专利名称:皮肤纹理和皱纹的测定方法
本发明属于化妆品的非创伤性评估技术，即通过对使用护肤类化妆品前后皮肤纹理和皱纹的测定来评估其功效，本发明特别有关于皮肤纹理和皱纹的测定技术。
人皮肤表面具有皮肤纹理和皱纹，皮肤纹理是微小的、呈多角形皮丘皮沟，它使皮肤变得柔韧、富有弹性，使皮脂腺、汗腺中的分泌物沿皮肤纹理扩展到整个皮肤表面。随着年龄增加，皮肤逐渐衰老，皮肤纹理的深度下降，随之因衰老或过度暴晒或肌肉重复运动便会出现皱纹，如何测定皮肤的纹理和皱纹的变化一直是皮肤衰老与抗衰老研究的一个重要手段，也是目前抗衰老，防皱类护肤用品功效较客观的评估方法之一，已有的皮肤纹理和皱纹的测定方法中，非创伤性检测技术颇受生物医学与化妆品科学家的青睐。早期应用机械物理方法，用具有一定强度的探针对皮肤复膜表面进行探测，其精度与灵敏度都不高。目前国际上广泛应用的硅胶皮肤复膜制备样品，用计算机图象分析技术，通过检测皱纹在斜射光下形成阴影面积，经换算得出皮肤纹理及皱纹的深度，这是一种间接测量技术。这一测量方法虽较之于机械物理探测方法前进了一大步。但此类方法是基于一定角度光射下，皱纹形成影子的原理，因而它的测定必然会受到光线照射角度与皮纹、皱纹的方向角度的影响；其次，由于较大皱纹形成的阴影可能遮盖邻近较小的皱纹，因此造成低估实际皱纹的程度与分类；此外，一些细小的皮纹或皱纹所形成的阴影有限，造成灰度的分辨上有困难，其测量的灵敏度与精度就有局限性。
本发明的目的在于解决已有技术存在的问题，通过对现有技术中样品制备方法的改进，应用计算机图象分析技术，直接测定皮肤纹理与皱纹。
本发明的方法包括皮肤硅胶复膜样品的制备和皮肤纹理与皱纹的测量，其中(1)皮肤硅胶复膜样品的制备依次为用超细硅胶在被测部位复膜，经固化稳定后作复膜横断切片，切片的横断面按顺序排列，制得复膜样品待测；(2)皮肤纹理与皱纹的测量为将以横断面按顺序排列的复膜样品的外形轮廓放大摄象并输入计算机，经计算机图象分析系统，逐个测量皮肤复膜样品近皮肤测表面凸起的高度，测得皮肤纹理与皱纹的深度。
图1是眼角处皮肤的硅胶复膜。
图2是图1复膜按顺序排列的横断切片。
图3、图4、图5为三个不同个体皮肤复膜测定结果曲线图。
下面结合附图进一步说明本发明的实施例。
实施例一我们选择了人体最早和最易发生皱纹的外眼角处皮肤为被测部位，具体操作步骤为左或右外眼角处分别用70％的酒精溶液与生理盐水擦洗一次，晾干后，以眼角为标志，在其外侧的上下皮肤上用加固化剂的超细硅胶均匀涂抹，面积约3×4cm。当硅胶固化稳定后，用镊子轻轻将其剥落，即得到皮肤表面结构的复膜样品，(如图1所示)，再将复膜以眼角为标志，沿眼角水平线作复膜样品横断切片，每片厚约0.75mm(±10μm)，切片的横断面按序排列，(如图2所示)，至此样品制备完毕，待测。皮肤纹理与皱纹的测量使用已知的计算机图象分析技术，所有能测定图形几何参数的计算机分析系统都可以使用。上述复膜切片，以横断面顺序排列，用显微镜与摄像机将其外形轮廓放大后摄入，并输入计算机图象分析系统，逐个测量皮肤复膜表面凸起的高度，测量范围为1.5×1.0cm。由于此皮肤硅胶复膜为皮肤纹理与皱纹的负面，因此测得的皮肤复膜横断切面近皮肤侧凸起高度，即代表了皮肤纹理与皱纹的实际深度，所有的测定数值，根据皮肤纹理与皱纹的深度，经计算机分类或统计处理，结果以各类纹理，皱纹的总数或占总量的比值表示。
实施例二用本发明的方法对正常年青人皮肤纹理的测定及其特征的初步观察为了确定皮肤纹理与细微皱纹的界限，我们调查了37名年龄在18-23岁之间，眼角处皮肤肉眼未见皱纹及无皮肤疾患的健康青年男女用与实施例一相同的方法制备复膜样品经摄象及经计算机图象分析测量结果显示於表一。
表一由表一可见，男女之间的皮肤纹理均数无明显差异但女性在相同表面积中所测到的皮纹频数明显高于男性。根据统计处理，正常人的皮肤纹理均数为42μm，其正常值范围为33-75μm(99％可信区间)。
实施例三用本发明的方法对美容祛皱疗法效果的评估选择三位40-42岁的中年女性采用面部美容祛皱治疗。疗程开始前用实施例一相同的方法采集左侧外眼角处的皮肤复膜样本，经用10％的果酸霜面部倒摩每周两次共四周治疗后，再用同样方法采集同处的皮肤复膜样本，然后用本发明实施例一方法进行测定，结果显示在图3、图4、图5中。
三个图分别为三个不同的个体。横座标为皮纹与皱纹的分级(μm)，纵座标为各级测定总量，表中A线表示使用化妆品前，B线表示使用化妆品后。由表可见，经美容祛皱治疗后，三者的皱纹分布曲线明显左移，说明其皱纹的程度得到改善。
本发明方法的优点是将皮肤硅胶复膜作横段切面，使图象分析系统能直接检测皮肤复膜横段面上的皮纹与皱纹的深度，从而提高了测试的精确度和灵敏度，而且测得的结果可靠性甚佳。
权利要求
1.皮肤纹理和皱纹的测定方法，包括皮肤硅胶复膜样品的制备和皮肤纹理与皱纹的测量，其中(1)皮肤硅胶复膜样品的制备依次为用超细硅胶在被测部位复膜，经固化稳定后作复膜横断面切片，切片的横断面按顺序排列，制得复膜样品待测；(2)皮肤纹理与皱纹的测量为将以横断面按顺序排列的复膜样品的外形轮廓放大摄象并输入计算机，经计算机图象分析系统，逐个测量皮肤复膜样品近皮肤侧表面凸起的高度，测得皮肤纹理与皱纹的深度。
2.根据权利要求
1所述的皮肤纹理和皱纹的测定方法，其中复膜样品横断切片厚为0.5～1mm，但每一复膜每片横断切片的厚度应均一，误差不超过±15μ。
专利摘要
皮肤纹理和皱纹的测定方法，包括皮肤硅胶复膜样品的制备和皮肤纹理与皱纹的测量方法，皮肤硅胶复膜样品的制备依次为用超细硅胶在被测部位复膜，经固化稳定后作复膜横断切片，切片的横断面按顺序排列，制得复膜样品待测；将以模断面按顺序排列的复膜样品的外形轮廓放大摄象并输入计算机，经计算机图象分析系统，逐个测量皮肤复膜样品近皮肤侧表面凸起的高度，测得皮肤纹理与皱纹的深度。本发明的方法测试精度和灵敏度高。
文档编号A45D44/00GKCN1078455SQ97106546
公开日2002年1月30日 申请日期1997年8月1日
发明者魏少敏, 张渭岐 申请人:上海家化联合股份有限公司导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan