磁微粒成像装置的制作方法

本公开涉及磁微粒成像装置。

背景技术：

1、已知一种具备交流磁场施加线圈和直流磁场施加单元的磁微粒成像装置。在该装置中，由于只有在直流磁场施加单元生成的零磁场区域中存在的磁微粒会因励磁场而发生磁化变动，因此能够通过扫描近零磁场区域(near field-free region)与磁微粒之间的相对位置来得到磁微粒的分布信息。在呈直线状地形成近零磁场区域(ffl：field freeline，无场线)时，由于能够对直线区域的信号进行积分来测量因此能够提高信号强度(例如，参照非专利文献1)。

2、现有技术文献

3、非专利文献

4、非专利文献1：“development of a system for magnetic particle imagingusing neodymium magnets and gradiometer(使用钕磁铁和梯度仪的磁微粒成像系统的开发)”，kenya murase et al,jpn.j.appl.phys.53 067001(2014)

技术实现思路

1、发明所要解决的技术课题

2、在非专利文献1所记载的磁微粒成像装置中，由于测量线圈的灵敏度中心与线状近零磁场区域ffl的位置在机械结构上无法确定，因此不易使测量线圈的灵敏度中心与线状近零磁场区域ffl的位置一致。当测量线圈的灵敏度中心与线状近零磁场区域ffl的位置不一致时，无法得到灵敏度的峰值，因此检测精度不高。

3、因此，本公开的目的在于提供具有比以往更高的检测精度的磁微粒成像装置。

4、用于解决技术课题的技术方案

5、本公开的磁微粒成像装置具备：交流磁场施加线圈对，用于激励出交流磁场；直流磁场施加器，产生线状近零磁场区域，以使被检查物中包含的磁微粒的磁性变化；以及磁性变化测量器，用于测量磁微粒的磁性变化。磁性变化测量器包括第1测量线圈对、第2测量线圈对和测量器。以夹着磁微粒的方式配置第1测量线圈对。以夹着磁微粒及第1测量线圈对的方式配置第2测量线圈对。以夹着磁微粒、第1测量线圈对及第2测量线圈对的方式配置交流磁场施加线圈对。测量器输出表示由第1测量线圈对测量的信号与由第2测量线圈对测量的信号之差的信号。

6、发明效果

7、在本公开的磁微粒成像装置中，以夹着磁微粒的方式配置第1测量线圈对，以夹着磁微粒及第1测量线圈对的方式配置第2测量线圈对，以夹着磁微粒、第1测量线圈对及第2测量线圈对的方式配置交流磁场施加线圈对。然后，测量器输出表示由第1测量线圈对测量的信号与由第2测量线圈对测量的信号之差的信号。根据本公开，能够在机械构造上确定测量线圈的灵敏度中心与ffl的位置，所以能够实现比以往更高的检测精度。

技术特征：

1.一种磁微粒成像装置，具备：

2.根据权利要求1所述的磁微粒成像装置，其中，

3.根据权利要求2所述的磁微粒成像装置，其中，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的磁微粒成像装置，其中，

5.根据权利要求4所述的磁微粒成像装置，其中，

6.根据权利要求4所述的磁微粒成像装置，其中，

7.根据权利要求5或6所述的磁微粒成像装置，其中，

8.根据权利要求1及4～7中任一项所述的磁微粒成像装置，其中，

9.根据权利要求1～8中任一项所述的磁微粒成像装置，其中，

10.根据权利要求9所述的磁微粒成像装置，其中，

11.根据权利要求1～10中任一项所述的磁微粒成像装置，其中，

技术总结
以夹着磁微粒(1)的方式配置第1测量线圈对(3)。以夹着磁微粒(1)及第1测量线圈对(3)的方式配置第2测量线圈对(4)。以夹着磁微粒(1)、第1测量线圈对(3)及第2测量线圈对(4)的方式配置交流磁场施加线圈对(5)。测量器输出表示由第1测量线圈对(3)测量的信号与由第2测量线圈对(4)测量的信号之差的信号。

技术研发人员：野村航大,松田哲也,山内一辉,鹫野将臣
受保护的技术使用者：三菱电机株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15