有机el显示装置的制作方法

专利名称：有机el显示装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及有机EL显示装置，尤其涉及具有能够对温度特性进行校正和对画面余像进行校正的系统的有机EL显示装置。
背景技术：
有机EL显示装置与液晶相比具有如下等特征由于为自发光型，因此不需要背光源，响应时间为短短的数微秒，动态图像特性优异，发光所需的电压为较低的IOV以下，具有能够减少功耗的可能性。另外，与等离子体显示装置、FED显示装置相比具有如下等特征不需要真空结构，适于降低重量、减薄厚度。
构成作为有机EL显示装置的画面的有4几EL显示面^反的OLED元件具有温度特性。OLED元件即使施加相同的电压，在低温时电流也较小，在高温时电流较大。因此，为了获得相同的亮度，需要根据外部环境的温度来改变电源电压。"专利文献1"中记载了如下技术为了检测有机EL显示面板的温度变动，对通过从电流源向面板内的各OLED元件流过电流而获得的检测电压结果进行A/D变换，根据得到的数字数据使显示用电压源变化。
有机EL显示装置的另 一个问题是所谓的余像问题。这是OLED元件随着工作时间而发光亮度降低这样的现象。OLED元件的特性变化表现为OLED元件的电压-电流特性的变化。即，随着工作时间而即l吏施加相同的电压，流过的电流也会变小。OLED元件的时间性特性的变化因每个像素而不同。因此，为了进行正确的图像显示，需要检测各像素的OLED元件的特性变化，将其结果反馈至从主才几输入的lt入信号。
"专利文献2"记载了如下4支术为了4吏有机EL显示面板进行
5没有余像的稳定的发光，对通过电流测量得到测定结果进行A/D变
换，根据获得的数字数据对OLED元件的驱动信号进行反馈。专利文献1:日本特开2006 -48011号公报专利文献2:日本特开2005 - 156697号7>才艮

发明内容
"专利文献1"记载的技术通过使电源电压变化来调整有机EL显示面板整体的特性，因此能够补偿基于温度特性的影响，但不能校正余像那样的局部劣化。"专利文献2"记载的技术中，比较通过电流检测获得的相邻像素彼此的结果，因此无法对面板内部的温度变动的信息进行A/D变换。
有机EL显示面板上发生余像时的OLED元件电压变化微小，基于温度变动的电压变化较大，因此当要在系统中生成还包含温度变动的AD变换的电压范围时，需要数量较多的高精度比较器，因此电路规模增大，功耗变大。
本发明的课题在于实现一种系统，能够不伴随电路规模的增大和功耗的增大而同时进行OLED元件的温度特性的补偿和对余像的补偿。
本发明是解决以上课题的发明，是包括将进行温度补偿的电压变动和补偿余像的电压变动变换为相同的电压范围并进行检测的系统的有机EL显示装置。即，包括测定基于温度特性的电压变化的路径和测定基于余像的电压变化的路径。而且，例如作为对于检测基于温度的特性变化的测定电压的反馈，使检测余像的像素数量或检测余像的电流源的电流值变化，由此使检测温度特性和余像特性的电压电平一致。具体技术方案如下。
(1) 一种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的显示部和、检测上述像素内的OLED元件的发光特性的检测部，其特征在于上述检测部包括使检测出的特性值通过的第 一路径和使检测出的特性值衰减的第二路径，上述第 一路径上设置有第 一开关，上述第二路径上设置有第二开关，上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第一路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
(2) 根据(1 )所述的有机EL显示装置，其特征在于上述第一路径或上述第二路径与上述模拟-数字变换器之间设置有緩沖放大器。
(3) 根据(1 )所述的有机EL显示装置，其特征在于上述特性值是通过从设置在检测部的电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端子部电压值。
(4) 根据(1 )所述的有机EL显示装置，其特征在于上述第二路径包括第 一 电阻，上述检测特性值的衰减由在上述第二路径外与上述第一电阻串联连接的第二电阻与上述第一电阻之比所规定。
(5) —种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的显示部和、一全测上述像素内的OLED元件的温度特性值和上述OLED元件的余像特性值的检测部，其特征在于上述检测部包括使上述余像特性值通过的第一路径和使上述温度特性值衰减并通过的第二路径，上述第一路径上设置有第一开关，上述第二路径上设置有第二开关，上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第一路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
(6) 根据(5)所述的有机EL显示装置，其特征在于上述第一路径或上述第二路径与上述模拟-数字变换器之间设置有緩冲放大器。
(7) 根据(5)所述的有机EL显示装置，其特征在于上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端子部电压值。
(8) 根据(5)所述的有机EL显示装置，其特征在于上述温度特性值的检测在上述余像特性值的检测之前进行，上述余像特性的检测条件由被上述模拟-数字变换器数字化的上述温度特性值决定。
(9) 根据权利要求8所述的有机EL显示装置，其特征在于上述余像特性的测定对上述呈矩阵状配置的上述像素的行方向的多个像素进行。
(10) 根据(8)所述的有机EL显示装置，其特征在于上述余像特性的测定对上述呈矩阵状配置的上述像素的列方向的多个像
素进行。
(11 )根据(5)所述的有机EL显示装置，其特征在于上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的恒定电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端子部电压值，从检测上述余像特性时的上述恒定电流源提供的电流值与检测上述温度特性时从上述恒定电流源提供的电流值不同。
(12) —种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的显示部和、检测上述像素内的OLED元件的温度特性值和上述OLED元件的余像特性值的检测部，其特征在于上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的恒定电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端子部电压值，在上述像素上，控制从上述电流源向上述OLED元件流入电流的检测开关与上述OLED元件连接而设置，上述检测部包括使上述余像特性值通过的第一路径和使上述温度特性值衰减并通过的第二路径，上述第一路径上设置有第一开关，上述第二路径上设置有第二开关，上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第一路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
根据本发明能够利用相同的模拟-数字变换器对OLED元件的温度特性的检测值和余像特性的检测值进行数字化，因此能够防止检测电路规模增大。另外，能够抑制模拟-数字变换器的电路规模和功耗。
根据本发明能够实现补偿了 OLED元件的温度特性和余像特性的高画质的有机EL显示装置。另外，能够抑制用于检测OLED元件 的温度特性和余像特性的电路的规模增大，因此能够抑制有机EL显 示装置的成本和有机EL显示装置的功耗。


图1是实施例1的有机EL显示装置的电路结构图。
图2是OLED元件的温度特性和余像特性的检测流程图。
图3是实施例1的一帧内的工作分配图。
图4是实施例1的一帧内的其他工作分配例的图。
图5是实施例1的时序图。
图6是实施例2的时序图。
图7是实施例3的时序图。
图8是实施例4的像素电路。
图9是实施例5的像素电路。
图IO是实施例6的像素电路。
图11是表示由OLED元件的余像引起劣化特性的曲线图。 图12是表示画面的余像的示意图。
图13是未使用本发明的情况下的OLED元件的检测电路。
图14是表示OLED元件的温度特性的曲线图。
图15是表示画面亮度因温度而变化的示意图。
图16是检测OLED元件的温度特性的电路例。
图17是使用本发明的有机EL显示装置的产品例。
图18是使用本发明的有机EL显示装置的其他产品例。
具体实施例方式
在说明本发明的具体实施例之前，说明有机EL显示面板的余像 和温度特性。图11是表示各OLED元件的特性因工作时间而变化的 状况的曲线图。在图11中，横轴是施加在OLED元件上的电压，纵 轴是流过OLED元件的电流。在图11中，劣化前是初始状态的OLED
9元件特性，劣化后是工作特定时间后的OLED元件特性。当比较劣 化前和劣化后时，为了流过相同的电流，劣化后需要施加比劣化前 大V1的电压。换言之，当对OLED元件施加相同电压时，劣化后的
亮度降低。
当在画面整体的OLED元件上同样地发生这样的OLED元件的 特性劣化时，由其劣化引起的影响比较小。但是，实际上因图像而 在画面上产生较亮部分和较暗的部分，由于在较亮的部分的OLED 元件上流过较多的电流，因此劣化加剧。图12示出其情况。
图12(a)示出在较暗的画面上显示文字A的状况。在该画面中， 在文字A的部分的OLED元件中流过较多的电流。以图12 (a)的 状态经过一定时间之后，例如显示全白的画面的状态为图12 (b)。 图12 (b)是全白正确的显示，但因图12 (a)的状态的显示而文字 A的部分的OLED元件发生劣化，因此在文字A的部分亮度降低。 这是余像。为了校正余像，需要提高施加在对应的OLED元件上的 电压。为此，需要检测因余像而劣化的OLED元件的位置和劣化量 并进行反馈。
图13是用于检测余像的测定各OLED元件的电压-电流特性的 电路。在图13中，中央部形成有由以R、 G、 B表示的多个OLED 元件构成的显示部。R表示红色发光OLED元件，G表示绿色发光 OLED元件，B表示蓝色发光OLED。在显示部的左侧设置有产生用 于显示的扫描信号的显示用扫描电路200。在显示部的右侧设置有用 于检测各OLED元件的特性的检测用扫描电路300。另外，在显示 部的上侧设置有用于向各OLED元件提供图像信号的信号驱动电路 100。信号驱动电路100通过信号输入线1001从外部被输入图像信
在图13的左上设置有用于控制来自显示用扫描电路200、检测 用扫描电路300、信号驱动电路100等的脉沖信号的定时控制器110。 在图13的右上设置有测定并记录OLED元件的特性的检测部300。 另外，在信号驱动电路100与显示部之间设置有向OLED元件提供图像信号的开关SWS、检测OLED元件的特性的开关SWR、 SWG、 SWB、以及决定测定何种颜色的OLED元件的R控制线RSCL、 G 控制线GSCL、 B控制线BSCL等。
在图13中，显示图像时，信号线开关SWS闭合，检测线开关 SWR1、 SWG1、 SWB1等断开。在该状态下通过显示用扫描电路200 来扫描OLED元件，按照图像信号在显示部上显示图像。
在图13中，当显示一帧的图像时，信号线开关SWS断开，检 测线开关SWR1等闭合，开始检测。为了从检测用扫描电路300检 测存在于第一行的OLED元件，第一检测开关控制线TSC1为0N， 其他检测开关控制线为OFF。检测是逐各颜色进行的。因此，当R 检测线开关SWR1等闭合时，R控制线RSCL为ON。当由检测用扫 描电路300选择特定行的OLED元件时，检测线开关SWR1等依次 开关，测定各OLED元件的电压电流特性。
OLED元件的特性测定通过在各OLED元件中流过来自冲全测部 300的恒定电流源112的电流、并测定各OLED元件的端子电压来 进行的。各OLED元件的端子电压被緩冲放大器放大，并输入到模 拟-数字变换器ADC中。来自模拟-数字变换器ADC的输出被积蓄在 存储器中，作为反馈数据进行利用。校正控制部120将积蓄在存储 器中的各OLED元件的特性反馈至信号驱动电路100,作为校正由 各OLED元件的余像引起的劣化的图像信号。
这样，当第一行的红色发光OLED元件的测定结束时，测定第 一行的绿色发光OLED元件，然后测定第一行的蓝色发光OLED元 件。并且，当测定一行的OLED元件的特性时，第二检测开关控制 线TSC2为ON,测定第二行的OLED元件。然后，到第m检测开关 控制线TSCm为止同样进行测定。
图14是表示OLED元件的温度特性影响的曲线图。在图14中， 横轴是施加在OLED元件上的电压，纵轴是流过OLED元件的电流。 在图14中，高温特性是OLED元件在高温时的电压-电流特性，低 温特性是OLED元件在低温时的电压-电流特性。如图14所示，为流过相同的电流，低温时需要施加增大V2的电压。换言之，当对
OLED元件施加相同的电压时，低温时电流较小，亮度降低。
图15示出该情况。图15是为了进行白显示而对OLED元件施 加了相同电压的情况。图15 (a)是低温时的画面，图15(b)是高 温时的画面。即使提供进行相同的白显示的图像信号，也是高温时 亮度较大。这无法再现正确的图像，因此需要检测OLED元件的温 度，并将温度特性反馈至电源。
温度特性引起的亮度变化的电路。在图16中，设有温度测定用的基 准元件。从;险测用电流源向基准元件流出恒定电流，测定基准元件 的端子电压。由此可知OLED元件的温度。端子电压被緩沖放大器 放大，并被输入到模拟-数字变换器进行AD变换。根据变换后的数 字数据使显示用电压源的电压变化，由此能够使亮度恒定。
本发明的目的是实现如上所述的兼具余像检测和温度检测这两 种功能的系统。为了实现该系统而存在的问题在于，由图ll所示的 余像引起的电压变动量VI和由温度变化引起的电压变动量V2有较 大不同。具体而言，VI为数mV~十数mV左右，当温度从-20。C 到80。C变化时，V2在数V的范围内变动。
此时，当在系统中使用图13的电路时，需要准备包括能测定V1 的精度、工作范围为V2的ADC。此时，成为由数十~数百单位构 成的模拟-数字变换器，因此检测部非常大，并且功耗也变大。而在 图16所示的系统中，无法进行面板内的各OLED元件的特性检测， 因此不能构成检测温度特性和余像特性这两者的系统。
根据以下记载的本发明，能够实现兼具以上所述的余像检测和 温度检测这两种功能的系统。根据实施例，公开本发明的详细内容。
本实施例的有机EL显示装置的结构与实施例l相同，但余像检 测的方法与实施例1不同。图6是本实施例的余像检测的时序图。 图6中，在显示结束之后，首先进行温度检测是与实施例l相同的。 在本实施例中，在进行温度#全测之后，决定同时对两个OLED元件 进行余像检测。但是，此时与实施例1的情况不同，是对相同检测 开关控制线SCL上的两个OLED元件进行余像检测。
在图6中，进行了温度检测之后，仅第一检测开关控制线TSC1 成为ON。在该状态下，首先SWR1和SWR2同时成为ON。因此， 第一个红色发光的OLED元件和第二个红色发光的OLED元件被进 行余像检测。然后，SWR3、 SWR4成为ON，第三个红色发光的OLED 元件和第4个红色发光的OLED元件进行余像4企测。这样，依次对 每2个第一检测开关控制线TSC1上的红色发光的OLED元件进行 余像检测。在检测完所有的第 一检测开关控制线上的红色发光的 OLED元件之后，检测第一检测开关控制线上TSC1上的绿色发光的 OLED元件，接着检测蓝色发光的OLED元件。并且，当结束第一 检测开关控制线TSC1上的所有OLED元件的测定时，进行第二检 测开关控制线TSC2上的OLED元件的温度检测、余像特性检测。
在以上的说明中，在同一检测开关控制线SCL上同时余像检测 的OLED元件为两个，但根据条件，在同一检测开关控制线SCL上同时余像检测的OLED元件也可以为3个以上。 [实施例3]
本实施例的有机EL显示装置的结构与实施例l相同，但使余像 ;f全测中的电流源112的电流设定变化这一点与实施例1不同。图7 是本实施例中的余像检测的时序图。在图7中，在显示结束之后， 首先进行温度检测，这与实施例1相同。在进行温度检测之后，决 定同时进行第一检测开关控制线TSC1和第二检测开关控制线TSC2 上的像素的余像检测。在图7中，第三检测开关控制线TSC3以后为 OFF状态。
在本实施例中，在OLED元件的温度4全测之后，决定降低用于 进行余像检测的电流源112的电流值。即，这是由于通过温度检测 可知OLED元件的电阻变大。作为OLED元件的电阻变大的情况， 是周围温度较低的情况。该情况下，降低电流源112的电流值，余
换器ADC的输入范围内。
在本实施例中，当温度成为低温时，伴随着余像检测中的OLED 元件的电阻变大，降低电流源112，但也可以代替降低电流源112 而增加余傳j险测中同时测定的OLED元件的数量。此时，检测速度 增加，但检测的分辨率降低。因此，考虑检测的速度和分辨率来判 断是否降低电流源112即可。
图8是进行以上说明的温度检测和余像检测的像素的一个结构 例。图8是最一般的像素结构。在图8中，从电源线51串联连接有 OLED驱动TFT3、点亮TFT开关2、 OLED元件1。在图8中，首 先从显示图像的动作开始进行说明。在图8中，当从显示用扫描电 路200延伸的选择控制线55为ON时，选择开关6为ON,选择该 像素。当选择开关6为ON时，对应于来自信号线54的图像信号的 电荷被积蓄在保持电容4中。然后，使选择控制线55为OFF,断开 选择开关6，使点亮开关线53为ON，闭合点亮TFT开关2。于是，根据与保持电容4的电荷对应的栅极电位，在OLED驱动TFT3中 流过来自电源线51的电流，从而使OLED元件1发光。
当一帧的显示结束时，进行OLED元件1的温度检测和余像检 测。在图8中，在进行温度检测或余像检测的情况下，使检测开关 控制线TSC为ON,闭合检测开关7。此时，图1所示的SWS断开， 不是对信号线54提供来自信号驱动电路100的信号，而是提供来自 检测部3 00的电流源112的检测电流。当检测开关7闭合时，在OLED 元件1中流过4全测电流，在图1所示的检测部300中，测定OLED 元件1的端子电压。
当结束图8中的OLED元件1的温度检测或余像检测时，检测 开关控制线TSC成为OFF,检测开关7断开。温度检测数据被使用 于用于余像检测的条件设定，余像检测数据被反馈给图像信号，这 如实施例1中说明的那样。同样进行温度检测和余像检测，但温度 检测在 一 帧中近进行 一 次，因此 一 般的像素同时进行温度检测和余 像检测的概略较小。
图9是进行实施例1 实施例3所说明的温度才全测和余像;险测的 像素的其他电路结构例。图9是在作为电压编程方式之一的发光期 间调制方式的像素电路中添加了检测开关7和检测开关控制线TSC 后的结构。发光期间调制方式是如下的方式将一帧分为写入期间 和发光期间，在写入期间将与图像信号对应的电荷积蓄在保持电容4 中。在发光期间，根据积蓄在保持电容4中的电荷来控制OLED元 件l的发光期间，由此形成图像。
图9所示的像素如如下那样被驱动。在图9中，从电源线51串 联连接有OLED驱动TFT3、点亮TFT开关2、 OLED元件1。如上 所述，显示期间被分为写入期间和发光期间。在写入期间中，当选 择控制线55成为ON时，该像素被选择，对保持电容4开始写入。 然后使点亮TFT开关2短时间为ON，在OLED元件1中短时间流 过电流，由此OLED驱动TFT3的栅极电位被设定为电源电压-OLED
19驱动TFT3的阈值电压Vth。于是，积蓄在积蓄电容中的电荷成为消 除了 OLED驱动TFT3的阈值电压Vth的偏差的值，能够实现正确的 灰阶显示。当对像素的写入结束时，成为发光期间，对信号线54提 供三角波。于是，根据积蓄在积蓄电容4中的电荷来决定OLED驱 动TFT3的工作时间，在OLED元件1中流过电流，形成图像。
如以上那样，当显示期间结束时，进行OLED元件1的温度抬， 测和余像检测。当进行OLED元件1的特性检测时，对信号线54提 供来自图1所示的;f企测部300的恒定电流源112的电流。在该状态 下，使图9中的检测开关控制线TSC为ON,当闭合检测开关7时， 在OLED元件1中流过电流，在图1所示的检测部300中，测定OLED 元件1的端子电压。以后与实施例4中说明的相同。在本实施例的 像素电路中，也能够通过设置检测开关7和检测开关控制线TSC, 来进行OLED元件1的温度4企测和余像4企测。
图IO是进行实施例1~实施例3所说明的温度检测和余像检测的 像素的另一电路结构例。图IO是在电压编程方式下对使TFT的偏差 緩和的最一般的电路中添加了检测开关7和检测开关控制线TSC后 的结构。图10的像素电路如如下那样被驱动。在图10中，从电源 线51串联连接有OLED驱动TFT3、点亮TFT开关2、OLED元件1。 由点亮TFT开关2控制OLED元件1是否发光。当选择线55成为 ON时，选择开关6闭合，从信号线54提供图像信号，与图像信号 对应的电荷被积蓄在串联连接的保持电容42和保持电容41中。在 图10中，使复位线52为ON，使复位TFT开关5和点亮开关控制 线53为ON，同时短时间闭合点亮TFT开关2,由此能够将OLED 驱动TFT3的栅极电位设定为消除了 OLED驱动TFT3的阈值电压 Vth的偏差的电位，能够进行正确的灰阶显示。在图10的像素电路 中，在如以上那样写入图像数据之后，断开复位开关、选择开关6， 使点亮TFT开关2为ON，使OLED元件l发光，从而形成图像。
如以上那样，当进行工作的显示期间结束时，进行OLED元件l的温度检测和余像检测。当进行OLED元件1的特性检测时，对信 号线54提供来自图1所示的检测部300的恒定电流源112的电流。 在该状态下，使图10中的检测开关控制线TSC为ON,当闭合检测 开关7时，在OLED元件1中流过电流，在图1所示的检测部300 中，测定OLED元件1的端子电压。以后与实施例4中i兌明的相同。 在本实施例的像素电路中，也能够通过设置检测开关7和检测开关 控制线TSC，来进行OLED元件1的温度检测和余像检测。
在实施例4 实施例6中，说明了三种像素电路使用本发明的例 子，但本发明能够不限于实施例4~实施例6地进行使用。对包括其 他的电路结构的像素也能够通过使用实施例4 实施例6中所说明的 那样的检测开关控制线TSC、或检测开关7、或它们的均等物来实施 本发明。
图17是使用本发明的有机EL显示装置的产品的例子。图17(a) 是在便携电话中利用本发明的有机E L显示装置的例子。便携电话为 了在较宽的温度范围内进行使用而适宜利用应用了本发明的包括温 度特性检测和校正功能的有机EL显示装置。图17 (b)是在电视机 中使用本发明的有机EL显示装置的例子。电视机由于长时间使用而 易于产生由OLED元件1的余像引起的影响。本发明能够有效对余 像进行校正，因此适用于电视机用的有机EL显示装置。
图18是使用本发明的有机EL显示装置的产品的其他例子。图 18 (a)在数字便携终端PDA中使用本发明的有机EL显示装置的例 子，图18 (b)是用于摄像机CAM的取景器(view finder)的例子。 PDA、摄像机都在室外使用，环境温度变化剧烈，因此如本发明这 样有效进行OLED元件1的温度补偿和余像补偿的有机EL显示装置 能有效应用于这些产品。
权利要求
1. 一种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的显示部和检测上述像素内的OLED元件的发光特性的检测部，其特征在于上述检测部包括使检测出的特性值通过的第一路径和使检测出的特性值衰减的第二路径，上述第一路径上配置有第一开关，上述第二路径上配置有第二开关，当上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第一路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
2. 根据权利要求1所述的有机EL显示装置，其特征在于 在上述第一路径或上述第二路径与上述模拟-数字变换器之间设置有緩冲放大器。
3. 根据权利要求1所述的有机EL显示装置，其特征在于 上述特性值是通过从设置在检测部的电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述O LED元件的端子部的电压值。
4. 根据权利要求1所述的有机EL显示装置，其特征在于上述第二路径具有第 一 电阻，上述检测特性值的衰减由在上述 第二路径外与上述第一电阻串联连接的第二电阻与上述第一电阻之 比来纟见定。
5. —种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的 显示部；和检测上述像素内的OLED元件的温度特性值和上述OLED 元件的余像特性值的检测部，其特征在于上述检测部包括使上述余像特性值通过的第 一路径和使上述温 度特性值衰减而使其通过的第二路径，上述第一路径上配置有第一开关，上述第二路径上配置有第二 开关，当上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第 一 路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
6. 根据权利要求5所述的有机EL显示装置，其特征在于 在上述第一路径或上述第二路径与上述模拟-数字变换器之间设置有緩冲放大器。
7. 根据权利要求5所述的有机EL显示装置，其特征在于 上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的电流源向上述OLED元件^是供电流而产生的上述OLED元件的端子部 电压值。
8. 根据权利要求5所述的有机EL显示装置，其特征在于 上述温度特性值的检测在上述余像特性值的检测之前进行，上述余像特性的检测条件由被上述模拟-数字变换器数字化后的上述温 度特性值来决定。
9. 根据权利要求8所述的有机EL显示装置，其特征在于上述余像特性的测定对上述呈矩阵状配置的上述像素的行方向的多个像素进行。
10. 根据权利要求8所述的有机EL显示装置，其特征在于上述余像特性的测定对上述呈矩阵状配置的上述像素的列方向的多个像素进行。
11. 根据权利要求5所述的有机EL显示装置，其特征在于 上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的恒定电流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端 子部电压值，从检测上述余像特性时的上述恒定电流源提供的电流值与检测 上述温度特性时从上述恒定电流源提供的电流值不同。
12. —种有机EL显示装置，包括呈矩阵状配置有多个像素的 显示部；和检测上述像素内的OLED元件的温度特性值和上述OLED 元件的余像特性值的检测部，其特征在于上述温度特性值和上述余像特性值是通过从设置在检测部的电 流源向上述OLED元件提供电流而产生的上述OLED元件的端子部电压值，控制/人上述电流源向上述OLED元件流入电流的4全测开关与上 述OLED元件连接而设置在上述像素上，上述检测部包括使上述余像特性值通过的第一路径和使上述温 度特性值衰减而使其通过的第二路径，上述第一路径上设置有第一开关，上述第二路径上设置有第二 开关，当上述第一开关闭合时，上述第二开关断开，通过上述第 一 路径或上述第二路径的上述检测出的特性值被输 入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
全文摘要
本发明提供一种有机EL显示装置，不伴随电路规模和功耗的增大而进行OLED元件的温度特性检测和余像特性检测。在图1的检测部(300)中，进行OLED元件的温度特性和余像特性的检测。由温度引起的OLED元件的端子电压变化较大为数V，由余像引起的OLED元件的端子电压变换较小为数mV～数十mV。使余像特性的检测数据通过第一路径(310)，使温度特性的检测数据通过第二路径(320)并使之衰减，由此能够使用温度检测和余像检测都相同的模拟-数字变换器ADC。由此防止检测电路的电路规模的增大和功耗的增大。根据本发明能够获得校正了温度特性和余像特性的图像。
文档编号G09G3/32GK101483031SQ200910002220
公开日2009年7月15日 申请日期2009年1月8日 优先权日2008年1月11日
发明者河野亨, 石井雅人, 秋元肇, 笠井成彦 申请人:株式会社日立显示器