专利名称：免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋的制作方法
技术领域：
本实用新型属于试卷袋技术领域，具体涉及一种容易拆封的试卷袋。
背景技术：
历来在全国大学英语四六级考试(CET4-6)、高考和研究生入学考试等重要大型会 考中，考试卷的密封和启开是考试安全工作过程中的关键点，目前使用的是公知的双盖型 保密试卷袋(ZL92225403. 6)，其特点是在试卷袋的开口一端有两个盖，一盖折叠在内备用， 一个盖留在外作首次封启用，得益于其保密性较好的特点，因此，得到了广泛的应用。监考 过程中每次都会有经验不丰富的老师，常常遭遇考前拆封试卷袋的坎有人启封不小心割 破手、或新手误拆试卷袋无双盖端封口、或小刀切割试卷袋用力不当割破试卷，或割坏试卷 袋的内盖导致影响二次封贴密封条。究其原因有二 一是需用小刀这样的危险辅助工具开 启试卷袋，二是试卷袋两端无明显启封端标识。而这一工作的顺利完成，需要熟练的技巧和 经验。出于对双盖型保密试卷袋开启用刀的严重弊端改善的需要，1993年以来，相继出 现了几种新专利，关键创新思想集中在双盖的盖口部位添加辅助开启工具。共同之处是不 用刀这样的辅助工具，具有启开方便的特点，但不同程度存在以下不足之处例如检索到中国专利(ZL00241187.3)也是双盖型试卷袋，它采用双盖处内嵌塑 料刀来实现不用刀的功能，但存在制造工艺复杂，生产成本增加的问题、在首次装卷密封工 作中，存在工作技巧要求增加，封条易被塑料刀硌破或戳破以及搬运中塑料刀被撞落等问 题；又例如一个中国专利(ZL200620122613.8)采用内嵌拉线来避免用刀开启目的，但存在 首次封条将拉线的拉手覆盖而不易在首次启封时发现且制作工艺复杂的问题；再例如一个 中国专利(ZL200620034076. 7)采用封闭式拉线来代替用刀割的弊端，但其在试卷袋装卷、 搬拿时存在拉线易勾脱且制作工艺复杂的问题；还有一个中国专利(ZL200620167960. 8) 采用双面胶实现粘贴，但其在空气湿润的前提下，可能不能保证只有一次启封的特性而影 响保密性，且其内嵌塑料带作辅助启封工具，也存在首次封条将胶带的拉手覆盖而不易在 首次启封时发现同时制作工艺复杂的问题。从首次密封性程度和结构简单性看，都没超双 盖型保密试卷袋。发明内容本实用新型的目的是提供一种不改变首次装卷密封工作技能和密封性的前提下， 给出一种免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋，不用任何辅助工具同时也无需技巧就实现开 启方便，且制作简单，密封效果好的试卷袋，以克服现有技术的不足。从本实用新型试卷袋打开的外盖向袋内看，可看到内盖错位，内陷在袋体内，首次 装卷人员按原来操作习惯将试卷放入袋体内，盖上外盖，贴密封条。试卷袋拆封人在考场看的本实用新型的试卷袋，在印有考试类型的文字说明且无 封条的袋体正面，仅有一端的两角处印有拆封斜线和动作方向线，斜线处印有示意语或示 意图“请从此处沿线撕开后，用手指插入豁口，挑割开袋体”，试卷袋拆封人可以分别从两侧 斜线处撕开一角，将手指按说明操作后，割开袋体的顶边，看到内盖和试卷陷在下边完好无
3损。考试结束后，从袋内翻出内盖，将试卷装入后，用内盖盖上，用封条再次封好。为实现上述目的，本实用新型的免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋，包括试卷袋 本体，试卷袋启封端设有双盖，双盖为双折对开式，内盖根线相对于外盖根线下陷，试卷袋 本体启封端有拆封刻断痕，试卷袋本体设有启封端标识区域。所说内盖根线相对于外盖根线下陷，其要点是在原双盖型试卷袋基础上针对双盖 部位，作尺寸和位置的改动。采用袋体长度增加一个成人手指宽度的量，但内盖根部应内陷 相应的深度，而内盖舌长应增加同样的量，以保证外翻时能盖贴到原来的位置。所说拆封刻断痕，有两处。一处在袋体启封端的外盖对折处，便于手指割开外盖； 另一处在外盖和试卷袋本体交接处两侧设有V字形刻断痕，便于撕开豁口。为便于识别启封端(双盖端)，在试卷袋本体正面启封端两角处设置供印刷标记 的区域，即断痕本身可加印粗线，附近可加印作醒目方式的简单操作提示图文，而单盖端不 设任何标识区域。本实用新型的有益效果是，克服现有双盖型试卷袋启开用刀和无明显启封端(双 盖端)标识的不足。产品制造时不需另行添加任何开启辅助物，拆封时容易发现启封端，直 接用手撕开一个豁口，勿需费力便可用手指快速挑割开试卷袋，且撕痕整齐。避免使用小刀 等辅助工具拆袋而造成的伤手、或内外盖一起割掉、或误割了单盖端；且不影响原来首次装 卷工作速度。免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋从试卷印好到卷交到改卷处时，只能拆开 一次，刚好符合试卷保密要求。
图1是本实用新型的产品正面俯视图。图2是本实用新型袋体双盖端外盖打开时看到的V字形刻断痕正面局部图。图3是本实用新型袋体双盖端外盖封闭时看到的V字形刻断痕正面局部图。图4是本实用新型双盖端首次封好后未贴密封条时袋体背面俯视图。其中的1为外盖刻断痕，2为外盖，3为内盖，4为试卷袋本体，5为V字形刻断痕，6 为内盖根线。
具体实施方式
以下通过对本实用新型具体实施方式
的描述说明，但不限制本实用新型。本实用新型是在原双盖型试卷袋基础上针对双盖部位，作尺寸和位置的改动，其 他部位尺寸可同原来双盖型试卷袋对应尺寸。如图1所示，试卷袋本体4打开外盖2后，从 剖面线露出部分可看到内折备用的下陷内盖3，内盖根线6相对于外盖根线应内陷的深度 (约15mm)，为相应试卷袋本体增加的长度，而内盖3舌长增加同样的量，以保证内盖3外翻 时能盖贴到相应的位置。外盖根线折痕处，中间部分设外盖刻断痕1。如图2所示，在启封端的外盖2和试卷袋本体4交接处两侧，设V字形刻断痕5，V 字张开的内角应适当小。为便于识别启封端(双盖端)，在试卷袋本体4正面启封端两角区域设为启封端标 识用区域，供印刷醒目方式的简单操作提示图文和V字形刻断痕5加印粗线，如图2、图3所 示。单盖端不设任何标识区域。当试卷袋本体4背面首次密封贴好密封带后，在试卷袋本 体4正面，通过启封端标识区域发现启封端两角的拆封刻断痕5，用手撕开豁口后，伸入手 指沿外盖刻断痕1可容易挑割开试卷袋外盖2的封口。所撕豁口不得超过内盖根线6，故V字口高度应适当，如图3所示。 如图4所示，是双盖端首次封好后未贴密封条时袋体背面俯视图。从剖面线露出 部分可看到下陷内折备用的内盖，双盖根线呈错开布局。
权利要求一种免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋，试卷袋启封端设有双盖，其特征是内盖根线相对于外盖根线下陷，试卷袋本体启封端有拆封刻断痕，试卷袋本体正面设有启封端标识。
2.根据权利要求1所述的免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋，其特征是所说拆封刻断 痕，设置在外盖对折处，以及在外盖和袋体交接处。
专利摘要本实用新型属于试卷袋技术领域，公开了一种免刀割手拆易启封双盖错位试卷袋，所解决的技术问题是提供一种便于发现启封端和免刀割易拆封的试卷袋，包括试卷袋本体，试卷袋启封端设有双盖，双盖为双折对开式，内盖根线相对于外盖根线下陷，试卷袋本体启封端有拆封刻断痕，试卷袋本体设有启封端标识区域。本实用新型的优点是产品制造时不需另行添加任何开启辅助物，拆封时容易发现启封端，直接用手撕开一个豁口，勿需费力便可用手指快速挑割开试卷袋，且撕痕整齐，避免使用小刀等辅助工具拆袋而造成的伤手、或内外盖一起割掉、或误割了单盖端；且不影响原来首次装卷工作速度。
文档编号B65D27/12GK201604862SQ20092028274
公开日2010年10月13日 申请日期2010年6月29日 优先权日2010年6月29日
发明者纪滨, 马丽 申请人:安徽工业大学