专利名称：依据题型分析学习弱点的系统及其方法
技术领域：
本发明涉及一种弱点分析系统及其方法，特别是指一种依据题型分析学习弱点的系统及其方法。
背景技术：
现有辅助使用者学习的方式，绝大多数都是使用测验的方式，也就是在使用者阅读学习内容后，可以提供测验的功能，并在使用者完成测验后对测验结果进行分析，借以取得使用者在学习上弱点，并依据分析所得的弱点提供相关练习。目前提供语言学习的各种软件(如字典软件等)、装置(如语言翻译机等)或服务器的弱点分析，大多是针对语言的语法、句型等项目来区分，这样分出来的分析项目往往比较琐碎，造成分析出来的弱点比较分散，例如，在现有TOEIC的题库中，大约200道试题就有 50至100个分析项目。所以，若需要有效的分析出学习的弱点，则需要有大量的分析资料， 也就是说，试题库的规模要非常大才可能提供大量的分析资料。事实上，目前提供语言学习的各种软件以及装置并没有足够的题库，因此，分析的结果并不一定准确。另外，目前分析的结果通常是以柱状图或饼状图显示，由于分析的项目太多，因此用来显示分析结果的柱状图或饼状图无法有效的让使用者快速的得知学习上的弱点。综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在使用者无法由小规模题库有效获得学习弱点的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
发明内容
有鉴于现有技术存在无法由小规模题库有效获得学习弱点的问题，本发明于是公开一种依据题型分析学习弱点的系统及其方法，其中本发明所公开的依据题型分析学习弱点的系统，至少包含储存模块，用以储存多个试题，一试题对应一题型；统计模块，用以依据历次测验结果统计各试题的正确率或错误率并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果；雷达图产生模块，用以依据统计结果产生对应各题型的正确率或错误率的雷达图；题型判断模块，用以依据统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型；显示模块，用以显示雷达图；学习资源提供模块，用以依据正确率较低或错误率较高的题型提供相对应的学习资源。本发明所公开的依据题型分析学习弱点的方法，其步骤至少包括提供多个试题， 一试题对应一题型；依据历次测验结果统计各试题的正确率或错误率并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果；依据统计结果产生对应各题型的正确率或错误率的雷达图；依据统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型；显示雷达图；依据正确率较低或错误率较高的题型提供相对应的学习资源。本发明所公开的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明依据测验结果中各试题的正确率或错误率统计出各试题的题型的正确率或错误率，并依据统计结果显示雷达图及提供与正确率较低或错误率较高的题型相对应的学习资源，借以解决现有技术所存在的问题，并可以达成以较少数试题正确判断学习弱点的技术功效。
图1为本发明所提的依据题型分析学习弱点的系统架构图。
图2为本发明实施例所提的雷达图。
图3为本发明所提的依据题型分析学习弱点的方法流程图。
主要元件符号说明
110储存模块
120统计模块
130雷达图产生模块
140显示模块
150题型判断模块
160学习资源提供模块
190设定模块
200雷达图
210不规则区域
具体实施例方式以下将配合附图及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施， 借此实现本发明可达成的功效。本发明可以依据历次的测验结果，对测验结果中各试题的题型正确率或错误率进行统计，借以产生与统计结果相对应的雷达图，并依据统计出的测验结果较其他题型差的题型，提供相对应的学习资源。本发明所提的测验结果是使用者进行测验后的结果，使用者所进行的测验即为做答试题的过程，一般而言，使用者的每一次测验都需要做答多个试题。本发明可以储存使用者每一次测验的测验结果，借以进行测验结果的统计。本发明所提的学习资源是能够让使用者进行学习的资料，例如测验的试题，或是学习资料等，但本发明并不以此为限。其中，学习资料为可以让使用者了解试题的资料，例如试题的概念的说明，但本发明亦不以此为限。以下先以图1本发明所提的依据题型分析学习弱点的系统架构图来说明本发明的系统运作。如图1所示，本发明的系统含有储存模块110、统计模块120、雷达图产生模块 130、显示模块140、题型判断模块150、学习资源提供模块160。储存模块110负责储存多个试题，其中，储存模块110所储存的每个试题可以分为多个题型，每一个试题对应至一种题型，但每一种题型可以对应多个试题，也就是说，试题与题型为一对多的对应关系。储存模块110也负责储存使用者历次进行测验后所产生的测验结果。也就是说， 使用者在完成每一次的测验后所产生的测验结果会被储存模块110储存，被储存的测验结果即成为历次的测验结果的一部分。
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统计模块120负责依据储存模块110所储存的测验结果统计各个试题的正确率或错误率，并在统计出各试题的正确率或错误率后，依据各试题所对应的题型产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果。事实上，统计模块120除了可以对储存模块110中所有测验结果进行各试题的正确率或错误率的统计之外，统计模块120也可以依据使用者进行测验的测验日期(测验结果产生的日期)挑选出统计各试题的正确率或错误率的测验结果。例如，统计模块120可以挑选出连续两次测验的间隔时间在一定时间内的多个测验结果，也可以挑选出测验日期距离当下一定时间内的测验结果等，但统计模块120依据测验日期挑选进行统计的测验结果的方式并不以上述两者为限。雷达图产生模块130负责依据统计模块120所统计出的各题型的正确率或错误率的统计结果产生相对应的雷达图。雷达图产生模块130所产生的雷达图的顶点数与储存模块110所储存试题所分类的题型数相同，也就是说，储存模块110所储存试题所分类的每个题型都会是雷达图产生模块130所产生的雷达图的顶点，而统计模块120所统计出的各题型的正确率或错误率则表现在雷达图中，如图2所示为具有七个顶点的雷达图200，在雷达图200中的不规则区域210即为统计模块120所统计出的各题型的正确率或错误率。题型判断模块150负责依据统计模块120所统计出的各题型正确率或错误率的统计结果，判断出正确率较其他题型低或错误率较其他题型高的题型。显示模块140负责显示雷达图产生模块130所产生的雷达图。另外，显示模块140 也可以在题型判断模块150判断出正确率较其他题型低或错误率较其他题型高的题型后， 显示正确率较低或错误率较高的题型的提示信息。学习资源提供模块160负责依据题型判断模块150所判断出的正确率较低或错误率较高的题型，提供相对应的学习资源。学习资源提供模块160所提供的学习资源例如提供正确率较低或错误率较高的题型的测验，或是显示正确率较低或错误率较高的题型的学习资料，但学习资源提供模块160所提供的学习资源并不以上述两者为限，凡可以让使用者对正确率较低或错误率较高的题型进行学习的方式均可以被本发明所使用。此外，本发明更可以包含设定模块190，设定模块190负责在学习资源提供模块 160提供正确率较低或错误率较高的题型的测验时，提供设定测验各题型的试题的数量，使得学习资源提供模块160所执行的学习程序依据设定模块190所设定的各题型的试题数量测验使用者。接着以一个实施例来解说本发明的运作系统与方法，并请参照图3本发明所提的依据题型分析学习弱点的方法流程图。不论本发明是应用在测验程序中、包含于提供测验的电子装置上、或是执行于提供测验服务的服务器上，在本发明提供使用者使用前，储存模块110都需要储存多个试题。 在本实施例中，储存模块110所储存的试题包含于储存模块110所储存的TOEIC试题库中， 但本发明所提的试题并不以TOEIC试题为限。在TOEIC试题库中，包含七种题型，分别为 “看照片做答”、“听问句做答”、“听简短对话做答”与“听简短独白做答”等四种听力的题型以及“传统阅读测验题”、“完整填空题”与“单句填空题”等三种阅读的题型。在储存模块110储存试题后，便可以提供进行测验的试题(步骤301)，使得后续模块可以依据使用者测验后所产生的测验结果进行后续步骤。
在使用者完成测验并将测验结果储存至储存模块110后，统计模块120可以依据使用者历次进行测验所产生的测验结果统计各试题的正确率或错误率，并产生与各试题分别对应的各题型的正确率或错误率相对应的统计结果(步骤320)。在本实施例中，假设统计模块120在对历次测验结果中各试题的正确率进行统计后，统计出与题型“看照片做答” 对应的试题的正确率为“85%”、与题型对应的试题“听问句做答”的正确率为“60%”、与题型“听简短对话做答”对应的试题的正确率为“65% ”、与题型“听简短独白做答”对应的试题的正确率为“ 100 % ”、与题型“传统阅读测验题”对应的试题的正确率为“60% ”、与题型 “完整填空题”对应的试题的正确率为“65% ”、与题型“单句填空题”对应的试题的正确率为“ 30 % ”，但本发明并不以此为限。事实上，统计模块120在统计各试题的正确率或错误率，并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果(步骤320)时，并不一定需要依据使用者每一次进行测验所产生的测验结果来进行统计，也可以测验日期挑选进行统计的测验结果，例如，储存模块110所储存的测验结果的测验日期分别为2009/12/25、2010/2/8、2010/3/14、2010/4/8、 2010/4/13等，若统计模块120执行的当下为2010/4/15，则统计模块120可以挑选距今三个月内Q010/1/15至2010/4/15)所进行的四次测验的测验结果进行统计，也可以挑选由当下开始，间隔天数在一周内的测验的测验结果进行统计等，但本发明并不以此为限。其中，若统计模块120依据间隔天数在一周内的测验的测验结果进行统计，也就是说，统计模块120会先判断在2010/4/15的前一周内是否进行过测验，由于使用者在2010/4/13进行过测验，因此，使用者在2010/4/13所进行的测验的测验结果会被挑选，接着，统计模块120 会继续依据被挑选的测验的时间，也就是2010/4/13，判断前一周内是否进行过测验，相似的，使用者在2010/4/8进行过测验，所以，使用者在2010/4/8所进行的测验的测验结果会被挑选，而因为2010/4/8的前一周内使用者没有进行测验，因此，统计模块120会结束测验结果的挑选，而使用2010/4/8以及2010/4/13两次的测验结果进行统计。另外，统计模块120并不一定只能在使用者完成测验并将测验结果储存至储存模块110后才会执行，也可以在使用者欲观看测验结果时执行，但本发明并不以此为限。在统计模块120依据使用者历次进行测验所产生的测验结果统计出各试题的正确率或错误率并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果(步骤320)后，雷达图产生模块130可以依据统计模块120所统计出的各题型的正确率或错误率的统计结果产生如图2所示的雷达图200 (步骤330)，题型判断模块150也可以依据统计模块120所产生的统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型(步骤350)。在本实施例中，由于题型“单句填空题”的正确率仅有30%，而其他六种题型的正确率都在60%以上，因此，题型判断模块150会判断出正确率较低或错误率较高的题型为“单句填空题”的题型。其中，雷达图产生模块130依据各题型的正确率或错误率产生雷达图的步骤330 与题型判断模块150依据统计模块120所产生的统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型的步骤350并没有执行先后次序的关系，也就是说，雷达图产生模块130也可以在题型判断模块150判断出正确率较低或错误率较高的题型(步骤350)后，再产生雷达图(步骤 330)。在题型判断模块150依据统计模块120所产生的统计结果判断出正确率较低或错误率较高的题型(步骤350)后，学习资源提供模块160可以依据题型判断模块150所判断出的正确率较低或错误率较高的题型，提供相对应的学习资源(步骤370)。在本实施例中，假设学习资源提供模块160所提供的学习资源为显示正确率较低或错误率较高的题型的学习资料，则学习资源提供模块160所执行的学习程序将会显示出与题型“单句填空题” 相对应的学习资料，例如文法、介系词等资料，如此，使用者便可以得知自己的弱点在于“单句填空题”，并可以通过本发明加强“单句填空题”的学习。而若学习资源提供模块160所提供的学习资源为对正确率较低或错误率较高的题型进行测验，则学习资源提供模块160将会再次由储存模块110中读出题型为“单句填空题”的试题，并提供使用者进行测验，测验后所产生的测验结果同样会被储存至储存模块 110 中。上述实施例中，在雷达图产生模块130依据统计模块120所统计出的各题型的正确率或错误率产生雷达图(步骤330)后，显示模块140可以显示雷达图产生模块130所产生的雷达图(步骤340)，此外，在题型判断模块150依据统计模块120所产生的统计结果判断出正确率较低或错误率较高的题型(步骤350)后，显示模块140可以显示正确率较低或错误率较高的题型的提示(步骤360)，使得使用者可以通过显示模块140所显示的雷达图 200甚至通过显示模块140所显示的正确率较低或错误率较高的题型的提示得知自己的弱点ο另外，若本实施例中还包含设定模块190，则在学习资源提供模块160所执行的学习程序由储存模块110中读出题型为“单句填空题”的试题前，可以提供使用者设定欲进行测验的试题的数量，例如为5题，使得学习资源提供模块160所执行的学习程序由储存模块110中读出五个题型为“单句填空题”的试题，并提供使用者进行测验。事实上，设定模块190也可以提供使用者在设定界面中设定需要额外进行测验的试题的题型以及数量。例如，设定界面中可以列出所有的题型，也就是显示“看照片做答”、“听问句做答”、“听简短对话做答”与“听简短独白做答”、“传统阅读测验题”、“完整填空题”与“单句填空题”等七个题型，正确率较低或错误率较高的题型“单句填空题”预设为被选择进行测验，并无法取消选择，如此，学习资源提供模块160所执行的学习程序便会读出属于正确率较低或错误率较高的题型“单句填空题”的试题，借以提供使用者进行测验。而若使用者还通过设定模块 190在设定界面中选择题型“完整填空题”，则学习资源提供模块160所执行的学习程序也会由储存模块110中读出题型为“完整填空题”的试题，并提供使用者进行测验。另外，学习资源提供模块160所执行的学习程序由储存模块110中读出的试题的数量也可以由设定模块190提供使用者在设定界面中设定。综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有依据测验结果中各试题的正确率或错误率统计出各试题的题型的正确率或错误率，并依据统计结果显示雷达图及执行与正确率较低或错误率较高的题型相对应的学习程序的技术手段，借由此一技术手段可以解决现有技术所存在无法由小规模题库有效获得学习弱点的问题，进而达成以较少数试题正确判断学习弱点的技术功效。再者，本发明的依据题型分析学习弱点的方法，可实现于硬件、软件或硬件与软件的组合中，亦可在电脑系统中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互连的电脑系统的分散方式实现。虽然本发明所公开的实施方式如上，只是所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作些许的更动润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求范围所界定者为准。
权利要求
1.一种依据题型分析学习弱点的方法，其特征在于，该方法至少包含下列步骤提供多个试题，一该试题对应一题型；依据历次测验结果统计各该试题的正确率或错误率并产生与各该题型的正确率或错误率相对应的一统计结果；依据该统计结果产生对应各该题型的正确率或错误率的一雷达图；依据该统计结果判断正确率较低或错误率较高的至少一该题型；显示该雷达图；及依据正确率较低或错误率较高的该些题型提供相对应的学习资源。
2.如权利要求1所述的依据题型分析学习弱点的方法，其特征在于，该方法于该依据该统计结果判断正确率较低或错误率较高的至少一该题型的步骤后，更包含显示正确率较低或错误率较高的该些题型的提示信息的步骤。
3.如权利要求1所述的依据题型分析学习弱点的方法，其特征在于，该依据历次测验结果统计各该试题的正确率或错误率的步骤更包含依据测验日期挑选统计各该试题的正确率或错误率的测验结果的步骤。
4.如权利要求1所述的依据题型分析学习弱点的方法，其特征在于，该依据正确率较低或错误率较高的该些题型提供相对应的学习资源的步骤为提供测验正确率较低或错误率较高的该些题型的测验，或显示正确率较低或错误率较高的该些题型的学习资料。
5.一种依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该系统至少包含一储存模块，用以储存多个试题，一该试题对应一题型；一统计模块，用以依据历次测验结果统计各该试题的正确率或错误率并产生与各该题型的正确率或错误率相对应的一统计结果；一雷达图产生模块，用以依据该统计结果产生对应各该题型的正确率或错误率的一雷达图；一题型判断模块，用以依据该统计结果判断正确率较低或错误率较高的至少一该题型；一显示模块，用以显示该雷达图；及一学习资源提供模块，用以依据正确率较低或错误率较高的该些题型提供相对应的学习资源。
6.如权利要求5所述的依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该显示模块更用以显示正确率较低或错误率较高的该些题型的提示信息。
7.如权利要求5所述的依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该统计模块更用以依据测验日期挑选统计各该试题的正确率或错误率的测验结果。
8.如权利要求5所述的依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该系统所述的该学习资源为正确率较低或错误率较高的该些题型的测验。
9.如权利要求8所述的依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该系统更包含一设定模块，用以提供设定各该题型的试题数量。
10.如权利要求5所述的依据题型分析学习弱点的系统，其特征在于，该系统所述的该学习资源为正确率较低或错误率较高的该些题型的学习资料。
全文摘要
本发明公开了一种依据题型分析学习弱点的系统及其方法，其通过依据测验结果中各试题的正确率或错误率统计出各试题的题型的正确率或错误率，并依据统计结果显示雷达图及提供与正确率较低或错误率较高的题型相对应的学习资源的技术手段，可以由小规模的题库有效获得学习弱点，并达成以较少数试题正确判断学习弱点的技术功效。
文档编号G09B7/04GK102402873SQ201010278420
公开日2012年4月4日 申请日期2010年9月8日 优先权日2010年9月8日
发明者徐晓燕, 邱全成 申请人:英业达股份有限公司