一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置的制作方法

本发明涉及测试，尤其是指一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置。

背景技术：

1、参照图1，传统高温老化测试治具主要包括fpga信号板、电源板、信号桥接模块(可选)、接口转板、显示屏；fpga信号板输出rgb、lvds、mcu、mipi(需加信号桥接模块)、v-by-one(需加信号桥接模块)等信号到接口转板；电源板输出多通道电源到接口转板；接口转板把点屏所需信号及电源传输到显示屏进行点屏及高温老化测试。

2、传统高温老化测试治具中一套包括fpga信号板、电源板、信号桥接模块(可选)、接口转板等板件的治具只能点亮1块显示屏；显示屏模组厂中的老化台车或老化炉需求同时点亮很多显示屏进行高温老化测试，比如说，一个老化台车或老化炉需要同时测试100块显示屏，那么传统高温老化测试治具就需要使用100套治具，这不仅会导致传统高温老化测试治具成本高昂也会导致老化台车或者老化炉的生产成本更高，同时也会增加人力成本，影响生产效率，进而影响企业的生产效益。

技术实现思路

1、为此，本发明所要解决的技术问题在于提供一种成本低、可扩展、效率高的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，该基于soc系统的显示屏高温老化测试装置包括：soc主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；

3、所述soc主信号板与pc端上位机通讯连接，所述多个点屏子板分别通过信号线与soc主信号板连接，所述soc主信号板用于将pc端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述soc主信号板；

4、每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。

5、在本发明的一个实施例中，所述点屏子板的数量为n，所述输出接口转板为n组，每组输出接口转板包括两个输出接口转板，所述soc主信号板可控制点亮2n块待测显示屏；n≥2。

6、在本发明的一个实施例中，所述soc主信号板包括soc主控芯片、千兆网口、ddr模块、sd卡、ip拨码、按键、输出接口，所述soc主控芯片通过千兆网口跟pc端上位机通讯；所述ddr模块用于数据缓存；所述sd卡用于存储系统文件、程序文件、配置文件；所述ip拨码作为soc主信号板的唯一id；所述按键用于离线点屏或者离线跑脚本做老化测试流程；所述soc主信号板的输出接口通过连接线与点屏子板连接。

7、在本发明的一个实施例中，所述点屏子板包括输入接口、lvds hub模块、mcu主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口；所述点屏子板的输入接口通过连接线与soc主信号板连接；所述lvds hub模块把2link 10bit lvds信号复制成2组2link 10bit lvds信号，再分别传输到2块输出接口转板；所述mcu主控芯片通过总线信号与soc主信号板连接，一块soc主信号板可同时控制多块点屏子板的mcu，所述mcu主控芯片控制2组多通道可调恒压电源、2组多通道可调恒流电源及gpio信号的输出；每个点屏子板有2个输出接口，每个输出接口输出2link 10bit lvds信号、1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及gpio信号。

8、在本发明的一个实施例中，所述输出接口转板包括输入接口和输出接口；所述输出接口转板的输入接口通过连接线与点屏子板连接；所述输出接口转板的输出接口通过连接线与待测显示屏连接，传输点亮待测显示屏所需的信号、多通道电源及gpio信号。

9、在本发明的一个实施例中，所述输出接口转板还包括信号桥接模块。

10、在本发明的一个实施例中，每个soc主信号板和每个点屏子板都使用独立的系统电源供电。

11、在本发明的一个实施例中，所述待测显示屏为lcd屏体、oled屏体或micro led屏体，或者为lvds、rgb、spi、fpd-link、v-by-one、mipi和edp信号类型的屏体。

12、本发明还提供了一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其包括：soc主信号板和多级点屏子板，每级点屏子板均包括多个点屏子板；

13、次一级点屏子板中的每个点屏子板与上一级点屏主板中的点屏主板一一连接，每个点屏子板可连接一个待测显示屏；

14、所述soc主信号板与pc端上位机通讯连接，第一级点屏子板中的多个点屏子板分别通过信号线与soc主信号板连接，所述soc主信号板用于将pc端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述soc主信号板。

15、在本发明的一个实施例中，所述点屏子板为m级，每一级点屏子板包括n个点屏子板，所述soc主信号板可控制点亮m*n块待测显示屏；m≥2，n≥2。

16、本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

17、本发明的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置中1块soc主信号板可拓展带很多块点屏子板，进而可同时点亮很多片待测显示屏，实现了以更低的成本完成更多显示屏的高温老化测试，从而有效节约人力及生产成本、提高生产效率。

18、上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

技术特征：

1.一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，包括：soc主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；

2.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板的数量为n，所述输出接口转板为n组，每组输出接口转板包括两个输出接口转板，所述soc主信号板可控制点亮2n块待测显示屏；n≥2。

3.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述soc主信号板包括soc主控芯片、千兆网口、ddr模块、sd卡、ip拨码、按键、输出接口，所述soc主控芯片通过千兆网口跟pc端上位机通讯；所述ddr模块用于数据缓存；所述sd卡用于存储系统文件、程序文件、配置文件；所述ip拨码作为soc主信号板的唯一id；所述按键用于离线点屏或者离线跑脚本做老化测试流程；所述soc主信号板的输出接口通过连接线与点屏子板连接。

4.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板包括输入接口、lvds hub模块、mcu主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口；所述点屏子板的输入接口通过连接线与soc主信号板连接；所述lvdshub模块把2link 10bit lvds信号复制成2组2link 10bit lvds信号，再分别传输到2块输出接口转板；所述mcu主控芯片通过总线信号与soc主信号板连接，一块soc主信号板可同时控制多块点屏子板的mcu，所述mcu主控芯片控制2组多通道可调恒压电源、2组多通道可调恒流电源及gpio信号的输出；每个点屏子板有2个输出接口，每个输出接口输出2link10bit lvds信号、1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及gpio信号。

5.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述输出接口转板包括输入接口和输出接口；所述输出接口转板的输入接口通过连接线与点屏子板连接；所述输出接口转板的输出接口通过连接线与待测显示屏连接，传输点亮待测显示屏所需的信号、多通道电源及gpio信号。

6.根据权利要求5所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述输出接口转板还包括信号桥接模块。

7.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，每个soc主信号板和每个点屏子板都使用独立的系统电源供电。

8.根据权利要求1所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述待测显示屏为lcd屏体、oled屏体或micro led屏体，或者为lvds、rgb、spi、fpd-link、v-by-one、mipi和edp信号类型的屏体。

9.一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，包括：soc主信号板和多级点屏子板，每级点屏子板均包括多个点屏子板；

10.根据权利要求9所述的基于soc系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板为m级，每一级点屏子板包括n个点屏子板，所述soc主信号板可控制点亮m*n块待测显示屏；m≥2，n≥2。

技术总结
本发明公开了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其包括：SoC主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至SoC主信号板；每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。本发明的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置中1块SoC主信号板可拓展带很多块点屏子板，进而可同时点亮很多片待测显示屏，实现了以更低的成本完成更多显示屏的高温老化测试，从而有效节约人力及生产成本、提高生产效率。

技术研发人员：张浩熙,彭涛,王斌,周啟俊,邱丽君
受保护的技术使用者：苏州佳智彩光电科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12