专利名称：一种发光二极管的电性参数测试电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子电路测试领域，特别涉及到一种发光二极管的电性参数测试电路。
背景技术：
通常发光二极管经封装完成后，需要对其电性参数或光学参数进行测试，以确保其相关性能指标和可适用性。以前的测试方法主要是利用专用的发光二极管仪器完成，普遍存在效率低，精准度低的缺点；目前普遍使用的是自动化程度较高且精度较高的电路完成测试，该测试方法比以前的人工分光相比，存在很大的进步，但其本身仍存在一些缺陷，比如在测试发光二极管正向电压时，发光二极管与正向恒流源导通后，发现通过发光二极管的正向电流随时间的延长有所降低，并且降到一顶程度后才会稳定，因此，直接导致了所测发光二极管正向电压值偏高；并且在不同的电压环境下，测试发光二极管的各项电性参数都会有较大误差；在测试电路中所选用的电子元器件的精度，灵敏度不同，往往也会导致测试结果存在误差，并且电流源或电压源的调整范围较小，同样也影响了可测试发光二极管对象的范围。
发明内容
本发明提供了一种发光二极管的电性参数测试电路，其中，电阻R1、R2与R3串联，连接在地线与恒压源/恒流源之间，由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出，电阻R2两端的取样电压与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件；标准电压源接入电路，构成本电路的校准回路；计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接，所述D/A恒压源基准和D/A恒流源基准分别提供了各自的参考电压，所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连，电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连，形成与恒压源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒压源连接，恒压源与其反馈电路路构成本电路的恒压控制回路；在所述的第二回路中，比较器将电阻R2和R3之间的节点电位和D/A恒压源基准的输入电压进行比较判断，确保FH点电位处于所控制的电位范围之内；所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连，电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连，形成与恒流源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒流源连接，恒流源与其反馈电路路构成本电路的恒流控制回路；所述的第三回路中与D/A恒流源基准相对应的比较器将电阻R1两端的取样电压与D/A恒流源基准提供的输入电压进行比较判断，确保通过R1的电流在控制的有效范围之内；测试待测发光二极管时，电阻R3与电阻R1、R2断开，待测发光二极管与电阻R1、R2串联。
通过以上技术方案可以看出，本发明有以下优点首先，电路中设置有标准电源，提供整个电路自检标准电源，防止测试产生误差；其次，D/A恒流源基准和D/A恒压源基准分别提供高精度的恒流源和恒压源的参考电压；再次，集成运算放大器和单管放大组合方式提供电源，提高电源输出功率；最后，电路中包括反馈电路，提高了电源的输出精度。
下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明图1是本发明提供发光二极管的电性参数测试电路的电路图；图2是图1所示电路的原理流程图；图3为本发明第一实施例流程图；图4为本发明第二实施例流程图。
具体实施例方式
图1描述的是本发明所提供的发光二极管的电性参数测试电路的电路图，其中，电阻R1、R2与R3串联，连接在电源与地线与恒压源/恒流源之间，由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出，电阻R2两端的取样电压与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件；标准电压源接入电路，可以完成对整个电路进行校验；计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接，所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连，电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连，形成与恒压源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒压源连接，恒压源与其反馈电路路构成本电路的第二回路；所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连，电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连，形成与恒流源相关的反馈电路，该比较器的输出端分别与恒流源连接，恒流源与其反馈电路路构成本电路的第三回路；发光二极管与电阻R3可开关并联，并上报发光二极管的两端电压至计算机上层软件显示。
图2描述的是发光二极管的电性参数测试电路的电路图的原理流程图。包括步骤D1)对电路进行校准，包括对增益和A/D通路的校验、恒流源方式下的电路校验、恒压源方式下的电路校验；D2)用户根据需要提出测试请求，请求消息所包括的信息通过上层软件以及ISA插槽传送至所述发光二极管的电性参数测试电路中；D3)所述发光二极管的电性参数测试电路根据其中的地址与数据，控制发光二极管的电性参数测试电路工作在恒流源方式或者恒压源方式；D4)所述发光二极管的电性参数测试电路工作在恒流源方式或者恒压源方式，并完成对发光二极管电性参数的测试，并将电性参数上报至上层软件。
请参阅图3，为本发明第二实施例流程图，该实施例主要反映了所述发光二极管的电性参数测试电路工作于恒流源方式时，本发明完整的实施过程。
S1)标准电压源接入电路，完成对整个电路进行校验，并自动校准补偿值；S2)上层软件根据用户信息自动计算并输出数据至D/A恒流源基准进行数据转换；S3)设置所述发光二极管的电性参数测试电路工作于正向恒流源方式；S4)将转换后的结果与电阻R1两端的取样电压进行比较，并根据比较结果控制所述正向恒流源输出正向恒定电流；
S5)根据简单算法测试发光二极管的正向电压和反向电压；具体方法表现为恒定电路中通过R1的正向电流和反向电流，测试出FH与FL之间的差值电压，将所述差值电压的数值返回计算机，从而完成了对发光二极管的正向电压和反向电压的测试。
请参阅图4，为本发明第三实施例流程图，该实施例主要反映了所述发光二极管的电性参数测试电路工作于恒压源方式时，本发明完整的实施过程。
J1)标准电压源接入电路，完成对整个电路进行校验，并自动校准补偿值；J2)上层软件根据用户信息自动计算并输出数据至D/A恒压源基准进行数据转换，恒定FH点的点电压；J3)设置所述发光二极管的电性参数测试电路工作于恒压源方式；J4)将经D/A恒压源基准转换后的结果与FH点的点电压进行比较，并根据比较结果控制FH点的点电压工作在指定电压下；J5)并测试发光二极管的正向电流和反向电流两个参数，具体方法表现为恒定电路中FH与FL之间的差值电压，并测试通过R2的电流I，因为电阻R2与发光二极管串联在电路中，所以电流I即为发光二极管的电流值，将电流值返回计算机，从而完成了对发光二极管的正向电流和反向电流的测试。
综上所述，在对所述发光二极管进行测试之前，首先通过本发明所提供的标准电源，既提供整个电路自检标准电源，避免电路可能存在的相关缺陷；进一步通过D/A恒流源基准和D/A恒压源基准分别提供高精度的恒流源和恒压源的参考电压；并且在电路中包括反馈电路，确保电源的输出精度。最后，用户可以根据自己的实际需要，通过上层软件的操作界面有选择地对所述发光二极管的正向电流、反向电流或者正向电压、反向电压进行精确测量。
以上对本发明所提供的一种发光二极管的电性参数测试电路进行了详细介绍，本文中应用了特定个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术依据本发明的思想，在特定实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.一种发光二极管的电性参数测试电路，其特征在于，电阻R1、R2与R3串联，连接在地线与恒压源/恒流源之间，由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出，标准电压源接入电路，构成本电路的校准回路，通过电阻R2两端的取样电路获取该回路中的电流大小，并将获取的电流值与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件；计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接，所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连，电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连，形成与恒压源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒压源连接，恒压源与其反馈电路构成本电路的恒压控制回路；所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连，电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连，形成与恒流源相关的反馈电路，该比较器的输出端分别与恒流源连接，恒流源与其反馈电路路构成本电路的恒流控制回路；测试发光二极管时，电阻R3与电阻R1、R2断开，待测发光二极管与电阻R1、R2串联。
全文摘要
本发明公开了一种发光二极管的电性参数测试电路，其中，该电路由校准回路、恒压控制回路、恒流控制回路组成，所述校准回路中设置有标准电源，提供整个电路自检标准电源；所述恒压控制回路通过D/A恒压源基准提供高精度的恒压源的参考电压；所述恒流控制回路通过D/A恒压源基准提供高精度的恒流源的参考电压；恒压控制回路和恒流控制回路中设置有反馈电路，提高了电源的输出精度。
文档编号G01R31/26GK1900729SQ200610061729
公开日2007年1月24日 申请日期2006年7月18日 优先权日2006年7月18日
发明者杨少辰, 韩金龙, 罗会才, 潘登 申请人:杨少辰, 韩金龙, 罗会才