专利名称：平板式检测器及介质检测器的制作方法
技术领域：
本发明涉及平板式检测器和介质检测器。
背景技术：
专利文献1 (JP-A-2007-88812)披露了这样一种天线构造其中，承载在挠性基板
上的线性导体图案同心地布置成预定轮廓。另外，专利文献2(JP-A-2007-74334)披露了这
样一种平面式挠性天线其中，发送线圈部分和接收线圈中的一者堆叠在另一者上，该发送
线圈部分用于在预定区域的范围内形成交变磁场以便激励要检测的对象，该接收线圈用于
检测来自要检测的对象的磁信号。另外，专利文献3 (JP-A-2008-85779)披露了这样一种平
面式天线其包括第一块状图案和第二块状图案，在该第一块状图案中，多个导体图案沿着
第一方向平行地形成以便在基板上延伸预定距离，在该第二块状图案中，多个导体图案沿
着以直角与该第一方向相交的方向平行地形成以便在基板上延伸预定距离。 对于通过使用交变磁场来使磁性材料磁化反转从而检测通过如此发生的磁化反
转而生成的信号的平板式检测器来说，存在错误地检测到外部噪声的问题。
发明内容
本发明的目的在于抑制这样的平板式检测器对外部噪声的错误检测。 根据本发明的第一方面，一种平板式检测器包括第一平板部件和第二平板部件，
其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此面对并且其
间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述
第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在
所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导体配线，其
设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含在所述片状
介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变
磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板
部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。 根据本发明的第二方面，所述第一平板部件的厚度设定为这样使所述交变磁场 在所述第一平板部件与所述第一层的接触面处的强度不大于1高斯。 根据本发明的第三方面，所述第一层的厚度和所述第二层的厚度不小于lOym且 不大于lmm。 根据本发明的第四方面，所述第一层覆盖所述第一平板部件和所述第一导体配线 的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二层覆盖所述第二 平板部件和所述第二导体配线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分。
根据本发明的第五方面，所述第一层还覆盖所述第一导体配线的面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面的延长面(所述第一层还设置在所述第一导体配线的面向用于 传送所述片状介质的空隙的表面的延长面上)，并且所述第二层还覆盖所述第二导体配线
4的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面(所述第二层还设置在所述第二导 体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面上)。 根据本发明的第六方面，所述第一平板部件覆盖所述第一导体配线的除面向用于 传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二平板部件覆盖所述第二导体配 线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分。 根据本发明的第七方面，所述第一层覆盖所述第一平板部件的除面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面之外的部分以及所述第一导体配线的除面向用于传送所述片状 介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二层覆盖所述第二平板部件的除面向用于传送 所述片状介质的空隙的表面之外的部分以及所述第二导体配线的除面向用于传送所述片 状介质的空隙的表面之外的部分。 根据本发明的第八方面，所述第一层还覆盖所述第一平板部件的面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面的延长面和所述第一导体配线的面向用于传送所述片状介质的 空隙的表面的延长面，并且所述第二层还覆盖所述第二平板部件的面向用于传送所述片状 介质的空隙的表面的延长面和所述第二导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的 表面的延长面。 根据本发明的第九方面，所述第一导体配线与所述第二导体配线布置成以预定间 隔彼此面对。 根据本发明的第十方面，一种介质检测器包括传送单元，其传送其中包含磁性材 料的片状介质；平板式检测器，其检测从包含在所述片状介质中的磁性材料产生的信号； 以及分拣单元，其根据所述平板式检测器对所述信号的检测结果而为已经穿过所述平板式 检测器的所述片状介质切换传送路径，其中，所述平板式检测器包括第一平板部件和第二 平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此 面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件 的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且 至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导 体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含 在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成 的所述交变磁场造成所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所 述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。 根据本发明的第一方面，与没有提供第一方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制对外部噪声的错误检测。 根据本发明的第二方面，与没有提供第二方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制在第一层和第二层中产生涡电流。 根据本发明的第三方面，与没有提供第三方面所描述的构造的情况相比，能够通 过第一层和第二层更有效地阻挡外部噪声。 根据本发明的第四方面，与没有提供第四方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本发明的第五方面，与没有提供第五方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线的表面的延长面和第二导体配线的表面的延长面进入的
5噪声。 根据本发明的第六方面，与没有提供第六方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本发明的第七方面，与没有提供第七方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本发明的第八方面，与没有提供第八方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线的表面的延长面和第二导体配线的表面的延长面进入的噪声。 根据本发明的第九方面，与没有提供第九方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制用以检测第二导体配线的平面内通过磁化反转生成的信号的检测精度的不均匀 性。 根据本发明的第十方面，与没有提供第十方面所描述的构造的情况相比，即使在 从传送单元产生一定水平或更高水平的噪声的情况下，也能够保持分拣精度。
基于下列附图，对本发明的示例性实施例进行详细说明，其中 图1是示出根据第一示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图 图2是示出根据第二示例性实施例的平板式检》 图3是示出根据第三示例性实施例的平板式检》 图4是示出根据第四示例性实施例的平板式检》 图5是示出根据第五示例性实施例的平板式检》 图6是示出根据第六示例性实施例的平板式检》 图7是示出其他示例性实施例中的第一个实施例的示例性剖视图； 图8是示出其他示例性实施例中的第二个实施例的示例性剖视图；以及 图9是示出根据本发明的示例性实施例的介质检测器的框图。
器的构造的示例性剖视图 器的构造的示例性剖视图 器的构造的示例性剖视图 器的构造的示例性剖视图 器的构造的示例性剖视图
具体实施例方式
在下文中，对本发明的最佳实施方式(在下文中，称为示例性 实施例)进行说明。应当注意到，所作说明是按照如下顺序进行的。
1.平板式检测器的构造(第一至第六示例性实施例以及其他示例性实施例) 2.介质检测器(检测器构造、介质检测操作、应用实例) 〈1.平板式检测器的构造>[第一示例性实施例] 图1是示出根据第一示例性实施例的平板式检测器1的构造的示例性剖视图。该 平板式检测器1具有以下部件第一导体配线Pl，其形成交变磁场；第一保持材料11，其将 第一导体配线保持在其一侧(一面)；第一层压材料(第一层)12，其设置在第一保持材料 11的另一侧(另一面)；第二导体配线P2，其检测通过由构成要检测的对象的磁性材料在 接收到由第一导体配线P1形成的交变磁场时经历磁化反转而生成的信号；第二保持材料 21，其将第二导体配线P2保持在其一侧；以及第二层压材料(第二层)22，其设置在第二保
6持材料21的另一侧。 第一导体配线Pl用作平板式检测器的发送天线，并且第一导体配线Pl的配线构 造是这样的例如在绝缘材料上形成有块状图案(导体)。利用流经第一导体配线P1的电 流形成基本上均匀的交变磁场。当构成要检测的对象的磁性材料在第一导体配线P1附近 经过时，利用由第一导体配线P1形成的交变电流使磁性材料的磁化反转。
第一保持材料11是通过允许第一导体配线Pl安装在其一侧来保持第一导体配线 Pl的基材。第一保持材料11的一侧还用于限定第一导体配线P1的表面构造。例如，在第 一导体配线Pl是平面的情况下，第一保持材料11的一侧变成平面以匹配第一导体配线Pl 的平面。作为选择，在第一导体配线P1具有弯曲表面的情况下，为了匹配第一导体配线Pl 的弯曲表面，第一保持材料11的一侧形成为弯曲表面。第一保持材料11由非磁性非金属 制成，并且与其由金属制成的情况相比，可以更好地抑制涡电流的产生。例如，可以使用树 脂、玻璃或木材。 使第一保持材料11的厚度dl是如下厚度该厚度大于或等于使由第一导体配线 Pl形成的交变磁场的磁场强度为1高斯或更小的距离。通过将第一保持材料11的厚度设 定为厚度dl，可以抑制将在后面进行说明的流经第一层压材料的涡电流。另外，在实践中， 厚度dl的上限使要形成的交变磁场的磁场强度是大约0. 05高斯。 第一层压材料12安装在第一保持材料11的另一侧。第一层压材料12由非磁性金 属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或锌。第一层压材料12阻断了外部噪声。
第一层压材料12的厚度d2是10 m或更大以及1mm或更小。如果厚度d2是10 y m 或更大，则可以阻断外部噪声从而抑制对由第一导体配线P1形成的交变磁场的影响。在实 践中，第一层压材料12的厚度d2的上限最好是1mm或更小。 第二导体配线P2用作平板式检测器1的接收天线，并且第二导体配线P2的配线 构造是这样的例如在绝缘材料上形成有专利文献3中披露的块状图案(导体)。第二导 体配线P2检测通过构成要检测的对象的磁性材料在接收到由第一导体配线Pl形成的交变 磁场时被磁化反转而生成的信号(大巴克豪森信号(large Barkhausensignal))作为电流值。 第二保持材料21是通过允许第二导体配线P2安装在其一侧来保持第二导体配线 P2的基材。第二保持材料21的一侧还用于限定第二导体配线P2的表面构造。例如，在第 二导体配线P2是平面的情况下，第二保持材料21的一侧变成平面以匹配第二导体配线P2 的平面。作为选择，在第二导体配线P2具有弯曲表面的情况下，为了匹配第二导体配线P2 的弯曲表面，第二保持材料21的一侧形成为弯曲表面。第二保持材料21由非磁性非金属 制成，例如，可以使用树脂、玻璃或木材。 使第二保持材料21的厚度dl是如下厚度该厚度大于或等于使由第二导体配线 P2形成的交变磁场的磁场强度为1高斯或更小的距离。通过将第一保持材料11的厚度设 定为厚度dl，可以抑制将在后面进行说明的流经第二层压材料22的涡电流。另外，在实践 中，厚度dl的上限使要形成的交变磁场的磁场强度是大约0. 05高斯。
第二层压材料22安装在第二保持材料21的另一侧。第二层压材料22由非磁性金 属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或锌。第二层压材料22阻断了外部噪声。
第二层压材料22的厚度d2是10 ii m或更大以及lmm或更小。如果厚度d2是10 y m或更大，则可以阻断外部噪声从而抑制对由第二导体配线P2检测到的信号的影响。在实践 中，第二层压材料22的厚度d2的上限最好是lmm或更小。 在本示例性实施例的平板式检测器中，第一导体配线Pl和第二导体配线P2布置 成以预定间隔彼此面对。另外，在本示例性实施例的平板式检测器中，通过使第一保持材料 11的一侧和第二保持材料21的一侧彼此匹配，限定在布置成彼此面对的第一导体配线P1 和第二导体配线P2之间的间隔或空隙保持恒定。 在这种平板式检测器中，例如纸张等介质(片状介质)经过第一导体配线P1和第 二导体配线P2之间。在将构成要检测的对象的磁性材料施加在该介质上的情况下，由第一 导体配线Pl形成的交变磁场使磁性材料的磁极反转(磁化反转)。第二导体配线P2检测 通过发生在磁性材料中的磁化反转生成的信号。从而，在第二导体配线检测到如此生成的 信号的情况下，可以判定正在经过的介质是施加有磁性材料的介质。另一方面，在第二导体 配线P2没有检测到该信号的情况下，可以判定正在经过的介质不是施加有磁性材料的介 质。[第二示例性实施例] 图2是示出根据第二示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图。根据 第二示例性实施例的平板式检测器1在第一层压材料12和第二层压材料22的构造上与根 据第一示例性实施例的平板式检测器1不同。由于例如第一导体配线P1、第一保持材料11、 第二导体配线P2和第二保持材料21等其他构成部件的构造与第一示例性实施例中相同， 所以在下文中主要对不同的特征进行说明。 第二示例性实施例的平板式检测器1的第一层压材料12安装在第一保持材料11 的另一侧。另外，除了安装在第一保持材料ll的另一侧的部分之外，第一层压材料12还具 有设置为安装在第一保持材料11的侧面(横向侧面)和第一导体配线P1的侧面的部分 12a。借助于这种构造，第一层压材料12形成为覆盖除第一导体配线P1的露出表面之外的部分。 第一层压材料12由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第一层压材料12阻断了试图从第一导体配线P1的侧面侧(横向侧)进入的噪声。
第二示例性实施例的平板式检测器1的第二层压材料22安装在第二保持材料21 的另一侧。另外，除了安装在第二保持材料21的另一侧的部分之外，第二层压材料22还具 有设置为安装在第二保持材料21的侧面和第二导体配线P2的侧面的部分22a。借助于这 种构造，第二层压材料22形成为覆盖除第二导体配线P2的露出表面之外的部分。
第二层压材料22由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第二层压材料22阻断了试图从第二导体配线P2的侧面侧进入的噪声。 [OOSO][第三示例性实施例] 图3是示出根据第三示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图。根据 第三示例性实施例的平板式检测器1在第一层压材料12和第二层压材料22的构造上与根 据第二示例性实施例的平板式检测器1不同。由于例如第一导体配线P1、第一保持材料11、 第二导体配线P2和第二保持材料21等其他构成部件的构造与第二示例性实施例中相同， 所以在下文中主要对不同的特征进行说明。 根据第三示例性实施例的平板式检测器1的第一层压材料12安装在第一保持材料11的另一侧。另外，除了安装在第一保持材料11的另一侧的部分之外，第一层压材料12 还具有设置为安装在第一保持材料ll的侧面和第一导体配线P1的侧面的部分12a。此外， 第一层压材料12还具有部分12b，部分12b设置为从安装在第一导体配线Pl的侧面的部分 12a延伸到第一导体配线Pl的表面的延长面(部分12b设置在第一导体配线Pl的表面的 延长面上或部分12b覆盖第一导体配线Pl的表面的延长面)。 第一层压材料12由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第一层压材料12阻挡试图从第一导体配线P1的侧面侧进入的噪声以及试图从第一导 体配线P1的表面的延长面的上方进入的噪声。也就是说，可以阻断试图从构成要检测的对 象并施加有磁性材料的介质的传送路径的上游侧和下游侧进入平板式检测器1的噪声。
根据第三示例性实施例的平板式检测器1的第二层压材料22安装在第二保持材 料21的另一侧。另外，除了安装在第二保持材料21的另一侧的部分之外，第二层压材料22 还具有设置为安装在第二保持材料21的侧面和第二导体配线P2的侧面的部分22a。此外， 第二层压材料22还具有部分22b，部分22b设置为从安装在第二导体配线P2的侧面的部分 22a延伸到第二导体配线P2的表面的延长面。 第二层压材料22由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第二层压材料22阻挡试图从第二导体配线P2的侧面侧进入的噪声以及试图从第二导 体配线P2的表面的延长面的上方进入的噪声。也就是说，可以阻断试图从构成要检测的对 象并施加有磁性材料的介质的传送路径的上游侧和下游侧进入平板式检测器1的噪声。 [ooee][第四示例性实施例] 图4是示出根据第四示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图。根据 第四示例性实施例的平板式检测器1在第一保持材料11和第二保持材料21的构造上与根 据第一示例性实施例的平板式检测器1不同。由于例如第一导体配线P1、第一层压材料12、 第二导体配线P2和第二层压材料22等其他构成部件的构造与第一示例性实施例中相同， 所以在下文中主要对不同的特征进行说明。 根据第四示例性实施例的平板式检测器1的第一保持材料11形成为覆盖第一导
体配线P1的从背面到侧面的部分。第一保持材料ll由非磁性非金属制成并且与使用金属
的情况相比可以更好地抑制涡电流的产生。例如，可以使用树脂、玻璃或木材。 使第一保持材料11的厚度dl (第一保持材料11的从第一导体配线Pl的背面的
侧面延伸到第一保持材料ll的另一个侧面的部分的厚度)是如下厚度该厚度大于或等于
使由第一导体配线P1形成的交变磁场的磁场强度为1高斯或更小的距离。通过将第一保
持材料ll的厚度设定为厚度dl，可以抑制流经第一层压材料12的涡电流。应当注意到，在
实践中，厚度dl的上限使要形成的交变磁场的磁场强度是大约0. 05高斯。第一层压材料12的厚度d2是10 ii m或更大以及lmm或更小。如果厚度d2是10 y m
或更大，则可以阻断外部噪声从而抑制对由第一导体配线P1形成的交变磁场的影响。在实
践中，第一层压材料12的厚度d2的上限最好是lmm或更小。 根据第四示例性实施例的平板式检测器1的第二保持材料21形成为覆盖第二导 体配线P2的从背面到侧面的部分。第二保持材料21由非磁性非金属制成并且与使用金属 的情况相比可以更好地抑制涡电流的产生。例如，可以使用树脂、玻璃或木材。
使第二保持材料21的厚度dl (第二保持材料21的从第二导体配线P2的背面的侧面延伸到第二保持材料21的另一个侧面的部分的厚度)是如下厚度该厚度大于或等于 使由第二导体配线P2形成的交变磁场的磁场强度为1高斯或更小的距离。通过将第二保 持材料21的厚度设定为厚度dl，可以抑制流经第二层压材料22的涡电流。应当注意到，在 实践中，厚度dl的上限使要形成的交变磁场的磁场强度是大约0. 05高斯。
第二层压材料22安装在第二保持材料21的另一侧。第二层压材料22由非磁性金 属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或锌。第二层压材料22阻断了外部噪声。
[第五示例性实施例] 图5是示出根据第五示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图。根据 第五示例性实施例的平板式检测器1在第一层压材料12和第二层压材料22的构造上与根 据第四示例性实施例的平板式检测器1不同。由于例如第一导体配线P1、第一保持材料11、 第二导体配线P2和第二保持材料21等其他构成部件的构造与第四示例性实施例中相同， 所以在下文中主要对不同的特征进行说明。 根据第五示例性实施例的平板式检测器1的第一层压材料12安装在第一保持材 料11的另一侧。另外，除了安装在第一保持材料11的另一侧的部分之外，第一层压材料12 还包括设置为安装在第一保持材料11的侧面的部分12a。 第一层压材料12由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第一层压材料12阻断试图从第一导体配线Pl的侧面侧进入的噪声。
根据第五示例性实施例的平板式检测器1的第二层压材料22安装在第二保持材 料21的另一侧。另外，除了安装在第二保持材料21的另一侧的部分之外，第二层压材料22 还包括设置为安装在第二保持材料21的侧面的部分22a。 第二层压材料22由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第二层压材料22阻断试图从第二导体配线P2的侧面侧进入的噪声。
[第六示例性实施例] 图6是示出根据第六示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图。根据 第六示例性实施例的平板式检测器1在第一层压材料12和第二层压材料22的构造上与根 据第五示例性实施例的平板式检测器1不同。由于例如第一导体配线P1、第一保持材料11、 第二导体配线P2和第二保持材料21等其他构成部件的构造与第五示例性实施例中相同， 所以在下文中主要对不同的特征进行说明。 根据第六示例性实施例的平板式检测器1的第一层压材料12安装在第一保持材 料11的另一侧。另外，除了安装在第一保持材料11的另一侧的部分之外，第一层压材料12 还具有设置为安装在第一保持材料ll的侧面的部分12a。此外，第一层压材料12还具有部 分12b，部分12b设置为从安装在第一导体配线Pl的侧面的部分12a延伸到第一导体配线 Pl的表面的延长面。 第一层压材料12由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第一层压材料12阻挡试图从第一导体配线P1的侧面侧进入的噪声以及试图从第一导 体配线P1的表面的延长面的上方进入的噪声。也就是说，可以阻断试图从构成要检测的对 象并施加有磁性材料的介质的传送路径的上游侧和下游侧进入平板式检测器1的噪声。
根据第六示例性实施例的平板式检测器1的第二层压材料22安装在第二保持材 料21的另一侧。另外，除了安装在第二保持材料21的另一侧的部分之外，第二层压材料22
10还具有设置为安装在第二保持材料21的侧面的部分22a。此外，第二层压材料22还具有部 分22b，部分22b设置为从安装在第二导体配线P2的侧面的部分22a延伸到第二导体配线 P2的表面的延长面。 第二层压材料22由非磁性金属制成。例如，可以使用铝、铜、不锈钢、黄铜、钛或 锌。第二层压材料22阻挡试图从第二导体配线P2的侧面侧进入的噪声以及试图从第二导 体配线P2的表面的延长面的上方进入的噪声。也就是说，可以阻断试图从构成要检测的对 象并施加有磁性材料的介质的传送路径的上游侧和下游侧进入平板式检测器1的噪声。 [OOSS][其他示例性实施例] 图7和图8是示出其他示例性实施例的示例性剖视图。这些其他示例性实施例构 成第一导体配线Pl和第二导体配线P2均设置在第一保持材料11的一侧的实例。尽管可 以将这样的构造分别应用于图1至图6所示全部第一至第六示例性实施例，然而这里仅仅 在图7中示出将该构造应用于第三示例性实施例的构造的实例并且在图8中示出将该构造 应用于第六示例性实施例的构造的实例。 在图7所示平板式检测器1中，第一导体配线P1和第二导体配线P2以电隔离的
方式形成在同一绝缘材料上，然后该绝缘材料安装在第一保持材料11的一侧。 另外，第一层压材料12安装在第一保持材料11的另一侧。另外，除了安装在第一
保持材料11的另一侧的部分之外，第一层压材料12还包括设置为安装在第一保持材料11
和第一导体配线Pl的侧面的部分12a。此外，第一层压材料12还具有部分12b，部分12b
设置为从安装在第一导体配线P1的侧面的部分12a延伸到第一导体配线Pl的表面的延长面。 在图8所示平板式检测器1中，第一导体配线P1和第二导体配线P2以电隔离的 方式形成在同一绝缘材料上，然后该绝缘材料安装在第一保持材料11的一侧。另外，第一 保持材料11形成为覆盖第一导体配线Pl和第二导体配线P2直到覆盖第一导体配线Pl和 第二导体配线P2的侧面。 另外，第一层压材料12安装在第一保持材料11的另一侧。另外，除了安装在第一 保持材料11的另一侧的部分之外，第一层压材料12还包括设置为安装在第一保持材料11 的侧面的部分12a。此外，第一层压材料12还包括部分12b，部分12b设置为从安装在第一 导体配线Pl的侧面的部分12a延伸到第一导体配线Pl的表面的延长面。
在这些平板式检测器1中，例如纸张等介质在设置有第一导体配线Pl和第二导体 配线P2的露出表面的附近经过。在将构成要检测的对象的磁性材料施加在该介质上的情 况下，由第一导体配线P1形成的交变磁场使磁性材料的磁极反转(磁化反转)。第二导体 配线P2检测通过磁性材料中的磁化反转生成的信号。从而，在第二导体配线P2检测到该信 号的情况下，可以判定正在经过的介质是施加有磁性材料的介质。另一方面，在第二导体配 线P2没有检测到该信号的情况下，可以判定正在经过的介质不是施加有磁性材料的介质。
〈2.介质检测器〉
[检测器的构造] 图9是示出根据本发明示例性实施例的介质检测器的框图。介质检测器100包括 传送单元110、检测单元120和分拣单元130。介质检测器100对从传送单元110中送出的
纸张等介质进行分拣。具体来说，介质检测器ioo将介质分拣成施加有磁性材料的介质和没有施加磁性材料的介质。另外，介质检测器100可以具有这样的功能通过检测与施加在 介质上的磁性材料的排列相应的特定信息来分拣出介质。尽管介质主要是纸张，然而介质 也可以采取其他形式。这里，所作说明是基于如下假设进行的将施加有磁性材料的介质称 为Pa，并且将没有施加磁性材料的介质称为Pb。 传送单元110包括传送控制部1101和用于将介质Pa、 Pb容纳在其中的容纳部 1102。传送控制部1101在预定定时向传送辊给出指令，以便将容纳在容纳部1102中的介 质Pa、 Pb —张一张地朝向检测单元120送出。 检测单元120包括根据本发明的平板式检测器1、检测控制部1201、发送部1202、 接收部1203和判断部1204。根据本发明的平板式检测器1可以是根据上述示例性实施例 的平板式检测器中的任何一种。这里，作为实例，所使用的是根据第一示例性实施例的平板 式检测器1。 检测控制部1201控制发送部1202、接收部1203和判断部1204。发送部1202包
括励磁电路，该励磁电路使电流流经平板式检测器1的第一导体配线P1以便形成交变磁
场。接收部1203控制对由平板式检测器1的第二导体配线P2检测到的信号的获取。判断
部1204基于由接收部1203获取的信号执行介质Pa和介质Pb之间的判断操作。 分拣单元130包括分拣控制部1301、闸板驱动部1302和分拣容纳部1303。分拣
控制部1301接收检测单元120的判断部1204执行的判断的结果，然后向闸板驱动部1302
给出指令。 闸板驱动部1302响应于从分拣控制部1301发送到闸板驱动部1302的指令驱动
闸板131，以便切换闸板131的取向。在分拣容纳部1303中设置有至少两个分拣区域A、B。
在分拣单元130中，利用闸板131的取向，将介质Pa分拣到分拣区域A中并将介质Pb分拣
到分拣区域B中。[介质检测操作] 首先，从传送控制部1101向传送单元110的容纳部1102给出指令，以便驱动容纳 部1102中的传送辊，从而将容纳在容纳部1102中的介质Pa、 Pb —张一张地送出到检测单 元120。 在检测单元120中，从发送部1202向第一导体配线Pl提供电流以便形成交变磁 场。然后，使从传送单元110的容纳部1102中如此送出的介质Pa、Pb在检测单元120的平 板式检测器1附近经过。与此同时，由平板式检测器1的第一导体配线Pl形成的交变磁场 使施加在介质Pa上的磁性材料的磁化反转，并且由于在磁性材料中发生的磁化反转而由 介质Pa生成信号。另一方面，在没有施加磁性材料的介质Pb中不生成这种信号。
平板式检测器1的第二导体配线P2对介质Pa、 Pb在平板式检测器1附近经过的 过程中通过在磁性材料中发生的磁化反转生成的信号进行检测。将在接收部1203处获取 的信号发送到判断部1204，在判断部1204中，判断通过磁性材料中的磁化反转生成的信号 的存在性。判断部1204将对这种信号的存在性的判断的结果发送到检测控制部1201。
检测控制部1201将从判断部1204发送到检测控制部1201的判断结果发送到分 拣控制部1301。这里，在介质Pa、Pb的前端穿过检测单元120到达分拣单元130的闸板131 所在的位置之前，检测控制部1201将判断结果发送到分拣控制部1301。
分拣控制部1301根据从检测控制部1201发送到分拣控制部1301的判断结果向
12闸板驱动部1302给出指令。也就是说，当判断结果表明已经在介质中检测到信号时，可以理解为该介质是施加有磁性材料的介质Pa，然后分拣控制部1301向闸板驱动部1302发送指令以切换闸板131的取向，以便将介质Pa传送到分拣区域A。另一方面，当判断结果表明尚未在介质中检测到信号时，可以理解为该介质是没有施加磁性材料的介质Pb，然后分拣控制部1301向闸板驱动部1302发送指令以切换闸板131的取向，以便将介质Pb传送到分拣区域B。 闸板驱动部1302根据分拣控制部1301给出的指令切换闸板131的取向。这种切换要在介质Pa、Pb的前端到达闸板131之前完成，从而可以将施加有磁性材料的介质Pa传送到分拣区域A，而将没有施加磁性材料的介质Pb传送到分拣区域B。
在根据示例性实施例的介质检测器IOO中，用于将记录介质Pa、Pb从传送单元110中输送到检测单元120中的传送辊1103和用于将记录介质Pa、 Pb从检测单元120中拉出到分拣单元130中的传送辊1304由步进电机驱动。在平板式检测器1不具有由非磁性非金属制成的第一保持材料11和第二保持材料21以及由非磁性金属制成的第一层压材料12和第二层压材料22的情况下，当第二导体配线P2对步进电机起动/停止时产生的噪声进行检测时生成的信号的强度比当第二导体配线P2对介质Pa中的磁化反转进行检测时生成的信号的强度大。然而，在该示例性实施例中，可以利用第一示例性实施例中描述的平板式检测器1来阻挡步进电机起动/停止时产生的噪声，以便抑制该噪声对由第二导体配线P2检测到的信号施加的影响。
[应用实例] 除了可以应用于仅用于分拣出介质Pa、 Pb的单一独立装置之外，根据示例性实施
例的介质检测器100还可以应用于复印机、复合机、打印机等图像处理装置。本申请基于2008年11月12日提交的日本专利申请No. 2008-289642，并且要求该
日本专利申请的优先权。
权利要求
一种平板式检测器，包括第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。
2. 根据权利要求l所述的平板式检测器，其中，所述第一平板部件的厚度设定为这样使所述交变磁场在所述第一平板部件与所述第 一层的接触面处的强度不大于1高斯。
3. 根据权利要求1或2所述的平板式检测器，其中， 所述第一层的厚度和所述第二层的厚度不小于lOym且不大于lmm。
4. 根据权利要求1或2所述的平板式检测器，其中，所述第一层覆盖所述第一平板部件和所述第一导体配线的除面向用于传送所述片状 介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二层覆盖所述第二平板部件和所述第二导体配 线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分。
5. 根据权利要求4所述的平板式检测器，其中，所述第一层还覆盖所述第一导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的 延长面，并且所述第二层还覆盖所述第二导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的 表面的延长面。
6. 根据权利要求1或2所述的平板式检测器，其中，所述第一平板部件覆盖所述第一导体配线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的 表面之外的部分，并且所述第二平板部件覆盖所述第二导体配线的除面向用于传送所述片 状介质的空隙的表面之外的部分。
7. 根据权利要求l所述的平板式检测器，其中，所述第一层覆盖所述第一平板部件的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之 外的部分以及所述第一导体配线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部 分，并且所述第二层覆盖所述第二平板部件的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面 之外的部分以及所述第二导体配线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的 部分。
8. 根据权利要求7所述的平板式检测器，其中，所述第一层还覆盖所述第一平板部件的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的 延长面和所述第一导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面，并且所 述第二层还覆盖所述第二平板部件的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面和所述第二导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面。
9. 根据权利要求1或2所述的平板式检测器，其中， 所述第一导体配线与所述第二导体配线布置成以预定间隔彼此面对。
10. —种介质检测器，包括传送单元，其传送其中包含磁性材料的片状介质；平板式检测器，其检测从包含在所述片状介质中的磁性材料产生的信号；以及 分拣单元，其根据所述平板式检测器对所述信号的检测结果而为已经穿过所述平板式检测器的所述片状介质切换传送路径， 其中，所述平板式检测器包括第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述 第二平板部件设置成彼此面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于 形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一 导体配线的表面相反的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于 对通过包含在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导 体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的与设置有所述第二 导体配线的表面相反的表面上。
全文摘要
本发明公开了一种平板式检测器及介质检测器。该平板式检测器包括第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的表面上。
文档编号B07C5/34GK101738590SQ20091014737
公开日2010年6月16日 申请日期2009年6月18日 优先权日2008年11月12日
发明者井上浩良, 山口昭治, 松田司, 栗原英三, 马里奥·福斯, 高桥邦广 申请人:富士施乐株式会社