传感器检测装置的收集分拣模块的制作方法

本申请涉及传感器检测技术的领域，尤其是涉及一种传感器检测装置的收集分拣模块。

背景技术：

1、传感器是一种接收被测量的信息，并将接收到的信息按一定规律转换为电信号或其它所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求的检测装置。

2、传感器生产完成后，需要对传感器进行一系列的检测，这一系列检测分别在不同的检测工位进行。现有的传感器检测装置通常是将这些不同的检测工位整合在一起，形成传感器检测流水线。同一批被检测的传感器包括合格产品与不合格产品两种，其中不合格产品又因其不合格原因被分为多种。因此，在传感器检测结束的下料过程中，有必要将对同批中不同的传感器进行分类，以便于后续进行分别处理，或统计各项数据等操作。

技术实现思路

1、为了对同批中不同的传感器进行分类，以便于后续进行分别处理，或统计各项数据等操作，本申请提供一种传感器检测装置的收集分拣模块。

2、本申请提供的一种传感器检测装置的收集分拣模块采用如下的技术方案：

3、一种传感器检测装置的收集分拣模块，包括机架、滑移机构、夹持机构、合格箱和不合格箱；滑移机构包括纵向滑移件、横向滑移件和竖向滑移件，纵向滑移件滑移连接于机架，横向滑移件滑移连接于纵向滑移件，竖向滑移件滑移连接于横向滑移件；夹持机构连接于竖向滑移件，夹持机构用于夹持检测完成的物料；合格箱连接于机架；不合格箱连接于机架，不合格箱内设置有多个隔板，多个隔板将不合格箱分隔为多个不合格区。

4、通过采用上述技术方案，搬运机构将合格与不合格的传感器从各个工位移送至分拣模块，竖向驱动件驱动夹持机构沿机架的高度方向移动，将传感器夹起，之后根据通过纵向驱动件和横向驱动件将该传感器移动至对应的合格箱或者不合格区的上方，之后再将传感器放下，最后利用各个驱动件驱动加持机构回到原位，利用以上方法，对于整个传感器检测装置而言，所有离开检测工位的传感器均被运送至同一位置，再进行分拣，而无需为每个检测工位单独设置对应于合格箱和各个不合格区的移送路径，从而实现对同批中不同的传感器进行分类的目的。

5、可选的，机架具有夹持区，夹持区用于放置待夹持的物料；合格箱与多个不合格区沿机架的长度方向线性排布设置，合格箱与夹持区沿机架的宽度方向线性排布设置。

6、通过采用上述技术方案，正常来讲，同批传感器中合格品的占比最多，因此将合格箱设置于最靠近夹持区的位置，使得同批检测中，夹持机构移动的路径的总长度相对较短，以减少耗能；此外，由于合格箱与多个不合格区沿机架的长度方向线性排布，在兼顾空间分布合理的同时，使得夹持机构的运送路径相对简单。

7、可选的，不合格箱设置有对射式传感器一，对射式传感器一的发射端与接收端分别连接于不合格箱的两个相对的内表面，发射端发出的光线的路径与物料的掉落路径相交；多个隔板均贯穿开设有通孔，多个通孔同轴设置且用于供发射端发出的光线通过。

8、通过采用上述技术方案，通过设置一个对射式传感器一，检测所有不合格品是否掉落于不合格箱。

9、可选的，所述合格箱设置有对射式传感器二，所述对射式传感器二的发射端发出的光线的路径与物料的掉落路径相交。

10、通过采用上述技术方案，检测合格品是否掉落于合格箱。

11、可选的，机架设置有周转箱，周转箱放置于合格箱的下方；合格箱具有下料口，所述合格箱通过所述下料口与所述周转箱连通。

12、通过采用上述技术方案，周转箱被装满后，更换周转箱即可，无需移动合格箱，提高操作便捷性。

13、可选的，合格箱与周转箱之间设置有缓冲通道，所述缓冲通道连接于所述机架且倾斜设置，所述缓冲通道的两端分别连通于所述下料口与所述周转箱。

14、通过采用上述技术方案，对从合格箱中进入周转箱的传感器进行缓冲。

15、可选的，所述隔板相互背离的两个侧壁均设置有插接条，所述不合格箱相对的两个内表面均设置有多个插接槽，所述插接槽用于供所述插接条插接，多个所述插接槽沿所述不合格箱的长度方向排布设置。

16、通过采用上述技术方案，通过插接条与插接槽的配合实现隔板与不合格箱的可拆卸连接，一方面便于调节各不合格区的容积，另一方面便于增减不合格区的数量。

17、可选的，所述不合格箱具有底板，所述底板倾斜设置。

18、通过采用上述技术方案，对掉落于不合格区的传感器起到缓冲作用。

19、可选的，所述不合格箱包括多个盛接板，所述盛接板铰接于所述底板靠近地面的一端；多个所述盛接板与多个所述不合格区一一对应，所述隔板靠近地面的一侧连接有柔性连接件，所述柔性连接件的另一侧连接于所述盛接板；当所述盛接板与所述底板位于同一平面时，所述柔性连接件处于平铺状态；所述盛接板远离所述底板的一侧可拆卸连接于所述隔板。

20、通过采用上述技术方案，当某一不合格区被装满或装有较多传感器后，解除盛接板远离底板的一侧与隔板的连接关系，相对于底板转动盛接板，最终盛接板与底板共面，该不合格区的传感器沿底板和盛接板下滑，此时利用容器盛装下滑的传感器，便可快速且便捷地将该不合格区清空。

21、综上，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

22、1.通过设置滑移机构和夹持机构，将各检测工位的传感器运送至夹持机构的下方，利用夹持机构对同一批中的不同传感器分拣分拣，以便于后续进行分别处理，或统计各项数据等操作；

23、2.通过在不合格箱设置对射式传感器一，在合格箱设置对射式传感器二，对传感器进行掉落检测；

24、3.通过使盛接板靠近地面的一侧铰接于底板靠近地面的一侧，远离底板的一侧可拆卸连接于隔板，并在盛接板与隔板之间设置柔性连接件，在某一不合格区中的传感器较多或装满时，翻转盛接板，使该不合格区中的传感器沿盛接板滑下，以便于将该不合格区进行清空。

技术特征：

1.一种传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：包括机架（1）、滑移机构（2）、夹持机构（3）、合格箱（4）和不合格箱（5）；所述滑移机构（2）包括纵向滑移件（21）、横向滑移件（22）和竖向滑移件（23），所述纵向滑移件（21）滑移连接于所述机架（1），所述横向滑移件（22）滑移连接于所述纵向滑移件（21），所述竖向滑移件（23）滑移连接于所述横向滑移件（22）；所述夹持机构（3）连接于所述竖向滑移件（23），所述夹持机构（3）用于夹持检测完成的物料；所述合格箱（4）连接于所述机架（1）；所述不合格箱（5）连接于所述机架（1），所述不合格箱（5）内设置有多个隔板（51），多个所述隔板（51）将所述不合格箱（5）分隔为多个不合格区（52）。

2.根据权利要求1所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述机架（1）具有夹持区（14），所述夹持区（14）用于放置待夹持的物料；所述合格箱（4）与多个所述不合格区（52）沿所述机架（1）的长度方向线性排布设置，所述合格箱（4）与所述夹持区（14）沿所述机架（1）的宽度方向线性排布设置。

3.根据权利要求1所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述不合格箱（5）设置有对射式传感器一（53），所述对射式传感器一（53）的发射端与接收端分别连接于所述不合格箱（5）的两个相对的内表面，所述发射端发出的光线的路径与物料的掉落路径相交；多个所述隔板（51）均贯穿开设有通孔，多个所述通孔同轴设置且用于供发射端发出的光线通过。

4.根据权利要求1所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述合格箱（4）设置有对射式传感器二（41），所述对射式传感器二（41）的发射端发出的光线的路径与物料的掉落路径相交。

5.根据权利要求1所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述机架（1）设置有周转箱（6），所述周转箱（6）放置于所述合格箱（4）的下方；所述合格箱（4）具有下料口，所述合格箱（4）通过所述下料口与所述周转箱（6）连通。

6.根据权利要求5所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述合格箱（4）与所述周转箱（6）之间设置有缓冲通道（61），所述缓冲通道（61）连接于所述机架（1）且倾斜设置，所述缓冲通道（61）的两端分别连通于所述下料口与所述周转箱（6）。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述隔板（51）相互背离的两个侧壁均设置有插接条（511），所述不合格箱（5）相对的两个内表面均设置有多个插接槽（55），所述插接槽（55）用于供所述插接条（511）插接，多个所述插接槽（55）沿所述不合格箱（5）的长度方向排布设置。

8.根据权利要求1-6任意一项所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述不合格箱（5）具有底板（54），所述底板（54）倾斜设置。

9.根据权利要求8所述的传感器检测装置的收集分拣模块，其特征在于：所述不合格箱（5）包括多个盛接板（56），所述盛接板（56）铰接于所述底板（54）靠近地面的一端；多个所述盛接板（56）与多个所述不合格区（52）一一对应，所述隔板（51）靠近地面的一侧连接有柔性连接件（57），所述柔性连接件（57）的另一侧连接于所述盛接板（56）；当所述盛接板（56）与所述底板（54）位于同一平面时，所述柔性连接件（57）处于平铺状态；所述盛接板（56）远离所述底板（54）的一侧可拆卸连接于所述隔板（51）。

技术总结
本申请涉及传感器检测技术的领域，提供一种传感器检测装置的收集分拣模块，其包括机架、滑移机构、夹持机构、合格箱和不合格箱；滑移机构包括纵向滑移件、横向滑移件和竖向滑移件，纵向滑移件滑移连接于机架，横向滑移件滑移连接于纵向滑移件，竖向滑移件滑移连接于横向滑移件；夹持机构连接于第竖向滑移件，夹持机构用于夹持检测完成的物料；合格箱连接于机架；不合格箱连接于机架，不合格箱内设置有多个隔板，多个隔板将不合格箱分隔为多个不合格区。本申请具有对同批中不同的传感器进行分类，以便于后续进行分别处理，或统计各项数据等操作的效果。

技术研发人员：张兆鹏,陈东辉,于鑫
受保护的技术使用者：北京中科泛华测控技术有限公司
技术研发日：20230825
技术公布日：2024/2/6