一种绑定电阻测试结构及显示装置的制作方法

1.本实用新型涉及显示领域，尤其涉及一种绑定电阻测试结构及显示装置。


背景技术：

2.显示装置中经常会通过设备绑定ic（cog技术，即chiponglass）和绑定fpc（fog技术，即fpconglass），但是经常会因为绑定ic或者fpc之后发现绑定物体与被绑定物体两者之间的绑定接触不良，故需要对其绑定情况做电阻测试来判断绑定是否合格，如果绑定电阻太大，会造成信号的传输损失，从而使显示装置显示不良。
3.另外常见的cog和fog绑定电阻测试都是分开放置的，即cog绑定电阻测试是单独的一个测试pad回路，fog绑定电阻测试又是另外一个测试pad回路，需要较多的pad，占用了显示装置的太多空间，对显示装置的整体布局没有优势。


技术实现要素：

4.为了解决上述现有技术的不足，本实用新型提供一种绑定电阻测试结构，可使显示装置的绑定电阻测试结果不受自身走线电阻的影响。
5.本实用新型还提供了一种显示装置。
6.本实用新型所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
7.一种绑定电阻测试结构，包括：
8.ic绑定单元，用于与驱动ic进行绑定，包括m个ic绑定pad，m为正整数，各个ic绑定pad之间依次电性连接；
9.fpc绑定单元，用于与fpc进行绑定，包括m+1个fpc绑定pad，前m个fpc绑定pad分别与对应的ic绑定pad电性连接，第m+1个fpc绑定pad与第m个fpc绑定pad电性连接；
10.测试连接单元，用于与测试设备连接，包括m+1个测试连接pad，各个测试连接pad与对应的fpc绑定pad电性连接。
11.进一步地，所述fpc绑定pad与对应的ic绑定pad之间通过对应的第一导线相连接。
12.进一步地，所述fpc绑定pad与对应的测试连接pad之间通过对应的第二导线相连接。
13.进一步地，各个ic绑定pad之间通过对应的第三导线相连接。
14.进一步地，第m+1个fpc绑定pad与第m个fpc绑定pad之间通过第四导线相连接。
15.进一步地，所述ic绑定pad、fpc绑定pad和测试连接pad中至少一种为金属pad。
16.进一步地，所述ic绑定pad的数量为3个，所述fpc绑定pad和测试连接pad的数量分别为4个。
17.一种显示装置，包括显示区域和非显示区域，上述的绑定电阻测试结构设置于所述非显示区域上；所述ic绑定单元上绑定有驱动ic，所述fpc绑定单元上绑定有fpc。
18.本实用新型具有如下有益效果：该绑定电阻测试结构通过同一个测试连接单元与测试设备进行连接，可减少测试连接pad的数量，减小所述测试连接单元在显示装置上的占
用空间，且所述显示装置的绑定电阻测试结果不受自身走线电阻的影响。
附图说明
19.图1为本实用新型提供的显示装置的示意图；
20.图2为本实用新型提供的绑定电阻测试结构的示意图。
具体实施方式
21.下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的说明。
22.如图1所示，一种显示装置，包括显示区域1、非显示区域2和绑定电阻测试结构，所述绑定电阻测试结构设置于所述非显示区域2上，包括ic绑定单元10、fpc绑定单元20和测试连接单元30；所述ic绑定单元10上绑定有驱动ic3，所述fpc绑定单元20上绑定有fpc4。
23.所述ic绑定单元10用于与驱动ic3进行绑定，包括m个ic绑定pad，m为正整数，各个ic绑定pad之间依次电性连接，本实施例中，m=4，即所述ic绑定pad的数量为3个，分别为第一ic绑定pad101、第二ic绑定pad102和第三ic绑定pad103。
24.所述fpc绑定单元20用于与fpc4进行绑定，包括m+1个fpc绑定pad，前m个fpc绑定pad分别与对应的ic绑定pad电性连接，第m+1个fpc绑定pad与第m个fpc绑定pad电性连接，本实施例中，所述fpc绑定pad的数量为4个，分别为第一fpc绑定pad201、第二fpc绑定pad202、第三fpc绑定pad203和第四fpc绑定pad204。
25.所述测试连接单元30用于与测试设备连接，包括m+1个测试连接pad，各个测试连接pad与对应的fpc绑定pad电性连接，本实施例中，所述测试连接pad的数量为4个，分别为第一测试连接pad301、第二测试连接pad302、第三测试连接pad303和第四测试连接pad304。
26.其中，所述fpc绑定pad与对应的ic绑定pad之间通过对应的第一导线40相连接，所述fpc绑定pad与对应的测试连接pad之间通过对应的第二导线50相连接，各个ic绑定pad之间通过对应的第三导线60相连接，第m+1个fpc绑定pad与第m个fpc绑定pad之间通过第四导线70相连接。
27.假设每个fpc绑定pad的阻值为x，每个ic绑定pad的阻值为y，每条第一导线40的阻值为a，每条第二导线50的阻值为b，而相邻的ic绑定pad之间的距离以及相邻的fpc绑定pad之间的距离较小，故所述第三导线60和第四导线70的阻值可忽略不计。
28.在进行绑定电阻测试时，先将测试设备分别与所述第一测试连接pad301和第二测试连接pad302相连接进行检测，此时测试回路依次经过所述第一fpc绑定pad201、第一ic绑定pad101、第二ic绑定pad102和第二fpc绑定pad202，假设所述测试设备上显示阻值为p，则有2a+2b+2x+2y=p；再将测试设备分别与所述第一测试连接pad301和第三测试连接pad303相连接进行检测，此时测试回路依次经过所述第一fpc绑定pad201、第一ic绑定pad101、第二ic绑定pad102、第三ic绑定pad103和第三fpc绑定pad203，假设所述测试设备上显示阻值为q，则有2a+2b+2x+3y=q；最后将测试设备分别与所述第一测试连接pad301和第四测试连接pad304相连接进行检测，此时测试回路依次经过所述第一fpc绑定pad201、第一ic绑定pad101、第二ic绑定pad102、第三ic绑定pad103、第三fpc绑定pad203和第四fpc绑定pad204，假设所述测试设备上显示阻值为m，则有2a+2b+3x+3y=m。
29.通过上述三次检测所得到的阻值p、q和m，可得到x=m
‑
q，y=q
‑
p，可见计算得到的所
述fpc绑定pad的阻值x以及所述ic绑定pad的阻值y只与三次检测得到的阻值p、q和m有关，而与所述第一导线40的阻值a以及所述第二导线50的阻值b无关，绑定电阻测试结果不受所述第一导线40和第二导线50的阻值影响。
30.该绑定电阻测试结构通过同一个测试连接单元30与测试设备进行连接，可减少测试连接pad的数量，减小所述测试连接单元30在显示装置上的占用空间，且所述显示装置的绑定电阻测试结果不受自身走线电阻的影响。
31.优选地，所述ic绑定pad、fpc绑定pad和测试连接pad中至少一种为金属pad。
32.以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本实用新型的保护范围之内。