测试电路及其方法与流程

本公开涉及显示装置，更具体地，涉及一种测试电路及其方法。

背景技术：

1、显示系统(display system)是一种提供视觉信息的电子系统，包括视频解码器(video decoder)、存储单元(ram)和显示装置(display)。视频解码器用于对接收的压缩数据进行解码后存储至存储单元，显示装置从存储单元读取解码后的图像数据并进行显示。

2、相关技术中，在视频解码器与显示装置通信的过程中，通常需要软件(firmware)将每一帧图像数据配置对应的内存地址(ddr地址)，以便于显示装置依次读取与ddr地址相对应的图像数据。这种验证显示装置功能的方式，不利于早期发现电路设计过程中的问题，导致电路验证周期较长。

技术实现思路

1、本公开提出了一种测试电路及其方法。

2、根据本公开的第一方面，提出了一种用于显示装置的测试电路，包括数据获取子电路，包括通信接口，通信接口配置为接收寄存器配置指令；其中，寄存器配置指令包括多个内存地址和寄存器状态控制指令；状态机子电路，与数据获取子电路电连接，配置为根据寄存器状态控制指令，配置状态机子电路的状态；总线管理子电路，与状态机子电路电连接，配置为根据状态机子电路的状态，将多个内存地址的当前内存地址发送至与测试电路电连接的被测电路，以使被测电路读取与当前内存地址相对应的帧图像。

3、例如，寄存器状态控制指令包括开始指令、清除指令和触发指令中的一种。

4、例如，状态机子电路配置为，在寄存器配置指令包括开始指令的情况下，根据开始指令，将状态机子电路的状态切换为配置状态，以使状态机子电路进入工作状态。

5、例如，状态机子电路配置为，在寄存器配置指令包括清除指令的情况下，根据清除指令，将状态机子电路的状态切换为空闲状态。

6、例如，寄存器配置指令包括触发指令，触发指令指示在当前处理周期的下一处理周期，将当前内存地址的下一内存地址发送至与测试电路电连接的被测电路。

7、例如，状态机子电路还配置为响应于状态机子电路的状态切换为配置状态，状态机子电路控制总线管理子电路，将多个内存地址的当前内存地址发送至与测试电路电连接的被测电路，以及配置被测电路的使能状态，以使被测电路读取与当前内存地址相对应的帧图像。

8、例如，数据获取子电路还配置为通过通信接口接收来自被测电路的标志信号；其中标志信号用于更改状态机子电路的状态，以使测试电路周期性地控制被测电路。

9、例如，标志信号包括图像完成信号和图像准备信号；其中，状态机子电路配置为根据图像完成信号和图像准备信号，将状态机子电路的状态设置为配置状态或等待状态。

10、例如，图像完成信号和图像准备信号指示在当前处理周期，被测电路是否完成读取帧图像。

11、根据本公开实施例的第二方面，提供了一种用于显示装置的测试方法，包括：接收寄存器配置指令；其中，寄存器配置指令包括多个内存地址和寄存器状态控制指令；根据寄存器状态控制指令，配置状态机子电路的状态；根据状态机子电路的状态，将多个内存地址的当前内存地址发送至与测试电路电连接的被测电路，以使被测电路读取与当前内存地址相对应的帧图像。

12、根据本公开实施例的第三方面，提供了一种测试装置，包括至少一个被测电路；至少一个本公开第一个方面提供的测试电路，与至少一个被测电路电连接，配置为对至少一个被测电路进行功能测试。

13、根据公开实施例的技术方案，提供了一种用于显示装置的测试电路。该测试电路用于代替传统的软件来验证被测电路的功能，以使在硬件设计早期就可以完成对被测电路的功能验证，减小验证周期，降低验证成本。

技术特征：

1.一种用于显示装置的测试电路，包括：

2.根据权利要求1所述的电路，其中，所述寄存器状态控制指令包括开始指令、清除指令和触发指令中的一种。

3.根据权利要求2所述的电路，其中，所述状态机子电路配置为，在所述寄存器配置指令包括开始指令的情况下，根据所述开始指令，将所述状态机子电路的状态切换为配置状态，以使所述状态机子电路进入工作状态。

4.根据权利要求2所述的电路，其中，所述状态机子电路配置为，在所述寄存器配置指令包括清除指令的情况下，根据所述清除指令，将所述状态机子电路的状态切换为空闲状态。

5.根据权利要求2所述的电路，其中，所述寄存器配置指令包括触发指令，所述触发指令指示在当前处理周期的下一处理周期，将所述当前内存地址的下一内存地址发送至与所述测试电路电连接的被测电路。

6.根据权利要求3所述的电路，其中，所述状态机子电路还配置为：

7.根据权利要求5所述的电路，其中，所述数据获取子电路还配置为：

8.根据权利要求7所述的电路，其中，所述标志信号包括图像完成信号和图像准备信号；

9.根据权利要求8所述的电路，其中，所述图像完成信号和所述图像准备信号指示在当前处理周期，所述被测电路是否完成读取所述帧图像。

10.一种用于显示装置的测试方法，包括：

技术总结
本公开提供了一种测试电路及其方法，该测试电路包括数据获取子电路，包括通信接口，通信接口配置为接收寄存器配置指令；其中，寄存器配置指令包括多个内存地址和寄存器状态控制指令；状态机子电路，与数据获取子电路电连接，配置为根据寄存器状态控制指令，配置状态机子电路的状态；总线管理子电路，与状态机子电路电连接，配置为根据状态机子电路的状态，将多个内存地址的当前内存地址发送至与测试电路电连接的被测电路，以使被测电路读取与当前内存地址相对应的帧图像。

技术研发人员：曹永斌,陈鹏
受保护的技术使用者：海宁奕斯伟集成电路设计有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12