彩膜基板的检测方法和检测装置制造方法

文档序号:2703670阅读:181来源:国知局
彩膜基板的检测方法和检测装置制造方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种彩膜基板的检测方法和检测装置,涉及显示【技术领域】,能够保证彩膜基板的检测结果的准确性。彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Lμm,L>0,扫描彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为βμm,0<β<L,当非整数时,彩膜基板的检测方法包括:获取彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值;在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值;根据第一灰度值和第二灰度值获得第一参考灰度值,根据第三灰度值和第四灰度值获得第二参考灰度值;根据第一参考灰度值、第二参考灰度值判断待检测区域的灰度值是否正常。
【专利说明】彩膜基板的检测方法和检测装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示【技术领域】,尤其涉及一种彩膜基板的检测方法和检测装置。
【背景技术】
[0002]显示装置的彩色显示主要是通过彩膜(Color Filter,简称CF)基板实现的。具体的,显示装置的背光源发出的白光入射到CF基板,通过CF基板的红色滤色层、绿色滤色层、以及蓝色滤色层的滤光作用,分别转化为红、绿、蓝三种光线。不同颜色的滤色层分别透射对应颜色波段的光,从而实现显示器的彩色显示。因此,需要对CF基板进行检测,以保证CF基板上透过同一种颜色的滤色层的单色光的亮度、色度等特性接近,进而保证LCD的显示效果。
[0003]发明人发现,在现有技术中,首先利用电荷I禹合元件(Charge-coupled Device,简称(XD)扫描CF基板,每一个CXD的像素可获取到一个CF基板某一小区域的灰度值,根据这些扫描到的灰度值可检测出CF基板上的任意处是否都符合预期值,但是若CF基板上两个相同颜色的滤色层的中心的距离不为CCD的像素的边长的整数倍时,彩膜基板的检测结果的准确性就会下降,误检的几率提高。

【发明内容】

[0004]本发明所要解决 的技术问题在于提供一种彩膜基板的检测方法和检测装置,能够保证彩膜基板的检测结果的准确性。
[0005]为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
[0006]本发明的第一方面提供了一种彩膜基板的检测方法,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为Ly m,L>0,扫描所述彩膜基板的
电荷耦合元件的像素的边长为
【权利要求】
1.一种彩膜基板的检测方法,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,还包括: 在同一列或同一行中,获取第五灰度值和第六灰度值、第七灰度值和第八灰度值,其中,所述第五灰度值与所述待检测区域的灰度值相差〔&〕个灰度值,所述第六灰度值与所
3.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值包括: 所述第一灰度值为Ct1,所述第二灰度值为α2,其中,a” α 2>0,所述第一参考灰度值为
4.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的角落,



所述第三灰度值与所述第一灰度值相差
5.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的边缘, 所述第三灰度值与所述第一灰度值相差
6.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的中部, 所述第三灰度值与所述待检测区域的灰度值相L/X个灰度值,所述第四灰度值与





I所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值; 所述第七灰度值与所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值,所述第八灰度值与


所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值。
7.一种彩膜基板的检测装置,所述彩膜基板包括若干个子像素,任意两个颜色相同的、最接近的子像素的中心距离为L μ m,L>0,扫描所述彩膜基板的电荷耦合元件的像素的边长为β 11111,0〈0几,其特征在于,当L/X非整数时,所述检测装置包括:

获取模块,所述获取模块获取所述彩膜基板上的一个区域作为待检测区域,获取所述电荷耦合元件扫描到的待检测区域的灰度值; 所述获取模块还在同一行或同一列中,获取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和





ι第四灰度值,其中,所述第一灰度值与所述待检测区域的灰度值相差L/X〕个灰度值,所述



第二灰度值与所述待检测区域的灰度值相差L/X个灰度值,所述第三灰度值与所


述第一灰度值或所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值,所述第四灰度值与所述第


二灰度值或所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值;X 判断模块,所述判断模块根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值,根据所述第三灰度值和所述第四灰度值获得第二参考灰度值; 所述判断模块还根据所述第一参考灰度值、所述第二参考灰度值判断所述待检测区域的灰度值是否正常。
8.根据权利要求7所述的检测装置,其特征在于, 所述获取模块还在同一列或同一行中,获取第五灰度值和第六灰度值、第七灰度值和第八灰度值,其中,所述第五灰度值与所述待检测区域的灰度值相差〔L/X〕个灰度值,所述



第六灰度值与所述待检测区域的灰度值相差〔 L/X〕+1)个灰度值,所述第七灰度值与所





Jj^述第五灰度值或所述待检测区域的灰度值相差
9.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述判断模块根据所述第一灰度值和所述第二灰度值获得第一参考灰度值包括: 所述第一灰度值为Ct1,所述第二灰度值为α2,其中,α” α 2>0,所述第一参考灰度值为
10.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的角落, 所述第三灰度值与所述第一灰度值相差L/X个灰度值,所述第四灰度值与所述第二灰度值相差
11.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的边缘,所述第三灰度值与所述第一灰度值相差
12.根据权利要求11所述的检测装置,其特征在于,若所述待检测区域位于所述彩膜基板的中部, 所述第三灰度值与所述待检测区域的灰度值相差
【文档编号】G02F1/13GK103558702SQ201310585128
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2013年11月19日 优先权日:2013年11月19日
【发明者】张铁轶, 余道平, 侯玉珠, 刘辉 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
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