专利名称：一种测厚仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子仪器，特别是一种用于测量厚度的仪器。
背景技术：
目前，测量板材等大面积物体的厚度， 一般是用卡尺在边沿测量，而物体的中心厚度由于卡尺无法够到而不能测量，无法识别板材厚度是否均匀。另外， 一些制成品由于形状限制，比如拉深的容器，其壁厚、底部厚度无法用卡尺测量。发明内容
本实用新型目的在于提供一种不需要卡脚接触，用感应方法测量厚度的仪器，以解决上述物体厚度测量的问题。
本实用新型的方案是 一种测厚仪，包括探头、测量电路、以及一个参照铁板，其特征是，探头的结构是在一个非铁磁性材料制作的基座上安装有应变传感器，应变传感器和基座的底面平行，应变传感器一端固定在基座的底脚上，悬空的另一端上方装有磁铁，磁铁的两极上下朝向，磁铁垂直于应变传感器；在基座底脚的下方有一参照铁
板，该铁板用于在测量时将被测物体压夹在参照铁板和基座底脚的底
面之间；应变传感器和测量电路电连接。
在基座上还装有气泡水平仪，水平仪的基准面与和基座的底面平行。本实用新型的优点是采用磁铁和参照铁板夹在被测物体的两 边，物体厚度的大小，影响磁铁和参照铁板的间距大小，进而影响磁 铁和参照铁板间吸力的大小，由于磁铁固定在应变传感器上，吸力大 小由应变传感器转化为电信号，通过测量电路处理，最终反映出物体 厚度的大小。由于不需要类似卡尺的卡脚接触测量，可放置在任意位 置，不受物体面积、形状限制，因而可实现大面积物体、复杂形状物 体壁厚的测量。
另外，用于铁制品表面涂层厚度测量时，只要将本装置的探头放 置在被测物体表面，由于制品的胎体为铁材料，其表面涂层的厚度大 小同样影响磁铁和胎体间吸力的大小，从而可以测量出铁制品表面涂 层的厚度。
下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步说明。 附图是本实用新型的结构示意图。
图中标记l磁铁，2应变传感器，3基座，4参照铁板，5被测 物体，6引线，7气泡水平仪。
具体实施方式
实施例包括探头、参照铁板、测量电路三部分，探头的结构参见
附图，它的结构是在一个非铁磁性材料如铜、铝等金属制作的基座
3上安装有应变传感器2，应变传感器2的走向和基座3的底面平行， 应变传感器2—端固定在基座3的底脚上，另一端悬空，上方装有磁 铁l，磁铁l的两极为上下朝向，磁铁1垂直于应变传感器2，同样也垂直于基座3的底面。
在基座3的上表面还装有气泡水平仪7，水平仪的基准面与和基
座的底面平行，用于测量时调节水平。
应变传感器2和测量电路电连接，测量电路采用电子称中的测量电路，只是显示部分的参数进行适当的调整，以用于显示厚度，该电路为成熟技术。
参照铁板4放置在基座3的底脚的下方。
测量非铁磁性材料的厚度时，参照铁板4放在被测物体的下面，探头放在被测物体5的上面，使之位于参照铁板4的正上方，此时参照铁板4和基座底脚将被测物体5紧密压夹在中间。
调节被测物体5使其放置水平，以消除磁铁和应变传感器自身重力变化对测量的影响。
被测物体5厚度的越大，磁铁1和参照铁板4的间距也越大，它们之间吸力的越小；如果被测物体5厚度的越小，磁铁l和参照铁板4的间距也越小，它们之间吸力的越大。
上述吸力大小由应变传感器2转化为电信号，通过测量电路处理，最终反映出物体厚度的大小。
随着磁铁和参照铁板的间距变化，磁铁的吸力变化是呈指数变化的，因而应变传感器输出的信号的变化是非线性的，所以测量电路需要设置为适合指数变化的参数，这种设置为成熟技术，具体原理不再叙述。
另外，用于铁制品表面涂层厚度测量时，只要将本装置的探头放置在被测物体表面，由于制品的胎体为铁材料，其表面涂层的厚度大 小同样影响磁铁和胎体间吸力的大小，根据上述原理，可以测量出铁 制品表面涂层的厚度。
权利要求1. 一种测厚仪，包括探头、测量电路、以及一个参照铁板，其特征是探头的结构是在一个非铁磁性材料制作的基座(3)上安装有应变传感器(2)，应变传感器(2)和基座的底面平行，应变传感器(2)一端固定在基座(3)的底脚上，悬空的另一端上方装有磁铁(1)，磁铁(1)的两极上下朝向，磁铁(1)垂直于应变传感器(2)；在基座底脚的下方有一参照铁板(4)，该铁板用于在测量时将被测物体(5)压夹在参照铁板(4)和基座(3)底脚的底面之间；应变传感器(2)和测量电路电连接。
2. 如权利要求1所述的测厚仪，其特征是在基座(3)上还装有气泡水平仪(7)，水平仪的基准面与和基座的底面平行。
专利摘要本实用新型是一种测厚仪，包括探头、测量电路、以及一个参照铁板，探头是在一个非铁磁性材料制作的基座上安装有应变传感器，应变传感器上装有磁铁，参照铁板在基座底脚的下方，用于在测量时将被测物体压夹在铁板和基座底脚的底面之间，应变传感器和测量电路电连接。物体厚度的大小，影响影响磁铁和参照铁板间吸力的大小，通过应变传感器和测量电路，最终反映出物体厚度的大小。本装置还可用于铁制品表面涂层厚度测量。由于不需要类似卡尺的卡脚接触测量，可放置在任意位置，不受物体面积、形状限制，因而可实现大面积物体、复杂形状物体壁厚的测量。
文档编号G01B7/02GK201297923SQ20082016854
公开日2009年8月26日 申请日期2008年12月1日 优先权日2008年12月1日
发明者洋 王 申请人:洋 王