专利名称：有机发光显示面板的测试装置与方法
技术领域：
本发明是有关于一种显示面板的测试装置与方法，且特别是有关于一种用在有机发光显示面板的测试装置与方法。
背景技术：
随着信息科技的发达，各式各样如计算机、移动电话、个人数字助理(PDA)及数字相机等信息设备，均不断地推陈出新。在这些信息设备中，显示器始终扮演着举足轻重的地位，而平面显示器(Flat Panel Display)由于具有薄型化、轻量化及省电的特性，逐渐地受到欢迎。
在各种平面显示器中，主动矩阵有机发光二极管(Active Matrix OrganicEmitting Diode，以下简称AMOLED)显示器因具有视角广、色彩对比效果好、轻薄、响应速度快及成本低等优点，故十分适用于如随身影像产品(笔记型计算机、PDA、手机等)，特别是大型显示装置如电视、监视器等。
以目前的技术来说，AMOLED面板的制作方式，先在绝缘基板上形成多个薄膜晶体管，亦即采用主动式薄膜晶体管阵列基板来制作像素电路，然后再进行有机发光材料的蒸镀。然而，若是基板上的像素电路在蒸镀有机发光材料之前已经发生缺陷，就会使AMOLED面板的良率下降。由于有机发光材料的成本非常昂贵，因此在蒸镀有机发光材料之前，要如何确定像素电路是否正常，以避免有机发光材料的浪费，就成为一个很重要的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种有机发光显示面板的测试装置，可以在有机发光显示面板还未蒸镀例如有机发光材料之前，先检测像素电路是否有缺陷。
本发明的再一目的是提供一种有机发光显示面板的测试方法，适于在有机发光显示面板还未形成有机发光材料之前，对有机发光显示面板上一像素电路进行逐点检测，或是进行特定像素电路检测，以判断像素电路是否有缺陷。
本发明提供一种有机发光显示面板的测试装置，其中有机发光显示面板包括多条数据线和扫描线，而测试装置则包括检测控制电路、栅极解多任务器和源极解多任务器。其中，检测控制电路会依据有机发光显示面板的一像素电路的位置坐标，而分别产生栅极测试信号和源极测试信号至栅极解多任务器和源极解多任务器。栅极解多任务器和源极解多任务器分别依据栅极测试信号和源极测试信号，而将一栅极测试电压和一源极测试电压分别送至其中一条扫描线和数据线。此外，检测控制电路记录像素电路的输出电压值，以作为像素电路是否正常的依据。
在本发明较佳的实施例中，有机发光显示面板测试装置还包括一电平转换电路，其用来接收像素电路的输出电压。当像素电路的输出电压小于一参考电压时，则电平转换电路会产生一低电平的检测信号至检测控制电路，反之，电平转换电路会产生一高电平的检测信号至检测控制电路。
而在本发明较佳的实施例中，检测控制电路包括了输入处理器和时脉产生器。其中，输入处理器用来接收一使用者的输入资料。在一较佳的实施例中，使用者的输入信息包括一激活信号、像素电路的位置坐标和有机发光显示面板的分辨率信息等。当输入处理器接收了使用者的输入资料时，时脉产生器会依据输入处理器的输出而产生一时脉信号至一第一计数器。第一计数器会计数时脉信号并且产生一第一计数值，而此第一计数值是用来表示有机发光显示面板中每一像素电路的行(Column)坐标。第一计数器会将第一计数值送至一比较器和一判断电路。其中，比较器会将第一计数值与一参考值进行比较，而此参考值为有机发光显示面板中数据线的数目。然后，比较器会将比较结果送至一第二计数器，以便第二计数器可以依据比较器的输出而产生一第二计数值。当第一计数值大于参考值时，第二计数器会将第二计数值加1，而第二计数值为有机发光显示面板中的每一像素电路的列(Row)坐标。另外，判断电路会接收第一计数值和第二计数值，以判断是否符合使用者所输入的像素电路的坐标。当判断电路确定第一计数值和第二计数值符合使用者所输入的像素电路的坐标时，会控制一测试信号产生电路分别产生源极测试信号和栅极测试信号，以对像素电路进行测试。
此外，检测控制电路还可以包括一记录单元，用来接收上述电平转换电路的输出。当电平转换电路输出低电平的检测信号时，则记录单元将目前测试的像素电路的位置进行记录。
从另一观点来看，本发明提供一种有机发光显示面板的测试方法，包括先产生一栅极测试电压至有机发光显示面板中的其中一条扫描线，然后产生一源极测试电压至有机发光显示面板中的其中一条数据线，对有机发光显示面板的其中一像素电路进行测试。接着，检测出像素电路的输出电压值。当像素电路的输出电压小于一参考电压时，记录目前测试的像素电路的坐标位置。
在本发明的一较佳实施例中，有机发光显示面板测试方法更包括先对有机发光显示面板进行初始化，并且检测有机发光显示面板的分辨率。同时，本发明也可以决定一测试模式来测试有机发光显示面板。其中，测试模式可以包括一逐点测试模式和一特定像素电路测试模式。
由于本发明通过从测试像素电路的所耦接的扫描线和数据线送入栅极和源极测试电压，并且检测出像素电路的输出电压值。因此本发明就可以在有机发光显示面板还未形成有机发光材料之前，就可以得知有机发光显示面板中每一像素电路是否有缺陷。
图1绘示了依照本发明的一种有机发光显示面板检测装置的电路方块图较佳实施例。
图2所示绘示了一种还未形成有机发光材料的像素电路电路图。
图3绘示了依照本发明的一种检测控制电路的电路方块图较佳实施例。
图4绘示了依照本发明的一种检测控制电路在逐点测试模式下的工作流程图较佳实施例。
图5绘示了依照本发明的一种检测控制电路在特定像素测试模式下的工作流程图较佳实施例。
图6绘示了依照本发明的的一种有机发光显示面板的测试方法的步骤流程图较佳实施例。
101检测控制电路103栅极解多任务器105源极解多任务器107电平转换电路120有机发光显示面板210像素电路212开关晶体管214驱动晶体管216电容302输入处理器304时脉产生器306第一计数器308第二计数器310比较器312判断电路
314测试信号产生电路316记录单元S401、S403、S405、S407、S409、S411、S413检测控制电路在逐点测试模式下的工作流程S501、503、S 507、S509、S511、S515、S517、S513检测控制电路在特定像素电路测试模式下的工作流程S601、S603、S605、S607、S609、S611、S613、S615、S617、S619有机发光显示面板的测试方法的步骤流程具体实施方式
图1所示为本发明提供的有机发光显示面板检测装置100的一电路方块图。请参照图1绘示的有机发光显示面板检测装置100的一较佳实施例，有机发光显示面板检测装置100包括检测控制电路101，其输出耦接了栅极解多任务器103和源极解多任务器105。其中，栅极解多任务器103的输出耦接至有机发光显示面板120中的其中一条扫描线SLi，而源极解多任务器105的输出则是耦接有机发光显示面板120中的其中一条数据线DLj。
请继续参照图1，本发明所提供的有机发光显示面板检测装置100可以对有机发光显示面板中还未形成有机发光材料的像素电路进行测试。当本发明的有机发光显示面板检测装置100要对有机发光显示面板120进行测试时，检测控制电路101会先送出m位的栅极测试信号至栅极解多任务器103，以使得栅极解多任务器103将一栅极测试电压通过扫描线SLi送至有机发光显示面板120的像素电路。然后再产生一n位的源极测试信号至源极解多任务器105，使得源极解多任务器105将一源极测试电压从数据线DLj送至有机发光显示面板120的像素电路中。详细的叙述可以参照以下说明。
请参照图2，其绘示一种还未形成有机发光材料的有机发光显示面板像素电路的电路图。在数据线DLj和扫描线SLi之间配置有像素电路210。在本实施例中，像素电路210包括例如薄膜晶体管的开关晶体管212和驱动晶体管214以及电容216。其中，开关晶体管212的源极端耦接了数据线DLj，其栅极端耦接了扫描线SLi，而其汲极端则是耦接驱动晶体管214的栅极端。此外，驱动晶体管214的源极端和栅极端分别耦接电容216的两端。
虽然图2提供了一种具有开关晶体管、驱动晶体管及一电容的像素电路结构，然而仅是为了接下来的叙述能够确实让熟习此技艺者明了本发明，而不是用来限制本发明非要使用在此种像素电路结构。熟习此技艺者当知，有机发光显示面板的像素电路结构的设计，并不影响本发明主要的精神。
请合并参照图1和图2，当检测控制电路101接收了使用者所输入的激活信号后，可以对有机发光显示面板120进行初始化的动作。在本实施例中，驱动晶体管214的源极端耦接至接地端Gnd，以使电容216能够确实放电完毕，以避免影响最后的测量结果。
接着，检测控制电路101接收使用者所输入的待测试像素电路的位置坐标。假设使用者要对有机发光显示面板中的像素电路210进行测试，此时检测控制电路101就会传送m位的栅极测试信号至栅极解多任务器103。而栅极解多任务器103依据栅极测试信号而选择从扫描线SLi输入栅极测试信号，以致于像素电路210中的开关晶体管212导通。接下来，检测控制电路101会产生m位的源极测试信号至源极解多任务器105。此时，源极解多任务器105就会选择从数据线DLj输入源极测试电压。由此，开关晶体管212就可以将源极测试电压导通至驱动晶体管214的栅极端，而使得驱动晶体管214导通。这个时候，驱动晶体管214的源极端是耦接在直流电压Vdd上。
当驱动晶体管214导通的时候，驱动晶体管214源极到栅极的电压差应该是直流偏压Vdd减去驱动晶体管214的临界电压Vth。因此，电容216两端的电压可以表示为Vdd-Vth。假设，直流偏压Vdd为12V，而驱动晶体管214的临界电压Vth为2V。则当驱动晶体管214导通时，电容216两端的电压正常来说应该是10V。因此，若是晶体管源极至汲极的压降为2V，则汲极端的输出电压值Vout应该为8V。也就是说，而若是输出电压值Vout太低，假设为2V时，则表示像素电路210可能有缺陷。
本发明的面板测试装置100另一较佳实施例中，面板测试装置100更包括电平转换电路107，是用来接收有机发光显示面板120中每一像素电路210的输出电压。当其中一个测试像素电路210的输出电压小于一预设电压时，电平转换电路就会输出一低电平检测信号给检测控制电路101，而检测控制电路101就会将有问题的测试像素电路210的位置进行记录。而若是测试像素电路210的输出电压不小于参考电压时，则电平转换电路107就会产生高电平的检测信号给检测控制电路101。而在本实施例中，此参考电压假设为8V。
图3绘示了依照本发明的一种检测控制电路101的电路方块图。请参照图3绘示的检测控制电路101的一较佳实施例，检测控制电路101可以包括输入处理器302，其用来接收使用者的输入资料，例如上述的激活信号、待测试像素电路210的坐标位置，以及有机发光显示面板120的分辨率等信息。输入处理器302的输出耦接至时脉产生器304，而时脉产生器304则是将输出送至第一计数器306。第一计数器306会耦接比较器310和判断电路312，其中比较器310会接收第一计数器306的输出和一参考值，并且将输出耦接至第二计数器308。判断电路312会接收第一计数器306和第二计数器308的输出，并且控制测试信号产生电路314产生上述的栅极测试信号和源极测试信号。
检测控制电路101可以有两种测试模式，分别是逐点测试模式和特定像素电路210测试模式。而以下就这两种测试模式作详细的叙述。
图4绘示了依照本发明的一种检测控制电路101在逐点测试模式下的工作流程图。请合并参照图3和图4，假设检测控制电路101在逐点测试模式下对有机发光显示面板中的像素电路210进行测试。因此，当输入处理器302接收了使用者的输入之后，会控制时脉产生器304进行步骤S401，也就是产生时脉信号CLK至第一计数器306。此时，第一计数器306会如步骤S403所述，计数时脉信号CLK而产生第一计数值C1至比较器310和判断电路312。这个时候，第二计数器308也会依据第一计数值C1而产生第二计数值C2至判断电路312，就如步骤S405所述。
在本实施例中，上述的第一计数值C1是表示有机发光显示面板中像素电路210的行坐标值，而第二计数值C2则是有机发光显示面板像素电路210的列坐标值。其中，源极解多任务器105依据第一计数值C1而决定将源极测试电压送至对应的数据线，而栅极解多任务器103则是依据第二计数值C2来决定将栅极测试电压送至对应的扫描线。
当第一比较器306产生第一计数值C1至比较器310之后，比较器310会如步骤S407所述，判断第一计数值C1是否大于参考值。其中，参考值可以是有机发光显示面板120中数据线的总数。若是第一计数值C1并未大于参考值(也就是步骤S407所标示的“否”)，则判断电路312就会控制测试信号产生器314如步骤S409所述，依据第一计数值C1和第二计数值C2，而产生分别源极测试信号和栅极测试信号给源极多任务器105和栅极多任务器103，然后再从步骤S403开始重复执行，以依序测试下一个像素电路。
相对地，当第一计数值C1大于参考值时(也就是步骤S407所标示的“是”)，则第二计数器308会将第二计数值C2加1，并且判断电路312也会控制第一计数器306将第一计数值归零以重新计数，就如步骤S411所述。接着，判断电路312会如步骤S413所述，判断第二计数值C2是否大于有机发光显示面板120中扫描线的总数。
当第二计数值C2还未大于扫描线的总数时(也就是步骤S413所标示的“否”)，代表还有有机发光显示面板120中还有像素电路没有测试到。因此检测控制电路101就会从步骤S403开始重复执行。相对地，当第二计数值C2大于扫描线的总数时(也就是步骤S413所标示的“是”)，代表所有的像素电路都已经测试完毕，因此就结束整个工作流程。
图5绘示了依照本发明的一种检测控制电路101在特定像素电路测试模式下的工作流程图。请合并参照图3和图5，假设检测控制电路101是工作在特定像素电路测试模式下。此时，输入处理器302会依据使用者的输入资料，而决定测试像素电路210在有机发光显示面板120中的坐标位置，也就是步骤S501所述。当输入处理器302接收了使用者决定的测试像素电路210的坐标位置之后，会送至判断电路312，并且控制时脉产生器304如步骤S503所述，产生时脉信号CLK至第一计数器306。
此时，第一计数器306会如步骤S507所述，计数时脉信号CLK而产生第一计数值C1至比较器310和判断电路312。同时，第二计数器308也可以如步骤S509所述，依据第一计数值C1而产生第二计数值C2至判断电路312。当判断电路312接收了第一计数值C1和第二计数值C2之后，就会进行步骤S511，就是判断第一计数值C1和第二计数值C2是否符合使用者所输入的测试像素电路210的坐标值。若是第一计数值C1和第二计数值C2符合使用者所输入的测试像素电路210的坐标值时(也就是步骤S511所标示的“是”)，则测试信号产生电路314就会如步骤S513所述，依据第一计数值C1和第二计数值C2，而分别产生源极和栅极测试信号给源极多任务器105和栅极多任务器103。
相对地，若是第一计数值C1和第二计数值C2不符合使用者所输入的测试像素电路210的坐标值时(也就是步骤S511所标示的“否”)，则比较器310就会进行步骤S515，就是判断第一计数值C1是否大于参考值。若是第一计数值C1还未大于参考值(也就是步骤S515所标示的“否”)，则检测控制电路101就会从步骤S507开始重复执行。反之，若是第一计数值大于参考值C1时(也就是步骤S511所标示的“是”)，则第二计数器308会将第二计数值加1，并且判断电路312也会控制第一计数器306将第一计数值C1归零，也就是步骤S517所述，然后检测控制电路101再从步骤S507开始重复执行。
请再参照图3，检测控制电路101还可以包括记录单元316。此记录单元316可以耦接上述的电平转换电路107。当电平转换电路107输出低电平的检测信号时，代表目前测试的像素电路210可能有缺陷，因此记录单元316就可以将目前测试的像素电路210位置记录下来，以作为缺陷参考依据。
将上述的说明作一整理，图6揭露了本发明的一种有机发光显示面板的测试方法的步骤流程图。有机发光显示面板的测试方法的一较佳实施例，并配合图6由下文说明，首先本发明可以如步骤S601所述，进行一些设定的动作，例如进行初始化(S603)、检测待测试的有机发光显示面板的分辨率(S605)，以及决定测试模式(S607)等。其中，测试模式包括了上述的逐点测试模式和特定像素电路210测试模式。
决定了测试模式之后，本发明可以如步骤S609所述将一栅极测试电压送入测试的有机发光显示面板中的其中一条扫描线，以致能该条扫描线上耦接的所有像素电路210。接着，如步骤S611所述，将一源极测试电压送入有机发光显示面板中的其中一条数据线，以测试有机发光显示面板中对应的像素电路210，在此可以称之为测试像素电路210。此时，本发明可以如步骤S613所述，检测测试像素电路210的输出电压，然后进行步骤S615，就是判断测试像素电路的电压是否小于一参考电压。
若是测试像素电路210的输出电压值小于参考电压时(也就是步骤S615所标示的“是”)，则表示测试像素电路210可能有缺陷，因此本发明就会如步骤S617所述，纪录测试像素电路210的坐标位置。相对地，若是测试像素电路210的输出电压值不小于参考电压时(也就是步骤S615所标示的“否”)，则表示此测试像素电路210应该是正常的。
在本实施例中，进行完步骤S615后，本发明还会依据上述的两种测试模式，而进行步骤S619，就是判断是否要对另一像素电路210进行测试。假设本发明工作在逐点测试模式，则若是还未将有机发光显示面板内所有的像素电路210测试完，本发明就会从步骤S609开始重复进行。而若是已经依序将有机发光显示面板内所有的像素电路测试完毕，就结束整个流程。相对地，若是本发明是工作于特定像素电路20测试模式，则就依据使用者的输入，来决定步骤S619执行的方式。
综上所述，通过从扫描线和数据线输入测试电压，因此本发明就可以在有机发光显示面板还未形成有机发光材料前，就可以从像素电路的输出电压判断像素电路210是否有缺陷。由此，不但可以提高有机发光显示面板的制程良率，并且也可以降低有机发光材料的浪费。此外，由于本发明提供了逐点测试模式和特定像素电路210测试模式，因此让本发明具有更大的应用性。
上述具体实施例仅用以说明本发明，而非用以限定本发明。
权利要求
1.一种有机发光显示面板测试装置，适于在有机发光显示面板还未形成一有机发光材料前测试该有机发光显示面板内的一像素电路，该有机发光显示面板包括多条数据线、多条扫描线、及一像素电路耦接该多条数据线之一及该多条扫描线之一，其中像素电路包含有一开关晶体管、一驱动晶体管以及一储存电容，其特征在于，该测试装置包括一栅极解多任务器，用以依据一栅极测试信号而决定将一栅极测试电压送至所述的多条扫描线其中之一及像素电路；一源极解多任务器，用以依据一源极测试信号而决定将一源极测试电压送至所述的多条数据线其中之一及像素电路；以及一检测控制电路，是依据有机发光显示面板的像素电路的位置坐标，而分别产生栅极测试信号和源极测试信号至栅极解多任务器和源极解多任务器，并记录像素电路的输出电压值，作为像素电路是否正常的依据。
2.如权利要求1所述的有机发光显示面板测试装置，其特征在于，更包括一电平转换电路，接收像素电路的输出电压，当像素电路的输出电压小于一参考电压时，则该电平转换电路产生一低电平的检测信号至检测控制电路，而当像素电路的输出电压大于参考电压时，该电平转换电路产生一高电平的检测信号至检测控制电路。
3.如权利要求2所述的有机发光显示面板测试装置，其特征在于，检测控制电路包括一记录单元，接收电平转换电路的输出，当电平转换电路输出低电平的检测信号时，则记录单元将像素电路的位置进行记录。
4.如权利要求1所述的有机发光显示面板测试装置，其特征在于，检测控制电路包括一输入处理器，用以接收一使用者的输入资料，而该使用者的输入资料包括一激活信号、像素电路的位置坐标和显示面板的分辨率信息；一时脉产生器，依据输入处理器的输出而产生一时脉信号；一第一计数器，用以计数时脉信号并产生一第一计数值，而该第一计数值是表示显示面板中的每一像素电路行坐标；一比较器，接收第一计数值，用以将第一计数值与一参考值进行比较，而该参考值为所述的多条数据线的数目；一第二计数器，依据比较器的输出而产生一第二计数值，当第一计数值大于参考值时，第二计数器会将第二计数值加1，而第二计数值为显示面板中的每一像素电路列坐标；一判断电路，接收第一计数值和第二计数值，以判断是否符合使用者所输入的像素电路的坐标；以及一测试信号产生电路，耦接判断电路，当第一计数值和第二计数值符合使用者所输入的像素电路的坐标时，该测试信号产生电路会依据第一计数值和第二计数值而分别产生源极测试信号和栅极测试信号，以对像素电路进行测试。
5.如权利要求1所述的有机发光显示面板测试装置，其特征在于，检测控制电路更包括一记录单元，当像素电路具有缺陷时，则该记录单元将像素电路的坐标位置进行记录。
6.一种有机发光显示面板测试方法，适于在有机发光显示面板还未形成一有机发光材料前测试该有机发光显示面板内的一像素电路，该有机发光显示面板包括多条数据线、多条扫描线及一像素电路耦接该多条数据线之一及该多条扫描线之一，其中该像素电路包含有一开关晶体管、一驱动晶体管以及一储存电容，其特征在于，该测试方法包括下列步骤产生一栅极测试电压并送入所述的多条扫描线其中之一；产生一源极测试电压并送入所述的多条数据线其中之一，以对像素电路进行测试；检测像素电路的输出电压值；以及当像素电路的输出电压小于一参考电压时，记录像素电路的坐标位置。
7.如权利要求6所述的有机发光显示面板测试方法，其特征在于，更包括下列步骤对有机发光显示面板进行初始化；检测有机发光显示面板的分辨率；以及决定一测试模式来测试有机发光显示面板，而该测试模式包括一逐点测试模式或一特定像素电路测试模式。
8.如权利要求7所述的有机发光显示面板测试方法，其特征在于，当决定使用逐点测试模式而像素电路的输出电压不小于参考电压时，则重复产生栅极测试电压和源极测试电压的步骤，以对另一像素电路进行测试，直至将有机发光显示面板中所有像素电路测试完毕。
9.如权利要求7所述的有机发光显示面板测试方法，其特征在于，当决定使用特定像素电路测试模式时，则该测试方法更包括下列步骤决定有机发光显示面板中一特定像素电路的坐标位置；产生一时脉信号；计数时脉信号并产生一第一计数值；依据第一计数值而产生一第二计数值；判断第一计数值和第二计数值是否分别符合特定像素电路的行坐标值和列坐标值；当第一计数值不符合特定像素电路的行坐标值，或第二计数值不符合特定像素电路的列坐标值时，判断第一计数值是否大于一参考值，而该参考值为所述的多条数据线的数目；当第一计数值小于参考值时，则继续计数时脉信号；当第一计数值大于参考值时，则将第二计数值加1，并将第一计数值归零以重新产生第一计数值；当第一计数值符合特定像素电路的行坐标值以及当第二计数值符合特定像素电路的列坐标值时，则依据第一计数值和第二计数值，而分别将源极测试电压和栅极驱动电压送至特定像素电路所对应的扫描线和数据线，以对特定像素电路进行测试；当特定像素电路的输出电压不小于参考电压时，则决定是否要对另一特定测试像素电路进行测试；以及当需要对另一特定测试像素电路进行测试时，则重复产生第一计数值和第二计数值等步骤。
10.如权利要求7所述的有机发光显示面板测试方法，其特征在于，对有机发光显示面板进行初始化的步骤，包括对有机发光显示面板进行完全的放电。
全文摘要
一种有机发光显示面板的测试装置，其中有机发光显示面板包括多条数据线和扫描线，而测试装置则包括检测控制电路、栅极解多任务器和源极解多任务器。其中，检测控制电路会依据有机发光显示面板的一像素电路的位置坐标，而分别产生栅极测试信号和源极测试信号至栅极解多任务器和源极解多任务器。而栅极解多任务器和源极解多任务器会分别依据栅极测试信号和源极测试信号，而将一栅极测试电压和一源极测试电压分别送至其中一条扫描线和数据线。此外，检测控制电路还可以记录像素电路的输出电压值。
文档编号G09G3/00GK1804647SQ2006100011
公开日2006年7月19日 申请日期2006年1月13日 优先权日2006年1月13日
发明者李易书 申请人:广辉电子股份有限公司