专利名称：电路板测试夹具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试夹具，特别涉及一种对电路板进行测试的测试夹具。
背景技术：
在计算机的组成结构中，有一个很重要的部分，这就是存储器。存储器是用来存储程序 和数据的部件，对于计算机来说，有了存储器，才有记忆功能，才能保证正常工作，目前 DDR (DOUBLE DATA RAGE)内存已成为最主流的内存产品。为保证DDR内存的正常工作，我们 需要对其时钟信号，控制信号，寻址信号，数据读写信号等进行信号完整性测试。这项测试 主要是在DDR内存工作的时候对以上信号的高、低电平，频率，周期，建立保持时间等参数 进行验证。
为对DDR内存的时钟信号，控制信号，寻址信号，数据读写信号进行信号完整性量测， 目前我们先是从DDR内存上所预留的测试点上用金属线焊接出测试延长线来引出上述几个信 号，然后再用测试仪上的探棒进行探测。之所以使用测试延长线来引出上述几个信号，是因 为内存在主机板上所处位置以及内存之间的空间所限制，测试仪的探棒不能直接接触内存的 测试点以进行信号的捕获，而是要在内存的测试点上焊接一根测试延长线出来供探棒测试。
这样我们每测试一组信号就需要在相对应的内存测试点上焊接测试延长线供测试仪的探 棒进行探测，此种测试过程会造成以下弊端
1. 由于DDR内存的测试点焊盘很小，点与点的分布很密，造成焊接测试延长线非常困难 ，而且测试延长线很容易松脱，掉落，这时需要重新焊接才能继续测试，而这在DDR需要测 试多组信号时，严重影响到了信号完整性验证的效率。
2. 所述测试延长线的焊接存在焊接不充分，虚焊等现象，影响到信号完整性验证的品质
3. 所述测试延长线的焊接必须在测试某一组之前完成，当要进行下一组信号的测试时， 必须先关机，取下DDR内存，去除上一次的测试延长线，重新焊接，插上内存，开机继续测 试这样一个流程，过程烦琐，效率低下。
4. 反复的在DDR内存上焊接测试延长线，极易造成内存的损坏，增加了测试验证的成本
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种电路板测试夹具，不需焊接测试延长线即能方便测试电 路板。
一种电路板测试夹具，包括一用以夹持一待测电路板的夹持件及一固定于所述夹持件上 的至少一探测件，所述夹持件包括两夹持侧壁及一具弹性的连接部，所述两夹持侧壁的一端 通过所述连接部连接，另一端相互靠近以具夹持功能，所述探测件装设于其中一夹持侧壁上 ，其包括位于其两端的两测试探针，其中一测试探针用以与所述待测电路板上的测试点电性 接触，另一测试探针用以电性连接一测试仪。
相较现有技术，所述电路板测试夹具应用所述夹持件夹持待测电路板，并将所述探测件 的一测试探针与所述待测电路板上的测试点电性接触，再将所述探测件的另一测试探针与测 试仪相连，即可方便地对所述待测电路板进行测试，省去了重复焊接测试延长线的环节，杜 绝了因测试延长线焊接瑕疵而引起的测量不精确及损坏电路板等问题，同时也大大提高了测 试效率。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述
图l是本发明电路板测试夹具第一较佳实施方式的主视图。
图2是图1的左视图。
图3是图1中电路板测试夹具夹持一电路板时的正面示意图。图4是图3的左视图。 图5是一测试仪的探棒连接图3中电路板测试夹具的正面示意图。 图6是一测试仪的探棒连接图3中电路板测试夹具的背面示意图。 图7是图5的左视图。
图8是本发明电路板测试夹具第二较佳实施方式的主视图。 图9是本发明电路板测试夹具第三较佳实施方式的主视图。
具体实施例方式
请共同参考图1及图2，本发明电路板测试夹具的第一较佳实施方式包括一夹持件10及两 探测件20、 40，所述夹持件10包括两夹持侧壁12、 14及一具弹性的连接部16，所述连接部 16呈圆弧状，所述两夹持侧壁12、 14的一端通过所述连接部16连接，其另一端相互靠近以具 夹持功能，所述圆弧状的连接部16的弧口向下，所述两夹持侧壁12、 14及所述连接部16—体 成型，所述两夹持侧壁12、 14相互面对的侧面上靠近底部(对应相互靠近的一端)设有两绝 缘防滑层122、 142。所述两探测件20、 40并排设置在所述夹持侧壁12上，其结构功能均相同本第一实施方式中，以两探测件20、 40中的其中一个探测件20为例对其结构进行说明， 所述探测件20具有一连接部22及分别位于所述连接部22两端的两测试探针24及26，所述连接 部22通过所述夹持侧壁12上的两固定元件124固定在所述夹持侧壁12上。所述探测件20底部 的测试探针24与连接部22垂直且位于所述夹持侧壁12底端下方的一小段距离处，用于有效接 触待测电路板上的测试点。所述探测件20顶部的测试探针26自连接部22垂直弯折后继续垂直 向上延伸，用于连接测试仪上的探棒。
请继续共同参考图3至图7，当测试一电路板30 (如内存)的双端信号(如差分信号)时 ，将所述电路板测试夹具的夹持件10的两夹持侧壁12、 14打开，所述连接部16弹性变形，将 两夹持侧壁12、 14置于所述电路板30两侧松开夹持侧壁12、 14，所述连接部16弹性恢复，所 述探测件20、 40的测试探针24、 44与所述电路板30的测试点有效地电性接触，将测试仪上的 探棒60与所述探测件20、 40的测试探针26、 46有效电性连接，启动测试仪即可为所述电路板 30进行相应的双端信号测试。
在本第一实施方式中，当测试所述电路板30—单端信号时可将所述两测试件20、 40中的 一个测试件(如所述测试件40)转动移开使另一测试件(如所述测试件20)单独对所述电路 板30的单端信号进行测试即可。
请共同参考图8及图9，本发明电路板测试夹具第二、第三较佳实施方式与所述第一较佳 实施方式不同之处在于其圆弧状连接部76及86分别连接在两夹持侧壁72、 74及82、 84相互 面对的侧壁上且位于防滑层722、 742及822、 842上方，其弧口方向分别朝向上及朝下，其它 结构和功能均与本发明第一较佳实施方式的结构功能相同。
所述电路板测试夹具不仅可以测试所述电路板30上的单端信号测试点而且可以测试双端 信号测试点，还可相应的使用多个本发明电路板测试夹具来进行对应的测试，十分方便，这 种测试方法可省去重复焊接测试延长线的环节，也杜绝了因测试延长线焊接瑕疵而引起的测 量不精确及损坏电路板等问题，同时也大大提高了测试效率，节省了测试成本。
权利要求
1.一种电路板测试夹具，包括一用以夹持一待测电路板的夹持件及一固定于所述夹持件上的至少一探测件，所述夹持件包括两夹持侧壁及一具弹性的连接部，所述两夹持侧壁的一端通过所述连接部连接，另一端相互靠近以具夹持功能，所述探测件装设于其中一夹持侧壁上，其包括位于其两端的两测试探针，其中一测试探针用以与所述待测电路板上的测试点电性接触，另一测试探针用以电性连接一测试仪。
2.如权利要求l所述的电路板测试夹具，其特征在于所述连接部 为圆弧状，其连接于所述两夹持侧壁的末端，所述圆弧状连接部弧口朝向所述两夹持侧壁相 互靠近的一端。
3.如权利要求l所述的电路板测试夹具，其特征在于所述两夹持 侧壁相互面对的侧面上分别设有一绝缘防滑层。
4.如权利要求3所述的电路板测试夹具，其特征在于所述连接部 为圆弧状，其连接在所述两夹持侧壁相互面对的侧面上且位于所述绝缘防滑层上方与夹持侧 壁的末端之间，其弧口朝向所述两夹持侧壁的相互靠近的一端。
5.如权利要求3所述的电路板测试夹具，其特征在于所述连接部 为圆弧状，其连接在所述两夹持侧壁相互面对的侧面上且位于所述绝缘防滑层上方与夹持侧 壁的末端之间，其弧口朝向所述两夹持侧壁相互远离的一端。
6.如权利要求l所述的电路板测试夹具，其特征在于所述探测件 与所述待测电路板上的测试点电性接触的测试探针位于所述夹持件底端下方的一小段距离处
全文摘要
一种电路板测试夹具，包括一用以夹持一待测电路板的夹持件及一固定于所述夹持件上的至少一探测件，所述夹持件包括两夹持侧壁及一具弹性的连接部，所述两夹持侧壁的一端通过所述连接部连接，另一端相互靠近以具夹持功能，所述探测件装设于其中一夹持侧壁上，其包括位于其两端的两测试探针，其中一测试探针用以与所述待测电路板上的测试点电性接触，另一测试探针用以电性连接一测试仪。本发明电路板测试夹具可方便地对电路板上的测试点进行测试。
文档编号G01R1/02GK101576575SQ20081030146
公开日2009年11月11日 申请日期2008年5月7日 优先权日2008年5月7日
发明者李跃兵, 黄发生 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司