一种卷积定理光学实验仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于光学仪器领域，尤其是涉及一种卷积定理光学实验仪。
【背景技术】
[0002]卷积定理也称卷积特性，是傅里叶变换的基本性质之一，它广泛应用于通信系统和信号处理研究领域。它由两部分组成:一是时域卷积定理;二是频域卷积定理。两个函数乘积的傅立叶变换，等于它们各自的傅立叶变换的卷积。反之，两个函数卷积的傅立叶变换，等于它们各自傅立叶变换的乘积。现在人们通常通过光学方法来研究卷积定理。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种卷积定理光学实验仪，便于人们研究卷积定理。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种卷积定理光学实验仪，包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧，滑座可沿着导轨滑动。
[0005]进一步，所述滑座上设置有固定螺栓。
[0006]进一步，所述第一正交光栅和第二正交光栅的空间频率不同。
[0007]进一步，所述底座下方固定有四个支撑腿。
[0008]本实用新型具有的优点和积极效果是:由于采用上述技术方案，利用该卷积定理光学实验仪可研究卷积定理，进一步加深对卷积定理的理解，该仪器操作简单，使用方便。
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型的结构示意图。
[0010]图中:
[0011]1、底座2、导轨3、半导体激光器
[0012]4、第一正交光栅5、第二正交光栅6、光屏
[0013]7、支架体8、滑座9、套筒
[0014]10、伸缩杆11、固定螺栓12、支撑腿
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型做详细说明。
[0016]如图1所示，本实用新型一种卷积定理光学实验仪，包括底座I，所述底座I中部设置有导轨2，所述导轨2横贯底座I的两端，导轨2上方从左到右依次设置有半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6，所述半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6均通过支架体7与导轨2连接，所述支架体7包括滑座8，固定在滑座8上的套筒9以及套设在套筒9内的伸缩杆10，半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光5栅和光屏6分别与伸缩杆10的顶端固定，通过调节伸缩杆10可改变半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6的高度，所述滑座8上设置有固定螺栓11，所述滑座8的两端卡合在导轨2的两侧，滑座8可沿着导轨2滑动，当滑动到合适的位置处可通过固定螺栓11固定，所述第一正交光栅4和第二正交光栅5的空间频率不同，所述底座I下方固定有四个支撑腿12。
[0017]本实例的工作过程:取第一正交光栅4的空间频率较低，第二正交光栅5的空间频率较高，将第一正交光栅4和第二正交光栅5放入如图1所示放置，通过调节伸缩杆10以及将滑座8在导轨2中滑动从而使半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6处于合适的位置和高度，观察第一正交光栅4和第二正交光栅5的频谱;通过移动滑座8，将第一正交光栅4和第二正交光栅5叠合在一起，通过半导体激光器3用未经扩束的激光细光束垂直照明，在光屏6上观察卷积结果，并分别与第一正交光栅4和第二正交光栅5的频谱比较；以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，旋转第一正交光栅4，在光屏6上观察卷积图形的变化情况;然后以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，旋转第二正交光栅5，观察卷积图形的变化情况;或者以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，同时旋转第一正交光栅4和第二正交光栅5，观察卷积图形的变化情况，或者采用其他方式操作，观察卷积图形的变化情况，以此来研究卷积定理并加深对卷积定理的理解。
[0018]以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
【主权项】
1.一种卷积定理光学实验仪，其特征在于:包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧。2.根据权利要求1所述的卷积定理光学实验仪，其特征在于:所述滑座上设置有固定螺栓。3.根据权利要求1所述的卷积定理光学实验仪，其特征在于:所述第一正交光栅和第二正交光栅的空间频率不同。4.根据权利要求1所述的卷积定理光学实验仪，其特征在于:所述底座下方固定有四个支撑腿。
【专利摘要】本实用新型提供一种卷积定理光学实验仪，包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧，滑座可沿着导轨滑动。本实用新型的有益效果是利用该卷积定理光学实验仪可研究卷积定理，进一步加深对卷积定理的理解，该仪器操作简单，使用方便。
【IPC分类】G09B23/22
【公开号】CN205375939
【申请号】CN201521067844
【发明人】李让峰
【申请人】天津良益科技有限公司
【公开日】2016年7月6日
【申请日】2015年12月18日