一种半导体器件测试分选装置制造方法
【专利摘要】本实用新型所提供的一种半导体器件测试分选装置是由测试主机、分配器、分选机A和分选机B组成，其中测试主机和分选机A之间连接有分配器，所说分配器还连接有分选机B，所说的分配器是由测试爪转换电路、开始信号转换电路、控制电路、结束信号转换电路和分档信号电路构成，使测试主机在分选输送过程的等待时间从300ms减少至200ms，提高测试主机工作效率，具有操作简单、提高效率、减少投资、降低成本等优点。
【专利说明】一种半导体器件测试分选装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于半导体器件测试系统，特别涉及一种半导体器件测试分选装置。【背景技术】
[0002]目前半导体器件测试分选是半导体分立器件封装生产的一道主要工序。半导体测试分选装置就是利用半导体测试主机按照每种规格的器件参数要求，操纵测试分选机的器件进行测试分选，其中，符合参数要求的器件按相关要求进行分档，不符合参数要求的器件予以剔除。
[0003]一般的半导体器件测试分选系统由测试主机和分选机连接组成。每个器件的测试分选过程是，当分选机内的器件到达测试工位待测后，分选机向测试主机发出开始信号，测试主机对器件进行测试判别,测试完成测试主机向分选机发出结束信号，并同时发出分档信号，分选机读取测试主机的分档信号，并根据分档信号将器件通过其上的分档导管送入不同的分档箱，一只器件的测试分选过程完成。接着，分选机和测试主机重复上述流程进行下一器件的测试分选过程。在每只器件的测试分选周期中，测试时间约为100ms，分选机输送时间约为300ms，因此测试主机在分选输送过程会有一个300ms等待时间，才能进行下一器件的测试分选过程，导致测试主机工作效率比较低。
【发明内容】
[0004]本实用新型目的在于提供一种能够充分利用测试主机在分选输送过程等待时间，提高测试主机工作效率的一种半导体器件测试分选装置。具有操作简单、提高效率、减少投资、降低成本等优点
[0005]本实用新型所提供的一种半导体器件测试分选装置是由测试主机、分配器、分选机A和分选机B组成，其中测试主机和分选机A之间连接有分配器，所说分配器还连接有分选机B。所说的分配器是由测试爪转换电路、开始信号转换电路、控制电路、结束信号转换电路和分档信号电路构成；所说的控制电路与测试主机、测试爪转换电路、开始信号转换电路、结束信号转换电路和分档信号电路的一端连接，所说的测试爪转换电路、开始信号转换电路、结束信号转换电路和分档信号电路的另一端分别与分选机A和分选机B连接，所说的测试爪转换电路还与测试主机连接。所说的开始信号转换电路具有记忆功能。
[0006]当半导体测试分选装置启动后，待测器件到达各自的测试工位，分选机A和分选机B分别通过开始信号转换电路向分配器发出开始信号，假设分选机A的开始信号先到达，分配器的开始信号转换电路向控制电路发测试指令，控制电路分别控制测试爪转换电路并接通分选机A的测试爪，同时向测试主机发出开始信号(此时，分选机B的开始信号被暂时记忆在分配器的开始信号转换电路内)，测试主机开始对分选机A测试工位上的器件进行测试，测试完成后，测试主机通过分配器的控制电路及分档信号转换电路向分选机A发分档信号，分选机A读取分档信号进行分档。然后测试主机通过分配器的控制电路及结束信号转换电路向分选机A发结束信号，完成一只器件的测试周期。随后，分配器接着将测试主机与分选机B接通，后续程序与分选机A工作程序相同。分选机A上第二只器件到达测试工位后向分配器发出开始信号并暂时记忆在开始信号转换电路里，等待下一个测试周期。
[0007]由于在测试主机和分选机A之间连接有分配器，所说的分配器还连接有分选机B，所以分选机A和分选机B进行分时工作时，当分选机A完成一只器件IOOms的测试时间后，分选机B能够充分利用测试主机在分选机A输送过程等待时间，完成另一只器件IOOms的测试时间，从而使测试主机在分选输送过程的等待时间从300ms减少至200ms，提高测试主机工作效率，具有操作简单、提高效率、减少投资、降低成本等优点。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型电路结构示意图，10、测试主机，20、分选机A，30、分配器，31、测试爪转换电路，32、开始信号转换电路，33、控制电路，34、结束信号转换电路，35、分档信号电路，40、分选机B。
【具体实施方式】
[0009]以下结合附图对本实用新型详细说明
[0010]本实用新型所提供的一种半导体器件测试分选装置是由测试主机10、分配器30、分选机A20和分选机B40组成，其中测试主机10和分选机A20之间连接有分配器30，所说分配器30还连接有分选机MO，所说的分配器30是由测试爪转换电路31、开始信号转换电路32、控制电路33、结束信号转换电路34和分档信号电路35构成；所说的控制电路33与测试主机10、测试爪转换电路31、开始信号转换电路32、结束信号转换电路34和分档信号电路35的一端连接，所说的测试爪转换电路31、开始信号转换电路32、结束信号转换电路34和分档信号电路35的另一端分别与分选机A20和分选机B40连接，所说的测试爪转换电路31还与测试主机10连接。所说的开始信号转换电路具有记忆功能。
[0011]当半导体测试分选装置启动后，待测器件到达各自的测试工位，分选机A20和分选机MO分别通过开始信号转换电路32向分配器30发出开始信号,假设分选机A20的开始信号先到达，分配器30的开始信号转换电路32向控制电路33发测试指令，控制电路33分别控制测试爪转换电路31并接通分选机A20的测试爪，同时向测试主机10发出开始信号(此时，分选机MO的开始信号被暂时记忆在分配器的开始信号转换电路32内)，测试主机10开始对分选机A20测试工位上的器件进行测试，测试完成后，测试主机10通过分配器30的控制电路33及分档信号转换电路35向分选机A发分档信号，分选机A20读取分档信号进行分档。然后测试主机10通过分配器30的控制电路33及结束信号转换电路34向分选机A20发结束信号，完成一只器件的测试周期。随后，分配器30接着将测试主机10与分选机B20接通，后续程序与分选机A20工作程序相同。分选机A20上第二只器件到达测试工位后向分配器30发出开始信号并暂时记忆在开始信号转换电路32里，等待下一个测试周期。
[0012]由于在测试主机10和分选机A20之间连接有分配器30，所说的分配器30还连接有分选机B40,所以分选机A20和分选机B40进行分时工作时，当分选机A20完成一只器件IOOms的测试时间后，分选机MO能够充分利用测试主机10在分选机A20输送过程等待时间，完成另一只器件IOOms的测试时间，从而使测试主机10在分选输送过程的等待时间从300ms减少至200ms，提高测试主机10工作效率，具有操作简单、提高效率、减少投资、降低成本等优点。
【权利要求】
1.一种半导体器件测试分选装置，包括测试主机(10)和分选机A (20)，其特征在于所说的测试主机(10)和分选机A (20)之间连接有分配器(30)，所说的分配器(30)还连接有分选机B(40)，所说的分配器(30)是由测试爪转换电路(31)、开始信号转换电路(32)、控制电路(33)、结束信号转换电路(34)和分档信号电路(35)构成；所说的控制电路(33)与测试主机(10)、测试爪转换电路(31 )、开始信号转换电路(32)、结束信号转换电路(34)和分档信号电路(35)的一端连接，所说的测试爪转换电路(31)、开始信号转换电路(32)、结束信号转换电路(34)和分档信号电路(35)的另一端分别与分选机A (20)和分选机B (40)连接，所说的测试爪转换电路(31)还与测试主机(10)连接。
2.根据权利要求1所说的一种半导体器件测试分选装置，其特征在于所说的测试主机(10)在分选输送过程的等待时间从300ms减少至200ms。
【文档编号】B07C5/00GK203750859SQ201420033651
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2014年1月20日 优先权日:2014年1月20日
【发明者】卢永强 申请人:广州新星微电子有限公司