专利名称：Csk-ia类试块的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及超声波探伤试块加工技术，具体地说是一种CSK-IA类试块。2、 背景技术目前，用于超声波测试用的试块品种很多，普遍存在的不足时测量精度不高、 需要反复测量，因而加大了测试人员的工作量。3、 发明内容本实用新型的目的是克服上述缺点，提供一种测量精度相对较高的CSK-IA类 试块。本实用新型的技术方案是，试块体的结构是一长《300咖，宽《150mm，高 《40mm的长方体，试块体的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶的曲率半径《 180mm，上圆角台阶的曲率半径《50mm，在试块体的中间垂直钻有通孔和台阶孔， 试块体的边部加工有槽。本实用新型的优点是1) 能很好地调整纵波检测范围和扫描速度；2) 利用试块的厚度和宽度，测试仪器的水平线性、直线行和动态范围；3) 测量探头和仪器的分辨率；4) 侧斜探头的折射角；5) 侧斜探头的入射角；6) 调整横波探测范围和扫描速度。7) 结构简单、使用方便、范围广和测试精度高。4、
附图1是CSK-IA类试块的主视结构示意图； 附图2是CSK-IA类试块的俯视结构示意图； 附图3是CSK-IA类试块的左视结构示意图。附图中的标记分别表示；试块体l;通孔2;上圆角台阶3;下圆角台阶4;槽5; 台阶孔6;刻字7。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的CSK-IA类试块作以下详细说明。 如附图所示，本实用新型的CSK-IA类试块，试块体1的结构是一长《300mm， 宽《150mm，高《40ram的长方体，试块体1的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台 阶4的曲率半径《180mm，上圆角台阶3的曲率半径《50mm，在试块体1的中间垂 直钻有通孔2和台阶孔5，试块体的边部加工有槽5。试块体的上表面刻有字7，刻字7内容包括试块名称、商标、标准号、制造编 号和制造厂家。实施例本实用新型的CSK-IA类试块的具体型号包括有以下16种CSK-1A A型护环、CSK-1B 瓷绝缘子试块JYZ-1CSK- I C 瓷绝缘子试块JYZ-2LIS-STB-A3 瓷绝缘子试块JYZ-3LS-1 瓷绝缘子试块JYZ-4LS-2 小径管(DL-1)SD_ I WGT-1V-1 SGB试块本实用新型的CSK-IA类试块的用途是1) 调整纵波检测范围和扫描速度；2) 测试仪器的水平线性、直线行和动态范围；3) 测量探头和仪器的分辨率；4) 测斜探头的折射角；5) 测斜探头的入射角；6) 调整横波探测范围和扫描速度。本实用新型的CSK-IA类试块和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用 方便、测试范围宽，既能测试探头又能测试仪器等特点，因而，具有很好的推广 使用价值。
权利要求1、CSK-IA类试块，其特征在于试块体的结构是一长≤300mm，宽≤150mm，高≤40mm的长方体，试块体的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶的曲率半径≤180mm，上圆角台阶的曲率半径≤50mm，在试块体的中间垂直钻有通孔和台阶孔，试块体的边部加工有槽。
专利摘要本实用新型提供一种CSK-IA类试块，其结构是一长不大于300mm，宽不大于150mm，高不大于40mm的长方体，其中试块体左下角加工有圆角，有一定的曲率半径，一般不大于180mm；在试块的中间垂直钻有数量不等的孔，根据需要还可以设置一些槽。该类试块和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、制造精度高、测试范围宽、使用方便等特点，因而在无损检测行业具有很好的推广使用价值。
文档编号G01N29/30GK201051094SQ20072001996
公开日2008年4月23日 申请日期2007年4月9日 优先权日2007年4月9日
发明者魏忠瑞 申请人:山东济宁模具厂