本发明属于半导体设备零部件groundingstrap(gs)片,此产品实现铝镀层的完全覆盖,最薄镀层不小于20um。
背景技术:
近年来,随着半导体设备的迅猛发展,对半导体设备的零部件的要求越来越高。gs片是半导体设备常用的零部件,属于半导体设备的消耗品,由于客户端工作条件升级,目前市场上的gs片镀层未完全覆盖,使用过程中侧壁易腐蚀,已经无法满足使用寿命要求,铝镀层完全覆盖的gs片亟待开发。
技术实现要素:
针对上述存在的问题,本发明gs片采用全新的喷涂工艺方法,实现铝涂层的完全覆盖,解决旧版gs片易腐蚀,寿命短的问题。
本发明采用的方案是:
一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,包括如下步骤:
(1)先喷涂零件关键表面,再采用堆叠的方法喷涂零件非关键表面;
(2)喷涂实现铝涂层完全覆盖,无裸露;
(3)取出样品,在电镜下观察铝镀层覆盖情况。
优选的第(1)步骤,堆叠数量为大于10的任意数量。
优选的第(1)步骤,非关键表面喷涂铝粉直径为10-20um。
优选的第(1)步骤,零件关键表面,即零件功能表面,膜厚大于100um。
优选的第(1)步骤,零件非重要表面,膜厚大于20um。
本发明的有益效果是:
实现铝涂层的完全覆盖,有效避免了腐蚀性气体腐蚀速度,进而延长了产品的使用寿命。
附图说明
图1本实施案例喷涂样品示意图。
图2本实施案例样品的sem照片。
具体实施方式
下面结合附图1-2和实例对本发明方案进行详细描述。
实施例
首先,采用基材样片300*150*0.2mm,线喷涂上下表面厚度为100~120um,再喷涂侧面厚度为20-40um。最后,电子显微镜检测镀层覆盖情况和膜厚。
采用新喷涂工艺方法,在电子显微镜下观察样片,图2可以观察到镀层已经在零件四周全部覆盖。
1.一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,其特征在于:
包括如下步骤:
(1)先喷涂零件关键表面,再采用堆叠的方法喷涂零件非关键表面;
(2)喷涂实现铝涂层完全覆盖,无裸露;
(3)取出样品,在电镜下观察铝镀层覆盖情况。
2.如专利要求1所述的一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,其特征在于:第(1)步骤,堆叠数量为大于10的任意数量。
3.如专利要求1所述的一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,其特征在于:第(1)步骤,非关键表面喷涂铝粉直径为10-20um。
4.如专利要求1所述的一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,其特征在于:第(1)步骤,零件关键表面,即零件功能表面,膜厚大于100um。
5.如专利要求1所述的一种全新的喷涂方法实现铝喷涂全覆盖的gs片产品,其特征在于:第(1)步骤,零件非重要表面,膜厚大于20um。