用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的制作方法

本发明涉及ct数据图像采集，具体而言，涉及一种用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置。

背景技术：

1、在现代医疗主流ct系统中，探测器模块作为ct采集图像数据的器件，在整个ct系统中的作用至关重要。球管发射x射线，x射线全程覆盖要扫描的人体某一部位，探测器模块采集到x射线，将其转化为电信号并经过数据采集和转换单元转换为数字信息后存储在图像处理系统中，图像处理系统经过一系列的校正算法和图像重建算法生成图像显示在显示器上。

2、为了准确地采集人体某一部位的投影数据，探测器模块中的探测器晶体需要与晶体模组准直器配合使用。其中，晶体模组准直器的主要作用是减少散射效应对探测器模块上的成像物理像素单元成像时的影响，即，由于散射效应使被探测信号偏离了x射线强度的真实测量结果，导致ct图像偏移或伪影，这就需要使用调节装置将探测器晶体模块上的成像物理像素单元与晶体模组准直器的asg(防散射栅格)之间以高精度对齐，否则会影响ct图像成像质量。

3、现有的调节装置主要通过简单的细牙螺栓调节，且仅改变探测器晶体模块基板的x向位移，以调节探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器之间的位置。但是，在实际使用过程中，细牙螺栓调节工装的调节精度及装置稳定性存在不足，一次调成率较低，难以达到生产调试所需的精度要求，且除x向外，z向也需要进行调节，以进一步满足生产调试的精度要求。

技术实现思路

1、为此，本发明提供了一种用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，以解决现有调节装置的调节精度及装置稳定性不足的技术问题。

2、为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、一种用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，包括：

4、调节主体结构，一侧部开设有观察通道；所述晶体模组准直器固定于所述调节主体结构，所述探测器晶体对应位于所述晶体模组准直器的上方，且所述探测器晶体与所述观察通道之间相对应设置；

5、两组螺旋测微器，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的一侧面，且两组所述螺旋测微器分别一一对应位于所述观察通道的两侧位置，两组所述螺旋测微器的位移输出端均对应穿过所述调节主体结构，且两组所述螺旋测微器的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；

6、两组弹簧柱塞，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的对向侧面，两组所述弹簧柱塞的弹力输出端均穿过所述调节主体结构，且两组所述弹簧柱塞与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；

7、两组所述弹簧柱塞与两组所述螺旋测微器之间相一一对应设置。

8、在上述技术方案的基础上，对本发明做如下进一步说明：

9、作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构的底部固接有架高支承座。

10、所述架高支承座的底部固接有支撑底板。

11、作为本发明的进一步方案，所述支撑底板为矩形板体结构，且矩形所述支撑底板的顶端面固接有若干组提拉把手。

12、作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的两侧位置分别固接有第一x向定位块和第二x向定位块，两组所述螺旋测微器的固定端分别与所述第一x向定位块和所述第二x向定位块之间相固接设置。

13、作为本发明的进一步方案，还包括：

14、两组数显千分测微计，分别与所述调节主体结构之间相固接设置，且两组所述数显千分测微计分别与所述探测器晶体的闪烁体之间相对应设置。

15、作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的对向侧面分别固接有第一千分表定位块和第二千分表定位块；两组所述数显千分测微计分别一一对应与所述第一千分表定位块和所述第二千分表定位块之间相固接设置。

16、作为本发明的进一步方案，还包括：

17、两组数显微分头，分别固接于所述调节主体结构，且两组所述数显微分头一一对应位于所述观察通道所处侧面的两个相临侧面，两组所述数显微分头的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置。

18、作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道所处侧面的两个相临侧面还分别固接有第一z向定位块和第二z向定位块；两组所述数显微分头分别一一对应与所述第一z向定位块和所述第二z向定位块之间相固接设置。

19、作为本发明的进一步方案，所述晶体模组准直器的两侧部分别设有固定压块，所述固定压块与所述调节主体结构之间固接相连。

20、两组所述数显微分头的位移输出端均对应穿过所述固定压块。

21、作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的中间上部还设有竖直刻线标。

22、本发明具有如下有益效果：

23、1、该装置通过螺旋测微器替代传统细牙螺栓，并通过螺旋测微器基于调节主体结构带动探测器晶体基板进行x向移动，同时利用弹簧柱塞能够基于调节主体结构在螺旋测微器的对向作用于探测器晶体，以此实现螺旋测微器与弹簧柱塞相互对顶探测器晶体基板，将探测器晶体基板调节到合理位置，能够实现在非常小的距离内达到微米级的精度控制，有效提升了调节精度。

24、2、该装置利用数显千分测微计直接作用于探测器晶体，可实现对探测器晶体在x向的位移量的精准量测，进而实现了探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器的对齐精度的改善，提高了调试效率。

25、3、该装置借助数显微分头新增z向调节带动探测器晶体基板进行z向移动，提高了探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器之间的z向位置精度，改变了传统单向调节模式，同时利用数显微分头减少了人为误差，降低了探测器调试的试错成本，提高了探测器机械制造的成品率及调试效率。

26、4、该装置新增了支撑底板、架高支承座及提拉把手，提高了装置的稳定性，人员的可操作性空间，以及装置的移动便携性。

技术特征：

1.一种用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，还包括：

6.根据权利要求5所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，还包括：

8.根据权利要求7所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

9.根据权利要求7所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

10.根据权利要求1或7所述的用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，

技术总结
本发明公开了一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，包括：调节主体结构，一侧部开设有观察通道；晶体模组准直器固定于调节主体结构，探测器晶体对应位于晶体模组准直器；两组螺旋测微器，分别固接于调节主体结构对应观察通道的两侧位置，两组螺旋测微器的位移输出端均与探测器晶体的基板之间相对应设置；两组弹簧柱塞，分别固接于调节主体结构对应观察通道的对向侧面，两组弹簧柱塞与探测器晶体的基板之间相对应设置；两组弹簧柱塞与两组螺旋测微器之间相一一对应设置。解决了现有调节装置的调节精度及装置稳定性不足的技术问题。

技术研发人员：苏舒,齐立敏,候永腾,黄文峰,陆云洲
受保护的技术使用者：赛诺威盛医疗科技（扬州）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13