压力测试装置的制造方法
专利名称:压力测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种压力测试装置，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过O型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配合；所述O型密封圈套于所述上堵头上，且O型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头底部的压力测试通孔；所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的顶部。本实用新型通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。
【专利说明】
压力测试装置
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及一种压力测试装置。
【背景技术】
[0002]传统的压力计，可以认为是一个密封的容器，且要求该容器能在200°C的情况下承受住200MPa的高压，那么接头部分的密封性设计就至关重要。然而，外部提供高温高压的测试环境非常困难和危险，截至目前，尚未有其他方式的压力测试装置。
【实用新型内容】
[0003]基于此，针对上述问题，本实用新型提出一种通过内部测试压力的压力测试装置，由于密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，并且外部高压测试困难和危险，但是内部加压测试就相对容易实现。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种压力测试装置，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过O型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配合;所述O型密封圈套于所述上堵头上，且O型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头底部的压力测试通孔;所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的顶部。
[0005]本技术方案中，10MPa以内的密封设计可以只采用耐高温的O型密封圈密封就可以了，但是大于10MPa的超高压密封，仅仅靠O型密封圈密封是不保险的，所以发明人采用了 “紫铜垫+0型密封圈”的硬密封加软密封的双密封形式。密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，外部高压测试困难和危险，而内部加压测试相对容易实现。
[0006]在开始测试时，将连通器放入烘箱，提供200°C的高温环境。然后将下试压头装在连通器上，通过外部连接的活塞压力计提供200MPa的压力，将上堵头安装O型密封圈和紫铜垫与下试压头紧密连接，来测试双密封的高温高压密封性。为了安全保险，在外部还安装了一个外帽，从而防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。
[0007]在优选的实施例中，所述上堵头的高度大于或等于所述上堵头容纳腔的深度，且上堵头的高度小于上堵头容纳腔的深度加上所述外帽的螺纹高度。目的是保证上堵头的顶部一直可以处于被外帽按压的状态。
[0008]在优选的实施例中，所述上堵头上至少套有三个O型密封圈。目的是保证密封的稳定性。
[0009]在优选的实施例中，所述O型密封圈为耐高温材料。目的是保证O型密封圈不会因为压力增加、温度升高而受到损害，从而保证不影响压力的测试。
[0010]本实用新型的有益效果是:
[0011](I)采用了“紫铜垫+0型密封圈”的硬密封加软密封的双密封形式，试内部加压测试变得更加容易实现；
[0012](2)在外部安装了一个外帽，可以有效防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险；
[0013](3)通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。【附图说明】
[0014]图1是本实用新型实施例所述压力测试装置的剖面结构示意图；
[0015]图2是图1中下试压头的剖面结构示意图；
[0016]附图标记说明:
[0017]10-下试压头，101-上堵头容纳腔，102-凸起，103-压力测试通孔，20-上堵头，30-外帽，40-0型密封圈，50-紫铜垫。【具体实施方式】
[0018]下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。
[0019]实施例:
[0020]如图1和图2所示，一种压力测试装置，它包括下试压头10、上堵头20和外帽30。所述下试压头10的顶部设有上堵头容纳腔101，所述上堵头20通过0型密封圈40和紫铜垫50与所述上堵头容纳腔101密封配合;所述〇型密封圈40套于所述上堵头20上，且0型密封圈40位于上堵头20侧壁与上堵头容纳腔101的侧壁之间，所述紫铜垫50设于所述上堵头20的底部与所述上堵头容纳腔101的底部之间；所述下试压头10底部具有与连通器连接的凸起102， 下试压头10的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔101和下试压头10底部的压力测试通孔103; 所述外帽30与所述下试压头10的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头20的顶部。
[0021]本实施例中，所述上堵头20的高度大于或等于所述上堵头容纳腔101的深度，且上堵头20的高度小于上堵头容纳腔101的深度加上所述外帽30的螺纹高度。目的是保证上堵头20的顶部一直可以处于被外帽30按压的状态。[〇〇22] 本实施例中，所述上堵头20上至少套有三个0型密封圈40。目的是保证密封的稳定性。[〇〇23]本实施例中，所述0型密封圈40为耐高温材料。目的是保证0型密封圈40不会因为压力增加、温度升高而受到损害，从而保证不影响压力的测试。[〇〇24]本实施例所述的压力测试装置，lOOMPa以内的密封设计可以只采用耐高温的0型密封圈40密封就可以了，但是大于lOOMPa的超高压密封，仅仅靠0型密封圈40密封是不保险的，所以发明人采用了“紫铜垫50+0型密封圈40”的硬密封加软密封的双密封形式。密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，外部高压测试困难和危险，而内部加压测试相对容易实现。[〇〇25]在开始测试时，将连通器放入烘箱，提供200°C的高温环境。然后将下试压头10装在连通器上，通过外部连接的活塞压力计提供200MPa的压力，将上堵头20安装0型密封圈40 和紫铜垫50与下试压头10紧密连接，来测试双密封的高温高压密封性。为了安全保险，在外部还安装了一个外帽30,从而防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。[〇〇26]本实用新型所述的压力测试装置，采用了“紫铜垫50+0型密封圈40”的硬密封加软密封的双密封形式，试内部加压测试变得更加容易实现。在外部安装了一个外帽30，可以有效防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。
[0027]以上所述实施例仅表达了本实用新型的【具体实施方式】，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种压力测试装置，其特征在于，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的 顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过0型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配 合;所述0型密封圈套于所述上堵头上，且0型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧 壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压 头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头 底部的压力测试通孔;所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的 顶部。2.根据权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，所述上堵头的高度大于或等于所 述上堵头容纳腔的深度，且上堵头的高度小于上堵头容纳腔的深度加上所述外帽的螺纹高度。3.根据权利要求1或2所述的压力测试装置，其特征在于，所述上堵头上至少套有三个0 型密封圈。4.根据权利要求3所述的压力测试装置，其特征在于，所述0型密封圈为耐高温材料。
【文档编号】G01M3/26GK205691303SQ201620017051
【公开日】2016年11月16日
【申请日】2016年1月8日 公开号201620017051.X, CN 201620017051, CN 205691303 U, CN 205691303U, CN-U-205691303, CN201620017051, CN201620017051.X, CN205691303 U, CN205691303U
【发明人】杨军
【申请人】成都信息工程大学
【专利摘要】本实用新型公开了一种压力测试装置，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过O型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配合；所述O型密封圈套于所述上堵头上，且O型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头底部的压力测试通孔；所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的顶部。本实用新型通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。
【专利说明】
压力测试装置
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及一种压力测试装置。
【背景技术】
[0002]传统的压力计，可以认为是一个密封的容器，且要求该容器能在200°C的情况下承受住200MPa的高压，那么接头部分的密封性设计就至关重要。然而，外部提供高温高压的测试环境非常困难和危险，截至目前，尚未有其他方式的压力测试装置。
【实用新型内容】
[0003]基于此，针对上述问题，本实用新型提出一种通过内部测试压力的压力测试装置，由于密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，并且外部高压测试困难和危险，但是内部加压测试就相对容易实现。
[0004]本实用新型的技术方案是:一种压力测试装置，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过O型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配合;所述O型密封圈套于所述上堵头上，且O型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头底部的压力测试通孔;所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的顶部。
[0005]本技术方案中，10MPa以内的密封设计可以只采用耐高温的O型密封圈密封就可以了，但是大于10MPa的超高压密封，仅仅靠O型密封圈密封是不保险的，所以发明人采用了 “紫铜垫+0型密封圈”的硬密封加软密封的双密封形式。密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，外部高压测试困难和危险，而内部加压测试相对容易实现。
[0006]在开始测试时，将连通器放入烘箱，提供200°C的高温环境。然后将下试压头装在连通器上，通过外部连接的活塞压力计提供200MPa的压力，将上堵头安装O型密封圈和紫铜垫与下试压头紧密连接，来测试双密封的高温高压密封性。为了安全保险，在外部还安装了一个外帽，从而防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。
[0007]在优选的实施例中，所述上堵头的高度大于或等于所述上堵头容纳腔的深度，且上堵头的高度小于上堵头容纳腔的深度加上所述外帽的螺纹高度。目的是保证上堵头的顶部一直可以处于被外帽按压的状态。
[0008]在优选的实施例中，所述上堵头上至少套有三个O型密封圈。目的是保证密封的稳定性。
[0009]在优选的实施例中，所述O型密封圈为耐高温材料。目的是保证O型密封圈不会因为压力增加、温度升高而受到损害，从而保证不影响压力的测试。
[0010]本实用新型的有益效果是:
[0011](I)采用了“紫铜垫+0型密封圈”的硬密封加软密封的双密封形式，试内部加压测试变得更加容易实现；
[0012](2)在外部安装了一个外帽，可以有效防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险；
[0013](3)通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。【附图说明】
[0014]图1是本实用新型实施例所述压力测试装置的剖面结构示意图；
[0015]图2是图1中下试压头的剖面结构示意图；
[0016]附图标记说明:
[0017]10-下试压头，101-上堵头容纳腔，102-凸起，103-压力测试通孔，20-上堵头，30-外帽，40-0型密封圈，50-紫铜垫。【具体实施方式】
[0018]下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。
[0019]实施例:
[0020]如图1和图2所示，一种压力测试装置，它包括下试压头10、上堵头20和外帽30。所述下试压头10的顶部设有上堵头容纳腔101，所述上堵头20通过0型密封圈40和紫铜垫50与所述上堵头容纳腔101密封配合;所述〇型密封圈40套于所述上堵头20上，且0型密封圈40位于上堵头20侧壁与上堵头容纳腔101的侧壁之间，所述紫铜垫50设于所述上堵头20的底部与所述上堵头容纳腔101的底部之间；所述下试压头10底部具有与连通器连接的凸起102， 下试压头10的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔101和下试压头10底部的压力测试通孔103; 所述外帽30与所述下试压头10的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头20的顶部。
[0021]本实施例中，所述上堵头20的高度大于或等于所述上堵头容纳腔101的深度，且上堵头20的高度小于上堵头容纳腔101的深度加上所述外帽30的螺纹高度。目的是保证上堵头20的顶部一直可以处于被外帽30按压的状态。[〇〇22] 本实施例中，所述上堵头20上至少套有三个0型密封圈40。目的是保证密封的稳定性。[〇〇23]本实施例中，所述0型密封圈40为耐高温材料。目的是保证0型密封圈40不会因为压力增加、温度升高而受到损害，从而保证不影响压力的测试。[〇〇24]本实施例所述的压力测试装置，lOOMPa以内的密封设计可以只采用耐高温的0型密封圈40密封就可以了，但是大于lOOMPa的超高压密封，仅仅靠0型密封圈40密封是不保险的，所以发明人采用了“紫铜垫50+0型密封圈40”的硬密封加软密封的双密封形式。密封性的测试从外部加压测试和从内部加压测试都是一样的，外部高压测试困难和危险，而内部加压测试相对容易实现。[〇〇25]在开始测试时，将连通器放入烘箱，提供200°C的高温环境。然后将下试压头10装在连通器上，通过外部连接的活塞压力计提供200MPa的压力，将上堵头20安装0型密封圈40 和紫铜垫50与下试压头10紧密连接，来测试双密封的高温高压密封性。为了安全保险，在外部还安装了一个外帽30,从而防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。[〇〇26]本实用新型所述的压力测试装置，采用了“紫铜垫50+0型密封圈40”的硬密封加软密封的双密封形式，试内部加压测试变得更加容易实现。在外部安装了一个外帽30，可以有效防止堵头承受不了高压被弹射脱落的危险。通过内部密封承压的测试来代替外部承压密封的测试，大大降低了测试的成本和提高了测试的安全性，构思巧妙，经济实惠。
[0027]以上所述实施例仅表达了本实用新型的【具体实施方式】，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种压力测试装置，其特征在于，它包括下试压头、上堵头和外帽，所述下试压头的 顶部设有上堵头容纳腔，所述上堵头通过0型密封圈和紫铜垫与所述上堵头容纳腔密封配 合;所述0型密封圈套于所述上堵头上，且0型密封圈位于上堵头侧壁与上堵头容纳腔的侧 壁之间，所述紫铜垫设于所述上堵头的底部与所述上堵头容纳腔的底部之间；所述下试压 头底部具有与连通器连接的凸起，下试压头的内部设有上下贯穿上堵头容纳腔和下试压头 底部的压力测试通孔;所述外帽与所述下试压头的顶部螺纹连接，并按压于所述上堵头的 顶部。2.根据权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，所述上堵头的高度大于或等于所 述上堵头容纳腔的深度，且上堵头的高度小于上堵头容纳腔的深度加上所述外帽的螺纹高度。3.根据权利要求1或2所述的压力测试装置，其特征在于，所述上堵头上至少套有三个0 型密封圈。4.根据权利要求3所述的压力测试装置，其特征在于，所述0型密封圈为耐高温材料。
【文档编号】G01M3/26GK205691303SQ201620017051
【公开日】2016年11月16日
【申请日】2016年1月8日 公开号201620017051.X, CN 201620017051, CN 205691303 U, CN 205691303U, CN-U-205691303, CN201620017051, CN201620017051.X, CN205691303 U, CN205691303U
【发明人】杨军
【申请人】成都信息工程大学
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