一种LED显示屏边缘亮度修正方法与流程

本发明属于led显示光学采集校正，涉及一种led显示屏边缘亮度的修正方法。

背景技术：

1、led发光管芯由于其自身发光离散性和性能衰减等原因，会导致在相同的电压电流的情况下，相同规格的不同led发光管芯所发出的亮度和或色度并不相同，进而导致led显示屏出现亮度、色度不均匀现象。为了提高led显示屏的显示均匀性，增强人眼观看的舒适度，出现了led显示屏校正技术。而将多个校正后的显示箱体拼接搭建成led显示屏后，发现拼接处存在亮线影响显示效果，这是由于显示箱体的边缘灯点只存在少数周围像素的亮度叠加，其亮度相较于其他位置偏暗，因此校正时边缘的校正系数会偏大，导致校正后边缘亮度比中间偏高，因此需要进一步针对显示箱体四周边缘的亮度进行修正，以消除拼缝处的亮线，使led显示屏整体显示效果均匀。

技术实现思路

1、本发明要解决技术问题是提供一种能消除拼缝处的亮线，使led显示屏整体显示效果均匀的led显示屏边缘亮度修正方法。

2、为了解决上述技术问题，本发明的led显示屏边缘亮度修正方法如下：

3、针对显示箱体左侧边缘的r列像素，采集各列像素灰度值并计算其灰度均值；运用第s～r列像素灰度均值进行二维多项式(1)拟合，得到多项式系数p1、p2、p3；

4、am，left＝p1*m2+p2*m+p3(m＝s～r)   (1)

5、am，left为第m列像素灰度均值；

6、根据公式(2)计算左侧边缘各列像素的拟合亮度；

7、

8、im，left为第m列像素的拟合亮度；

9、计算左侧边缘各列像素的修边比例：

10、bm，left＝im，left/am，left   (3)

11、bm，left为左侧边缘第m列像素的修边比例；

12、同理，得到右侧、上侧、下侧边缘各列或各行像素的修边比例；

13、将边缘各列或各行像素的修边比例与对应像素原始校正系数相乘得到该像素最终修正系数。

14、进一步，设显示箱体具有y行x列，y、x中的最大值为n，则r为n/32的2～4倍。

15、进一步，s＝round(n/32)。

16、所述显示箱体各像素的原始校正系数通过预先对显示箱体进行校正得到。

17、针对显示箱体左侧边缘的r列像素，各列像素灰度值采集方法如下：每次点亮一列像素，同时利用相机对准点亮的一列像素拍摄图片，得到各列像素灰度值。

18、进一步，将相机固定在横向导轨上，从边缘至里侧每次点亮一列像素，点亮下一列像素时，相机在导轨上向右移动一个列间距的距离。

19、进一步，可以采用全部点亮方式点亮每列像素。

20、进一步，可以采用隔行像素点亮方式点亮每列像素。

21、有益效果：

22、将多个显示箱体拼接为led显示屏，对于每个显示箱体边缘像素加载最终修正系数，其他像素加载原始校正系数进行显示，可以看到拼缝处的亮线消失，led显示屏整体显示效果均匀。

技术特征：

1.一种led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于该方法如下：

2.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：设显示箱体具有y行x列，y、x中的最大值为n，则r为n/32的2～4倍。

3.根据权利要求2所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：s＝round(n/32)。

4.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：所述显示箱体各像素的原始校正系数通过预先对显示箱体进行校正得到。

5.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：针对显示箱体左侧边缘的r列像素，各列像素灰度值采集方法如下：每次点亮一列像素，同时利用相机对准点亮的一列像素拍摄图片，得到各列像素灰度值。

6.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：将相机固定在横向导轨上，从边缘至里侧每次点亮一列像素，点亮下一列像素时，相机在导轨上向右移动一个列间距的距离。

7.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：采用全部点亮方式点亮每列像素。

8.根据权利要求1所述的led显示屏边缘亮度修正方法，其特征在于：采用隔行像素点亮方式点亮每列像素。

技术总结
本发明涉及一种LED显示屏边缘亮度修正方法，该方法如下：针对显示箱体边缘r列像素，运用第s～r列或行像素灰度均值进行二维多项式拟合，得到多项式系数；将多项式系数代到二维多项式中得到第1～s列或行像素的拟合亮度；第s～r列或行像素拟合亮度等于像素灰度均值；利用像素拟合亮度和灰度均值得到边缘像素修边比例，最后将修边比例与原始校正系数相乘得到像素最终修正系数。将多个显示箱体拼接为LED显示屏，对于每个显示箱体边缘像素加载最终修正系数，其他像素加载原始校正系数进行显示，可以看到拼缝处的亮线消失，LED显示屏整体显示效果均匀。

技术研发人员：郑喜凤,黄硕,郭贵新,苗静,毛新越,丁铁夫
受保护的技术使用者：长春希达电子技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14