一种显示模组测试装置、系统和方法与流程

本申请涉及显示模组测试，尤其涉及一种显示模组测试装置、一种显示模组测试系统和一种显示模组测试方法。

背景技术：

1、在自动化测试产品线上，屏幕模组跟随着流水线前进，机械手精准抓取模组放置到测试工站，然后控制电控系统，将模组接口压接到测试板卡，最后cpu单元，通过压接探针向显示模组发送显示图片数据，用来检验屏幕模组的缺陷。在测试工站的设计中，常规的设计思路往往只关注pcb板级的信号设计，而忽略了探针。实际上随着屏幕分辨率的提升，所传输的图片数据信号速率也越来越高，不合理的常规探针信号排布设计导致了严重的信号完整性问题，导致点屏出现画异、闪屏等问题。

2、在现有的常规设计中，探针模块上的探针阵列式分布，高速差分信号(dp、dn信号)位于相邻设置的2个探针，周围为gnd参考信号。由于探针比较粗(例如1.56mm)，相互之间距离很近(例如2mm)，导致差分信号dp、dn之间有很强的耦合，实际测试结果如图1所示，m1，m2，m3为正面探针测试板上的传输线的阻抗波动，m5为反面探针测试板上传输线的阻抗，上述信号排布方式的差分特征阻抗为46.5ω，而理想的差分线特征阻抗为100ω，因此会导致严重的阻抗不匹配问题。

3、结合图2所示，探针当前应用的信号排布方式的3db带宽为：2.3ghz；探针当前应用的信号排布方式的3db带宽内回损最大值为：-2.747db。探针当前的应用排布方式只能应用于2.3g以内的低速信号，例如d-phy(1.5g以内)或者dp的rbr(1.62g)等，无法应用于10g以上的高速信号。

技术实现思路

1、针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本发明提供了一种显示模组测试装置、系统和方法，旨在解决现有的显示模组测试装置各信号探针均匀阵列分布导致差分信号之间阻抗不匹配，无法实现高速信号传输的问题。

2、为实现上述目的，按照本发明的第一个方面，提供了一种显示模组测试装置，包括：探针模块，设置于测试电路板上，包括探针阵列，用于在待测显示模组与所述测试电路板之间传输测试信号；所述探针阵列包括差分信号探针和地信号探针；其中，所述地信号探针之间均匀间隔设置，所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离，以减小所述差分信号探针的特征阻抗与目标阻抗之差。

3、在本发明的一个实施例中，所述探针模块还包括：所述探针模块还包括：固定装置，设置有均匀间隔分布的探针定位孔，所述地信号探针和所述差分信号探针可插拔地固定设置于对应的所述探针定位孔中。

4、在本发明的一个实施例中，所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

5、在本发明的一个实施例中，所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

6、在本发明的一个实施例中，所述差分信号探针之间、所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量分别不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

7、在本发明的一个实施例中，一部分所述地信号探针与所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量，另一部分所述地信号探针与所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量相同。

8、在本发明的一个实施例中，所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量为零，所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量大于零。

9、在本发明的一个实施例中，所述探针模块还包括：固定装置，设置有地信号探针专用孔和差分信号探针专用孔，分别用于固定所述地信号探针和所述差分信号探针；其中，所述地信号探针专用孔均匀间隔分布，所述差分信号探针专用孔之间、所述差分信号探针专用孔与所述地信号探针专用孔之间的间隔距离分别不同于所述地信号探针之间的间隔距离。

10、按照本发明的第二个方面，还提供了一种显示模组测试系统，其包括：测试电路板；上述中任意一个实施例所述的显示模组测试装置，固定设置于所述测试电路板上；所述测试电路板通过所述探针阵列连接至待测显示模组。

11、按照本发明的第三个方面，还提供了一种显示模组测试方法，适用于上述任意一个实施例所述的显示模组测试装置，其包括：将包括差分信号探针和地信号探针的探针模块安装于测试电路板上；定义所述测试电路板上与所述信号探针对应的信号类型，并使所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离；将待测显示模组与所述探针模块压接进行点屏测试。

12、在本发明的一个实施例中，所述使所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离，包括：将所述差分信号探针与所述地信号探针可插拔地固定于均匀分布的探针定位孔中；通过插拔探针使所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

13、在本发明的一个实施例中，所述使所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离，包括：将所述地信号探针固定于均匀分布的地信号探针专用孔中；将所述差分信号探针固定于相互之间、且与所述地信号探针专用孔之间间距分别不同的差分信号探针专用孔中。

14、总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，至少能够取得下列有益效果：

15、1)通过改变差分信号探针之间和/或差分信号探针与地信号探针之间的间隔距离，使其不同于地信号探针之间的间隔距离，能够在不改变探针本身的材料和结构的前提下，有效优化差分探针的特征阻抗，提高差分探针的3db带宽，使探针能够应用于10ghz以上的高速信号环境；

16、2)将差分信号探针与地信号探针可插拔地固定于均匀分布的探针定位孔中，通过插拔探针使差分信号探针之间和/或差分信号探针与地信号探针之间间隔预设数量的探针定位孔，以此改变探针之间的间距，能够快速便捷地实现对差分探针特征阻抗的优化；

17、3)在探针模块的固定装置设置用于固定地信号探针的地信号探针专用孔和用于固定差分信号探针的差分信号探针专用孔，差分信号探针专用孔之间、差分信号探针专用孔与地信号探针专用孔之间的距离根据仿真结果定制化设计，能够极大程度上满足阻抗匹配的要求。

技术特征：

1.一种显示模组测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述探针模块还包括：

3.根据权利要求2所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

4.根据权利要求2所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

5.根据权利要求2所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述差分信号探针之间、所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量分别不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量。

6.根据权利要求2所述的显示模组测试装置，其特征在于，一部分所述地信号探针与所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量不同于所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量，另一部分所述地信号探针与所述差分信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量相同。

7.根据权利要求3-6中任意一项所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量为零，所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间间隔的所述探针定位孔的数量大于零。

8.根据权利要求1所述的显示模组测试装置，其特征在于，所述探针模块还包括：

9.一种显示模组测试系统，其特征在于，包括：

10.一种显示模组测试方法，适用于如权利要求1-9中任意一项所述的显示模组测试装置，其特征在于，包括：

技术总结
本申请公开了一种显示模组测试装置，包括：探针模块，设置于测试电路板上，包括探针阵列，用于在待测显示模组与所述测试电路板之间传输测试信号；所述探针阵列包括差分信号探针和地信号探针；其中，所述地信号探针之间均匀间隔设置，所述差分信号探针之间和/或所述差分信号探针与所述地信号探针之间的间隔距离不同于所述地信号探针之间的间隔距离。其可以解决现有的显示模组测试装置各信号探针均匀阵列分布导致差分信号之间阻抗不匹配，无法实现高速信号传输的问题。

技术研发人员：焦冬冬
受保护的技术使用者：武汉精立电子技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13