专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种测试待测板的电气信号的测试装置。
背景技术：
印刷电路板组件(printed circuit board assembly, PCBA )在制造完成后，需藉由测试装置对印刷电路板组件进行电器信号的测试，以确保印刷电路板组件的可靠度。
请参阅图1所示，是现有习知的一种测试装置的示意图。现有习知的测试装置100包括一探针基座110、多个探针组120以及一承载件130。探针基座110具有多个贯孔112，每一探针组120包括一可伸缩的探针122与一探针套124。探针套124穿设于贯孔112内并固定于探针基座110上，每一探针套124中并容置一探针122，而探针122可伸缩的部分则露出于探针套124外。承载件130具有一容置槽132，以容置一待测板50。此外，探针基座110更具有多个定位孔114，而承载件130更具有多个定位柱134。承载件130适于沿方向Dl移动至测试位置。
请参阅图2所示，是图1的测试装置进行测试时的剖面示意图。当承载件130移动至测试位置时，承载件130的定位柱134分别穿过对应的定位孔114，且由于该容置槽132的底部具有分别对应待测板50的多个测试接点52的多个贯孔133可使探针122分别穿过，因此待测板50上的测试接点52即可分别抵压对应的探针122。探针122分别穿过贯孔133而与测试接点52接触。此外，探针122的底部电性连接至测试模块(图未示)，以使测试模块能通过探针122对待测板50进行测试。
由于待测板50上难免会残留都性物质(如松香)，当待测板50放到容置槽132中时，容置槽132内也会被勦附残留黏性物质，而探针122与待测板50接触后，黏性物质也会黏附于探针122上。测试装置100经过长时间与不同的测试板50接触测试后，探针122上的黏性物质即会逐渐累积。当探针122上的黏性物质的量累积到一定程度时，探针122容易通过黏性物质而黏附于待测板50上。如此，当从测试装置100取出待测板50时，探针122会随着承载件130移动，而自探针套124中脱离。在现有习知的技术中，为防止因探针122的脱离导致无法完成测试，需经常耗费时间清除黏性物质以维护测试装置100的正常作动，导致测试效率低落。由此可见，上述现有的测试装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的测试装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的测试装置存在的缺陷，本实用新型人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的测试装置，能够改进一般现有的测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本实用新型。
发明内容
本实用新型的目的在于，克服现有的测试装置存在的缺陷，而提供一种新型的测试装置，所要解决的技术问题是使其提高测试效率，非常适于实用。
本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种测试装置，适于测试一待测板，且该待测板具
有多个测试接点，该测试装置包括 一探针基座；多个探针组，每一探针
组包括一探针与一探针套，该探针套固定于该探针基座，该探针具有一第
一部分与一第二部分，该第一部分容置于该探针套中，且该第一部分的直径大于该第二部分的直径，该第一部分的一端并具有与该第二部分结合的连
接端，而该第二部分可在该第一部分中伸缩；以及一固定板，配置于该探针基座上，该固定板具有分别对应该些探针组的多个锥形贯孔，每一锥形贯孔具有相对的一开口端与一缩口端，且该开口端邻近该探针基座，该些探针的该些第二部分分别穿过该些锥形贯孔，并与该待测板的该些测试接点接触，而该些探针的第一部分的连接端分别抵靠于该些锥形贯孔的孔壁。本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一 步实现。
前述的测试装置，其更包括一承栽件，该承载件具有相对的一第一表面与一第二表面，其中，该第一表面适于承载该待测板，而该第二表面则
面向该4笨针基座。
前述的测试装置，其中所述的承载件更具有朝该探针基座延伸的多个定位柱，而该探针基座具有分别对应该些定位柱的多个定位孔，当该承载件移动至 一测试位置时，该些定位柱分别穿入该些定位孔。
前述的测试装置，其中所述的探针，其中每一探针的第一部分的连接端呈配合该些锥形贯孔的渐缩状。
前述的测试装置，其中所述的承载件的该第 一表面具有一第 一容置槽，以容置该待测板。
前述的测试装置，其中所述的第一容置槽的底部具有多个贯孔，而该些探针的第二部分分别穿过该些贯孔而分别接触该测试板的该些测试接点。
前述的测试装置，其中所述的承栽件的该第二表面具有一第二容置槽，以在该承载件移动至一测试位置时，容置该固定板。
前述的测试装置，其中所述的固定板通过一锁固件而锁固于该探针基座。
前述的测试装置，其中所述的锁固件为一螺丝，该探针基座具有一第一锁固孔，该固定板具有一第二锁固孔，而该锁固件穿过该第二锁固孔而锁固于该第 一锁固孔内，且该第二锁固孔容置该螺丝的一螺头端。
前述的测试装置，其更包括一测试模块，电性连接至每一探针的第一部分的底部。
本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本实用新型提供了一种测试装置，其适于测试一待测板，且待测板具有多个测试接点。此测试装置包括探针基座、多个探针组及固定板。各探针组包括探针与固定于探针基座的探针套，其中探针具有一第一部分与一第二部分，第一部分的直径大于该第二部分的直径，且第一部分是容置于探针套中。第一部分一端具有一连接端，以与第二部分结合，并使第二部分可于第一部分内伸缩。固定板配置于探针基座上，且具有分别对应探针组的多个锥形贯孔。各锥形贯孔具有相对的开口端与缩口端，而开口端为邻近探针基座。该探针的第二部分是穿过锥形贯孔的缩口端，且第一部分的连接端为抵靠于锥形贯孔的孔壁，而探针的第二部分则可分别接触一测试板上的测试接点。
在本实用新型的一实施例中，上述的每一探针的第一部分的连接端呈配合锥形贯孔的渐缩状。
在本实用新型的一实施例中，上述的测试板被置于一承载件上。
在本实用新型的一实施例中，上述的承载件的第一表面具有一第一容置槽，以容置待测板。在本实用新型的一实施例中，上述的第一容置槽的底部具有多个贯孔，而探针是分别穿过贯孔而分别接触测试板的测试接点。
在本实用新型的 一 实施例中，上述的承载件的第二表面具有 一 第二容置槽，以于承载件移动至测试位置时，容置固定板。
在本实用新型的一实施例中，上述的固定板是通过一锁固件而锁固于探针基座。在本实用新型的一实施例中，上述的锁固件为一螺丝，探针基座具有一第一锁固孔，固定板具有一第二锁固孔，而锁固件是穿过第二锁固孔而锁固于第 一锁固孔内，且第二锁固孔容置螺丝的 一螺头端。
在本实用新型的一实施例中，上述的测试装置更包括一测试模块，电
性连接每一探针的第 一部分的底部。
借由上述技术方案，本实用新型测试装置至少具有下列优点及有益效果,.
在本实用新型中，由于固定板的锥形贯孔可使探针的第 一部分的连接端抵靠于锥形贯孔的孔壁，所以即使探针因黏性物质过多而黏附于待测板，探针仍会受到锥形贯孔的限制而不会随着待测板移动，所以本实用新型的测试装置能防止探针从探针套脱离。如此，可减少维护本实用新型的测试装置的时间，进而提升测试效率。
综上所述，本实用新型一种测试装置，包括探针基座、多个探针组及固定板。各探针组包括探针与固定于探针基座的探针套，探针容置于探针套中。探针具有第一部分与第二部分，且第一部分一端具有一连接端，以与第二部分结合，并使第二部分可于第一部分内伸缩。固定板配置于探针基座上，且具有分别对应探针组的多个锥形贯孔。各锥形贯孔具有相对的开口端与缩口端，开口端邻近探针基座。探针的第二部分穿过锥形贯孔的缩口端，第一部分的连接端抵靠锥形贯孔的孔壁，探针的第二部分分别接触测试板的测试接点。当测试板移开，探针可利用锥形贯孔的限制，而不致脱离弹起。本实用新型具有上述诸多优点及实用价值，其不论在产品结构或功能上皆有较大改进，在技术上有显著的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的测试装置具有增进的突出功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图l是现有习知的一种测试装置的示意图。
图2是图1的测试装置进行测试时的剖面示意图。
图3是本实用新型一较佳实施例的一种测试装置的分解立体图。
图4是图3的测试装置进行测试时的剖面示意图。
50、 60:待测板 52、 62:测试接点
100、 200:测试装置 110、 210:探针基座112、 133、 216、 231:贯孔
120、 220:探针组
124、 224:探针套
132:容置槽
214:第一锁固孔
222a:第一部分
225
底端
233:第一容置槽235:第二容置槽242:锥形贯孔242b:缩口端244:第二锁固孔252:螺头端
114、 212:疋位孔122、 222:探针130、 230:承载件134、 236:定位柱221:连接端222b:第二部分232234240:
242a:开口端242c:孔壁250:锁固件Dl、 D2:方向
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，
以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的测试装置其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。
有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图一式口的较佳，施例的详细说明中将可清，呈现。通过具体实施，式的说
深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本实用新型加以限制。
请参阅图3与图4,图3是本实用新型一较佳实施例的一种测试装置的分解立体图，而图4是图3的测试装置进行测试时的剖面示意图。本实施例的测试装置200适于测试一待测板60，且待测板60具有多个测试接点62。此测试装置200包括一探针基座210、多个探针组220以及一固定板240。每一探针组220包括一探针222与一探针套224,该探针套224固定于探针基座210,而探针222是容置于探针套224中。该探针222具有一第一部分222a与一第二部分222b，第一部分222a的直径大于第二部分222b的直径，且在该第一部分222a的一端具有一连接端221,该连接端221与第二部分222b结合，并使第二部分222b可在第一部分222a内弹性伸缩(本部分属现有习知的探针结构，故在此不予赘述)。该第二部分222b的顶端可露出于该探针套224外，固定板240是配置于探针基座210上，且固定板240具有分别对应4冢针组220的多个锥形贯孔242。每一锥形贯孔242具有相对的一开口端242a与一缩口端242b，且开口端242a邻近纟笨针基座210。
面面
表表板
一 二定
第第固探针222的第二部分222b分别穿过锥形贯孔242,以露出于锥形贯孔242，而第一部分222a及其连接端221则受到缩口端242b的限制无法穿越锥形贯孔242，如此可使连接端221分别抵靠于锥形贯孔242的孔壁242c。
本实施例在实施时，该待测板60可用一承载件230来承载，该承栽件230具有相对的一第一表面232与一第二表面234，第一表面232适于承载该待测板60，而第二表面234面向探针基座210。承载件230适于沿一预定路径移动至该测试装置上方的测试位置，以使探针222的第二部分222b分别接触该测试板60的测试接点62。具体而言，承栽件230适于沿着图3的方向D2移动，以接近探针基座210,而承载件230在图4中的位置即上述的测试位置。
在本实施例中，承载件230更具有朝4采针基座210延伸的多个定位柱236，而探针基座210具有分别对应定位柱236的多个定位孔212。当承载件230移动至测试位置时，定位柱236是分别穿入定位孔212。此外，承载件230的第一表面232具有一第一容置槽233,以容置待测板60。第一容置槽233的底部具有多个贯孔231，且这些贯孔231是分别对应待测板60的测试接点62。当承载件230移动至测试位置时，探针222的第二部分222b是分别穿过这些贯孔231以与该测试接点62接触。承栽件230的第二表面234具有一第二容置槽235，以在承载件230移动至测试位置时，容置固定板240。
固定板240例如是通过一锁固件250而锁固于探针基座210。更详细地说，锁固件250例如为一螺丝，探针基座210具有一第一锁固孔214，固定板M0具有一第二锁固孔244，而锁固件250是穿过第二锁固孔244而锁固于第一锁固孔214内，且第二锁固孔244容置锁固件250的一螺头端252。此外，探针基座210更具有多个贯孔216，而该探针套224为穿过该贯孔216并固定于贯孔216中，探针222并置于该探针套224中。
在本实施例中，当承载件230移动至测试位置时，待测板60的测试接点62会抵压对应的探针222的第二部分222b，而由于该第二部分222b是可伸缩于第一部分222a内，所以当待测板60的测试接点62抵压探针222的第二部分222b时，第二部分222b会稍微缩入第一部分222a内，如此可避免探针222弯曲变形。此外，探针222的第一部分222a的底端225例如是电性连接至测试模块(图未示)，以使测试模块能通过探针222对待测板60进行测试。
虽然待测板60上残留的黏性物质(如松香)容易黏附于探针222或是容置槽233上，导致探针222因黏性物质而黏附于待测板60，但本实施例的测试装置200具有固定板240，且固定板240的锥形贯孔242可使探针222第一部分222a的连接端221受到该锥形贯孔242孔壁242c的抵挡限制。当取下#*讨反60时，固定板240的锥形贯孔242能固定住探针222的位置，以 防止探针222脱离探针套224。换言之，即使探针222黏附于待测板60，当 取下待测板60时，待测板60仍会与黏附于待测板60上的探针222分离。 因此，本实施例的测试装置200能防止探针222自探针套224中脱离，如 此可减少维护测试装置200的时间，进而提升测试效率。
承上述，在本实施例中，每一探针222的第一部分222a的连接端221 例如是呈配合锥形贯孔242的渐缩状，以使探针222的第一部分222a的连 接端221紧密接触锥形贯孔242的孔壁242c，而不易晃动。如此，可防止 探针222与锥形贯孔242的间产生摩擦而导致探针222损坏，或是导致锥 形贯孔242的缩口端242b的孔径变大而造成相邻两探针222接触而产生短 路的现象。
综上所述，虽然探针会因黏性物质过多而l占附于待测板，但由于本实 用新型的测试装置具有固定板，且固定板的锥形贯孔可使探针抵靠于锥形 贯孔的孔壁，以防止探针随着待测板移动而脱离探针套。因此，本实用新 型的测试装置可节省维护时间，进而提升测试效率。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任 何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以 限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方 案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化 的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型 的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属 于本实用新型技术方案的范围内。
权利要求1. 一种测试装置，适于测试一待测板，且该待测板具有多个测试接点，其特征在于其包括一探针基座；多个探针组，每一探针组包括一探针与一探针套，该探针套固定于该探针基座，该探针具有一第一部分与一第二部分，该第一部分容置于该探针套中，且该第一部分的直径大于该第二部分的直径，该第一部分的一端并具有与该第二部分结合的连接端，而该第二部分可在该第一部分中伸缩；以及一固定板，配置于该探针基座上，该固定板具有分别对应该些探针组的多个锥形贯孔，每一锥形贯孔具有相对的一开口端与一缩口端，且该开口端邻近该探针基座，该些探针的该些第二部分分别穿过该些锥形贯孔，并与该待测板的该些测试接点接触，而该些探针的第一部分的连接端分别抵靠于该些锥形贯孔的孔壁。
2. 根据权利要求1所述的测试装置，^4衫正在于其更包括一承载件，该承载件具有相对的一第一表面与一第二表面，其中，该第一表面适于承载该待测板，而该第二表面则面向该探针基座。
3. 根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于其中所述的承载件更具有朝该探针基座延伸的多个定位柱，而该探针基座具有分别对应该些定位柱的多个定位孔，当该承载件移动至一测试位置时，该些定位柱分别穿入该些定位孔。
4. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的探针，其中每一探针的第一部分的连接端呈配合该些锥形贯孔的渐缩状。
5. 根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于其中所述的承载件的该第一表面具有一第一容置槽，以容置该待测板。
6. 根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于其中所述的第一容置槽的底部具有多个贯孔，而该些探针的第二部分分别穿过该些贯孔而分别接触该测试板的该些测试接点。
7. 根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于其中所述的承载件的该第二表面具有一第二容置槽，以在该承载件移动至一测试位置时，容置该固定板。
8. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的固定板通过一锁固件而锁固于该4笨针基座。
9. 根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于其中所述的锁固件为一螺丝，该探针基座具有一第一锁固孔，该固定板具有一第二锁固孔，而该锁固件穿过该第二锁固孔而锁固于该第 一锁固孔内，且该第二锁固孔容置该螺丝的一螺头端。
10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其更包括一测试模块，电性连接至每一探针的第一部分的底部。
专利摘要本实用新型是有关于一种测试装置，包括探针基座、多个探针组及固定板。各探针组包括探针与固定于探针基座的探针套，探针容置于探针套中。探针具有第一部分与第二部分，且第一部分一端具有一连接端，以与第二部分结合，并使第二部分可在第一部分内伸缩。固定板配置于探针基座上，且具有分别对应探针组的多个锥形贯孔。各锥形贯孔具有相对的开口端与缩口端，开口端邻近探针基座。探针的第二部分穿过锥形贯孔的缩口端，第一部分的连接端抵靠锥形贯孔的孔壁，探针的第二部分分别接触测试板的测试接点。当测试板移开，探针可利用锥形贯孔的限制，而不致脱离弹起。
文档编号G01R31/00GK201266222SQ20082014031
公开日2009年7月1日 申请日期2008年10月10日 优先权日2008年10月10日
发明者蔡竹青, 钱顺荣 申请人:环隆电气股份有限公司