本技术涉及磨抛机,特别涉及一种磨抛头位置检测机构。
背景技术:
1、研磨抛光机应用于许多产业。它们经常用于制备为进一步实验用的金属样品、聚合物样品、陶瓷样品或类似样品,例如用于金相实验。已知现有的磨抛机包括两个独立的磨抛工位;在磨抛工位一侧设置有支撑立臂,在支撑立臂上设置有可转动的头部,在头部上设置有升降部;在升降部下端设置有活动套在样品上的磨抛头。
2、然而,对于金相实验,样件在研磨过程中需要在一个磨盘上间歇性地摆动研磨,确保金相组织能够被研磨到位,便于在显微镜下观察金相组织,如果磨抛头旋转到磨盘外部并开始下降进行研磨动作,很容易造成设备损伤。因此,需要对上述现有的磨抛机进行改造,以检测磨抛头的摆动位置。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的缺陷与不足,为此本实用新型提供了一种磨抛头位置检测机构,能够检测并提示磨抛头的位置,同时能够检测磨抛头在单个磨盘上的摆动位置。
2、为了实现上述目的,本实用新型提供了一种磨抛头位置检测机构,包括可转动套设在支撑立臂顶部的摆动架体,其中,还包括控制面板和通过扇形板触发的传感器,所述传感器水平设在所述摆动架体上,所述扇形板同轴设在所述支撑立臂上;所述控制面板上设有按钮开关和指示灯;所述控制面板设在升降部的前端;所述扇形板用于保证升降部位于磨盘内侧的上方;所述传感器被触发时,所述指示灯发亮。
3、进一步地,所述摆动架体内设有通过驱动组件带动的锁紧组件;所述锁紧组件包括压板,所述压板上设有若干个锁紧轴,若干个所述锁紧轴分布在所述支撑立臂的两侧;所述锁紧轴上设有用于锁紧所述支撑立臂的倒角;所述按钮开关用于控制所述驱动组件。。
4、进一步地,所述驱动组件包括密封栓接在所述摆动架体上的后盖,所述后盖与摆动架体之间密封夹紧有可膨胀的密封垫;所述密封垫与后盖之间设有压力腔;所述压力腔通过二位三通电磁阀与外部气源相通;所述二位三通电磁阀与所述按钮开关电性连接。
5、进一步地,所述传感器通过u形连接板栓接在所述摆动架体上。
6、进一步地,所述支撑立臂上同轴设有挡环,所述挡环位于所述摆动架体的下端;所述扇形板与挡环设置为一体。
7、进一步地,所述密封垫为塑胶垫。
8、进一步地,所述锁紧轴的数量为三个,三个所述锁紧轴呈三角形分布。
9、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:通过扇形板和传感器,能够检测到磨抛头相对于磨盘的位置并通过指示灯显示。通过锁紧组件,可以将磨抛头锁定在相应工作位置。整体保证了磨抛头相对于不同磨盘之间的位置检测以及相对于单独磨盘的位置检测,保证金相实验中样件的摆动研磨过程,提高样件的研磨质量。
1.一种磨抛头位置检测机构,包括可转动套设在支撑立臂(1)顶部的摆动架体(2),其特征在于,还包括控制面板(4)和通过扇形板(71)触发的传感器(31),所述传感器(31)水平设在所述摆动架体(2)上,所述扇形板(71)同轴设在所述支撑立臂(1)上;所述控制面板(4)上设有按钮开关(5)和指示灯(6);所述控制面板(4)设在升降部的前端;所述扇形板(71)用于保证升降部位于磨盘内侧的上方;所述传感器(31)被触发时,所述指示灯(6)发亮。
2.根据权利要求1所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述摆动架体(2)内设有通过驱动组件带动的锁紧组件;所述锁紧组件包括压板(21),所述压板(21)上设有若干个锁紧轴(22),若干个所述锁紧轴(22)分布在所述支撑立臂(1)的两侧;所述锁紧轴(22)上设有用于锁紧所述支撑立臂(1)的倒角;所述按钮开关(5)用于控制所述驱动组件。
3.根据权利要求2所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述驱动组件包括密封栓接在所述摆动架体(2)上的后盖(23),所述后盖(23)与摆动架体(2)之间密封夹紧有可膨胀的密封垫(24);所述密封垫(24)与后盖(23)之间设有压力腔(25);所述压力腔(25)通过二位三通电磁阀(26)与外部气源相通;所述二位三通电磁阀(26)与所述按钮开关(5)电性连接。
4.根据权利要求3所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述传感器(31)通过u形连接板(3)栓接在所述摆动架体(2)上。
5.根据权利要求3所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述支撑立臂(1)上同轴设有挡环(7),所述挡环(7)位于所述摆动架体(2)的下端;所述扇形板(71)与挡环(7)设置为一体。
6.根据权利要求4或5所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述密封垫(24)为塑胶垫。
7.根据权利要求2所述的磨抛头位置检测机构,其特征在于,所述锁紧轴(22)的数量为三个,三个所述锁紧轴(22)呈三角形分布。