专利名称：液晶显示器面板驱动ic和液晶显示器面板的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示器面板驱动IC和液晶显示器面板。
背景技术：
液晶显示器分为三部分，第一部分为液晶面板，包括彩色滤光基板和TFT (Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管)基板；第二部分为驱动IC和外围驱动电路；第三部 分是背光。TFT基板具有多条源极走线和栅极走线，一般为金属层，在走线的末端做成电极， 驱动IC的电极与TFT基板的走线电极目前多采用两种方式相连一种是COF(Chip On Film，覆晶薄膜)，即将驱动IC封装在一层薄膜上，该薄膜上有电极与驱动IC的电极突起 相连接，然后通过金属走线引出来，在TFT侧和PCB (Printed Circuit Board，印制电路板) 侧通过ACF(Anisotropic ConductiveFilm，异方性导电胶膜)与对应的电极连接；另一种 是COG (Chip On Glass，覆晶玻璃)，即直接将驱动IC通过ACF与TFT基板上的电极连接。在采用COF的连接方式时，通过探针测量薄膜上电极和TFT基板上对应的电极就 能够测量出ACF与薄膜上电极接触的电阻。而对于COG方式，发明人发现由于驱动IC的电极是直接通过ACF与TFT基板上的 电极相连的，目前没有办法通过电学特性确定ACF与驱动IC电极的接触电阻，因而在分析 一些可能由于ACF不良所引起问题时，工作十分困难。
实用新型内容本实用新型的实施例提供一种液晶显示器面板驱动IC和液晶显示器面板，能够 测量驱动IC电极、ACF和TFT基板电极之间的接触电阻，为不良分析工作提供方便。为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案一种液晶显示器面板驱动IC，包括IC测试输入电极，与TFT基板上的基板测试输入电极通过异方性导电胶膜ACF电 连接，用于输入测试电流；IC测试输出电极，与TFT基板上的基板测试输出电极通过所述ACF电连接，用于输 出所述测试电流；导线，用于电连接所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极。所述导线的长度为所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极之间的最短距罔。所述IC测试输入电极的高度、大小与所述驱动IC上的其他电极相同；所述IC测 试输出电极的高度、大小与所述驱动IC上的其他电极相同。所述驱动IC包括至少两对IC测试输入电极和所述IC测试输出电极，所述至少两 对IC测试输入电极和IC测试输出电极通过所述ACF与TFT基板上相对应的至少两对基板测试输入电极和基板测试输出电极电连接；其中，每对IC测试输入电极和IC测试输出电极之间通过导线电连接。一种液晶显示器面板，包括TFT基板和与其电连接的驱动IC，所述TFT基板包括基板测试输入电极，与所述驱动IC上的IC测试输入电极通过ACF电连接，用于输 入测试电流；基板测试输出电极，与所述驱动IC上的IC测试输出电极通过所述ACF电连接，用 于输出所述测试电流；所述驱动IC包括IC测试输入电极，与所述TFT基板上的基板测试输入电极通过所述ACF电连接，用 于输入测试电流；IC测试输出电极，与所述TFT基板上的基板测试输出电极通过所述ACF电连接，用 于输出所述测试电流；导线，用于电连接所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极。。所述导线的长度为所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极之间的最短距罔。所述IC测试输入电极的高度、大小与所述驱动IC上的其他电极相同；所述IC测 试输出电极的高度、大小与所述驱动IC上的其他电极相同。所述驱动IC包括至少两对IC测试输入电极和所述IC测试输出电极，所述至少两 对IC测试输入电极和IC测试输出电极通过所述ACF与所述TFT基板上相对应的至少两对 基板测试输入电极和基板测试输出电极电连接；其中，每对IC测试输入电极和IC测试输出 电极之间通过导线电连接。本实用新型实施例提供的液晶显示器面板驱动IC和液晶显示器面板，在驱动IC 上包括一对测试输入、输出电极，该测试输入电极和测试输出电极通过导线电连接，该测试 输入电极和测试输出电极与TFT基板上相对应的基板测试输入、输出电极通过ACF电连接。 因此，通过向TFT基板上的基板测试输入电极输入测试电流，该电流经由ACF到达IC测试 输入电极，再经过导线流入IC测试输入电极，最后经由ACF流入基板测试输出电极。这样 一来，通过测量基板测试输入电极和基板测试输出电极之间的电压，就能够以电气方式得 出驱动IC和TFT基板之间的接触电阻，从而为不良分析工作提供方便。
图1为液晶显示结构的构成示意图；图2为图1中A-A方向的剖面图；图3为本实用新型实施例提供的液晶显示器面板驱动IC和液晶显示器面板的结 构俯视示意图。
具体实施方式
随着液晶显示技术的发展，为追求轻薄的产品，大部分产品都使用C0G(Chip0n Glass，覆晶玻璃)方式接合驱动IC。其整体结构如图1所示，包括[0031]TFT基板101，其上还有彩膜基板105，是液晶显示结构的显示单元；驱动IC 102， 接收时序控制器输出数据信号和控制信号，用来显示想要的画面；连接部分103，连接驱动 电路板104和驱动IC 102，用来实现信号和电压的联通；驱动电路板104，用于产生必要 的电压，以及接收外部输入的信号，并将其转换为驱动IC 102可接收的信号和产生相关时序。驱动IC 102和TFT基板101的连接方式采用COG方式。如图2所示，通过ACF 202(Anisotropic Conductive Film，异方性导电胶膜)将驱动IC 102的电极201与TFT 基板101上对应的电极IOlA进行连接(驱动IC上的其他电极与基板上相对应的电极均以 此方式连接)。ACF 202是一种各向异性导电胶，它是由外部包有绝缘层的金属小球构成，当压力 存在时，小球被压破，外面的绝缘层破裂，金属部分裸漏，从而实现压接部分的电气导通。由 于驱动IC 102上的电极201呈突起状，当使用ACF 202通过外力进行压接的时候，只有电 极201突起的部分能够使ACF 202中粒子202B发生破裂，而对于没有突起部分压接的ACF 202粒子202A则保持原状，保持绝缘。驱动IC 102接收的为电气信号，因此对于信号传输线的阻抗有一定的要求，驱 动IC 102的电极201与TFT基板101电极IOlA是通过与ACF 202中粒子接触实现导 通的，因此在这里存在接触电阻，这个电阻会对信号产生影响，特别是像mini-LVDS(mini Low Voltage Differential Signaling，微型低压差分信号)或者 RSDS (reduced swing differential signal，低摆幅差分信号)这样的低电压差分信号，当接触电阻比较大时，信 号电压会有衰减，导致驱动IC 102对电压数据采样发生偏差，影响整个显示效果。本实用新型实施例提供的液晶显示器面板驱动IC，如图3所示，在驱动IC201上增 加一个IC测试输入电极304和一个IC测试输出电极302，并且用导线303电连接该IC测 试输入电极304和IC测试输出电极302，该导线303可以设置在驱动IC 102的内部。进一步地，导线303的长度最好为IC测试输入电极304和IC测试输出电极302 之间的最短距离，如直线距离，这样可以减少不必要的电阻，使测试更加精确。当然，由于驱 动IC本身体积很小，因此最短距离的导线电阻实际上可以忽略不计。此外，IC测试输入电极304和IC测试输出电极302的高度、大小可以和驱动IC上 的其他电极相同。同样，对应上述两个电极，在TFT基板101上也相应设置基板测试输入电极305和 基板测试输出电极301。如上所述，IC测试输入电极304通过ACF与基板测试输入电极305电连接，IC测 试输出电极302通过ACF与基板测试输出电极301电连接。向基板测试输入电极305输入测试电流，该电流经由ACF到达IC测试输入电极 304，再经过导线303到达IC测试输出电极302，然后经由ACF到达基板测试输出电极301。 这样，在输入测试点306和输出测试点307之间就可以得到一个电压值，通过计算该电压值 与测试电流的比值，可以得到流经ACF的电阻值，该电阻值即为IC电极与基板电极之间的 接触电阻。利用该电阻值可以方便工作人员进行不良分析(根据业内规定此接触电阻应小 于5欧姆)。进一步地，上述IC测试输入电极和IC测试输出电极可以设置为多对，如左右各有一对等等，相应的在TFT基板上也需要设置多对基板测试输入电极和基板测试输出电极。这样，可以通过测量得到多个电阻值，然后选其均值作为接触电阻，能够更加精确。由于本实用新型实施例是在驱动IC上新增测试电极进行测试的，所以不会对该 驱动IC上原有的电极造成影响，不会影响驱动IC的正常工作。在本实用新型实施例中，为详细说明驱动IC，同时说明了液晶显示器面板的相应 结构。本实用新型实施例提供的液晶显示器面板，其结构在上述实施例中已经说明，在 此不再赘述。以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限 于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化 或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权 利要求的保护范围为准。
权利要求一种液晶显示器面板驱动IC，其特征在于，包括IC测试输入电极，与TFT基板上的基板测试输入电极通过异方性导电胶膜ACF电连接，用于输入测试电流；IC测试输出电极，与TFT基板上的基板测试输出电极通过所述ACF电连接，用于输出所述测试电流；导线，用于电连接所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器面板驱动IC，其特征在于，所述导线的长度为所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极之间的最短距离。
3.根据权利要求1所述的液晶显示器面板驱动IC，其特征在于，所述IC测试输入电极 的高度、大小与所述驱动IC上的其他电极相同；所述IC测试输出电极的高度、大小与所述 驱动IC上的其他电极相同。
4.根据权利要求1所述的液晶显示器面板驱动IC，其特征在于，所述驱动IC包括至少 两对IC测试输入电极和所述IC测试输出电极，所述至少两对IC测试输入电极和IC测试 输出电极通过所述ACF与TFT基板上相对应的至少两对基板测试输入电极和基板测试输出 电极电连接；其中，每对IC测试输入电极和IC测试输出电极之间通过导线电连接。
5.一种液晶显示器面板，包括TFT基板和与其电连接的驱动IC，其特征在于，包括所述TFT基板包括基板测试输入电极，与所述驱动IC上的IC测试输入电极通过ACF电连接，用于输入测 试电流；基板测试输出电极，与所述驱动IC上的IC测试输出电极通过所述ACF电连接，用于输 出所述测试电流；所述驱动IC包括IC测试输入电极，与所述TFT基板上的基板测试输入电极通过所述ACF电连接，用于输 入测试电流；IC测试输出电极，与所述TFT基板上的基板测试输出电极通过所述ACF电连接，用于输 出所述测试电流；导线，用于电连接所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极。
6.根据权利要求5所述的液晶显示器面板，其特征在于，所述导线的长度为所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极之间的最短距离。
7.根据权利要求5所述的液晶显示器面板，其特征在于，所述IC测试输入电极的高度、 大小与所述驱动IC上的其他电极相同；所述IC测试输出电极的高度、大小与所述驱动IC 上的其他电极相同。
8.根据权利要求5所述的液晶显示器面板，其特征在于，所述驱动IC包括至少两对IC 测试输入电极和所述IC测试输出电极，所述至少两对IC测试输入电极和IC测试输出电极 通过所述ACF与所述TFT基板上相对应的至少两对基板测试输入电极和基板测试输出电极 电连接；其中，每对IC测试输入电极和IC测试输出电极之间通过导线电连接。
专利摘要本实用新型实施例提供一种液晶显示器面板驱动IC和液晶显示器面板，涉及液晶显示技术领域。能够测量驱动IC电极与ACF和TFT基板电极之间的接触电阻，为不良分析工作提供方便。提供的驱动IC包括IC测试输入电极，与TFT基板上的基板测试输入电极通过异方性导电胶膜ACF电连接，用于输入测试电流；IC测试输出电极，与TFT基板上的基板测试输出电极通过所述ACF电连接，用于输出所述测试电流；导线，用于电连接所述IC测试输入电极和所述IC测试输出电极。本实用新型实施例用于测试接触电阻。
文档编号G02F1/13GK201589914SQ200920278010
公开日2010年9月22日 申请日期2009年12月4日 优先权日2009年12月4日
发明者于尧 申请人:北京京东方光电科技有限公司