液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备的制作方法
【专利摘要】本发明公开了液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备，其中一种液晶滴下量获取方法包括：从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集，获取第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，计算得到第一膜柱集的平均原始高度；从液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集，分别获取第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到液晶盒的膜柱压缩率；获取液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定液晶盒所需要的液晶滴下量。该方法以单个液晶盒为分析对象，所得到的液晶滴下量也更为准确，解决了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶和低温气泡等问题。
【专利说明】液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备
【技术领域】
[0001] 本发明设及液晶显示【技术领域】，具体地说，设及液晶滴下量获取方法和液晶滴下 设备。
【背景技术】
[0002] 近年来，随着TFT-LCD技术的发展，液晶显示器的尺寸也由中尺寸向大尺寸和小 尺寸两个方向发展，大尺寸和小尺寸的液晶显示器也得到了广泛地使用。随着液晶显示器 应用领域的拓展，人们对液晶显示器的响应时间和视角等关键技术指标也提出了越来越高 的要求。
[0003] 为了实现快速响应，最简单的方法是将盒厚做得更小。而为了实现宽视角，各厂商 大多采用多畴垂直取向（MVA)和沿面取向（IP巧技术。然而，传统的真空灌注工艺限制了 该些技术的应用。真空灌注工艺是利用毛细现象和内外压力差将液晶注入到盒内。盒厚越 小，液晶流动阻力也就越大，液晶的注入也就越加困难。同时，液晶的注入难度还受PI膜的 取向及其湿润性的制约，而MVA技术和IPS技术的膜取向不利于液晶的注入，将导致液晶的 注入时间过长。
[0004] 随着技术的发展，因能够有效克服真空灌装工艺所存在的问题，液晶滴下的ne Drop Filling,简称为OD巧工艺逐渐替代真空灌装工艺而在液晶显示器的生产过程中得到 广泛应用。0DF工艺具有工艺步骤少、CE化工艺简单、液晶材料利用率高W及能够实现生产 自动化等特点。
[0005] 在0DF工艺中，液晶滴下量是最为重要的管控参数之一。液晶滴下量的控制不当 容易导致漏液晶（LC Leak)、低温气泡（Cold Bubble) W及液晶显示器亮度均匀性差等问 题。
【发明内容】
[0006] 本发明所要解决的技术问题是为了克服现有技术中因液晶滴下量控制不当而导 致漏液晶、低温气泡W及液晶显示器亮度均匀性差等问题。为解决上述问题，本发明的实施 例首先提供了一种液晶滴下量获取方法，所述方法包括：
[0007] 从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；
[000引获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均 原始高度；
[0009] 从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；
[0010] 分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层 厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；
[0011] 获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平 均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量。
[0012] 根据本发明的一个实施例，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括：
[0013] 根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均 原始高度；
[0014] 根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的 平均原始高度，计算膜柱压缩量；
[0015] 根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。
[0016] 根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：
[0017] 。二片-。'"）.100% h
[0018] 其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，d。和d。分别表示第一材料层厚度和 第二材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。
[0019] 根据本发明的一个实施例，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括：
[0020] 从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜 柱；
[0021] 分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径， 计算得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积.
[0022] 分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、 第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总 体积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。
[0023] 根据本发明的一个实施例，
[0024] 根据如下表达式计算所述第一主膜柱的体积：
[0025] K=马 1 4 2
[0026] 且/或，根据如下表达式计算所述第一辅膜柱的体积： 2 2
[0027] J/ 二 h,.冗朽;一^ 2
[002引其中，Vi和V 2分别表不第一主膜柱和第一辅膜柱的体积，h 1和h 2分别表不第一主 膜柱和第一辅膜柱的原始高度，riu和r 11分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径， T2U和r 21分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。
[0029] 根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述主膜柱的总体积和辅膜柱的 总体积：
[0030] Vp = - -Vy Pp
[0031] K 二 Ps
[0032] 其中，Vp和V,分别表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，Sp表示液晶 盒的底面积，Pp和P S分别表示液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，Vl和V 2分别表示第 一主膜柱和第一辅膜柱的体积。
[0033] 根据本发明的一个实施例，根据如下表达式确定所述液晶滴下量：
[0034] V。化=Sp.h〇. (l-a)-V
[0035] 其中，V"t表示液晶滴下量，S p表示液晶盒的底面积，h。表示第一膜柱集的平均原 始高度，a表示膜柱压缩率，V表示液晶盒中膜柱的总体积。
[0036] 本发明所提供的该种液晶滴下量获取方法通过对液晶盒的相关参数的分析，能够 得到适合于该液晶盒的液晶滴下量。相较于现有的液晶滴下量获取方法，本实施例所提供 的方法是W单个液晶盒为分析对象的，所得到的液晶滴下量也更为准确，所W也就能够有 效克服现有方法因对单张玻璃所包含的液晶盒进行膜柱高度平均化所带来的问题，从而避 免了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶或低温气泡等问题。
[0037] 同时，该种方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均值，能够有效减小膜柱高 度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为精确的液晶滴下量。
[003引本发明还提供了另一种液晶滴下量获取方法，所述方法包括：
[0039] 获取预设数量的液晶盒，利用上任一项所述的方法确定各个液晶盒所需要的液晶 滴下量；
[0040] 获取各个液晶盒的膜柱的平均原始高度，并根据平均原始高度将所获取的液晶盒 划分为多个液晶盒子集；
[0041] 对于各个液晶盒子集，根据液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量，确定 各个液晶盒子集所对应的液晶滴下量；
[0042] 当需要向待处理液晶盒中滴入液晶时，获取待处理液晶盒中膜柱的平均原始高 度，并根据该平均原始高度判断所述待处理液晶盒所对应的液晶盒子集，将该液晶盒子集 所对应的液晶滴下量确定为所述待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。
[0043] 根据本发明的一个实施例，在确定液晶盒子集所对应的液晶滴下量时，计算液晶 盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量的平均值或中值，将该平均值或中值确定为该液 晶盒子集所对应的液晶滴下量。
[0044] 本发明还提供了一种液晶滴下设备，所述设备采用如上任一项所述的方法来确定 待处理液晶盒所需要的液晶滴下量，并根据所述液晶滴下量向所述待处理液晶盒中滴入液 曰 曰曰〇
[0045] 本发明所提供的泽中方法根据液晶盒中膜柱的平均原始高度对液晶盒进行了区 间划分，其中每个液晶盒区间均与液晶滴下量相对应。该样，在确定待处理液晶盒的液晶滴 下量时，该种方法不需要像本发明所提供的第一种方法那样计算待处理液晶盒的液晶滴下 量，而是仅仅需要通过待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，便可W确定出该待处理液晶 盒所对应的液晶盒区间，而该液晶盒区间所对应的液晶滴下量则为该待处理液晶盒所需要 的液晶滴下量。所W该种方法不仅能够能够有效克服现有方法因对单张玻璃所包含的液晶 盒进行膜柱高度平均化所带来的问题，从而避免了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶或 低温气泡等问题，还能够有效避免对大量数据的计算W及处理过程，从而提高整个流程的 稳定性W及可靠性，同时提高了液晶面板的生产效率。
[0046] 本实施例所提供的方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均值，能够有效减小 膜柱高度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为精确的液晶滴下量。
[0047] 本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变 得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利 要求书w及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
【专利附图】
【附图说明】
[0048] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要的附图做简单的介绍：
[0049] 图1是液晶盒的结构示意图；
[0化0] 图2是根据本发明一个实施例的获取液晶盒所需要的液晶滴下量的方法的流程 图；
[0化1] 图3是根据本发明一个实施例的获取液晶盒的膜柱压缩率的流程图；
[0052] 图4是根据本发明一个实施例的获取液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体 积的流程图；
[0053] 图5是根据本发明一个实施例的另一种获取液晶盒所需要的液晶滴下量的方法 的流程图；
[0054] 图6是根据本发明在一个实施例的关于各个液晶盒及其膜柱的平均原始高度的 数据图。
【具体实施方式】
[0055] W下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用 技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据W实施。需要说明 的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例W及各实施例中的各个特征可W相互结合， 所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
[0056] 同时，在W下说明中，出于解释的目的而阐述了许多具体细节，W提供对本发明实 施例的彻底理解。然而，对本领域的技术人员来说显而易见的是，本发明可W不用该里的具 体细节或者所描述的特定方式来实施。
[0化7] 连施例一:
[005引图1示出了液晶盒的结构示意图。从图1中可W看出，液晶盒包括第一材料层101、 第二材料层102、封框103、膜柱104和液晶105。其中，膜柱104和液晶105便设置在由第 一材料层、第二材料层和封框103所共同形成的空间中。
[0化9] 图2示出了本实施例所提供的获取液晶滴下量的方法的流程图。
[0060] 如图2所示，该方法在步骤S201中从液晶盒中选取第一预设数量的彩色滤光片膜 柱（W下简称为膜柱），从而得到第一膜柱集。本实施例中，在步骤S201中从液晶盒中选取 的膜柱既包含主膜柱，又包含辅膜柱，所选取的主膜柱与辅膜柱的数量之和（即第一预设 数量）为9个。当然，在本发明的其他实施例中，在步骤S201中所选取的膜柱也可W仅包 含主膜柱或辅膜柱，本发明不限于此。同时，在步骤S201中所选取的膜柱的数量（即第一 预设数量）也可W为其他合理值，例如5?20之间的其他值，本发明同样不限于此。
[0061] 得到第一膜柱集后，在步骤S202中分别获取第一膜柱集中各个膜柱的原始高度， 并计得到算第一膜柱集的平均原始高度。本实施例中，分别获取所选取的9个膜柱的原始 高度，并通过计算该9个膜柱的原始高度的平均值来得到第一膜柱集的平均原始高度。第 一膜柱集中各个膜柱的原始高度可W利用膜柱高度测试仪在膜柱生产过程中测量得到。当 然，在本发明的其他实施例中，也可w通过其他合理方式来获取各个膜柱的原始高度，本发 明不限于此。
[0062] 此外，在本发明的其他实施例中，第一预设数量也可W为1个，即在步骤S201中所 选取的膜柱的数量为1个，那么此时在步骤S202中所计算的第一膜柱集的平均原始高度也 就是该膜柱的原始高度。本实施例所提供的方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均 值，能够有效减小膜柱高度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为准 确的液晶滴下量。
[0063] 如图2所示，本实施例所提供的方法在步骤S203中从液晶盒中选取第二预设数量 的主膜柱，从而得到第二主膜柱集。本实施例中，在步骤S203中所选取的主膜柱的数量（即 第二预设数量）也为9个。
[0064] 当然，与第一预设数量类似，在本发明的其他实施例中，第二预设数量也可W为其 他合理值，本发明不限于此。此外，还需要说明的是，在本发明的其他实施例中，步骤S203 中所选取的主膜柱与步骤S201中所选取的膜柱也可W为相同的膜柱，即第二主膜柱集与 第一膜柱集相同，本发明不限于此。
[00化]得到第二主膜柱集后，在步骤S204中，分别获取第二主膜柱集中各个主膜柱的原 始高度。同时，在步骤S204中还会获取液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度等 数据。随后在步骤S205中便可W根据步骤204中所得到的数据确定出液晶盒的膜柱压缩 率。
[0066] 图3示出了本实施例中确定液晶盒的膜柱压缩率的具体流程图。
[0067] 为了确定液晶盒的膜柱压缩率，就需要先确定出液晶盒中膜柱的压缩量，即膜柱 的高度变化量，也就是液晶盒中膜柱的高度相对于该膜柱的原始高度所减小的高度值。所 W如图3所示，本实施例首先在步骤S301中根据所获取到的第二主膜柱集中各个主膜柱的 原始高度，计算出第二主膜柱集的平均原始高度。
[0068] 在步骤S302中，根据液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和第二主膜 柱集的平均原始高度，计算得到液晶盒中膜柱的压缩量。从图1中可W看出，液晶盒的厚度 等于第一材料层厚度、第二材料层厚度与压缩后的膜柱的高度之和，所W膜柱的压缩量Ah 可W根据如下表达式计算得到：
[0069] A h = h-(d-dc-da) (1)
[0070] 其中，h表示第二主膜柱集的平均原始高度，d表示液晶盒厚度，d。和cU分别表示 第一材料层厚度和第二材料层厚度。
[0071] 最后在步骤S303中，根据膜柱的压缩量Ah与第二主膜柱集的平均原始高度h的 比值，便可W计算得到液晶盒的膜柱压缩率a,即：
[0072] a = 々-((/-'/'-式).100% (2) 片
[0073] 当然，在本发明的其他实施例中，也可W利用其他合理的方式来确定液晶盒的膜 柱压缩率，本发明不限于此。本实施例中，利用计算得到的膜柱压缩率，还可W判断出液晶 盒是否满足工艺要求。例如，液晶盒的膜柱压缩率的安全值为8. 3%?11%，所W如果计算 的膜柱压缩率超过了该一范围，便可W判断出该液晶盒不满足工艺要求，从而实现了在生 产过程中对液晶盒的质检。
[0074] 再次如图2所示，得到膜柱压缩率后，本实施例所提供的液晶滴下量获取方法在 步骤S206中分别获取液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积（本实施例中，液晶盒中膜 柱的总体积也就是液晶中主膜柱的总体积与辅辅膜柱的总体积之和）。
[0075] 由于液晶盒中待滴入液晶的空间可W视为第一材料层、第二材料层和封框所形成 的空间减去液晶盒中各个膜柱的总体积后剩余的空间，而第一材料层、第二材料层和封框 所形成的空间的体积可W视为液晶盒的底面积与压缩后的膜柱的高度的乘积。所W本实施 例在步骤S207中，根据液晶盒底面积、第一膜柱集的平均原始高度、液晶压缩率、液晶盒中 主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，确定出该液晶盒所需要的液晶滴下量。本实施例中，液 晶盒所需要的液晶滴下量V"ut可W根据如下表达式计算得到：
[0076] V。化=Sp.h〇. (l-a)-(Vs+Vp)做
[0077] 其中，Sp表示液晶盒的底面积，h。表示第一膜柱集的平均原始高度，V ,和V P分别 表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积。
[007引图4示出了本实施例中获取液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积的流程 图。
[0079] 如图4所示，在步骤S401中，分别从液晶盒选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，从 而得到第一主膜柱和第一辅膜柱。本实施例中，所选取的主膜柱和辅膜柱为液晶盒中屯、位 置处的相应膜柱。当然，在本发明的其他实施例中，还可W选取液晶盒其他位置处的主膜柱 和/或辅膜柱来分别作为第一主膜柱和/或第一辅膜柱，例如液晶盒边角位置处的主膜柱 和/或辅膜柱等，本发明不限于此。
[0080] 第一主膜柱和第一辅膜柱可W视为圆台，为了得到第一主膜柱的体积和第二主膜 柱的体积，在步骤S402中，分别获取第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和 下表面半径，从而分别计算得到第一主膜柱和第一辅膜柱的体积。
[0081] 本实施例中，分别根据如下表达式计算第一主膜柱的体积Vi和第一辅膜柱的体积
【权利要求】
1. 一种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括： 从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集； 获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始 高度； 从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集； 分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度 和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率； 获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原 始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括： 根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均原始 高度； 根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的平均 原始高度，计算膜柱压缩量； 根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。
3. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：
其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，(1。和da分别表示第一材料层厚度和第二 材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。
4. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括： 从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜柱； 分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，计算 得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积； 分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、第一 主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体 积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。
5. 如权利要求4所述的方法，其特征在于， 根据如下表达式计算所述第一主膜柱的体积：
其中，'和V2分别表不第一主膜柱和第一辅膜柱的体积，hJPh2分别表不第一主膜柱 和第一辅膜柱的原始高度，rlu和r分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径，r2u 和r21分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。
6. 如权利要求4或5所述的方法，其特征在于，根据如下表达式计算所述主膜柱的总体 积和辅膜柱的总体积：
其中，VjPVs分别表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，Sp表示液晶盒的 底面积，Pjp Ps分别表示液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，VdPV2分别表示第一主 膜柱和第一辅膜柱的体积。
7. 如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据如下表达式确定所述液晶滴下量： Vout =Sp ?h0 ? (l-a)-v 其中，Vtjut表示液晶滴下量，S5表示液晶盒的底面积，Iitl表示第一膜柱集的平均原始高 度，a表示膜柱压缩率，V表示液晶盒中膜柱的总体积。
8. -种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括： 获取预设数量的液晶盒，利用权利要求1?7中任一项所述的方法确定各个液晶盒所 需要的液晶滴下量； 获取各个液晶盒的膜柱的平均原始高度，并根据平均原始高度将所获取的液晶盒划分 为多个液晶盒子集； 对于各个液晶盒子集，根据液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量，确定各个 液晶盒子集所对应的液晶滴下量； 当需要向待处理液晶盒中滴入液晶时，获取待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，并 根据该平均原始高度判断所述待处理液晶盒所对应的液晶盒子集，将该液晶盒子集所对应 的液晶滴下量确定为所述待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。
9. 如权利要求8所述的方法，其特征在于，在确定液晶盒子集所对应的液晶滴下量时， 计算液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量的平均值或中值，将该平均值或中值确 定为该液晶盒子集所对应的液晶滴下量。
10. -种液晶滴下设备，其特征在于，所述设备采用如权利要求1?9中任一项所述的 方法来确定待处理液晶盒所需要的液晶滴下量，并根据所述液晶滴下量向所述待处理液晶 盒中滴入液晶。
【文档编号】G02F1/1341GK104503154SQ201410856637
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月31日 优先权日:2014年12月31日
【发明者】胡德莹 申请人:深圳市华星光电技术有限公司