专利名称：内侧测微计的制作方法
技术领域：
本发明涉及内侧测微计，具体涉及一种削减部件数的内侧测微计。
背景技术：
如图8所示，传统的内侧测微计具有通过测微套筒20的回转使第1测杆11进退的内侧测微计本体1、长度各相差一定尺寸的多个测砧30、设于测砧30与内侧测微计本体1之间的伸测环40。
如图9所示，内侧测微计本体1包括在贯通孔3的一端侧内周形成有雌螺纹4的内筒2A、设于内筒2A的外周上的圆筒状外筒2B；由外周上具有与内筒2A的雌螺纹4螺合的雄螺纹13的筒状的第1测杆轴12和与第1测杆轴12的一端侧螺合的测头15构成的第1测杆11；以及具有贯通孔21、将内筒2A和从外筒2B的一端侧向另一端侧的途中覆盖的筒状的测微套筒20。
在内筒2A的一端侧附近沿圆筒轴设有多个切缝3A，并从外侧螺合有螺母3B。又，在内筒2A的另一端侧外周螺合有头部具有旋钮部的固定螺钉5和支承旋钮6。
第1测杆轴12的一端侧外周和测微套筒20的一端侧开口部21A由从一端侧向另一端侧逐渐扩径的锥形体27A加以嵌合，并通过与测头15螺合的螺母27B加以紧固。
在测微套筒20的一端侧内周设有滚花28，在另一端侧外周沿圆周方向刻有刻度23。
测砧30一端侧的直径与内筒2A的贯通孔3的另一端侧的直径相同，在从一端侧向另一端侧的途中具有台阶31并形成扩径状态，在测砧30的另一端侧设有测头32。
在外筒2B上沿圆筒轴方向刻有刻度7。
伸测环40具有与测砧30一端侧的直径相同的贯通孔41。
使用时，选择与被测定对象的被测定部位长度适合的长度的测砧30，将其从内筒2A的另一端侧插入，用固定螺钉5保持。然后，使内侧测微计本体1的测微套筒20回转而使第1测杆11进退。当测砧30的测头32及第1测杆11的测头15与被测定对象抵接时，从刻度7、23读取被测定对象的被测定部位的尺寸。
使用伸测环40时，在将测砧30插入伸测环40的贯通孔41之后，将其测砧30插入内侧测微计本体1。由此可将内侧测微计的测定区域延长该伸测环40部分的尺寸。
实际测定时，通过根椐被测定对象在内侧测微计本体1上选择使用测砧30和伸测环40，可如
图10所示设定调整内侧测微计的测定区域。
例如，事先准备好内侧测微计本体1的第1测杆11的作动距离为13mm、伸测环40的长度为12mm、以及50mm用、75mm用的测砧30。
在以50mm～63mm作为测定区域时，可通过将50mm用的测砧30安装在内侧测微计本体1上进行测定。
在以62mm～75mm作为测定区域时，可通过在50mm用的测砧30上添加伸测环40进行测定。
在以75mm～88mm作为测定区域时，只要换成75mm用的测砧30即可进行测定。
以下相同，用于可通过有选择性地使用测砧30和伸测环40延长测定区域，故只要准备好长度按25mm各相差一定尺寸的测砧30，就可在连续的测定区域中进行测定。
然而，这种传统的内侧测微计必需准备长度按25mm各相差一定尺寸的测砧30。
例如，为了以50mm～300mm作为测定区域，必需事先准备50mm、75mm、100mm、125mm、150mm、175mm、200mm、225mm、250mm、275mm用的10个测砧30。
由于必需准备许多根长的测砧30，部件数多，因此加工麻烦，成本也高。并且，由于必须具有许多测砧30，故收纳盒体大，携带不便。
本
发明内容
本发明有鉴于此，其主要目的在于提供一种部件数少、成本低、携带方便的内侧测微计。
本发明的内侧测微计的结构是，相对于具有在贯通孔的内周设有雌螺纹的圆筒状的筒体、与所述雌螺纹螺合并设成可从所述贯通孔的一端侧轴向进退的第1测杆、可与所述第1测杆一体回转并设于所述内筒的外侧的测微套筒的内侧测微计本体，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒体的贯通孔的另一端侧上可装脱的多个测砧以及具有插入所述测砧的贯通孔、并设于所述筒体的另一端侧与所述测砧之间的第1延长构件，可设定调整测定区域，其特征在于，具有第2延长构件，所述第2延长构件可装脱且有选择性地安装在所述第1测杆的一端侧，并具有与所述第1测杆一起进退的第2测杆。
采用这种结构，一旦测微套筒回转，第1测杆即与测微套筒一起回转。由于第1测杆的雄螺纹与筒体的雌螺纹螺合，因此第1测杆跟随该螺纹的螺距从筒体的一端侧沿轴向进退。此时，第1测杆从筒体的一端侧向筒体的外侧可进退的距离就是内侧测微计本体的作动区域。
以往是通过有选择性地使用在筒体的贯通孔的另一端侧可装脱的测砧以及设于筒体的另一端侧与测砧之间的第1延长构件，将内侧测微计的作动区域设定调整为与被测定对象长度对应的测定区域。
例如，在只使用短的测砧时，可将测定区域设定为短的长度，又，通过在其上添加第1延长构件来使用，就可将测定区域增加第1延长构件部分的尺寸而向长的一方变更调整。并且，通过换成更长的测砧，可将测定区域变更调整为更长的一方，依此类推，可对测定区域进行变更调整。
添加新的测砧及其有选择性地与第1延长构件一起使用的第2延长构件可获得如下的效果。
如上所述，将任意长度的测砧安装在内侧测微计本体上，中间嵌装第1延长构件，在将测定范围向长的一方设定调整之后，再通过安装第2延长构件，可将测定区域向更长的一方设定调整。
换言之，以往可从任意的1个测砧延长的测定区域就是该测砧与第1延长构件的长度之和，但一旦加上了第2延长构件，就可延长至该测砧与第1延长构件、第2延长构件之和。
这样，可去除以往所必需长度的测砧，即在该测砧上加上了第1延长构件、第2延长构件的长度之和的测砧。
此时，由于测定区域越长，可从以往所必需的测砧中去除的个数也就越多，因此使上述的效果更加明显。
通过准备1个第2延长构件，可去除多个长的测砧，这不仅可减少部件数，而且在注意到长的多个测砧的尺寸及其制造时，上述测砧个数的去除可取得降低成本和减小收纳盒体尺寸的明显效果。
在本发明中，将所述第1测杆的作动区域作为v、所述第1延长构件的长度作为k、所述第2延长构件的所述第2测杆的长度作为s、所述测砧的长度尺寸之差作为d时，最好具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的关系。
采用这种结构，可用内侧测微计测定的测定区域就可成为无间隙连续的区域。
安装有长度为a的测砧A的内侧测微计的测定区域S1由于内侧测微计的作动区域是V，因此用a≤S1≤a+v来表示。
安装有测砧A和长度为k的第1延长构件时的测定区域S2是a+k≤S2≤a+k+v。此时，由k≤v得a+k≤a+v，故(S2的最小值)≤(S1的最大值)。由此，S1和S2至少具有交叉的区域或者连续。
安装有测砧A和具有长度s的第2测杆的第2延长构件时的测定区域S3是a+s≤S3≤a+s+v。此时，由s≤k+v得a+s≤a+k+v，故(S3的最小值)≤(S2的最大值)。由此，S2和S3至少具有交叉的区域或者连续。
安装有测砧A、第1延长构件和第2延长构件时的测定区域S4是a+k+s≤S4≤a+k+s+v。此时，由k≤v得a+k+s≤a+s+v，故(S4的最小值)≤(S3的最大值)。由此，S3和S4至少具有交叉的区域或者连续。
若测砧A变更为长度a+d的测砧B，则测定区域S5是a+d≤S5≤a+d+v。此时，由d≤v+k+s得a+d≤a+v+k，故(S5的最小值)≤(S4的最大值)。由此，S4和S5至少具有交叉的区域或者连续。
由此，采用具有上述结构的内侧测微计，可通过比以往个数少的测砧以连续的区域作为测定区域来进行设定调整。
在本发明中，所述第2延长构件最好具有可装脱地安装在所述测微套筒的一端侧、中心具有贯通孔的第2延长构件本体；从所述第2延长构件的贯通孔的一端侧设成可轴向进退的第2测杆；以及对所述第2测杆向所述第1测杆方向施力的施力装置。
采用这种结构，由于第2测杆在第2延长构件的贯通孔内其位置不固定而可轴向进退，并由施力装置向第1测杆施力，因此在将第2延长构件安装在测微套筒的一端侧时，第1测杆的一端与第2测杆的另一端接触，由第1测杆的一端推压第2测杆的另一端，第2测杆在一端侧可滑动。由此，第2测杆的长度与添加在第1测杆上的部分相等，可获得作为延长构件的效果。
此时，即使第1测杆从内侧测微计本体的筒体伸出的长度有变化，第2测杆也能灵活地改变其位置，无间隙地与第1测杆的一端接触。即，因第1、第2测杆完全一体地进行进退，故不会导致测定精度下降。
在本发明中，最好是在所述第2延长构件本体的另一端侧和所述测微套筒的一端侧的任一方设置雄螺纹，在所述第2延长构件本体的另一端侧和所述测微套筒的一端侧的另一方设置与所述雄螺纹螺合的雌螺纹。
采用这种结构，通过将测微套筒的一端侧与第2延长构件的另一端侧螺合，可将第2延长构件与测微套筒一体移动。由此，在使测微套筒回转而使测微套筒与第1测杆一起移动时，第2延长构件与第1测杆一起移动，可获得作为延长构件的作用。
并且，采用第2延长构件与测微套筒螺合方式，由于可简单地进行装脱，使用性能优良，又由于也可使测微套筒和第2延长构件中的任1个回转，因此操作性也优良。
附图的简单说明图1为表示本发明的内侧测微计的一实施形态的结构图。
图2为从侧面看上述实施形态的内侧测微计本体的半剖面图。
图3为从侧面看上述实施形态的伸测棒的半剖面图。
图4为上述实施形态的内侧测微计的结构分解立体图。
图5为表示在上述实施形态的内侧测微计中、将伸测棒和测砧安装在内侧测微计本体上的状态的图。
图6为表示在上述实施形态的内侧测微计中、将伸测棒、伸测环和测砧安装在内侧测微计本体上的状态的图。
图7为表示在上述实施形态中、有选择性地使用测砧、伸测环、伸测棒时的测定区域的图。
图8为表示传统的内侧测微计的结构图。
图9为从侧面看传统的内侧测微计本体的半剖面图。
图10为表示在传统的内侧测微计中、有选择性地使用测砧、伸测环时的测定区域的图。
具体实施例方式
下面，参照图示例说明本发明的实施形态。
如图1所示，本实施形态的内侧测微计具有内侧测微计本体1、长度尺寸各相差一定尺寸的多个测砧30、作为第1延长构件的伸测环40、以及作为第2延长构件的伸测棒50。
如图2所示，内侧测微计本体1包括在贯通孔3的内周上形成有雌螺纹4的筒体2；与筒体2的雌螺纹4螺合、设置成从筒体2的贯通孔3的一端侧可轴向进退的第1测杆11；以及可与该第1测杆11一体回转、设于筒体2的外侧的测微套筒20。
在筒体2上的贯通孔3的一端侧开口部附近设有雌螺纹4，在另一端侧外周螺合有头部具有旋钮部的固定螺钉5和周围具有旋钮部的支承旋钮6。
在筒体2的外壁沿轴向通过激光划线刻印有刻度7。
第1测杆11具有在大致整个外周设有雄螺纹13的第1测杆轴12、以及与第1测杆轴12的一端侧前端一体形成的测头15。又，测头15的直径小于第1测杆轴12的直径。
第1测杆轴12的雄螺纹13与筒体2的雌螺纹4螺合，通过使第1测杆11回转，使第1测杆11从筒体2的一端侧进退。
第1测杆轴12具有与另一端侧开口的轴向平行的孔14。该第1测杆轴12的孔14的直径稍大于筒体2的另一端侧开口部3C的直径。
测微套筒20由第1筒部22和第2筒部24构成，所述第1筒部22呈圆筒状，具有与圆筒轴平行的贯通孔21，将从筒体2的一端侧向另一端侧的途中覆盖的筒壁的内径稍大于筒体2的外径；所述第2筒部24的从筒体2的一端侧将第1测杆11的测头15覆盖的筒壁的内径等于测头15的直径。在该第2筒部24的一端侧外周设有雄螺纹25。通常该雄螺纹25与圆环状的盖体26螺合。又，第2筒部24的另一端侧与垂直于贯通孔21的推压螺钉27螺合。利用该推压螺钉27将测头15与测微套筒20结合，使第1测杆11与测微套筒20一体回转。在测微套筒20的第1筒部22的另一端侧外周沿圆周设有刻度23。又，在测微套筒20的中央部设有滚花28。
在本实施形态中，第1测杆11的作动距离为13mm，筒体2的雌螺纹4和第1测杆11的雄螺纹13的螺距为第1测杆11回转2圈时轴向移动1mm。故设在筒体上的刻度7为0.5mm，又，设于测微套筒20上的刻度23为沿一周分割为50等分，设成读取0.01mm。
按照所定的不同的长度尺寸准备多个测砧30，测砧30为长棒体，一端侧的直径与筒体2的贯通孔3的另一端侧开口部3C相同，在从测砧30的一端侧向另一端侧的途中设有直径增大的台阶31，在另一端侧的前端具有测头32。
在本实施形态中，测砧30准备了每种相差50mm的长度。
伸测环40为具有贯通孔41的筒状，贯通孔41的直径大于测砧30一端侧的直径，但小于测砧30的台阶31的直径。伸测环40的外径大于筒体2的另一端侧开口部3C的直径。
在本实施形态中，伸测环40为12mm。
如图3所示，伸测棒50包括具有贯通孔52的第2延长构件本体即伸测棒本体51；设置成从伸测棒本体51的贯通孔52的一端侧可轴向进退的第2测杆58；向第2测杆58向另一端侧方向施力的施力装置即弹簧60；以及止动件70。
伸测棒本体51呈圆筒状，具有与圆筒轴平行的贯通孔52。该贯通孔52一端侧的直径与测微套筒20的一端侧开口部21A相同，为最小，在向另一端侧和途中设有扩径的两部位的台阶即第1台阶53和第2台阶54。并且，伸测棒本体51的贯通孔52的第2台阶54与至另一端侧开口侧的途中设有雌螺纹55，又，另一端侧开口部附近也设有雌螺纹56。
在伸测棒本体51的一端侧的外周设有滚花57。
第2测杆58设于伸测棒本体51的贯通孔52内。其直径与第1测杆11的测头15相同。在第2测杆的途中设有比其它部分直径大的环状构件59。在该环状构件59与贯通孔52内的第1台阶53之间设有弹簧60，对第2测杆58向另一端侧方向施力。
在伸测棒本体51的贯通孔52内设有圆环状的止动件70。该止动件70在将第2测杆58和弹簧60从另一端侧插入之后与伸测棒本体51的雌螺纹55螺合。第2测杆的环状构件59挂设在该止动件70上，并利用弹簧60的施力使第2测杆58不会向另一端侧脱出。
这里，相对于第1测杆11的雄螺纹13和筒体2的雌螺纹4是右螺纹，伸测棒本体51的雌螺纹56和测微套筒20的雄螺纹25形成为左螺纹。
在本实施形态中，伸测棒50的第2测杆58为25mm。
测定时，根椐被测定对象，在内侧测微计本体1上有选择性地使用测砧30、伸测环40和伸测棒50。
图4表示本实施形态中的内侧测微计的组装结构。
首先，在测定时，在将测砧30安装在内侧测微计本体1上时，松开筒体2的固定螺钉5，将测砧30的一端从筒体2的另一端侧开口部3C一直插入到由台阶31止动的部位，由固定螺钉5的推压进行固定。
其次，在使用伸测环40时，将测砧30插通于伸测环40的贯通孔41而插入到筒体2的贯通孔3的另一端侧。另外，在安装伸测棒50时，取下盖体26，将伸测棒50的雌螺纹56与测微套筒20的雄螺纹25螺合。
图5表示将测砧30和伸测棒50安装在内侧测微计本体1上的状态。
在此状态下，第1测杆11成为第2测杆58的长度部分延长的结构，即，若使测微套筒20回转，则第1测杆11进退，同时，测微套筒20及伸测棒50的第2测杆58与第1测杆11一体进退，故通过将第2测杆58的一端和测砧30的测头32与被测定对象抵接，就可测定被测定对象的被测定部位的尺寸。
图6表示将测砧30、伸测棒50和伸测环40安装在内侧测微计本体1上的状态。
在此状态下，第1测杆延长了第2测杆的长度部分，再加上测砧30延长了伸测环40的长度部分。由此，通过使测微套筒20回转而将测砧30的测头32和第2测杆58的一端与被测定对象抵接，就可测定被测定对象的被测定部位的尺寸。
采用如此本实施形态的内侧测微计，则可获得如下的效果。
若使测微套筒20回转，则第1测杆11与测微套筒一起回转。此时，第1测杆11的雄螺纹13与筒体2的雌螺纹4螺合，故第1测杆11可跟随该螺纹4、13的螺距从筒体2的一端侧进退。通过从设在筒体2和测微套筒20上的刻度7、23读取此时的第1测杆11的作动距离，就可测定被测定对象。
在本实施形态中，内侧测微计本体1的第1测杆11的作动距离为13mm，伸测环40为12mm、伸测棒50为25mm，并准备50mm用、100mm用、150mm用、200mm用、250mm用的测砧30。
由此，如图7所示，可将从50mm至300mm的所有区域作为测定区域。
即，在只将50mm用测砧30安装在内侧测微计本体1上时，可将50mm～63mm作为测定区域。
在使用50mm用测砧30和12mm的伸测环40时，可将62mm～75mm作为测定区域。
取下伸测环40，在使用50mm测砧30和25mm的伸测棒50时，可将75mm～88mm作为测定区域。
在使用50mm测砧30、伸测环40和伸测棒50时，可将87mm～100mm作为测定区域。
由此，通过在50mm用测砧30上使用伸测环40和伸测棒50，可将从50mm～100mm的所有区域作为测定区域。
然后，将50mm用测砧30改为100mm用测砧30，与上述一样通过有选择性使用伸测环40和伸测棒50，可将从100mm至150mm的区域作为测定区域。
在本实施形态中，由于将各相差50mm的不同长度的测砧30一直准备到250mm，因此可将从50mm至300mm的所有区域作为测定区域。
并且，通过准备300mm、350mm用的那种相差50mm的不同长度的测砧30，可使测定区域连续地延长下去。
在不使用伸测棒50的传统技术中，按照内侧测微计本体1的作动距离为13mm，伸测环40为12mm的尺寸，除了伸测棒50以外均与本实施形态相同时，为了得到连续的测定区域，必须准备有按照各相差25mm的不同长度尺寸的测砧30。即、为了将50mm～300mm作为测定区域，需准备50mm、75mm、100mm、125mm、150mm、175mm、200mm、225mm、250mm、275mm用的10个测砧30。
对此，在使用25mm的伸测棒50的本实施形态中，如上所述只要准备5个测砧30即可，故可减少部件数，可降低成本。
并且，由于75mm、125mm、175mm、225mm、275mm用的测砧30在部件中是属于大的部件，因此，可通过将其削减而减小收纳盒体，在单纯减少部件数的其础上，在携带性方面也具有明显的效果。
在伸测棒50方面，由于第2测杆58利用弹簧60向另一端侧即第1测杆方向施力而在伸测棒本体51的贯通孔52内可轴向进退，因此，一旦被安装在内侧测微计本体1的另一端侧上，则第2测杆58可被第1测杆11的测头15的一端推压而向一端侧移动。此时，利用弹簧60的弹力可将第1测杆11与第2测杆58无间隙地密接，故在本实施形态中，第1测杆11可正确地延长第2测杆58的长度部分25mm，使其相等。
并且，从内侧测微计本体1的测微套筒20的另一端侧伸出的测头15的长度即使变化，第2测杆58也可利用弹簧60的施力而灵活地改变位置。即，因第1测杆11、测头15、第2测杆58完全一体地进行移动，故不会降低测定精度。
由于在测微套筒20的第2筒部24上设有雄螺纹25，在伸测棒本体51的贯通孔的另一端侧设有雌螺纹56，因此相对于内侧测微计本体1，采用螺纹螺合方式即可简单地进行伸测棒50的装脱。
并且，通过上述的螺合使测微套筒20与伸测棒50成为一体，故随着测微套筒20的回转，在第1测杆11与测微套筒20一起移动时，伸测棒50的第2测杆58也一体移动。
第1测杆11的雄螺纹13和筒体2的雌螺纹4是右螺纹，而伸测棒本体51的雌螺纹56和测微套筒20的雄螺纹25则是左螺纹，故为了使第1测杆11从筒体2进出而使测微套筒20右转时，即使带动设在伸测棒50上的滚花57回转，伸测棒50也不会脱出。由此，可使其操作性优良。
本实施形态的内侧测微计本体1的结构与传统的结构相比，其不同之点如下。
本实施形态的筒体2在传统技术中，如图9所示，内筒2A与外筒2B是分体的。即由一端侧附近的内周具有形成有雌螺纹4的贯通孔3的圆筒状的内筒2A和安装在该内筒2A的外侧的圆筒状的外筒2B所构成。
这是因为在内筒2A上采用刻印加工方式刻印刻度7时会使内筒2A变形、故在与内筒2A分体的外筒2B上进行刻度7的刻印的缘故。
在本实施形态中，通过采用激光划线方式直接在筒体2上进行刻度7的加工，可防止筒体2的变形，如图2所示，可使传统的内筒2A和外筒2B与筒体2形成一体化。由此可减少部件数，又可使加工工序简化，可降低成本。
在传统技术中，如图9所示，第1测杆轴12与测头15是分体的，在第1测杆轴12上设有贯通孔14A，该贯通孔14A的一端侧开口部附近的内周与测头15螺合。并且，在测微套筒20的贯通孔21的一端侧开口部21A与第1测杆轴12的一端侧外周设有从一端侧向另一端侧扩径的锥形体27A，相互嵌合后通过与测头15螺合的螺母27B紧固，将第1测杆轴12与测头15、测微套筒20形成一体化结构。
对此，本实施形态如图2所示由于其结构是第1测杆轴12与测头15一体形成，将第1测杆轴12和测微套筒20的锥度取消，测微套筒20和测头15由推压螺钉27的推压而固定，因此，可减少部件数，使加工工序简化，可降低成本。
以往的结构是在筒体2的一端侧沿轴向设置多个切缝3A，从筒体2的一端侧的外侧通过螺母3B的螺合进行紧固，正确地将筒体2与第1测杆11螺合。
由于第1测杆11频繁回转会使第1测杆11与内筒2的螺纹4、13发生松动，此时须通过紧固螺母3B来调节螺纹4、13间的间隙。
而内侧测微计的使用形态主要是界限量规的测定，可减少第1测杆11频繁回转而产生螺纹4与13间的间隙的可能性。
为此，在本实施形态中，将上述的切缝3A和螺母3B取消。结果是减少了部件数，可使加工工序简化，可降低成本。
另外，本发明的内侧测微计并不限于上述实施例，而可在不脱离本发明宗旨的范围内作各种变更。
作为第2延长构件，本实施形态中是将在伸测棒本体51的贯通孔52中设有第2测杆58的伸测棒50与测微套筒20螺合，但只要是将第2测杆58加接在第1测杆11上，则其形态不限于上述。例如，也可将第1测杆11的一端侧与第2测杆58的另一端侧单纯地螺合。又，也可不采用螺合而采用由连接环和磁力进行固定等方法。
对第2测杆58施力的施力装置也可不是弹簧60，只要弹性体即可。或者在第1测杆11的一端和第2测杆58的另一端设置磁铁等，只要能将第1测杆11与第2测杆58密接，则任何方法均可。
上述实施形态是在测微套筒的一端侧设置雄螺纹而在伸测棒本体的另一端侧设置雌螺纹进行螺合的，反之，也可在测微套筒的一端侧采用雌螺纹而在伸测棒本体的另一端侧采用雄螺纹。
上述实施形态中是将内侧测微计本体1的第1测杆11的作动距离定为13mm、伸测环40为12mm、伸测棒50的第2测杆58为25mm、测砧30不同的长度尺寸为50mm，但只要是具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的关系的组合，则无论使用何种长度均可确保连续的测定区域。
权利要求
1.一种内侧测微计，其中，相对于具有在贯通孔的内周设有雌螺纹的圆筒状的筒体、与所述雌螺纹螺合并设成可从所述贯通孔的一端侧轴向进退的第1测杆、可与所述第1测杆一体回转并设于所述内筒的外侧的测微套筒的内侧测微计本体，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒体的贯通孔的另一端侧上可装脱的多个测砧以及具有插入所述测砧的贯通孔、并设于所述筒体的另一端侧与所述测砧之间的第1延长构件，可设定调整测定区域，其特征在于，具有第2延长构件，所述第2延长构件可装脱且有选择性地安装在所述第1测杆的一端侧，并具有与所述第1测杆一起进退的第2测杆。
2.如权利要求1所述的内侧测微计，其特征在于，将所述第1测杆的作动区域作为v、所述第1延长构件的长度作为k、所述第2延长构件的所述第2测杆的长度作为s、所述测砧的长度尺寸的差值作为d时，具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的关系。
3.如权利要求1所述的内侧测微计，其特征在于，所述第2延长构件具有可装脱地安装在所述测微套筒的一端侧、中心具有贯通孔的第2延长构件本体；从所述第2延长构件的贯通孔的一端侧设置成可轴向进退的第2测杆；以及对所述第2测杆向所述第1测杆方向施力的施力装置。
4.如权利要求1至3任一项所述的内侧测微计，其特征在于，在所述第2延长构件本体的另一端侧和所述测微套筒的一端侧的任一方设置雄螺纹，在所述第2延长构件本体的另一端侧和所述测微套筒的一端侧的另一方设置与所述雄螺纹螺合的雌螺纹。
全文摘要
一种内侧测微计，相对于与可轴向进退的第1测杆(11)螺合的内侧测微计本体(1)，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸的测砧以及设于该测砧与内侧测微计本体(1)之间的伸测环(40)，可设定调整测定区域，其特征在于，具有伸测棒(50)，该伸测棒(50)可装脱且有选择性地安装在内侧测微计本体(1)上，并具有与所述第1测杆(11)一起进退的第2测杆(58)。通过在从任意的1个测砧(30)延长的测定区域中加上伸测环(40)的长度，再加上第2延长构件(58)的长度部分，可减少测砧(30)的个数。
文档编号G01B3/18GK1407312SQ0214202
公开日2003年4月2日 申请日期2002年8月20日 优先权日2001年8月21日
发明者照井胜信, 小西正, 柴桥稔 申请人:株式会社三丰