专利名称：Ata信号测试装置的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种测试装置，特别是指一种可快速测量ATA信号的测试装置。
背景技术：
在ATA(Advanced Technology Architecture高阶硬盘架构)信号传输时，在主板上连接器端信号与排线上硬盘端信号两者会产生差异，主要原因是因为排线长度不同，其金属排线的单位长度的电阻值也会相对的不同，在高速数据传输下，此种信号在远程与近端的信号品质也就会不同。在ATA信号的量测阶段，需要验证在主板上连接器端信号与传输到硬盘端信号的品质。在现行量测上，依据硬盘的设计不同，在某些硬盘上外露的电路有时未能有我们所可以量测到的测试点，即在信号量测阶段不能达到信号互相验证的目的。因此，如何提供一种可快速测量ATA信号的测试装置，即为本案所欲解决的课题。
发明内容本发明的目的在于提供可快速测量ATA信号的测试装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的本发明ATA信号测试装置是由现有的IDE(Integrated Drive Electronics，集成磁盘电子接口)排线连接器上一端的压力卡榫移除后改进而成，该装置包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，每一底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在每一底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，在外露端子上焊接上相应的排针，并保证排针与端子电性连接，从而将排线上传输资料的信号在排针上导出，以方便信号量测。
本发明在量测阶段，将传输的ATA信号从ATA信号测试装置的两端经由排针导出，撷取最为临近主板及硬盘的测试点，获得可靠度高的数值。本发明是对现有排线连接器的改进，成本低，测试方便。
图1是本发明ATA信号测试装置的示意图。
具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1，本发明ATA信号测试装置60包括若干底座10及一由若干信号线组成的排线30，每一底座10内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件(未示出)。该底座10内的信号连接组件穿过相应排线30的端子42外露，在排线30及该连接组件间提供一定的保持力，以确保排线30不会脱离该底座10并使该信号连接组件与该排线30形成电连接。其中每一底座10上信号连接组件的外露端子42排成三排，中间一排外露端子42用于和地线连接，其余两排的外露端子42与传输ATA信号的信号线连接。
本发明为实现对ATA信号的量测，在信号连接组件穿过排线30的两排用于传输ATA信号的外露端子42上用焊锡焊枪加热，焊接上相应的排针50，保证排针50与端子42电性连接，从而将排线30上传输资料的信号在排针50上导出，以方便测量。
为防止排针50掉落或排针50与外露端子42连接松动，可用树脂类热溶胶将排针50固定在排线30上。
在信号量测时，将该ATA信号测试装置60的底座10分别插入主板的插槽及硬盘驱动器的插槽上，并保证接触良好。因为该测试装置60上排针50与硬盘上排针对应，根据测试计划将相应排针50连接到示波器上，通过波形的分析，即可获得所要测量的时钟脉冲周期、电压峰值等等电气特性。
本发明ATA信号测试装置，通过撷取ATA信号传输时最为临近主板及硬盘的测试点，可获取可靠度高的信号。
权利要求
1.一种ATA信号测试装置，其包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，每一底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，其特征在于在外露端子上焊接有若干排针。
2.如权利要求1所述的ATA信号测试装置，其特征在于所述排针上固定有树脂类热溶胶。
3.如权利要求1所述的ATA信号测试装置，其特征在于每一底座上的外露端子排成三排，中间一排外露端子用于和地线连接，其余两排的外露端子与传输ATA信号的信号线连接，该排针焊接在用于传输ATA信号的外露端子上。
全文摘要
一种ATA信号测试装置，其包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，该底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，在用于传输ATA信号的外露端子上焊接若干排针，从而将排线上传输资料的信号在排针上导出，以方便信号的量测。
文档编号G01R31/28GK1712979SQ200410027939
公开日2005年12月28日 申请日期2004年6月26日 优先权日2004年6月26日
发明者刘永钧, 林鸿年, 王太诚, 欧阳铭修 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司