微显示面板像素一致性补偿电路及补偿方法与流程

本发明涉及集成电路，尤其涉及一种微显示面板像素一致性补偿电路及补偿方法。

背景技术：

1、随着科技的发展，显示面板越来越多的应用在人们的生产和生活中。特别是随着micro-led显示技术的发展，微显示屏的应用场景越加广泛。micro-led显示技术是指以自发光的微米量级的led为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度led阵列的显示技术。由于micro-led芯片尺寸小、集成度高和自发光等特点，在显示方面与lcd、oled相比在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。基于上述优势，基于微显示芯片的显示装置可以制造成微型且可便携的产品，这使得基于微显示芯片的显示装置可以应用于ar或vr显示装置中。

2、微显示led芯片像素只有开关两个状态，即只有发光和不发光两种状态，其灰度是通过时间灰度法（pwm调光）来实现的。微显示led芯片因其led工艺的不成熟、芯片的irdrop、芯片电路的一致性差异等因素，导致每个像素点的led发光效率不同，简单可以说每个像素都在发光时，每个像素之间的亮度是有差异的。

3、目前补偿方案是通过高清设备，捕捉（拍摄）每个像素点发光时的亮度，通过算法来确定每个像素的补偿系数，将补偿系数存储到sram或其他存储电路中，在接收视频数据时将像素数据与对应的补偿系数做运算，实现补偿目的。

4、这种检测及补偿方法所依据的系统复杂，实施成本高，且效率低。因此现有技术中需要一种能够使微显示芯片自身集成像素一致性补偿的电路及方法。

技术实现思路

1、本发明所要实现的技术目的在于提供一种微显示面板像素一致性补偿电路及补偿方法，从而实现在微显示芯片内部自身集成像素检测方法及像素屏蔽方法，使像素检测过程更为简便高效。

2、基于上述技术目的，本发明提供一种微显示面板的像素一致性补偿电路，所述像素一致性补偿电路包括测试图形生成模块、adc采样模块、电流数据存储模块、校正系数运算模块、校正系数存储模块以及补偿运算模块；

3、其中，

4、所述测试图形生成模块用于提供第一测试图形及第二测试图形；所述第一测试图形为全亮图像；所述第二测试图形为全部像素点在熄灭状态下依次只点亮一个像素；

5、所述adc采样模块用于连接所述微显示像素阵列的公共com电极，并采集流经所述公共com电极的电流值；

6、所述电流数据存储模块用于存储所述adc采样模块所检测到的所述微显示像素阵列的公共com电极的电流值，该电流值为数字信号，并存储有每一个像素与对应的电流值之间的对应关系；

7、所述校正系数运算模块用于根据所述电流数据存储模块所存储的电流值计算出针对每一个像素的校正系数；

8、所述校正系数存储模块用于存储每一个像素校正系数及该校正系数与像素位置之间的对应关系；

9、所述补偿运算模块用于将正常显示的像素数据信息与每个像素对应的校正系数进行运算以获得补偿后的像素数据信息，并将补偿后的像素数据信息输入至驱动模块以驱动微显示面板像素阵列进行显示。

10、在一个实施例中，所述第二测试图形为全部像素点在熄灭状态下依次只点亮一个像素区块，所述像素区块是由x×y个像素构成的像素子矩阵。

11、在一个实施例中，所述校正系数运算模块用于计算每一个像素区块的校正系数，所述校正系数存储模块用于存储每一个像素区块的校正系数及该校正系数与像素区块位置之间的对应关系。

12、本发明提供一种微显示面板的像素一致性补偿方法，所述方法包括：

13、s100，由所述测试图形生成模块向微显示像素阵列输出第一测试图形，使所述微显示像素阵列的所有像素均被点亮，且以最大亮度进行显示；

14、s101，利用所述adc采样模块对微显示像素阵列在显示所述第一测试图形状态下的公共com电极的电流进行采集，以获得第一电流值i1；该第一电流值i1为数字信号，

15、s102，根据像素阵列的像素数及所述第一电流值i1计算平均电流值iavg；即iavg=i1/m，其中m为微显示像素阵列的像素数目；

16、s103，由所述测试图形生成模块向微显示像素阵列输出第二测试图形，使所述微显示像素阵列在像素全部熄灭状态下，依次点亮每一个像素；除被点亮的像素以外，其他像素保持熄灭状态；

17、s104，利用所述adc采样模块对微显示像素阵列在显示所述第二测试图形状态下的公共com电极的电流，以获得每一个像素当被点亮时，在公共com电极处形成的第二电流值i2；

18、s105，根据平均电流值iavg及每个像素的第二电流值i2计算每个像素的校正系数k，并存储入校正系数存储模块，所述校正系数k表示为：

19、k=(iavg/i2)*k；

20、其中，k是作为常量的固定归一化系数；

21、s106，当正常显示数据输入时，对每个像素依据存储的校正系数进行补偿后再输入到微显示像素阵列。

22、在一个实施例中，所述第一测试图形所对应的像素驱动信号的调光pwm占空比为100%。

23、在一个实施例中，所述第二测试图形为全部像素点在熄灭状态下依次只点亮一个像素区块，所述像素区块是由x×y个像素构成的像素子矩阵。

24、在一个实施例中，所述第二电流为一个像素区块被点亮时在公共com电极处形成的电流值。

25、在一个实施例中，整个微显示面板划分为x×y个测试分区，每个测试分区分别执行步骤s100至s105以获得该测试分区内的全部像素的校正系数，在全部测试分区均执行完步骤s100至s105后，将全部像素的校正系数存入所述校正系数存储单元。

26、在一个实施例中，所述adc采样模块包括第一adc采样单元和第二adc采样单元，其中，所述第一adc采用单元仅用于对第一电流值进行采样；所述第二adc采用单元仅用于对第二电流值进行采样。

27、与现有技术相比，本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点：

28、本发明中通过对像素被规定测试图形进行点亮时在公共电极处形成的电流值来确定对像素进行一致性补偿的校正系数，该一致性补偿电路完全自建于微显示面板内部，大大简化了现有技术中要外部高精度的摄影设备对微显示面板进行检测的方法。

29、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

技术特征：

1.一种微显示面板的像素一致性补偿电路，其特征在于，所述像素一致性补偿电路包括测试图形生成模块、adc采样模块、电流数据存储模块、校正系数运算模块、校正系数存储模块以及补偿运算模块；

2.根据权利要求1所述的像素一致性补偿电路，其特征在于，所述第二测试图形为全部像素点在熄灭状态下依次只点亮一个像素区块，所述像素区块是由x×y个像素构成的像素子矩阵。

3.根据权利要求1所述的像素一致性补偿电路，其特征在于，所述校正系数运算模块用于计算每一个像素区块的校正系数，所述校正系数存储模块用于存储每一个像素区块的校正系数及该校正系数与像素区块位置之间的对应关系。

4.一种基于权利要求1所述的像素一致性补偿电路的微显示面板的像素一致性补偿方法，其特征在于，所述方法包括：

5.根据权利要求4所述的像素一致性补偿方法，其特征在于，所述第一测试图形所对应的像素驱动信号的调光pwm占空比为100%。

6.根据权利要求4所述的像素一致性补偿方法，其特征在于，所述第二测试图形为全部像素点在熄灭状态下依次只点亮一个像素区块，所述像素区块是由x×y个像素构成的像素子矩阵。

7.根据权利要求6所述的像素一致性补偿方法，其特征在于，所述第二电流为一个像素区块被点亮时在公共com电极处形成的电流值。

8.根据权利要求4所述的像素一致性补偿方法，其特征在于，整个微显示面板划分为x×y个测试分区，每个测试分区分别执行步骤s100至s105以获得该测试分区内的全部像素的校正系数，在全部测试分区均执行完步骤s100至s105后，将全部像素的校正系数存入所述校正系数存储单元。

9.根据权利要求4所述的像素一致性补偿方法，其特征在于，所述adc采样模块包括第一adc采样单元和第二adc采样单元，其中，所述第一adc采用单元仅用于对第一电流值进行采样；所述第二adc采用单元仅用于对第二电流值进行采样。

10.一种微显示面板，所述微显示面板具有如权利要求1-3之一所述的像素一致性补偿电路，或者，所述微显示面板使用如权利要求4-9之一所述的像素一致性补偿方法进行像素一致性补偿。

技术总结
本发明涉及集成电路技术领域，公开了一种应用于微显示面板的像素一致性补偿电路及补偿方法，其中，像素一致性补偿电路包括测试图形生成模块、ADC采样模块、电流数据存储模块、校正系数运算模块、校正系数存储模块以及补偿运算模块。本发明中通过对像素阵列在被规定测试图形驱动进行点亮时，在公共电极处形成的电流值来确定对像素进行一致性补偿的校正系数，该一致性补偿电路完全自建于微显示面板内部，大大简化了现有技术中需要外部高精度的摄影设备对微显示面板进行检测的方法。

技术研发人员：苏畅,黄苒,赵博华
受保护的技术使用者：北京数字光芯集成电路设计有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/5/16