光器件及光系统的制作方法

本发明涉及光器件及光系统。

背景技术：

1、光电转换元件用于多种用途。

2、例如，在专利文献1中记载有一种测距装置，其用光电二极管接收来自反射体的反射光，并测量直到作为反射体的对象物的距离。该测距装置利用lidar(light detectionand ranging，光探测和测距)的技术。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：日本特开2021-128084号公报

技术实现思路

1、发明想要解决的技术问题

2、使用了半导体的pn结的光传感器被广泛利用，但为了进一步的发展，寻求新的突破。

3、本发明是鉴于上述技术问题而完成的，其目的在于提供一种新型的光器件及光系统。

4、用于解决技术问题的手段

5、为了解决上述技术问题，提供以下手段。

6、(1)第一方式提供一种光器件，其具备发光部、第一磁性元件、以及电路，所述第一磁性元件具备第一铁磁性层、第二铁磁性层、以及被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层，向所述第一磁性元件照射由所述发光部发出且由被照射体反射的反射光，与所述发光部的发光对应的第一信号被输入所述电路，与所述反射光向所述第一磁性元件的照射对应的第二信号从所述第一磁性元件输入所述电路。

7、(2)在上述方式的光器件中，也可以是，所述第一信号从所述发光部输入所述电路。

8、(3)在上述方式的光器件中，还具备第二磁性元件，所述第二磁性元件具备第三铁磁性层、第四铁磁性层、以及被所述第三铁磁性层和所述第四铁磁性层夹持的第二间隔层，向所述第二磁性元件照射由所述发光部发出的光的一部分，所述第一信号从所述第二磁性元件输入所述电路。

9、(4)在上述方式的光器件中，也可以是，也向所述第一磁性元件照射由所述发光部发出的光的一部分，所述第一信号从所述第一磁性元件输入所述电路。

10、(5)在上述方面的光器件中，也可以是，还具备光学扫描镜，由所述发光部发出的光的至少一部分被所述光学扫描镜反射而向所述被照射体照射，并且来自所述被照射体的所述反射光被所述光学扫描镜反射而向所述第一磁性元件照射。

11、(6)第二方式提供一种光系统，其具有上述方式的光器件，基于输入到所述电路的所述第一信号和所述第二信号，求出所述发光部的发光和所述反射光向所述第一磁性元件的照射的时间差。

12、(7)在上述方式的光系统中，也可以是，基于所述时间差求出所述被照射体和所述光器件之间的距离。

13、(8)第三方式提供一种光系统，其具有上述方式的光器件，从所述反射光获得所述被照射体的立体像。

14、发明的效果

15、上述方式的光器件及光系统按新的原理工作。

技术特征：

1.一种光器件，其中，

2.根据权利要求1所述的光器件，其中，

3.根据权利要求1所述的光器件，其中，

4.根据权利要求1所述的光器件，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的光器件，其中，

6.一种光系统，其中，

7.根据权利要求6所述的光系统，其中，

8.一种光系统，其中，

技术总结
本发明提供一种新型的光器件及光系统。该光器件具备发光部、第一磁性元件、以及电路，所述第一磁性元件具备第一铁磁性层、第二铁磁性层、以及被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层，向所述第一磁性元件照射由所述发光部发出且由被照射体反射的反射光，与所述发光部的发光对应的第一信号被输入所述电路，与所述反射光向所述第一磁性元件的照射对应的第二信号从所述第一磁性元件输入所述电路。

技术研发人员：水野友人,福泽英明,柴田哲也
受保护的技术使用者：TDK株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14