一种芯片测试用定位装置的制作方法

本技术涉及，具体是指一种芯片测试用定位装置。

背景技术：

1、芯片一般应用在电工电器上，也是电子产品里面最核心的一个部件，是一个集成电路的载体，承载着运算和储存的功能可以起到了一个传输的作用，芯片在生产的过程中需要进行测试，测试合格后的芯片才能够在市场上流通。

2、现有的芯片测试设备均设直接将芯片直接放置在测试装置上，缺少对芯片的固定，很容易造成在对芯片测试的过程中芯片发生晃动，造成测试结果不准确。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是克服以上缺陷，提供一种芯片测试用定位装置，能够对芯片的各端面均能够有效加持固定，防止芯片测试时发生晃动，影响测试结果。

2、为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案为：一种芯片测试用定位装置，包括测试台，所述测试台正中心固定连接有支撑台，所述测试台上滑动连接有两侧对应布置的定位盒，所述测试台底面设有控制盒，所述控制盒内转动连接有转盘，所述控制盒下端固定连接有驱动所述转盘转动的第一电机，所述转盘两侧均转动连接有摇杆，所述测试台上设有与所述控制盒连通的滑孔，两侧所述摇杆一端均转动连接有滑动连接于所述滑孔内的滑块，两侧所述定位盒相对一侧均滑动连接有两侧相互对应布置的定位板，两侧所述定位盒内均设有驱动两侧所述定位板滑动的调节机构，两侧所述定位盒相对一侧中心均固定连接有定位块。

3、作为改进，所述调节机构包括转动连接于所述定位盒内的双向螺杆，所述定位盒一侧均固定连接有驱动所述双向螺杆转动的第二电机，所述双向螺杆两侧均螺纹连接有滑动连接于所述定位盒内的移动块，所述定位盒一侧均设有与所述移动块配合的移动孔，两侧所述定位板分别与两侧所述移动块固定连接。

4、作为改进，所述支撑台内设有抽气腔，所述支撑台上的均设有多个与所述抽气腔连通的抽气孔，所述测试台一侧固定连接有抽气泵，所述抽气泵输入端固定连接有与所述抽气腔连通的抽气管。

5、作为改进，两侧所述定位盒一侧均固定连接有与所述定位块配合的固定套盒，所述定位块滑动插接与所述固定套盒内，所述固定套盒内均设有与所述定位块配合的缓冲弹簧。

6、作为改进，所述定位块与定位板底面均与支撑台上端面齐平。

7、本实用新型与现有技术相比的优点在于：通过第一电机驱动转盘转动，转盘带动两侧的摇杆摆动，拉动两侧的滑块沿滑动相互靠近，两侧的滑块带动两侧的定位盒相互靠近，使两侧的定位块固定在芯片两侧，启动调节机构驱动两侧的定位板相互靠近，将芯片的另外两侧端面进行固定，能够对芯片的各端面均能够有效加持固定，防止芯片测试时发生晃动，影响测试结果。

技术特征：

1.一种芯片测试用定位装置，其特征在于：包括测试台(1)，所述测试台(1)正中心固定连接有支撑台(3)，所述测试台(1)上滑动连接有两侧对应布置的定位盒(2)，所述测试台(1)底面设有控制盒(4)，所述控制盒(4)内转动连接有转盘(7)，所述控制盒(4)下端固定连接有驱动所述转盘(7)转动的第一电机(11)，所述转盘(7)两侧均转动连接有摇杆(5)，所述测试台(1)上设有与所述控制盒(4)连通的滑孔(8)，两侧所述摇杆(5)一端均转动连接有滑动连接于所述滑孔(8)内的滑块(6)，两侧所述定位盒(2)相对一侧均滑动连接有两侧相互对应布置的定位板(9)，两侧所述定位盒(2)内均设有驱动两侧所述定位板(9)滑动的调节机构，两侧所述定位盒(2)相对一侧中心均固定连接有定位块(10)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用定位装置，其特征在于：所述调节机构包括转动连接于所述定位盒(2)内的双向螺杆(12)，所述定位盒(2)一侧均固定连接有驱动所述双向螺杆(12)转动的第二电机(17)，所述双向螺杆(12)两侧均螺纹连接有滑动连接于所述定位盒(2)内的移动块(13)，所述定位盒(2)一侧均设有与所述移动块(13)配合的移动孔(14)，两侧所述定位板(9)分别与两侧所述移动块(13)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用定位装置，其特征在于：所述支撑台(3)内设有抽气腔(20)，所述支撑台(3)上的均设有多个与所述抽气腔(20)连通的抽气孔(21)，所述测试台(1)一侧固定连接有抽气泵(18)，所述抽气泵(18)输入端固定连接有与所述抽气腔(20)连通的抽气管(19)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用定位装置，其特征在于：两侧所述定位盒(2)一侧均固定连接有与所述定位块(10)配合的固定套盒(15)，所述定位块(10)滑动插接与所述固定套盒(15)内，所述固定套盒(15)内均设有与所述定位块(10)配合的缓冲弹簧(16)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用定位装置，其特征在于：所述定位块(10)与定位板(9)底面均与支撑台(3)上端面齐平。

技术总结
本技术公开了一种芯片测试用定位装置，包括测试台，测试台正中心固定连接有支撑台，测试台上滑动连接有两侧对应布置的定位盒，测试台底面设有控制盒，控制盒内转动连接有转盘，控制盒下端固定连接有驱动转盘转动的第一电机，转盘两侧均转动连接有摇杆，测试台上设有与控制盒连通的滑孔，两侧摇杆一端均转动连接有滑动连接于滑孔内的滑块，两侧定位盒相对一侧均滑动连接有两侧相互对应布置的定位板，两侧定位盒内均设有驱动两侧定位板滑动的调节机构，两侧定位盒相对一侧中心均固定连接有定位块。本技术与现有技术相比优点在于，能够对芯片的各端面均能够有效加持固定，防止芯片测试时发生晃动，影响测试结果。

技术研发人员：张福德,唐佩,罗涛
受保护的技术使用者：江苏源本科技（集团）股份有限公司
技术研发日：20220830
技术公布日：2024/1/11