屏幕的亮暗线校正方法及电子设备与流程

文档序号:35883370发布日期:2023-10-28 16:35阅读:42来源:国知局
屏幕的亮暗线校正方法及电子设备与流程

本申请涉及显示屏校正,特别是涉及一种屏幕的亮暗线校正方法及电子设备。


背景技术:

1、发光二极管(light-emitting diode,led)屏幕由若干个显示单元拼接而成,每个显示单元包含多个发光二极管。受制造工艺和装配工艺影响,led屏的两个显示单元交界处的灯点间距与显示单元内部的灯点间距不一致,造成在人眼视觉感官上呈现一条亮线或暗线的结果。

2、一些技术中,通过人眼观察并找出有差异的显示单元的边,接着在校正软件上调整该边的参数,校正软件上显示的纯色会根据修改的参数相应改变对应位置的颜色,最后再观察led显示屏,若未发现差异,则完成修正。

3、但是,人工调节依靠人眼观察和个人经验,需要重复不断地观察led显示屏的显示效果和调整显示单元的边的系数,效率低,人工成本高,而且容易受到人眼主观经验的影响,修正精度低。


技术实现思路

1、本申请至少提供一种屏幕的亮暗线校正方法及电子设备。

2、本申请第一方面提供了一种屏幕的亮暗线校正方法,包括:获取待校正屏幕处于指定图像显示状态下的屏幕图像;对屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓;基于屏幕轮廓对屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像;基于掩膜图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,基于亮暗线校正系数对待校正屏幕中的亮暗线进行校正。

3、在一实施例中,对屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓,包括:获取屏幕图像对应的采样次数;基于采样次数对屏幕图像进行下采样处理,得到下采样二值图像;基于采样次数对下采样二值图像进行上采样处理,得到上采样二值图像;检测上采样二值图像中的屏幕轮廓。

4、在一实施例中,待校正屏幕由多个显示灯点组成,待校正屏幕处于指定图像显示状态下显示指定图像,指定图像用于按照预设间隔阈值启用显示灯点;获取屏幕图像对应的采样次数,包括:基于指定图像对应的预设间隔阈值和图像尺寸中的至少一种,计算屏幕图像对应的采样次数。

5、在一实施例中,基于屏幕轮廓对屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像,包括:对屏幕轮廓进行屏幕显示边缘拟合,得到屏幕显示区域;以及对屏幕图像进行灰度处理,得到灰度图像;将屏幕显示区域映射至灰度图像中,提取灰度图像中位于屏幕显示区域内的图像内容,得到掩膜图像。

6、在一实施例中,基于掩膜图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,包括:检测掩膜图像中屏幕显示区域的参考点坐标;基于参考点坐标构建变换矩阵;基于变换矩阵将掩膜图像投影至基准图像空间,得到空间校正图像;基于空间校正图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数。

7、在一实施例中,待校正屏幕由多个显示灯点组成;基于空间校正图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,包括:对空间校正图像进行连通域检测,得到所有连通域对应的连通域中心点;基于所有连通域对应的连通域中心点,提取每个已启用显示灯点对应的浮点坐标;基于每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,计算亮暗线校正系数。

8、在一实施例中,基于所有连通域对应的连通域中心点,提取每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,包括:遍历所有连通域中心点,将当前遍历的连通域中心点作为目标中心点;获取空间校正图像中与目标中心点对应的预选区域;提取预选区域中像素值满足预设条件的像素点,得到目标灯点区域;基于目标灯点区域得到目标中心点对应的已启用显示灯点的浮点坐标。

9、在一实施例中,基于目标灯点区域得到目标中心点对应的已启用显示灯点的浮点坐标,包括:计算目标灯点区域对应的质心坐标;将质心坐标作为已启用显示灯点对应的浮点坐标。

10、在一实施例中,基于每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,计算亮暗线校正系数,包括:基于每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,计算每个显示灯点之间的间距,得到基准灯点间距;以及,基于与待校正屏幕中亮暗线相邻的已启用显示灯点对应的浮点坐标,计算与待校正屏幕中亮暗线相邻的显示灯点之间的间距,得到亮暗线灯点间距;基于基准灯点间距和亮暗线灯点间距,计算与待校正屏幕中亮暗线相邻的显示灯点对应的亮暗线校正系数。

11、本申请第二方面提供了一种屏幕的亮暗线校正装置,包括:获取模块,用于获取待校正屏幕处于指定图像显示状态下的屏幕图像;轮廓检测模块,用于对屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓;掩膜模块,用于基于屏幕轮廓对屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像;校正模块,用于基于掩膜图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,以基于亮暗线校正系数对待校正屏幕中的亮暗线进行校正。

12、本申请第三方面提供了一种电子设备,包括存储器和处理器,处理器用于执行存储器中存储的程序指令,以实现上述屏幕的亮暗线校正方法。

13、本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序指令,程序指令被处理器执行时实现上述屏幕的亮暗线校正方法。

14、上述方案,通过获取待校正屏幕处于指定图像显示状态下的屏幕图像,对屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓,能有效排除环境光影响,直接准确定位屏幕轮廓,降低校正环境要求,再基于屏幕轮廓对屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像,基于掩膜图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,进而基于亮暗线校正系数对待校正屏幕中的亮暗线进行校正,可以同时对多条亮暗线进行校正,提高校正效率和准确性。

15、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,而非限制本申请。



技术特征:

1.一种屏幕的亮暗线校正方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测所述上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述待校正屏幕由多个显示灯点组成,所述待校正屏幕处于指定图像显示状态下显示指定图像,所述指定图像用于按照预设间隔阈值启用所述显示灯点;所述获取所述屏幕图像对应的采样次数,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述屏幕轮廓对所述屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述掩膜图像计算所述待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述待校正屏幕由多个显示灯点组成;所述基于所述空间校正图像计算所述待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所有连通域对应的连通域中心点,提取每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标灯点区域得到所述目标中心点对应的已启用显示灯点的浮点坐标,包括:

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个已启用显示灯点对应的浮点坐标,计算亮暗线校正系数,包括:

10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括存储器和处理器,处理器用于执行存储器中存储的程序指令,以实现如权利要求1-9任一项所述方法中的步骤。


技术总结
本申请公开了一种屏幕的亮暗线校正方法及电子设备,该屏幕的亮暗线校正方法,通过获取待校正屏幕处于指定图像显示状态下的屏幕图像,对屏幕图像进行上采样和下采样处理,检测上采样和下采样处理得到的采样图像中的屏幕轮廓,能有效排除环境光影响,直接准确定位屏幕轮廓,降低校正环境要求,再基于屏幕轮廓对屏幕图像进行掩膜处理,得到掩膜图像,基于掩膜图像计算待校正屏幕对应的亮暗线校正系数,进而基于亮暗线校正系数对待校正屏幕中的亮暗线进行校正,可以同时对多条亮暗线进行校正,提高校正效率和准确性。

技术研发人员:何洪钦,李浙伟,李乾隆,彭悦,朱勇,武轲,刘硕
受保护的技术使用者:浙江大华技术股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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