一种同轴光源及检测装置的制作方法

本发明涉及光学检测，为一种光学光源，尤其是涉及一种同轴光源及检测装置。

背景技术：

1、同轴光是一种在光学成像系统中非常重要的光照方式，它具有以下几个重要的特点和作用：

2、同轴光在机器视觉和光学成像系统中具有重要作用。它能够提供均匀照明、减少干扰、简化系统设计以及实现高精度测量，从而提高成像质量、增强系统的稳定性和可靠性，满足各种应用需求。

3、同轴光的平行性定义指的是光线束在传播过程中保持平行的性质。具体来说，当一束光线通过同轴光系统时，如果光线束在整个光路中保持平行，则称为同轴光的平行传播。

4、同轴光的平行性是同轴光学系统的基本性质之一。在同轴光学系统中，光线从一个点光源发出，通过透镜或反射镜等光学元件，沿着同一个轴线传播。如果光线束在整个系统中传播时保持平行，即光线束的各个光线几乎没有交叉或散开，那么就可以认为光束具有良好的平行性。

5、保持同轴光的平行性对于一些应用非常重要，特别是在需要精确成像、测量或定位的情况下。例如，在显微镜、望远镜和激光器等光学设备中，保持光线平行可以确保图像清晰度、焦距准确以及光束的聚焦和照射效果。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的目的在于提供一种同轴光源及检测装置，通过改变光源内部的硬件，来实现光线的适度发散和合适的平行度，可以提高被测物表面微弱缺陷的检测能力，又可以提高对于粗糙物体的兼容能力。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种同轴光源，包括：灯板，用于产生出光光路；分光镜，位于所述出光光路路径上，用于对所述出光光路进行折射；所述灯板上等距设置有多个灯珠，且每个灯珠的发散角相同处于10°~30°。

3、在一些具体实现方式中，还包括：漫射板，位于所述出光光路路径上，且设置在所述灯板和分光镜之间。

4、在一些具体实现方式中，所述分光镜与所述灯板出光面以及所述漫射板分别呈45°夹角设置。

5、在一些具体实现方式中，所述漫射板的透光率为78%。

6、在一些具体实现方式中，多个所述灯珠包括间隔设置的多个第一灯珠和多个第二灯珠，所述第一灯珠和所述第二灯珠具有不同颜色。

7、在一些具体实现方式中，每个所述第一灯珠的波长为450nm。

8、在一些具体实现方式中，每个所述第二灯珠的波长为650nm。

9、在一些具体实现方式中，还包括壳体，所述灯板、分光镜和所述漫射板设置在所述壳体内。

10、第二发面，提供一种检测装置，包括成像部以及上述任一项所述的同轴光源，所述分光镜将所述灯板产生的所述出光光路进行角度折射并投射至待检测物体侧，经所述待检测物体将所述出光光路进行反射后形成成像光路被所述成像部接收。

11、在一些具体实现方式中，所述分光镜将所述出光光路进行45°折射后投射至所述待检测物体侧。

12、本发明实施例带来了以下有益效果：本发明实施例可以实现高平行性照明来解决常规同轴光和平行同轴光照的问题，提高被测物表面微弱缺陷的检测能力。同时，该装置设计紧凑，易于集成安装，具有较好的成像效果和系统稳定性。

13、本公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本公开的上述技术即可得知。

14、为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

技术特征：

1.一种同轴光源，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的同轴光源，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述的同轴光源，其特征在于，所述分光镜与所述灯板出光面以及所述漫射板分别呈45°夹角设置。

4.根据权利要求2或3所述的同轴光源，其特征在于，所述漫射板的透光率为78%。

5.根据权利要求1所述的同轴光源，其特征在于，多个所述灯珠包括间隔设置的多个第一灯珠和多个第二灯珠，所述第一灯珠和所述第二灯珠具有不同颜色。

6.根据权利要求5所述的同轴光源，其特征在于，每个所述第一灯珠的波长为450nm。

7.根据权利要求5所述的同轴光源，其特征在于，每个所述第二灯珠的波长为650nm。

8.根据权利要求2所述的同轴光源，其特征在于，还包括壳体，所述灯板、分光镜和所述漫射板设置在所述壳体内。

9.一种检测装置，其特征在于，包括成像部以及权利要求1-8任一项所述的同轴光源，所述分光镜将所述灯板产生的所述出光光路进行角度折射并投射至待检测物体侧，经所述待检测物体将所述出光光路进行反射后形成成像光路被所述成像部接收。

10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述分光镜将所述出光光路进行45°折射后投射至所述待检测物体侧。

技术总结
本发明涉及光学检测技术领域，为一种光学光源，尤其是涉及一种同轴光源及检测装置。包括分光镜和灯板，分光镜将灯板产生的出光光路进行角度折射并投射至待检测物体侧，经待检测物体将出光光路进行反射后形成成像光路被成像部接收。本发明可以实现高平行性照明来解决常规同轴光和平行同轴光照的问题，提高被测物表面微弱缺陷的检测能力。同时，该装置设计紧凑，易于集成安装，具有较好的成像效果和系统稳定性。

技术研发人员：冯宏,吴昌力,郑军
受保护的技术使用者：聚时科技（上海）有限公司
技术研发日：20240130
技术公布日：2024/10/10