矢状面相垂直的头部最大宽度；所述的耳屏间弧为从一侧耳屏点越过头的冠状面到另一侧耳屏点的弧长；所述的头围为由眉间点绕过枕后点的最大周长。本发明的有益效果是本发明对头部进行测量，从帽子合体性研究为出发点，对头 部测量进行分析，为帽子尺寸系列设计、帽子结构设计及其他帽子合体性研究提供了理论 依据。
具体实施例方式下面将结合一实施例对本发明作进一步说明。一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法，包括以下步骤采集步骤，采用非接触式测量方法对若干个13-17岁青少年的头部进行测量，该 头部的测量项目包括头长、头矢状弧、斜头围、形态面长、全头高、头宽、耳屏间弧、头围，其 中头长为眉间点和枕后点之间的距离，头矢状弧为从眉间点经过头顶点到枕后点的弧长， 斜头围为发迹点绕过枕后点下2cm处的弧长，形态面长为在冠状平面上通过两耳上附着点 并绕过头顶的弧长，全头高为头顶点到颊下点的垂直距离，头宽为两耳上方与正中矢状面 相垂直的头部最大宽度，耳屏间弧为从一侧耳屏点越过头的冠状面到另一侧耳屏点的弧 长，头围为由眉间点绕过枕后点的最大周长；标准差计算步骤，分别计算每一测量项目的标准差；主参数选择步骤，根据标准差计算步骤中计算出的标准差来计算任意两个测量项 目的斜方差，选取斜方差最大的测量项目作为第一主参数，斜方差计算公式为两个测量项目的斜方差Sij = Si*Sj*Ri j ；其中，Si为测量项目i的标准差，Sj为测量项目j的标准差，Rij为测量项目i和 j的相关系数；第二主参数选择步骤，计算条件斜方差，计算时，需先排除第一主参数，选择条件 斜方差最大的项目作为第二主参数；中间号尺寸的确定步骤，在主参数和第二主参数中，选择覆盖率最大的范围来确 定中间号尺寸。在采集步骤中，头部被帽子覆盖的部分是一个曲面，它的形状和尺寸因人而异。为 了便于对其进行测量，必须在头部表面确定一些点和平面作为测量的基准。一般多选在骨 骼的端点、凸起点。常用的头部测量项目归纳起来可分为线尺寸、围长、和弧长。线尺寸指两 基准点间的直线距离、垂直距离或水平距离；围长指通过若干基准点并沿皮肤表面围量一 周形成的封闭曲线的长度；弧长指通过若干基准点并沿皮肤表面的非封闭曲线的长度。下 面，请参阅表1，是标准差计算步骤中计算出的测量项目的标准差。表1主要测量部位的允许误差和标准差(mm)
权利要求
1.一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤采集步骤，采用非接触式测量方法对若干个13-17岁青少年的头部进行测量，该头部 的测量项目包括头长、头矢状弧、斜头围、形态面长、全头高、头宽、耳屏间弧、头围； 标准差计算步骤，分别计算每一测量项目的标准差；主参数选择步骤，根据标准差计算步骤中计算出的标准差来计算任意两个测量项目的 斜方差，选取斜方差最大的测量项目作为第一主参数，斜方差计算公式为 两个测量项目的斜方差Sij = Si*Sj*Ri j ；其中，Si为测量项目i的标准差，Sj为测量项目j的标准差，Rij为测量项目i和j的 相关系数；第二主参数选择步骤，计算条件斜方差，计算时，需先排除第一主参数，选择条件斜方 差最大的项目作为第二主参数；中间号尺寸的确定步骤，在主参数和第二主参数中，选择覆盖率最大的范围来确定中 间号尺寸。
2.根据权利要求1所述的13-17岁青少年头部尺寸测量方法，其特征在于， 所述的头长为眉间点和枕后点之间的距离；所述的头矢状弧为从眉间点经过头顶点到枕后点的弧长；所述的斜头围为发迹点绕过枕后点下2cm处的弧长；所述的形态面长为在冠状平面上通过两耳上附着点并绕过头顶的弧长；所述的全头高为头顶点到颊下点的垂直距离；所述的头宽为两耳上方与正中矢状面相垂直的头部最大宽度；所述的耳屏间弧为从一侧耳屏点越过头的冠状面到另一侧耳屏点的弧长；所述的头围为由眉间点绕过枕后点的最大周长。
全文摘要
本发明公开了一种13-17岁青少年头部尺寸测量方法，包括以下步骤采集步骤，采用非接触式测量方法对若干个13-17岁青少年的头部进行测量，该头部的测量项目包括头长、头矢状弧、斜头围、形态面长、全头高、头宽、耳屏间弧、头围；标准差计算步骤；主参数选择步骤；第二主参数选择步骤，计算条件斜方差，计算时，需先排除第一主参数，选择条件斜方差最大的项目作为第二主参数；中间号尺寸的确定步骤，在主参数和第二主参数中，选择覆盖率最大的范围来确定中间号尺寸。本发明通过对实验数据的测量、统计和分析，得出了适合国内13-17岁青少年头部尺寸号型，为帽子尺寸系列设计、帽子结构设计及其他帽子合体性研究提供了理论依据。
文档编号A42C3/06GK102125326SQ20101002272
公开日2011年7月20日 申请日期2010年1月12日 优先权日2010年1月12日
发明者周详, 李艳梅, 高维玲 申请人:上海工程技术大学