一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备的制作方法

本技术涉及显示屏测试的，尤其涉及一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备。

背景技术：

1、随着显示屏行业的发展，lcd(liquid crystal display，液晶显示器)显示屏越来越受到人们的青睐，与传统的显示屏相比，lcd显示器不但体积小，厚度薄，重量轻、耗能少，能够满足当前行业的发展。而在lcd显示屏的生产出货过程中，需要对显示屏进行高温老化煲机测试，以确认其耐高温抗老化的能力。

2、测试过程中，lcd显示屏需要在高温炉内进行点亮，目前，点亮操作通常需要借助信号发生器模块，例如，如图1所示，煲机过程中lcd屏需要通过ffc(flexible flat cable，柔性扁平电缆)排线和高温炉外的信号发生器模块连接，信号发生器模块将图像存储模块的图片数据实时转换成ttl信号输出到高温炉的测试电路板后对lcd屏进行点亮。

3、而随着lcd分辨率的不断提升，当lcd分辨率超过4k时，传统的设备方案出现一些测试问题，例如在高频应用条件下ttl(一种电平信号)信号衰减非常严重，导致信号质量太差 lcd显示异常，而目前市场上常见的信号转换芯片只有支持2k左右，高温炉内外测试设备需要使用ffc排线连接，在传输高速lvds信号时也会有很大的衰减，导致信号质量太差lcd 显示异常。

技术实现思路

1、本实用新型为解决当前液晶显示器在老化煲机测试时，点亮过程容易出现信号衰减严重，信号质量差以及显示异常的技术问题，提供一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备。

2、为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案如下：

3、一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，包括高温炉和点亮装置，所述点亮装置设置在所述高温炉内部，并与高温炉内部待测试的液晶显示器连接；所述点亮装置包括电源控制模块和测试芯片组件；所述测试芯片组件与所述电源控制模块电性连接，并根据电源控制模块电压输入点亮液晶显示器；所述测试芯片组件包括存储芯片和tcon(一种时序控制芯片)芯片，所述存储芯片设置有配置数据，所述tcon芯片提取所述存储芯片中的配置数据向液晶显示器输出测试图片的信号。

4、进一步的，所述电源控制模块包括偏置电压组件和处理器，所述处理器通过偏置电压组件与测试芯片组件控制连接，以控制测试芯片组件点亮动作的开启。

5、进一步的，所述处理器与偏置电压组件时序输出控制连接。

6、进一步的，所述配置数据包括输出的测试图片的数量以及图片切换的时间间隔。

7、进一步的，所述点亮装置包括电路板，所述电源控制模块和测试芯片组件集成设置在所述电路板上。

8、进一步的，所述电路板与所述液晶显示器通过信号线连接。

9、进一步的，所述电路板为pcba板。

10、进一步的，所述高温炉的工作温度为65～70℃。

11、进一步的，所述配置数据为所述tcon芯片的初始化code。

12、进一步的，所述tcon芯片的规格与所述液晶显示器的分辨率相匹配。

13、本实用新型点亮设备去除了信号发生模块，在高温炉内的测试电路板增加偏置电压模块、 tcon芯片和存储芯片，存储芯片用于存储tcon芯片的配置数据，点亮时，tcon芯片通过配置数据输出的测试图片的数量以及图片切换的时间间隔，使lcd显示屏的测试画面停留在特定测试图片。该点亮设备不仅可以支持传统低分辨率的lcd老化煲机应用，当lcd屏的分辨率继续提高时只需要更换与之匹配的tcon芯片即可，从而提高设备的兼容性，并且避免使用过长的排线，不会造成信号衰减，能够有效提高信号链路的稳定性。

技术特征：

1.一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，包括高温炉和点亮装置，所述点亮装置设置在所述高温炉内部，并与高温炉内部待测试的液晶显示器连接；所述点亮装置包括电源控制模块和测试芯片组件；所述测试芯片组件与所述电源控制模块电性连接，并根据电源控制模块电压输入点亮液晶显示器；所述测试芯片组件包括存储芯片和tcon芯片，所述存储芯片设置有配置数据，所述tcon芯片提取所述存储芯片中的配置数据向液晶显示器输出测试图片的信号。

2.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述电源控制模块包括偏置电压组件和处理器，所述处理器通过偏置电压组件与测试芯片组件控制连接，以控制测试芯片组件点亮动作的开启。

3.根据权利要求2所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述处理器与偏置电压组件时序输出控制连接。

4.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述配置数据包括输出的测试图片的数量以及图片切换的时间间隔。

5.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述点亮装置包括电路板，所述电源控制模块和测试芯片组件集成设置在所述电路板上。

6.根据权利要求5所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述电路板与所述液晶显示器通过信号线连接。

7.根据权利要求5所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述电路板为pcba板。

8.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述高温炉的工作温度为65～70℃。

9.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述配置数据为所述tcon芯片的初始化code。

10.根据权利要求1所述的液晶显示器老化煲机测试点亮设备，其特征在于，所述tcon芯片的规格与所述液晶显示器的分辨率相匹配。

技术总结
本技术涉及显示屏测试的技术领域，尤其涉及一种液晶显示器老化煲机测试点亮设备。包括高温炉和点亮装置，所述点亮装置设置在所述高温炉内部，并与高温炉内部待测试的液晶显示器连接；所述点亮装置包括电源控制模块和测试芯片组件；所述测试芯片组件与所述电源控制模块电性连接，并根据电源控制模块电压输入点亮液晶显示器；所述测试芯片组件包括存储芯片和TCON(一种时序控制芯片)芯片，所述存储芯片设置有配置数据，所述TCON芯片提取所述存储芯片中的配置数据向液晶显示器输出测试图片的信号。本技术能够提高设备的兼容性，并且避免使用过长的排线，不会造成信号衰减，能够有效提高信号链路的稳定性。

技术研发人员：黄同意,郭治宇,王领然,游晓鹤,陈璐璐,黄雪展
受保护的技术使用者：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
技术研发日：20220928
技术公布日：2024/1/13