专利名称：电阻测量方法
技术领域：
本发明涉及一种电阻测量方法。
背景技术：
在电学领域中，导体的电阻R计算公式如下1R=∫V1ρSL---(1)]]>其中ρ为导体的电阻系数，L为导体的长度，S为导体的截面积，V为导体的体积。
在电子测量及分析中常会需要获取导体的电阻，传统的电阻测量方法，是将导体拆分成为若干近似长方体，再利用现有的电阻计算公式分别计算出各部分的电阻，再将得到的电阻相加以获取整个导体的电阻，其电阻计算公式如下R=Σi=1nρiLiSi]]>此种电阻测量方法在导体形状较规则时较为实用，但当待测导体为复合材料、形状不规则或带有曲面时，此方法即难以精确计算出导体的电阻。
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种电阻测量方法，用来准确测量复合材料导体及形状不规则导体的电阻。
一种电阻测量方法，包括如下步骤测量设定条件下待测导体的热流量，导体热流量的计算公式为Q·-ΔT=∫VKSL,]]>其中 为导体的热流量，ΔT为导体的温度差，K为导体的导热系数，S为导体的截面积，L为导体的长度，V为导体的体积，导体的导热系数K及温度差ΔT满足如下公式K=1ρ,]]>ΔT＝-1，其中ρ为导体的电阻系数；及计算待测导体的电阻，所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。
本发明提供了一种电阻测量方法，只需测得设定条件下导体的热流量，即可精确计算出导体的电阻。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述图1是本发明电阻测量方法较佳实施方式的流程图。
图2是本发明电阻测量方法较佳实施方式中导体热流量测量方法的流程图。
具体实施方式参考图1，所述电阻测量方法的较佳实施方式包括如下步骤步骤1，测量设定条件下待测导体的热流量 导体热流量 的计算公式为Q·-ΔT=∫VKSL---(2)]]>其中 为导体的热流量，ΔT为导体的温度差，K为导体的导热系数，S为导体的截面积，L为导体的长度，V为导体的体积，在本较佳实施方式中导热系数K及温度差ΔT满足如下公式K=1ρ---(3)]]>ΔT＝-1(4)其中ρ为导体的电阻系数；及步骤2，根据待测导体的热流量 计算待测导体的电阻R，导体的电阻R与热流量 满足公式R=1Q·---(5)]]>继续参考图2，所述导体热流量 的测量方法包括启动有限元分析(FEA)软件，确定待测导体的导热系数K，所述导体的导热系数K满足公式(3)；网格划分整个待测导体，针对不同形状及材料的待测导体，采用不同的网格单元进行网格划分；
定义待测导体的边界条件，即确定所述待测导体的输入/输出点及设定所述输入/输出点对应的温度值，ΔT的计算公式为ΔT＝输出点温度-输入点温度本较佳实施方式是在FEA软件中将输入点温度设定为1℃，输出点温度设定为0℃，使ΔT满足公式(4)；及利用所述导体热流量的计算公式获得待测体导的热流量 根据公式(5)获得待测导体的电阻R。
本发明提供了一种电阻测量方法，只需测得设定条件下导体的热流量 即可精确计算出导体的电阻R，由于导体的热流量 可使用FEA软件获得，不受待测导体的材料及形状影响，计算快速准确，所以本发明提出的电阻测量方法可精确计算导体电阻而不受导体形状及材料的影响。
权利要求
1.一种电阻测量方法，其包括如下步骤测量设定条件下待测导体的热流量，导体热流量的计算公式为Q·-ΔT=∫VKSL,]]>其中 为导体的热流量，ΔT为导体的温度差，K为导体的导热系数，S为导体的截面积，L为导体的长度，V为导体的体积，导体的导热系数K及温度差ΔT满足公式K=1ρ,]]>ΔT＝-1，其中ρ为导体的电阻系数；及计算待测导体的电阻，所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。
2.如权利要求1所述的电阻测量方法，其特征在于所述导体热流量的测量方法包括如下步骤利用有限元分析软件确定待测导体的导热系数；网格划分整个待测导体；定义待测导体的边界条件；及利用所述导体热流量的计算公式获得待测体导的热流量。
全文摘要
一种电阻测量方法，包括如下步骤测量设定条件下待测导体的热流量，导体热流量的计算公式为式(1)，其中
文档编号G01R27/02GK101055300SQ20061006031
公开日2007年10月17日 申请日期2006年4月14日 优先权日2006年4月14日
发明者林有旭 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司