专利名称：一种精确测量光学投影仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种精确测量光学投影仪，所属工具制造技术领域。
背景技术：
申请号022955879.9公布的一种高清晰度投影仪装置。由光源、聚光镜、反光镜、平面反光镜、大物镜组、场镜、小物镜组、主反光镜和付主反光镜、投影屏和装持所述的光源、所述的聚光镜的套筒、装持所述的反光镜、所述的大物镜组、所述的场镜、所述的小物镜组的套筒和装持所述的主反光镜和所述的付主反光镜、所述的投影屏的投影屏箱组成，所述的平面反光镜为凹面聚光反光镜，所述的反光镜的中部有一通孔。现有的投影仪装置虽有测量同心圆或长度尺寸的刻度分划板，但需要更换分划板达到测量圆弧或长度的目的，而且无法精确地测量工件的尺寸。
发明内容
为了克服现有投影仪装置的测量精度的不足，本实用新型提供一种精确测量光学投影仪，能方便地同时达到精确测量圆弧或长度的目的。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是本实用新型由光学投影装置和影象测量装置组成，光学投影装置有投影屏、投影屏箱、镜筒、照明光源组、大物镜组、场镜、小物镜组、主反光镜和付主反光镜组成，影象测量装置有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板和十字坐标移动读数机构组成，一个分划板上刻有同心圆和游标，另一个分划板上刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度，刻有同心圆和游标的分划板固定在投影屏箱内，刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度的分划板安装在投影屏箱内沿投影屏箱内的轨道旋转。影象测量装置有XY十字滑轨移动导轨副和微分尺，微分尺分别与X十字滑轨移动导轨副和Y十字滑轨移动导轨副连接并一同移动。
本实用新型的有益效果是光学投影仪的成象平面与2个分划板共面，成象清晰，尺寸测量准确，精度高，结构简单，同时可测量圆弧或长度，并有游标分度和细小尺寸刻度。可以独立作为投影测量装置，移动和携带方便，也可安装在超硬刀具磨床、数控机床上实现在机测量。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的光路原理图。
图2是本实用新型的整体示意图。
图3是投影屏箱的正面示意图。
图4是本实用新型的实施例侧面示意图。
图5是分划板示意图。
图6是分划板示意图。
具体实施方式
实施例1本实用新型由光学投影装置和影象测量装置组成，光学投影装置有投影屏、投影屏箱、镜筒、照明光源组、大物镜组、场镜、小物镜组、主反光镜和付主反光镜组成，在图1中，大物镜组6、场镜7、小物镜组8、主反光镜9和付主反光镜10、投影屏12组成了本实用新型的光路图，有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板11，如图6所示，一个分划板上刻有同心圆和游标，同心圆尺寸为R0.05mm至3mm或6mm，游标分度值为0.02；如图7所示，另一个分划板上刻有十字长度测量线，刻度360度分度盘刻度为每格1度和长度刻度为每格0.02mm，刻有同心圆和游标的分划板固定在投影屏箱内，刻有360度分度盘刻度和长度刻度的分划板安装在投影屏箱内沿投影屏箱内的轨道旋转。
投影光源1通过聚光镜组2、滤光片3以单色平行光形式将光线投射于45度带孔反光镜4，将单色平行光沿垂直向下方向投射，经下置反光镜5反射后，将置于物镜焦平面上的工件照亮。光束穿过45度反光镜4的斜孔后，经第一物镜组6，将工件的外形轮廓成像于场景镜7上，再经第一物镜组8放大后，经大反光镜9和小反光镜10使工件的外形轮廓成像于投影仪屏幕12，屏幕12前有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板11。
45度反光镜4A可替换45度带孔反光镜4，使光源聚光于刀具或工件的表面上，经刀具或工件上表面反射后使刀具或工件的上表面形状成像于投影仪屏幕12上。
当仪器采用下照射光耀时，可摘掉45度反光镜4A及45度带孔反光镜4，使工件外形轮廓经光路直接成像于投影仪屏幕12上。
影象测量装置有XY十字滑轨移动导轨副，XY十字滑轨移动导轨副有支撑板73，支撑板73上有X十字滑轨移动导轨副由轴承座固定轴承，2个轴承座66、67支撑1根轴65，2个轴承座66、67之间有X工作台移动块68连接于所述的轴65上，所述的2个轴承座66、67和X工作台移动块68有2副安装在X工作台60的两侧，支撑板73上有微分尺支撑座62，微分尺64固定在微分尺支撑座62其测量杆穿过微分尺支撑座62，顶在X工作台60的侧面，在X工作台60的侧面相对的另一侧的侧面有一轴接触61，所述的轴61由弹簧63包围，所述的轴61穿过与微分尺支撑座62一体的另一测的支撑座为调整杆；在X工作台60上有Y十字滑轨移动导轨副由轴承座固定轴承，2个轴承座52、53支撑1根轴54，2个轴承座52、53之间有Y工作台移动块59连接于所述的轴54上，所述的2个轴承座52、53和Y工作台移动块59有2副安装在Y工作台58的两侧，X工作台60上有微分尺支撑座51，微分尺50固定在微分尺支撑座51其测量杆穿过微分尺支撑座51，顶在Y工作台58的侧面，在Y工作台58的侧面相对的另一侧的侧面有一轴55接触，所述的轴55由弹簧56包围，所述的轴55穿过与微分尺支撑座51一体的另一测的支撑座57为调整杆；在Y工作台58上安装光学投影装置20。物镜组71和照射装置72安装在连接板69的下部。
实施例2同实施例1所述的结构的连接板69固定连接支撑板73，连接板69与连接轴70连接，连接轴70固定在一工作台74，连接板69与连接轴70可上下移动，调整高度，连接方式可有螺旋扣上下移动结构，有齿轮和齿条上下移动结构等。成为独立式或便携式投影测量装置。
实施例3同实施例1所述的结构的连接板69固定连接支撑板73，连接板69安装在机床上，成为超硬刀具磨床、改型工具磨床、数控机床上在机测量装置。
权利要求1.一种精确测量光学投影仪，由光学投影装置和影象测量装置组成，光学投影装置有投影屏、投影屏箱、镜筒、照明光源组、大物镜组、场镜、小物镜组、主反光镜和付主反光镜组成，其特征是影象测量装置有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板和十字坐标移动读数机构组成，一个分划板上刻有同心圆和游标，另一个分划板上刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度，刻有同心圆和游标的分划板固定在投影屏箱内，刻有360度分度盘刻度和十字长度刻度的分划板安装在投影屏箱内沿投影屏箱内的轨道旋转，影象测量装置有XY十字滑轨移动导轨副和微分尺，微分尺分别与X十字滑轨移动导轨副和Y十字滑轨移动导轨副连接并一同移动。
2.根据权利要求1所述的一种精确测量光学投影仪，其特征是影象测量装置有XY十字滑轨移动导轨副，XY十字滑轨移动导轨副有支撑板，支撑板上有X十字滑轨移动导轨副由轴承座固定轴承，2个轴承座支撑1根轴，2个轴承座之间有X工作台移动块连接于所述的轴上，所述的2个轴承座和X工作台移动块有2副安装在X工作台的两侧，支撑板上有微分尺支撑座，微分尺固定在微分尺支撑座其测量杆穿过微分尺支撑座，顶在X工作台的侧面，在X工作台的侧面相对的另一侧的侧面有一轴接触，所述的轴由弹簧包围，所述的轴穿过与微分尺支撑座一体的另一测的支撑座为调整杆；在X工作台上有Y十字滑轨移动导轨副由轴承座固定轴承，2个轴承座支撑1根轴，2个轴承座之间有Y工作台移动块连接于所述的轴上，所述的2个轴承座和Y工作台移动块有2副安装在Y工作台的两侧，X工作台上有微分尺支撑座，微分尺固定在微分尺支撑座其测量杆穿过微分尺支撑座，顶在Y工作台的侧面，在Y工作台的侧面相对的另一侧的侧面有一轴接触，所述的轴由弹簧包围，所述的轴穿过与微分尺支撑座一体的另一测的支撑座为调整杆；在Y工作台上安装光学投影装置，物镜组和照射装置安装在连接板的下部。
3.根据权利要求1或2所述的一种精确测量光学投影仪，其特征是连接板固定连接支撑板，连接板与连接轴连接，连接轴固定在一工作台，连接板与连接轴可上下移动，调整高度，连接方式为螺旋扣上下移动结构，或有齿轮和齿条上下移动结构。
4.根据权利要求3所述的一种精确测量光学投影仪，其特征是连接板安装在机床上。
专利摘要一种精确测量光学投影仪，由光学投影装置和影象测量装置组成，影象测量装置有测量同心圆和长度尺寸的刻度分划板和XY十字滑轨移动导轨副和微分尺，微分尺分别与X十字滑轨移动导轨副和Y十字滑轨移动导轨副连接并一同移动。有益效果是光学投影仪的成象平面与2个分划板共面，成象清晰，同时可测量圆弧或长度，并有游标分度和细小尺寸刻度，尺寸测量准确，精度高，结构简单。可以独立作为投影测量装置，移动和携带方便，也可安装在超硬刀具磨床、数控机床上在机测量。
文档编号G01B9/08GK2743788SQ20042000917
公开日2005年11月30日 申请日期2004年7月7日 优先权日2004年7月7日
发明者陈用威 申请人:陈用威