专利名称：光学实验图象的测量处理装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学实验图象的测量处理装置，尤其涉及观察、测量、处理光的干涉等光源实验图象的测量处理装置。
目前光学实验纯粹凭人眼观察，不能采集光学图象的空间位置信息，在半暗半明的实验室中记录并计算数据比较费劲，学生实验比较乏味。
本实用新型的目的是提供一种光学实验图象的测量处理装置，尤其是自动化的观察、测量、处理光的干涉等光源实验图象的测量处理装置。
本实用新型的目的是这样实现的一种光学实验图象的测量处理装置，其特征是在光学仪器的观察屏处设有CCD光强传感器，另设有与PC机配合的图像卡。CCD采集干涉图样，通过图象卡输入微机把光学图象的模拟信号变为数字信号，在计算机上用自编的软件定量计算出圆环半径和显示出光强分布曲线。
本实用新型的特点是提供了光学实验图象的测量处理装置，改善了实验条件和实验精度，能自动化的观察、测量、处理光的干涉等光源实验图象。
以下结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步说明
图1为本实用新型结构示意图在实施例和图中，虚线框内可以是迈克尔逊干涉仪，在原来的观察屏处用CCD光强传感器采集干涉图样，传感器为MTV-1881Ex型。通过图象卡、图像卡为VIDEO-PCI-XR型，由其输入微机把光学图象的模拟信号变为数字信号，在计算机上即可以显示和测量。如果用自编的简单软件定量计算出圆环半径和显示出光强分布曲线就更加完善了。在计算机上可以成功的验证等倾干涉圆环的间距与圆半径的反比关系等，这是目视法无法作到的。在实验时，先捕捉成像圆心，由图像卡采集上、下、左三方向的灰度坐标数据，通过三个方向计算极点，从而计算成像直径等。
本实施的测量处理装置的成功，对应用CCD及微机采集、测量处理其他光学图象(如牛顿环等)及促进光学测量现代化有现实意义，同时引起了学生对此类实验的极大兴趣，促进了物理实验教学质量的进一步提高。
权利要求1.一种光学实验图象的测量处理装置，其特征是在光学仪器的观察屏处设有CCD光强传感器，另设有与PC机配合的图像卡。
2.由权利要求1所述的光学实验图象的测量处理装置，其特征是CCD光强传感器为MTV-1881Ex型。
3.由权利要求1所述的光学实验图象的测量处理装置，其特征是图像卡为VIDEO-PCI-XR型。
专利摘要一种光学实验图象的测量处理装置,在光学仪器的观察屏处设有CCD光强传感器,另设有与PC机配合的图像卡。CCD采集干涉图样,通过图像卡输入微机把光学图象的模拟信号变为数字信号,可在计算机上用自编的软件定量计算出圆环半径和显示出光强分布曲线。本实用新型改善了实验条件和实验精度,能自动化的观察、测量、处理光的干涉等光源实验图象。
文档编号G09B23/22GK2404179SQ00219070
公开日2000年11月1日 申请日期2000年1月10日 优先权日2000年1月10日
发明者章程军, 潘永华, 冯璧华, 荆振国 申请人:南京大学