专利名称：一种三坐标测量仪的辅助支架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种三坐标测量仪，尤其涉及一种三坐标测量仪辅助支架。
背景技术：
一些产品有形位公差的要求，而这些形位公差一般都建立在一些基准之上，
在产品前期开发阶段没有检具来验证产品是否合格的情况下，通常选择CMM (三坐标)来测量产品是否合格，而采用CMM测量，则需要制造支架来辅助 测量，这里的三坐标测量仪辅助支架适合用于有两个或两个以上嵌件，形位公 差又建立在以嵌件位置度为基准的相关塑胶产品测量，塑胶产品必定存在嵌件 位置度偏差，产品出模后会有一个自然收縮的过程，为了将产品能够顺利安装 上辅助支架，必须避开产品嵌件的位置度偏差，当前，会选择将嵌件的位置度 偏差体现在辅助支架装配轴上，此时以嵌件位置度为基准的产品其他形位公差 测量就会因为基准装配间隙过大导致测量不准确，无法正确判断产品是否合格。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术中的不足，提供了一种结构简单，让测量更准确 的三坐标测量仪辅助支架。
为了解决上述技术问题，本实用新型通过下述技术方案得以解决 一种三坐标测量仪的辅助支架，包含底板，第一装配轴、第二装配轴，第 一固定块，第二固定块，所述底板上分别设置有第一固定块、第二固定块，所 述第一固定块，第二固定块上分别设置有第一装配轴、第二装配轴，其要点是，所述第二装配轴固定端与第二固定块配合孔之间有间隙，由于采用了装配轴可 相对移动的技术方案，嵌件位置度合格的产品便能顺利装上装配轴，由于装配 轴与嵌件内孔配合部分直径按照嵌件内孔理论最小值加工，换句话说，此技术 方案充分考虑了嵌件的位置度，又减小了装配轴与嵌件内孔之间的装配间隙， 使以嵌件位置度为基准的产品其他形位公差测量更准确，数据更可靠。
上述技术方案中，所述间隙为0.3mm。
有益效果本实用新型与现有技术相比，具有如下有益效果
1) 本实用新型采用一个装配轴固定，另一个装配轴可相对移动的技术方案， 嵌件位置度合格的产品便能顺利装上装配轴，待测产品安装后，由于装配轴与 嵌件内孔配合部分直径按嵌件内孔理论最小值加工，换句话说，此技术方案充 分考虑了嵌件的位置度偏差，又减小了装配轴与嵌件内孔之间的装配间隙，使 以嵌件位置度为基准的产品其他形位公差测量更准确，数据更可靠。
2) 本实用新型还可用于产品上嵌件的位置度与嵌件内孔尺寸的快速检验，
简单准确。
图1三坐标测量仪的辅助支架的主视图
图2为图1中的A-A向视图 图3为图1中的B-B向视图
图4为三坐标测量仪的辅助支架的立体图具体实施方式
以下结合附图与具体实施方式
对本实用新型作进一步详细描述 见图1 图4，所述三坐标测量仪的辅助支架主要由底架l，装配轴、固定 块等构成。
所述底板1上分别设置有第二固定块5，第一固定块3，所述第二固定块5 上设置有第二装配轴4，所述第一固定块3上设置有第一装配轴2。所述第二装 配轴4与第二固定块5之间有间隙，第二装配轴4固定端在第二固定块5配合 孔内可相对移动，便于待测产品的安装，这样一来，第一装配轴2，第二装配轴 4的轴直径就可按嵌件内孔最小理论尺寸加工，减小了基准装配的间隙误差。
优选的，所述第二装配轴4固定端与第二固定块5配合孔之间存在的间隙 便是图纸要求产品嵌件位置度偏差的最大值，待测产品能否安装上三坐标测量 仪辅助测量支架，即可判断产品上嵌件位置度是否合格。合格后，再进行以嵌 件位置度为基准的产品其他形位公差测量。
由于采用了装配轴可相对移动的技术方案，能方便的对嵌件位置度合格的 产品进行测量，由于装配轴与嵌件内孔配合部分直径按嵌件内孔理论最小值加 工，换句话说，此技术方案充分考虑了嵌件的位置度偏差，又减小了装配轴与 嵌件内孔之间的装配间隙，使以嵌件位置度为基准的产品其他形位公差测量更 准确，数据更可靠。
现以实际数据来说明
现有技术中待测产品两嵌件的位置度为00.15，嵌件内孔为07士0.05， 那么第一装配轴2、第二装配轴4嵌件内孔配合部分直径会选择做成06.8 (不 考虑制造公差)，计算公式如下(7_0.05) _0.15=6.8，如果装配轴与嵌件内 孔配合部分直径不做成06.8，会导致产品在三坐标辅助测量支架上很难装配，但要是装配轴与嵌件内孔配合部分直径做成了 06.8，同样会因为嵌件内孔与装 配轴之间装配间隙过大，导致以产品嵌件位置度为基准的产品其他形位公差测 量数据不可靠。
本实用新型第一装配轴2，第二装配轴4轴直径按产品上嵌件内孔理论最
小值加工，做成06.95 (07—0.05=06.95)，将图纸要求产品上嵌件位置度偏 差的最大值全部体现到第二装配轴4的固定端上，第一装配轴2与第一固定块3 正常配合。比如第二装配轴4固定端轴直径做成0 6，第二固定块5与第二装配 轴4固定端的配合孔直径就要做成06.3， (06.3 — 06.0=00.3，产品上两嵌件 的位置度叠加0 0.15+ 0 0.15= 0 0.3)，使第二装配轴4固定端可以在第二固定 块5配合孔内进行上下左右四个方向上的移动，既考虑了产品上嵌件位置度存 在的偏差，又减小了嵌件内孔与装配轴之间的装配间隙，使以嵌件位置度为基 准的产品其他形位公差测量数据更可靠。
虽然本实用新型已经通过优选实施例进行了描述，然而本实用新型并非局 限于这里所描述的实施例，在不脱离本实用新型范围的情况下还包括所作出的 各种改变以及变化。
权利要求1、一种三坐标测量仪的辅助支架，包含底板(1)，第一装配轴(2)、第二装配轴(4)，第一固定块(3)，第二固定块(5)，所述底板(1)上分别设置有第一固定块(3)、第二固定块(5)，所述第一固定块(3)，第二固定块(5)上分别设置有第一装配轴(2)、第二装配轴(4)，其特征在于，所述第二装配轴(4)固定端与第二固定块(5)配合孔之间有间隙(6)。
2、 如权利要求1所述的三坐标测量仪的辅助支架，其特征在于，所述间隙 (6)为0.3mm。
专利摘要本实用新型公开了一种三坐标测量仪辅助支架，其结构包含底板，第一装配轴、第二装配轴，第一固定块，第二固定块，所述底板上分别设置有第一固定块、第二固定块，所述第一固定块，第二固定块上分别设置有第一装配轴、第二装配轴，其要点是，所述第二装配轴固定端与第二固定块配合孔之间有间隙，由于采用了装配轴可相对移动的技术方案，嵌件位置度合格的产品便能顺利装上装配轴，由于装配轴与嵌件内孔配合部分直径按照嵌件内孔理论最小值加工，换句话说，此技术方案充分考虑了嵌件的位置度，又减小了装配轴与嵌件内孔之间的装配间隙，使以嵌件位置度为基准的产品其他形位公差测量更准确，测量数据更可靠。
文档编号G01B5/008GK201259408SQ20082016347
公开日2009年6月17日 申请日期2008年9月1日 优先权日2008年9月1日
发明者国 沈 申请人:宁波均胜汽车电子股份有限公司