成型袋的设备和方法与流程

相关申请的交叉引用本申请要求于2021年12月6日提交的韩国专利申请第10-2021-0173290号的优先权的权益，通过引用将上述专利申请整体并入本申请。本发明涉及一种在袋膜中成型用于容纳电极组件的容纳部，并且精确地测量和检查在袋膜中成型的容纳部的深度的成型袋的设备和成型袋的方法。

背景技术：

1、通常，与不能充电的一次电池不同，二次电池(secondary battery)是指可充电和可放电的电池。这种二次电池被广泛地用于诸如电话、笔记本电脑和便携式摄像机之类的高科技电子装置。

2、此外，可根据电极组件的结构对二次电池进行各种分类。例如，二次电池可分为堆叠型结构、果冻卷型结构和堆叠/折叠型结构。

3、这种二次电池包括电极组件和容纳电极组件的壳体，并且电极组件具有电极和隔膜交替堆叠的结构。

4、制造袋的方法包括：连续地供应袋膜的供应工序；在供应的袋膜中连续地成型用于容纳电极组件的容纳部的成型工序；以及切割在袋膜中成型的容纳部之间的部分以制造成品袋的切割工序。

5、在此，制造袋的方法进一步包括：在切割工序完成时测量在袋膜中成型的容纳部的深度以检查是否产生缺陷的检查工序，并且在检查工序中，工作人员通过使用尺子或游标卡尺检查在袋膜中成型的容纳部的深度。

6、然而，检查工序具有需要大量工作时间的问题。特别是，由于各个工作人员的测量误差，难以获得精确的检查结果，并且由于必须在成型工序完成之后执行检查，所以存在工作的连续性差的问题。

技术实现思路

1、技术问题

2、为了解决上述问题，在本发明的成型袋的设备和方法中，可在成型袋膜的工序和切割袋膜的工序之间执行检查在袋膜中成型的容纳部的深度的检查工序，并且检查工序可通过使用位移传感器来精确地测量和检查在袋膜中成型的容纳部的深度以显著地减少工作时间并且提高工作的连续性。此外，本发明的目的是提高检查精确度，因为能够检查在袋膜中成型的所有容纳部。

3、技术方案

4、为了实现上述目的，根据本发明的成型袋的设备包括：传送装置，所述传送装置配置为传送袋膜；成型装置，所述成型装置配置为按压由所述传送装置传送的所述袋膜的顶表面，以便成型用于容纳电极组件的容纳部；以及检查装置，所述检查装置配置为计算形成在所述袋膜中的所述容纳部的深度值，并且将计算的深度值与设定的输入值进行比较以检查是否产生缺陷，其中所述检查装置包括：距离测量构件，所述距离测量构件设置在袋膜上方设定的基准点处，以测量第一测量值和第二测量值中的每一个，所述第一测量值是从基准点至与所述容纳部的上端连接的袋膜的距离，所述第二测量值是从所述基准点至所述容纳部的底表面的距离；和检测构件，所述检测构件配置为通过从由所述距离测量构件测量的所述第二测量值减去所述第一测量值来计算所述容纳部的深度值，其中如果计算的深度值在设定的输入值内，则确定为正常，并且如果计算的深度值在设定的输入值之外，则确定为有缺陷。

5、所述距离测量构件可设置为位移传感器。

6、所述距离测量构件可在设定范围内测量从所述基准点至与至所述容纳部的上端连接的袋膜的距离多次，以将所述第一测量值计算为测量的距离值的平均值。

7、所述距离测量构件可在设定范围内测量从所述基准点至所述容纳部的所述底表面的距离多次，以将所述第二测量值计算为测量的距离值的平均值。

8、所述设定范围可设为1mm至5mm。

9、所述检查装置可进一步包括全宽度调节构件，所述全宽度调节构件配置为使所述距离测量构件在与所述袋膜的传送方向垂直的所述袋膜的全宽度方向上移动，以便调节所述距离测量构件的位置。

10、所述检查装置可进一步包括高度调节构件，所述高度调节构件配置为使所述全宽度调节构件朝向所述袋膜移动，以便调节所述距离测量构件相对于所述袋膜的高度。

11、根据本发明的成型袋的方法包括：传送工序，传送袋膜；成型工序，按压传送的所述袋膜的顶表面以成型用于容纳电极组件的容纳部；以及检查工序，计算形成在所述袋膜中的所述容纳部的深度值，并且将计算的深度值与设定的输入值进行比较以检查是否产生缺陷，其中所述检查工序包括：测量工序，通过使用设置在所述袋膜上方的距离测量构件来测量第一测量值和第二测量值中的每一个，所述第一测量值是从基准点至与所述容纳部的上端连接的袋膜的距离，所述第二测量值是从所述基准点至所述容纳部的底表面的距离；和检测工序，通过从所述测量工序中测量的所述第二测量值减去所述第一测量值来计算所述容纳部的深度值，其中如果计算的深度值在设定的输入值内，则确定为正常，并且如果计算的深度值在设定的输入值之外，则确定为有缺陷。

12、在所述测量工序中，所述距离测量构件可设置为位移传感器。

13、在所述测量工序中，可在设定范围内测量从所述基准点至与所述容纳部的上端连接的袋膜的距离多次，以将所述第一测量值计算为测量的距离值的平均值。

14、在所述测量工序中，可在设定范围内测量从所述基准点至所述容纳部的底表面的距离多次，以将所述第二测量值计算为测量的距离值的平均值。

15、所述设定范围可设为1mm至5mm。

16、所述测量工序可进一步包括：使所述距离测量构件在与所述袋膜的传送方向垂直的所述袋膜的全宽度方向上移动，以便调节所述距离测量构件的位置的工序。

17、所述测量工序可进一步包括：使所述距离测量构件朝向所述袋膜移动，以便调节所述距离测量构件相对于所述袋膜的高度的工序。

18、在所述检查工序完成之后，所述方法可进一步包括：切割工序，切割形成在袋膜中的所述容纳部之间的部分以制造袋；和移除工序，将形成的袋之中的其中所述容纳部在所述检查工序中被确定为有缺陷的袋排出并移除。

19、有益效果

20、本发明的成型设备可包括位移传感器以精确地测量和检查在袋膜中成型的容纳部的深度，从而显著地减少工作时间并且提高工作的连续性。特别是，本发明的成型设备可检查在袋膜中成型的所有容纳部，以获得精确的检查结果。

技术特征：

1.一种成型袋的设备，包括：

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述距离测量构件设置为位移传感器。

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述距离测量构件在设定范围内测量从所述基准点至与至所述容纳部的上端连接的袋膜的距离多次，以将所述第一测量值计算为测量的距离值的平均值。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述距离测量构件在设定范围内测量从所述基准点至所述容纳部的所述底表面的距离多次，以将所述第二测量值计算为测量的距离值的平均值。

5.根据权利要求3或4所述的设备，其中所述设定范围设为1mm至5mm。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述检查装置进一步包括全宽度调节构件，所述全宽度调节构件配置为使所述距离测量构件在与所述袋膜的传送方向垂直的所述袋膜的全宽度方向上移动，以便调节所述距离测量构件的位置。

7.根据权利要求6所述的设备，其中所述检查装置进一步包括高度调节构件，所述高度调节构件配置为使所述全宽度调节构件朝向所述袋膜移动，以便调节所述距离测量构件相对于所述袋膜的高度。

8.一种成型袋的方法，所述方法包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其中在所述测量工序中，所述距离测量构件设置为位移传感器。

10.根据权利要求8所述的方法，其中在所述测量工序中，在设定范围内测量从所述基准点至与所述容纳部的上端连接的袋膜的距离多次，以将所述第一测量值计算为测量的距离值的平均值。

11.根据权利要求8所述的方法，其中，在所述测量工序中，在设定范围内测量从所述基准点至所述容纳部的底表面的距离多次，以将所述第二测量值计算为测量的距离值的平均值。

12.根据权利要求10或11所述的方法，其中所述设定范围设为1mm至5mm。

13.根据权利要求8所述的方法，其中所述测量工序进一步包括：使所述距离测量构件在与所述袋膜的传送方向垂直的所述袋膜的全宽度方向上移动，以便调节所述距离测量构件的位置的工序。

14.根据权利要求8所述的方法，其中所述测量工序进一步包括：使所述距离测量构件朝向所述袋膜移动，以便调节所述距离测量构件相对于所述袋膜的高度的工序。

15.根据权利要求8所述的方法，在所述检查工序完成之后，进一步包括：

技术总结
本发明涉及一种成型袋的设备，该设备包括：传送装置，传送装置配置为传送袋膜；成型装置，成型装置配置为按压由传送装置传送的袋膜的顶表面，以便成型用于容纳电极组件的容纳部；以及检查装置，检查装置配置为计算形成在袋膜中的容纳部的深度值，并且将计算的深度值与设定的输入值进行比较以检查是否产生缺陷，其中检查装置包括：距离测量构件，距离测量构件设置在袋膜上方设定的基准点处，以测量第一测量值和第二测量值中的每一个，第一测量值是从基准点至与容纳部的上端连接的袋膜的距离，第二测量值是从基准点至容纳部的底表面的距离；和检测构件，检测构件配置为通过从由距离测量构件测量的第二测量值减去第一测量值来计算容纳部的深度值，其中如果计算的深度值在设定的输入值内，则确定为正常，并且如果计算的深度值在设定的输入值之外，则确定为有缺陷。

技术研发人员：石宪基,姜大炯
受保护的技术使用者：株式会社LG新能源
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16