颗粒状乙炔黑的制作方法
【专利摘要】本发明涉及颗粒状乙炔黑，其依照ASTM D 1937?10测量的堆积强度为至多200N，依照ASTM D 1511?10测量的平均颗粒尺寸为至少1.0mm，本发明还涉及任意的上述颗粒状乙炔黑用于生产含树脂基质或聚合物基质或橡胶基质且乙炔黑分散在所述基质中的化合物，以及涉及用于生产这样的化合物的方法。
【专利说明】
颗粒状乙快黑
技术领域
[0001] 本发明设及颗粒状(pelleted)乙烘黑及其用途。
[0002] 发明背景
[0003] 乙烘黑尤其用作聚合物基质中的导电剂。乙烘黑在生产中W细粉末的形式获得， 因此其通常被制成颗粒状W易于处理和运输。因此，对于乙烘黑颗粒的一个要求就是其机 械稳定性足W抵抗处理和运输过程中导致不希望的细粉末(fines)的崩裂(break-up)和磨 损。另一方面，对于最终使用者而言，重要的是乙烘黑颗粒能够容易地均匀分散在聚合物基 质中而不会形成大的乙烘黑团块，其导致终产物中有不希望的缺陷区域。因此，不可将乙烘 黑颗粒的机械强度提高至可能危害乙烘黑在终产物聚合物基质中的分散性能(dispersion quality)的程度。对乙烘黑的运两个重要要求是难W同时达到的，因此过去工业上做了许 多尝试W生产在很大程度上抵抗处理和运输过程中的崩裂和磨损的同时仍能够容易地分 散在聚合物基质中从而获得炭黑在基质中均匀分布且缺陷区域最小的乙烘黑颗粒。
[0004] DE 35 12 479中讨论了上文所论述的颗粒状乙烘黑的特性平衡，并提出提供单个 颗粒硬度小于5g/颗粒的乙烘黑颗粒W确保所需的乙烘黑颗粒在聚合物基质中的分散性。 虽然该参考文献表明乙烘黑颗粒的尺寸可在0.5mm至5mm的大范围内变化，但是从比较两个 粒级（size fraction)的乙烘黑材料的实验数据可W明显看出，与0. 粒级相比， 2mm-3.2mm粒级的分散性显著劣化。运由包含乙烘黑的聚合物材料的抗撞强度的降低和每 个指定区域大团块数目的显著增加清楚地表现出来。因此，本领域技术人员从DE 35 12 479可W显而易见得知，如果需要乙烘黑在聚合物基质中的分散性良好，则应避免大的颗粒 尺寸。
[0005] 根据与DE 35 12 479相同的
【申请人】提交的EP A 785 239,讨论了乙烘黑颗粒的机 械稳定性和分散性问题。根据该参考文献的教导，与DE 35 12 479相反，为了避免因处理造 成的细粉末形成W及改善乙烘黑在聚合物基质中的分散性，单个颗粒强度大于5g/颗粒是 重要的。根据EP A 785 239的教导，运可W通过两步造粒(pelletizing)法来实现，其中乙 烘黑的软核包覆有硬的乙烘黑，得到核/壳结构。从该参考文献的比较例4与实施例3的比较 (实施例3与比较例4的区别仅在于获得硬壳的第二个处理步骤被省略)尤其显而易见的是， 不仅细粉末的含量与实施例3相比明显提高，运是已预期到的，而且较软的核材料的分散性 与核/壳材料相比降低，运由体积电阻率的增加表现出来。
[0006] 肝3681253和肝3681266提出了类似的核/壳颗粒的构思。
[0007] 虽然运些参考文献表明核/壳颗粒的形成可能导致乙烘黑颗粒机械强度与分散性 的平衡得到改善，但是该技术的缺点在于相对于一步法，该生产方法相当复杂且能量消耗 W及投资和生产成本增加。因此，仍希望获得具有机械强度与分散性的最佳平衡的乙烘黑 颗粒，而无需核/壳结构，因而也无需两步法。
[000引EP A 2 075 291中提出了形成非-核/壳颗粒的另一种方法。根据该参考文献的教 导，选择平均长径比为至多1.1、平均最大颗粒尺寸为0.1 mm-lmm、平均颗粒尺寸为0.2mm- 0.6mm的粒化乙烘黑是必要的。因此EP A 2 075 291证实了DE 35 12 479的结论，即，单个 颗粒强度是颗粒尺寸的函数并且随着颗粒尺寸而增加，其结果就是颗粒尺寸应该小，即在 0.2mm-0.6mm的范围内，W便实现所需的分散性。特别是根据EP 2 075 291中平均颗粒尺寸 为0.75mm但仍具有所需长径比的比较例7，单个颗粒硬度增加至值为5.5g/颗粒，因此超出 了DE 35 12 479中教导的范围。运导致粉末化减少但也导致表明分散性明显降低的体积电 阻率W及硬点化ard spot)数目的增加。
[0009] 而且，颗粒状乙烘黑产品在市场上有售，例如可从日本的DENKIKAGAKU K0GY0 KA脚甜IKI KAISHA购得的产品Denka Black Grade Granular。该商品的性能在本申请的实 验部分中示出。尤其是，该产品的平均颗粒尺寸为0.7mm。
[0010] 从对现有技术的讨论中可W明显得知，工业上仍然需要展现出磨损稳定性与聚合 物基质中分散性的最佳平衡且可高成本效益方法生产的颗粒状乙烘黑材料。此外，如 果不仅提供了所需的分散性而且还可W降低分散乙烘黑颗粒所需的能量，那么运对于运些 乙烘黑颗粒的最终使用者而言将是有利的。
[0011] 因此，本发明的目的是提供颗粒状乙烘黑，其导致将乙烘黑分散在聚合物基质中 所需的能量减少而不损害处理特性和分散性。根据本发明的更优选的方面，如果分散性得 到进一步改善，将是有利的。
【发明内容】
[0012] 令人惊讶的是，上述问题通过依照ASTM D 1937-10测量的堆积强度（mass strength)为至多200N、依照ASTM D 1511-10测量的平均颗粒尺寸为至少1.0mm的颗粒状乙 烘黑得到解决。
[0013] 可W在高成本效益的一步造粒法中获得本发明的颗粒状乙烘黑而无需使用任何 有机粘合剂。因此，优选地，本发明的颗粒状乙烘黑的颗粒不具有核/壳结构（core/shell mcxrphology)。此外，优选地，所述颗粒不含有机粘合剂。
[0014] 根据本发明的优选实施方案，依照ASTM D 1511-10测量的颗粒状乙烘黑的平均颗 粒尺寸为至少1.4mm。
【具体实施方式】
[0015] 作为用于制备本发明的颗粒化(pelletized)乙烘黑的起始材料，乙烘黑粉末可通 过将乙烘气热解的溫度维持在至少1500°C、优选至少2000°C的水平来获得。制备乙烘黑的 热解炉是现有技术所熟知的，例如肝A 56-90860或US专利2475282中所公开的那些。另外， 有可能通过在乙烘气热解期间引入氨气作为惰性气体或引入其他惰性气体来控制热解溫 度。可用作本发明颗粒状乙烘黑所用起始材料的乙烘黑粉末也可从商业来源获得。合适的 乙烘黑粉末起始材料可具有W下特性：
[0016] -依照ASTM D 1510-11方法测量的舰吸收值为50mg/g-150mg/g;
[0017] -依照ASTM D 2414-09A使用石蜡油和程序B测量的0AN为150ml/100g-350ml/ lOOg;
[0018] -用依照ASTM 1513-05的方法测量的堆积密度(bulk density)为50g/l-150g/l。
[0019] 例如，如EP-A 0 924 268或DE-A 103 50 188所述，可使用一步式湿法造粒系统 (one-st邱wet pelletize system)对粉末化的乙烘黑起始材料进行造粒而无需有机粘合 剂，其中可使用揽拌制粒系统(granulation system)如环层混合制粒机。在该一步式造粒 法中，可调整制粒机的旋转速度W及粉末化乙烘黑起始材料和水的质量流量W获得所需的 堆积强度和颗粒尺寸。特定参数的选择还将取决于粉状(pulverulent)起始材料，尤其是其 堆积密度。
[0020] 接着，干燥所获得的颗粒，优选地，可使用转鼓式干燥机进行干燥。由于颗粒状乙 烘黑的特性将取决于粉末化起始材料的类型W及造粒法的若干参数，有必要进行一些尝试 和错误(trial and error)实验W根据所用的起始材料调整造粒参数。
[0021] 根据经验法则：
[0022] -在恒定的水:粉末重量比下，增加制粒机的旋转速度会导致具有较高堆积强度的 较小颗粒，
[0023] -在恒定的制粒机旋转速度下，增加的水:粉末重量比会将颗粒尺寸分布改变成具 有较高堆积强度的较大颗粒。
[0024] 本申请实验部分所示出的特定工作例将为本领域技术人员提供如何调整工艺参 数W获得本发明的颗粒状乙烘黑的一些指导。
[0025] 此外，为了调整合适的平均颗粒尺寸，可使用标准方法例如筛分分级对所获得的 干燥的乙烘黑颗粒进行粒度分级（size fractionated)，然后可选择合适的粒级（size fraction) W满足本发明的颗粒尺寸标准。
[00%] 依照ASTM D1937-10测量的本发明颗粒状乙烘黑的堆积强度可W在20N-200N、优 选40N-200N、更优选60N-200N、最优选70N-190N的范围内。
[0027] 依照ASTM D1511-10测量的本发明颗粒状乙烘黑的平均颗粒尺寸可W在1.0mm- 2.5mm、优选 1.2mm-2.5mm、更优选 1.4mm-2.5mm、最优选 1.4mm-2.0mm 的范围内。
[0028] 令人惊讶的是，发现如果平均颗粒尺寸大于1.4mm，那么不仅可减少分散能量，而 且与上文引用的可商购自Denka的颗粒状乙烘黑相比可进一步改善分散性能。因此，根据本 发明的优选实施方案，如果本发明颗粒状乙烘黑中依照ASTM D1511-10测量的尺寸为至少 1.4mm的颗粒比例增加，也将是有益的。优选地，至少40重量％的本发明颗粒状乙烘黑的颗 粒依照ASTM D1511-10测量的尺寸为至少1.4mm。尤其地，至少35重量％的本发明颗粒状乙 烘黑的颗粒的尺寸在1.4mm-2.0mm的范围内。尤其优选地，至少40重量％的颗粒的尺寸在 1.4mm-2.0mm的范围内。
[00巧]从上文引用的现有技术参考文献尤其是DE 35 12 479和EP 2 075 291可W明显 得知，单个颗粒强度取决于颗粒尺寸，因此单个颗粒强度随着颗粒尺寸的增加而增加。因 此，适于描述颗粒状炭黑整个样品的机械稳定性且不依赖于颗粒尺寸的参数是平均抗压强 度。本申请的实验部分更详细地描述了平均抗压强度的测量和计算。
[0030] 根据本发明，优选地，平均抗压强度小于65kPa，优选为15kPa-60kPa，更优选 20kPa-55kPa，最优选 25kPa-50kPa。
[0031] 如上所述，本发明的颗粒状乙烘黑的优点在于分散于聚合物基质时，可显著减少 均匀分散所必需的混合能，在本发明的一些优选实施方案中，可进一步提高分散性能。
[0032] 因此，本发明的颗粒状乙烘黑可有利地用于生产含聚合物基质且乙烘黑分散在聚 合物基质中的化合物。尤其地，可将有机树脂、聚合物和橡胶用作复合基质。
[0033] 本发明的合适的树脂和聚合物可选自下组:締控聚合物例如聚丙締、聚乙締；乙 締-乙酸乙締醋共聚物；乙締-乙締醇树脂;聚甲基戊締或环締控共聚物;氯乙締类聚合物例 如聚氯乙締或乙締氯乙締共聚物;苯乙締类聚合物例如聚苯乙締、苯乙締-丙締腊共聚物或 丙締腊-下二締-苯乙締共聚物;丙締酸类聚合物例如聚甲基丙締酸甲醋；聚醋例如聚乙締 对苯二甲酸醋、聚下締对苯二甲酸醋；聚酷胺;聚缩醒;聚碳酸醋；聚苯撑酸;氣聚合物例如 聚四氣乙締或聚偏氣乙締；聚苯撑硫酸(polyphenyline sulfide);液晶聚合物;热塑性聚 酷胺;酬类树脂;横酸树脂;苯基树脂;尿素树脂;=聚氯胺树脂;醇酸树脂;娃树脂;环氧树 月旨；聚氨醋树脂；聚乙締醋；聚酷亚胺;巧喃树脂;奎宁树脂和聚合物合金。尤其优选聚苯乙 締聚合物、聚乙締聚合物和共聚物如乙締-乙締基-乙酸醋W及聚丙締聚合物和共聚物。
[0034] 合适的橡胶可W选自下组：天然橡胶、苯乙締下二締橡胶、丙締腊下二締橡胶 (ac巧Ionite bu化diene riAber)、下基橡胶、丙締酸橡胶、乙締-丙締橡胶、乙締-丙締 S元 共聚物、乙締-a-締控共聚物橡胶、娃橡胶、氣橡胶、氯下橡胶、聚下二締橡胶、聚环氧氯丙烷 橡胶化y化in rubber)和氯横化聚乙締橡胶。
[0035] 可使用标准的混合器和渗和器将本发明的颗粒状乙烘黑混合（compounded)并分 散于上述树脂基质、聚合物基质或橡胶基质中，如果允许的话，取决于选择的树脂、聚合物 或橡胶体系，还可W加热本发明的颗粒状乙烘黑W易于均匀分散，其中可W使用本领域技 术人员已知的渗和器、混合器、捏合机或单螺杆挤出机或双螺杆挤出机。样品的合适混合比 例可W是基于100重量份的树脂、聚合物或橡胶，本发明的颗粒状乙烘黑为5-150重量份、优 选10-100重量份。
[0036] 因此，本发明还设及制备含有树脂、聚合物或橡胶W及本发明的颗粒状乙烘黑的 方法，其包括将本发明的颗粒状乙烘黑分散在树脂、聚合物或橡胶中。
[0037] 由此本发明的颗粒状乙烘黑在聚合物或橡胶中起到赋予导电性的作用。因此，本 发明的颗粒状乙烘黑还可用作电池用或补偿器用导电剂，所述电池例如一次电池、二次电 池、燃料电池。其还可用作导电纸用抗静电剂或导电剂。本发明的颗粒状乙烘黑尤其适合于 生产用于电线和电缆应用的半导电屏蔽。此外，本发明的颗粒状乙烘黑可用于赋予聚合物 和橡胶化合物例如用于生产轮胎的囊袋W导热性。其还可有利地用于涂层应用中。
[0038] 在W下的实施例中将更详细地描述本发明。
[0039] 特别是如上所述的W及权利要求中限定的特定乙烘黑特性的测量方法在W下实 验部分给出。
[0040] 测量方法
[0041 ] 舰吸收值:依照ASTM D1510-11测量，方法A。
[0042] 0AN值:依照D2414-09A在石蜡油中测量，程序B。
[0043] 灰含量:依照JIS K1469测量。
[0044] 堆积密度:依照ASTM D1513-05测量。
[0045] 颗粒状粉末:依照ASTM D1508-02测量。
[0046] 堆积强度：依照ASTM D1937-10测量。
[0047] 颗粒尺寸分布:依照ASTM D1511-10测量。
[004引 特别地，使用了 筛孔为 0.1-3.0mm、0.25mm、0.50mm、0.7mm、1.0mm、1.4mm、1.7mm、 2.0mm和3.0mm的筛。W重量百分比记录每个级分的尺寸。
[0049] 平均颗粒尺寸(AVP):
[0050]平均颗粒尺寸通过将每个粒级的比例(P)乘W相应的网格平均值(上筛孔减下筛 孔/2)并将所有的分布加起来而获得：
[0051 ] AVP = 0.0625mmXPo-o. 125+0.1875mmXPo. 125-0.25+0.375mmXP〇.25-o.5〇+0.60mmX Po.50-0.70+0.85mm XPo.70-1.0+1.2mmXPi.〇-i.4+l. 55mm X Pi.4-1.7+1.85mm X Pi.7-2.0+2.5mm X P2.0-3.0o
[0052] 抗压强度(CS):
[0053] 使用来自德国卡尔斯鲁厄化arlsr址e)etewe GmbH的手动操作颗粒硬度测试仪 GFP通过基于ASTM D3313的方法测定单个炭黑颗粒的抗压强度。用所记录的力变形图中急 剧的最大值（sharp maximum)来反映颗粒破碎，该最大值等同于压碎强度Fb。测定了粒级 0.25mm-〇.50mm、0.50mm-0.70mm、0.70mm-l.0mm、1.Omm-1.4mm、1.4mm-l.7mm、1.7mm-2.0mm 和2.Omm-3.0mm的抗压强度。由于运些粒级的比例较低W及由它们的小尺寸导致的颗粒硬 度较低，所W没有测定小于0.25mm的颗粒的抗压强度。
[0054] 每个颗粒的抗压强度（=在压碎载荷(crush loading)下颗粒可承受的最大压力， W帕斯卡[Pa ]计)通过etewe软件GFPWIN用W下关系式计算：
[0化5]
[0化6] Fb:压碎强度；
[0化7] do:开始时的单个颗粒直径。
[0058] 它反映了颗粒对外部压力的抵抗力。如果有效压力大于抗压强度，则会发生颗粒 破碎。
[0059] 对于每个级分，总共测量了 20个颗粒。记录了相应的平均值。
[0060] 平均抗压强度(AVCS):
[0061] 平均抗压强度考虑了每个颗粒化级分的比例并反映了样品的平均值：
[0062] AVCS = CS〇. 25-0.50 XPo. 25-0. 50+CS〇. 50-0.70 XPo. 50-0.70+CS〇. 70-1.0 XPo. 70-1. O+CSl. 0-1.4 X P1.0-1.4+CS1.4-1.7 XP1.4-1.7+CS1.7-2.0 XP1.7-2.0+CS2.0-3.0XP2.0-3.0O
[0063] CSi为特定粒级的抗压强度，Pi为依照ASTM D1511-10获得的所述粒级的比例，w重 量百分比计。
[0064] 实施例
[0065] 用W下起始乙烘粉末制备本发明的颗粒状乙烘黑。起始材料的特性和商业来源在 下表1中给出：
[0066] 表1乙烘黑起始材料
[0067]
[0068] *Societedu Noir d'Acetylene de 1'Aubette,BP98,13133Berre I'Etang cedex，法国
[0069] 制备颗粒状乙烘黑：
[0070] 使用可获自Ruberg-Mischtechnik GmbH&Co(化derborn，德国）的加热环层混合制 粒机RMG 30 (长：1180mm，直径:224mm)进行颗粒化。旋转混合器轴的直径为95mm且配备有W 两个螺旋布置的轴销(pin) dRMG 30水平放置，不倾斜。用可测定重量的进料装置将起始材 料连续进料至制粒机内。通过置于第一注射位(A1)的加压喷雾嘴(类型：Schlick，全锥型， 1.1mm))连续注射脱矿质水，所述第一注射位(A1)距离乙烘黑物料进料口的中屯、125mm。颗 粒化条件概括在下表2中。
[0071] 表2用于颗粒化乙烘黑的条件
[0072]
[0073]
[0074]
[0075]
[0076] 畑=旋转烘干机-鼓直径=0.9m，鼓长度=4m，壁溫为120°C。
[0077] ?1200 =鼓直径=0.8111，鼓长度=0.4111，壁溫为180°(：，可获自1?川6'邑- Mischtechnik GmbH&Co(F*ade;rbo;rn，德国）。
[007引所获得的颗粒状乙烘黑的特性概括在表4-表6中。比较例2是获自Denka的商业产 品，"Denka Black Grade Granular"。
[00巧]表4炭黑表征
[0083]表6抗压强度是颗粒尺寸的函数
[0080]
[0081]
[0082]
[0084]
[0085] 根据上文所述程序通过结合表5和表6的数据来确定所得的平均抗压强度(AVCS)。 发现本发明的所有颗粒状乙烘黑均表现出明显较低的值，其是W低加工成本获得在聚合物 化合物中的高分散性的先决条件。
[0086] 颗粒状乙烘黑的混合和分散测试：
[0087] 测试了比较例1、比较例2、实施例1、实施例3和实施例4的结构相当(0AN)的颗粒状 乙烘黑。
[0088] 可用薄膜样品的过滤器压力测试或光学评估来测定炭黑在聚合物基质中的分散 程度。然而前者基于通过筛对着色聚合物烙融物的过滤和测量所产生的压力增加，后者通 过透光性检测平面挤出薄膜中由未分散的炭黑团块和团聚体(所谓的斑点）引起的缺陷。如 下制备用于分散测试的化合物：
[0089] 在第一步中，在翻滚混合器中生产35重量％的乙烘黑和粉末形式的64.85重量％ 的低密度聚乙締(MFR20)与0.15重量％稳定剂（bganox B 215,可获自BASF SE)的预混物， 混合时间为10分钟。
[0090] 在第二步中，将预混物转移至有本伯里转子(banbu巧rotors)的实验室捏合机 (kneader)(PolyLab QIO，Rheomix可获自Thermo Fischer Scientific，Karlsruhe，德国） 中并在200°C和60RPM下混合2分钟。混合化合物时，将转矩和混合能记录为时间的函数。在 进一步加工该化合物之前，将混合物从捏合机室取出并压成板，可将板劈成可用于压力过 滤器测试和薄膜测试的小块。
[0091] 过滤器压力测试：
[0092] 使用具有通用螺杆和烙体累的单螺杆挤出机根据DIN EN 13900-5对所获得的劈 成的颗粒进行压力过滤器测试。
[0093] 螺杆直径:D = 18mm;
[0094] 螺杆长度:L = 20D;
[0095] 压缩比：1:3;
[0096] 过滤网（Screen pack):来自G邸-Gebr.Kufferath AG(D化en，德国）的四层25皿过 滤筛；
[0097] 基础测试聚合物:PE-LD MFR 4;
[009引测试溫度：160°C。
[0099]在表7中，记录压力差到3己时的时间。时间越长表明分散性能越好。
[0100] 薄膜测试：
[0101] 对于依照DIN EN 13900-6的薄膜测试，使用具有=段式通用螺杆和烙体累的单螺 杆挤出机：
[0102] 螺杆直径 D = 30mm;
[0103] 螺杆长度L=25D;
[0104] 压缩比 1:4。
[0105] 使用高度为0.6mm、宽度为220mm的平面薄膜挤出模具将化合物烙融物挤成平面薄 膜。在模具前方，使用Sulzer烙融混合器SMB-H 17/6(Sulzer LTD，aWinte;rthu;r，Schweiz) 接收均匀薄膜。依照DIN EN 13900-6测量缺陷区域(defect area)。
[0106] 所获得的缺陷区域和混合能在下表7中给出。缺陷区域越小表明分散性能越好。
[0107] 表7过滤器压力测试和薄膜测试结果W及所需的混合能 「01081
Lm W」从巧7 nj 巧显者出，本巧巧的买施例巧现出与化较例1和化较例2相化史化的混 合能。实施例1和实施例4(所有级分)表明与Denka产品相比可实现混合能的减少而不损害 分散性能。
[0110] 此外，从实施例4的大于1.4mm的粒级可W明显看出，当颗粒状乙烘黑的平均颗粒 尺寸大于1.4mm时，可进一步减少混合能并且与所述商品相比分散性能得到进一步改善。
【主权项】
1. 颗粒状乙炔黑，其依照ASTM D 1937-10测量的堆积强度为至多200N，依照ASTM D 1511-10测量的平均颗粒尺寸为至少1.0mm。2. 根据权利要求1所述的颗粒状乙炔黑，其依照ASTM D 1937-10测量的堆积强度为 20N-200N，优选为 40N-200N，更优选为 60N-200N，最优选为 70N-190N。3. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其依照ASTMD 1511-10测量的平 均颗粒尺寸为1 .〇mm-2.5mm，优选为1.2mm_2.5mm，更优选为1.4mm_2.5mm，最优选为1.4mm-2.0mm〇4. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其平均抗压强度小于65kPa。5. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其平均抗压强度为15kPa-60kPa， 优选为 20kPa-55kPa，更优选为 25kPa-50kPa。6. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其中至少40重量％的颗粒依照 ASTM D 1511-10测量的尺寸为至少1.4mm。7. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其中至少35重量％的颗粒依照 ASTM D 1511-10测量的尺寸在1.4mm至2.0mm的范围内。8. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其中至少40重量％的颗粒依照 ASTM D 1511-10测量的尺寸在1.4mm至2.0mm的范围内。9. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其依照ASTMD 1510-11测量的碘 吸收值为 50mg/g-l 50mg/g，优选 60mg/g-l 30mg/g，更优选 70mg/g-l 20mg/g。10. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其依照ASTMD 2414-09A测量的 OAN 吸收值为 140ml/100g-320ml/100g，优选 160ml/100g-300ml/100g。11. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其中所述颗粒不具有核/壳结 构。12. 根据前述权利要求中任一项所述的颗粒状乙炔黑，其中所述颗粒不含有有机粘合 剂。13. 权利要求1-12中任一项所述的任意颗粒状乙炔黑用于生产化合物的用途，所述化 合物含有树脂基质或聚合物基质或橡胶基质且所述乙炔黑分散在所述基质中，所述化合物 优选用于选自电线、电缆、皮带、软管、地板、鞋子、滚轴、加热器、囊袋或油漆的应用中所用 的导电材料。14. 权利要求1-12中任一项所述的任意颗粒状乙炔黑作为电池用或电容器用导电剂以 及作为导电纸用抗静电剂或导电剂的用途。15. 制备含有树脂、聚合物或橡胶以及权利要求1-12中任一项所述的颗粒状乙炔黑的 化合物的方法，其包括将权利要求1-12中任一项所述的颗粒状乙炔黑分散在树脂、聚合物 或橡胶中。
【文档编号】C09C1/58GK106062089SQ201580011224
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2015年2月23日 公开号201580011224.5, CN 106062089 A, CN 106062089A, CN 201580011224, CN-A-106062089, CN106062089 A, CN106062089A, CN201580011224, CN201580011224.5, PCT/2015/53701, PCT/EP/15/053701, PCT/EP/15/53701, PCT/EP/2015/053701, PCT/EP/2015/53701, PCT/EP15/053701, PCT/EP15/53701, PCT/EP15053701, PCT/EP1553701, PCT/EP2015/053701, PCT/EP2015/53701, PCT/EP2015053701, PCT/EP201553701
【发明人】佛罗莱恩·迪尔, 维尔纳·尼德迈尔, 西尔克·泰克, 赫尔穆特·克里施
【申请人】欧励隆工程炭公司