专利名称：按键寿命测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种按键测试系统及方法，尤其涉及一种按键寿命测试系统及方法。
背景技术：
电话机在出厂前为确保其质量必须对其各个组成部件性能进行严格的测试，该测试主要包括测试电话机的振铃、测试脉冲或双音频拨号电路以及通话电路(包括送、受话)是否正常、及电话机按键的测试等。以前的按键寿命测试系统一般都采用计算机(Personal Computer，PC)架构，应用起来不够灵活方面，且大多数测试系统缺乏测试速度调节功能及断电保护功能，因而在断电状态下可能导致测量结果意外丢失。
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种按键寿命测试系统，其利用单片机架构代替PC架构，应用灵活方便。
鉴于以上内容，还有必要提供一种按键寿命测试方法，其利用单片机架构代替PC架构，应用灵活方便。
本发明较佳实施例提供一种按键寿命测试系统，用于各种按键盘上的按键寿命测试，该系统包括一气压调节器，该气压调节器通过至少一电磁阀给至少一直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试。该系统还包括一按键输入模块，用于接收开启和关闭测试系统的指令，及接收测试所需设定的参数，并将该参数以数字信号的形式输出；一单片机，其与上述按键输入模块相连，可接收并保存按键输入模块输出的数字信号，该单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行所述应用程序以向上述电磁阀发送控制指令使其控制直动气缸上下运动；一液晶显示模块，其与单片机相连，用于显示按键输入模块中所设定的测试总次数及正在进行的测试次数。
所述应用程序包括一测试模块，用于使单片机向电磁阀发送控制指令以控制电磁阀的开通与关断，由电磁阀控制直动气缸上下运动以带动按键盘上的按键按照设定的测试顺序及单片机所接收的设定参数上下运动，以进行按键寿命的测试；一判断模块，用于判断测试次数是否到达设定的停止检查次数及测试总次数。
所述的测试需设定的参数包括测试总次数、停止检查次数、按键的保持时间及两键动作之间的时间间隔。
所述测试模块还用于自动保存测试次数，及每测试一次在测试次数上自动累加1。
本发明较佳实施例还提供一种按键寿命测试方法，用于各种按键盘上的按键寿命测试，该方法包括如下步骤(a)开启测试系统，该系统包括一气压调节器，该气压调节器通过至少一电磁阀给至少一直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试；(b)提供一单片机接收测试需设定的参数；(c)该单片机根据设定的参数发送控制指令至上述电磁阀，由电磁阀控制直动气缸上下运动以完成一次寿命测试；(d)保存已进行的测试次数；(e)判断测试次数是否已到达设定的停止检查次数；(f)若测试次数已到达设定的停止检查次数，则暂停测试，并检查所有按键是否完好，若所有按键完好则返回单片机发送控制指令至上述电磁阀的步骤；(g)若测试次数没有到达设定的停止检查次数，则再判断测试次数是否到达设定的测试总次数；(h)若已到达设定的测试总次数，则表示该按键盘上的按键寿命符合设计要求，结束测试。
于步骤(f)中，若检查按键有破损，则表示该按键盘上的按键寿命不符合设计要求，结束测试。
在步骤(g)中，若测试次数没有到达设定的测试总次数，则将已测试次数加1，并返回单片机发送控制指令至上述电磁阀的步骤。
本发明所提供的按键寿命测试系统及方法，不仅提供一可视化操作界面，而且还可通过调节按键保持时间及两键动作之间的时间间隔等参数来调节测试速度，及通过保存测试次数来实现断电保护功能。
图1是本发明按键寿命测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是本发明按键寿命测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式参阅图1所示，是本发明按键寿命测试系统较佳实施例的硬件架构图。该较佳实施例以电话为例进行说明。该系统包括一按键输入模块1、一单片机2、一液晶显示模块3、一气压调节器4、多个电磁阀5(图中仅示出一个)、多个直动气缸6(图中仅示出一个)及一电话7。
其中，按键输入模块1提供三个多功能按钮，用于接收开启和关闭测试系统的指令，及接收进行测试需设定的参数，该参数包括测试总次数、停止检查次数、按键的保持时间及两键动作之间的时间间隔等。该按键输入模块1还可将所接收的设定参数以数字信号的形式传送给与其相连的单片机2。
单片机2可接收并保存按键输入模块1传送出的设定参数。单片机2包括一应用程序20及一微处理器21，该应用程序20包括一测试模块22及一判断模块23。其中测试模块22用于使单片机2向电磁阀5发送控制指令以控制电磁阀5的开通与关断，由电磁阀5控制直动气缸6上下运动以带动按键盘上的按键按照设定的测试顺序及单片机所接收的设定参数上下运动，以进行按键寿命的测试；该测试模块22还设定在对电话7的按键盘上的按键按照设定的顺序完成一次测试后，测试次数会自动保存，且在开始下一次测试时测试次数会在所保存测试次数的基础上自动累加1；微处理器21可调用并执行测试模块22以向电磁阀5下达控制指令；判断模块23用于判断测试是否到达设定的停止检查次数及测试总次数。
与单片机2相连的液晶显示模块3提供一种可视化操作界面，以显示正在进行的测试次数及在按键输入模块1中所设定的测试总次数等。气压调节器4用于根据测试需要来调节气压大小以通过电磁阀5供应给直动气缸6所需气压。电磁阀5根据微处理器21所下达的控制指令来控制通入直动气缸6中的气体的进入与关断，从而控制直动气缸6的上下运动。直动气缸6通过其上下运动可首先将电话7的听筒悬起，然后按照测试模块22中所设定的测试顺序按下电话7中相应的电话按键，以进行按键寿命的测试。本实施例中测试模块22中所设定的按键测试顺序是先从电话按键盘上的数字键1、数字键2、数字键3直至#号键的顺序测试一遍，然后再从倒过来的顺序，即从#号键、数字键0直至数字键1的顺序再测试一遍后将电话听筒放下，完成一次寿命测试。且测试时对于每一个键按下去的保持时间及两键之间动作的时间间隔均与单片机2所接收的相应的设定参数一致。
参阅图2所示，是本发明按键寿命测试方法较佳实施例的流程图。该较佳实施例以电话为例进行说明。首先，按键输入模块1接收开启测试系统的指令以开启测试系统(步骤S100)；按键输入模块1接收设定的参数，其包括测试总次数、停止检查次数、按键的保持时间及两键动作之间的时间间隔等，且该按键输入模块1将所接收的设定参数以数字信号的形式传送给与其相连的单片机2(步骤S101)；单片机2接收按键输入模块1传送过来的数字信号，并将其保存(步骤S102)；单片机2中的微处理器21调用并执行测试模块22，以向电磁阀5下达控制指令以控制电磁阀5的开通与关断，通过电磁阀5的开通与关断来控制直动气缸6上下运动，直动气缸6通过上下运动可首先将电话7的听筒悬起，然后按照设定的测试顺序按下电话7中相应的电话按键，以完成一次按键寿命的测试(步骤S103)；单片机2保存现已进行的测试次数(步骤S104)；单片机2中的判断模块23判断测试次数是否已到达设定的停止检查次数(步骤S105)；若测试次数没有到达设定的停止检查次数，则判断模块23再判断测试次数是否到达设定的测试总次数(步骤S106)；若已到达设定的测试总次数，则结束测试。
在步骤S105中，若测试次数已到达设定的停止检查次数，则暂停测试，并检查所有按键(步骤S108)；检查所有按键是否完好(步骤S109)，若检查按键有破损，则结束测试；若检查所有按键完好，则转至步骤S103，且测试次数会在该停止检查次数的基础上累加1。
在步骤S106中，若测试次数没有到达设定的测试总次数，则将测试次数在已保存测试次数的基础上累加1(步骤S107)，然后转至步骤S103。
本实施例适用于各种按键盘上的按键寿命测试，所设定的停止检查次数及测试总次数是根据按键的种类及对其寿命的要求而定，若在所设定的停止检查次数还没有到时按键就有破损，则表示所测按键盘上的按键寿命不符合设计要求，若在设定的测试总次数到达时所有按键仍完好，则表示所测按键盘上的按键寿命符合设计要求。
权利要求
1.一种按键寿命测试系统，用于各种按键盘上的按键寿命测试，该系统包括一气压调节器，该气压调节器通过至少一电磁阀给至少一直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试，其特征在于，该系统还包括一按键输入模块，用于接收开启和关闭测试系统的指令，及接收测试所需设定的参数，并将该参数以数字信号的形式输出；一单片机，其与上述按键输入模块相连，可接收并保存按键输入模块输出的数字信号，该单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行所述应用程序以向上述电磁阀发送控制指令使其控制直动气缸上下运动。
2.如权利要求1所述的按键寿命测试系统，其特征在于，该系统还包括一液晶显示模块，其与上述单片机相连，用于显示按键输入模块中所设定的测试总次数及正在进行的测试次数。
3.如权利要求1所述的按键寿命测试系统，其特征在于，所述应用程序包括一测试模块，用于使单片机向电磁阀发送控制指令以控制电磁阀的开通与关断，由电磁阀控制直动气缸上下运动以带动按键盘上的按键按照设定的测试顺序及单片机所接收的设定参数上下运动，以进行按键寿命的测试；一判断模块，用于判断测试次数是否到达设定的停止检查次数及测试总次数。
4.如权利要求3所述的按键寿命测试系统，其特征在于，所述测试模块还用于自动保存测试次数，及每测试一次在测试次数上自动累加1。
5.如权利要求1所述的按键寿命测试系统，其特征在于，所述的测试需设定的参数包括测试总次数、停止检查次数、按键的保持时间及两键动作之间的时间间隔。
6.一种按键寿命测试方法，用于各种按键盘上的按键寿命测试，其特征在于，该方法包括以下步骤开启测试系统，该系统包括一气压调节器，该气压调节器通过至少一电磁阀给至少一直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试；提供一单片机接收测试需设定的参数；该单片机根据设定的参数发送控制指令至上述电磁阀，由电磁阀控制直动气缸上下运动以完成一次寿命测试；保存已进行的测试次数；判断测试次数是否已到达设定的停止检查次数；若测试次数已到达设定的停止检查次数，则暂停测试，并检查所有按键是否完好，若所有按键完好则返回单片机发送控制指令至上述电磁阀的步骤；若测试次数没有到达设定的停止检查次数，则再判断测试是否到达设定的测试总次数；若已到达设定的测试总次数，则表示该按键盘上的按键寿命符合设计要求，结束测试。
7.如权利要求6所述的按键寿命测试方法，其特征在于，若步骤暂停测试并检查按键是否完好的结果为否，则表示该按键盘上的按键寿命不符合设计要求，结束测试。
8.如权利要求6所述的按键寿命测试方法，其特征在于，若步骤判断测试次数是否到达设定的测试总次数的结果为否，则将已测试次数加1，并返回单片机发送控制指令至上述电磁阀的步骤。
9.如权利要求6所述的按键寿命测试方法，其特征在于，所述的需设定的参数包括测试总次数、停止检查次数、按键的保持时间及两键动作之间的时间间隔。
全文摘要
本发明提供一种按键寿命测试系统，该系统包括一按键输入模块、一单片机、一液晶显示模块、一气压调节器、至少一电磁阀及至少一直动气缸。其中按键输入模块用于接收开启和关闭测试系统的指令，及接收测试所需设定的参数。单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行应用程序以向电磁阀下达控制指令。液晶显示模块用于显示所设定的测试总次数及正在进行的测试次数。气压调节器通过电磁阀给直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试。本发明还提供一种按键寿命测试方法。本发明利用单片机架构代替PC架构，具备速度调节功能及断电保护功能，且应用灵活方便。
文档编号G01R31/327GK1936615SQ200510037500
公开日2007年3月28日 申请日期2005年9月23日 优先权日2005年9月23日
发明者黄登聪, 兰军, 吴自然 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司