专利名称：快拆式探针测试装置的制作方法
技术领域：
快拆式探针测试装置
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种能够快速更换探针或部分组件的快拆式探针测试装置。
背景技术：
参阅图i， 一般测试探针n是设置于一片基板io，并能够将该测试探
针11电连接一个第一接点12，及一个第二接点14，以进行电性检测；该
测试探针11是以导电材料所制成，并包括容置于该探针孔13的一个上接触件lll、 一个下接触件112，及一个能够压縮形变地设置于该上、下接触件lll、 112间的弹簧113，其中，该上、下接触件lll、 112分别具有一上接触部114，及一下接触部115，该上、下接触部114、 115能够分别与该第一、二接点12、 14触接。
在测试时，借由该上、下接触部114、 115分别与该第一、二接点12、14接触而使该测试探针11产生电导通，进而将测试讯号传递至一分析仪器(图未示)以进行讯号分析。
不过，随着测试次数的增加，该上、下接触部114、 115与该第一、二接点12、 14之间长时间的相互刮磨，导致该上、下接触部114、 115容易磨损或沾染污垢，进而使得测试讯号不良，严重者更会发生无法导通的现象，此时就必须清理或适时更换该上、下接触件lll、 112。
由于该下接触件112是卡设于该上接触件111中，因此无法单独更换该下接触件112或上接触件111，而必须将该测试探针11整组替换，如此一来不只增加更换探针的复杂性而使得维修成本提高，更导致测试作业因替换测试探针ll而延迟，在分秒必争的生产线上，延长维修作业的时间，对生产业者而言是相当严重的情况，非但不符合经济效益，更要承担无法如期出货的风险。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种能够提高汰换探针的作业效率，并降低汰换探针成本的快拆式探针测试装置。
为达到上述目的，本实用新型快拆式探针测试装置，包含一个测试组合体，及一个第一快拆单元。
该测试组合体包括一个本体，及多个间隔设置地容置于该本体中的探针组；该第一快拆单元包括一片能够分离地与该测试组合体的本体组合在一起的第一盖板，及多个设置于该第一盖板的第一替换件，所述第一替换件分别与所述探针组能够分离地连接在一起。
本实用新型的功效在于，借由该第一快拆单元的第一盖板能够与该测试组合体的本体组合或分离，当令该第一盖板与本体分离的同时，将设置于该第一盖板的所述第一替换件一并自相对应连接的所述探针组上分离，进而更换另一批第一替换件，不只克服更换所述探针组的不方便性，更提高维修汰换的作业效率。
图l是一局部侧视剖面图，说明一般测试探针的态样；图2是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第一较佳实施例；
图3是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第二较佳实施例；
图4是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第三较佳实施例；
图5是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第四较佳实施例；
图6是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第五较佳实施例；
图7是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第六较佳实施例；
图8是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第七较佳实施例。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明
在本实用新型被详细描述之前，要注意的是，在以下的说明中，类似的元件是以相同的编号来表示。
参阅图2，为本实用新型快拆式探针测试装置2的第一较佳实施例，该快拆式探针测试装置2包含一个测试组合体3、 一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5，且该快拆式探针测试装置2能够分别与多个上测试点61及多个下测试点62接触在一起。
该测试组合体3包括一个本体31,及多个间隔设置地容置于该本体31中的探针组32，其中，每一个探针组32具有一个设置在该本体31内的弹性件321，在本实施例中，所述弹性件321为弹簧，且该本体31的材质是
以橡胶所制成，不过，也能够采用其他弹性胶质材料，并不受本实施例揭露者所局限，而为了便于制造，能够先将所述弹性件321置放于一个模具(图未示)中，再将橡胶灌注入该模具中，并凝固成形为该本体31，借此，能够免除对于所述弹性件321的容置空间逐一开设孔槽的作业，由于此部份并非本实用新型的重点所在，所以不多加赘述。
该第一快拆单元4包括一片能够分离地与该测试组合体3的本体31组合在一起的第一盖板41，及多个设置于该第一盖板41的第一替换件42。
该第一盖板41具有多个自端面形成且间隔设置的第一小孔径部411、多个自相反另一端面形成且间隔设置并对应连接所述第一小孔径部411的第一大孔径部412，及多个界定于相对应的第一大孔径部412与第一小孔径部411之间的第一肩部413，其中，该第一小孔径部411与该第一大孔径部412具有相同的圆心且该第一小孔径部411的直径是小于该第一大孔径部412。
每一个第一替换件42是设置于相对应的第一大孔径部412与第一小孔径部411中，且该第一替换件42具有一个能够对应靠抵于第一肩部413上的第一靠抵部421、 一个自该第一靠抵部421顶端延伸进入该第一小孔径部411的第一接触部422，及一个形成于该第一靠抵部421底端中心的地方的
7移动孔423，其中，该第一靠抵部421是顶抵于相对应的探针组32上，且该第一靠抵部421的第一接触部422是用来与所对应的上测试点61接触。
该第二快拆单元5具有一片能够分离地与该测试组合体3的本体31组合在一起的第二盖板51，及多个设置于该第二盖板51上的第二替换件52，所述第二替换件52分别与所述探针组32能够分离地连接在一起。
该第二盖板51具有多个自端面形成且间隔设置的第二小孔径部511、多个自相反另一端面形成且间隔设置并对应连接所述第二小孔径部511的第二大孔径部512，及多个界定于相对应的第二大孔径部512与第二小孔径部511之间的第二肩部513。其中，该第二小孔径部511与该第二大孔径部512具有相同的圆心，且该第二小孔径部511的直径小于该第二大孔径部512的直径。
每一个第二替换件52是设置于相对应的第二大孔径部512与第二小孔径部511中，且该第二替换件52具有一个能够对应靠抵于第二肩部513的第二靠抵部521、 一个自该第二靠抵部521延伸入该第二小孔径部511的第二接触部522，及一个自该第二靠抵部521延伸入相对应探针组32的弹性件321的第二伸入部523，该第二伸入部523是通过该弹性件321并穿伸入该移动孔423中。
当该快拆式探针测试装置2与所述上、下测试点61、 62压触在一起时，借由该第一、二替换件42、 52相互接近而使该第二伸入部523伸入该移动孔423而顶触该第一靠抵部421，该第二靠抵部521顶抵于所相对应的弹性件321，以使该第一、二替换件42、 52形成电导通，测试讯号能够经由该快拆式探针测试装置2的第一、二替换件42、 52传递。
在此值得一提的是，该第一接触部422与第二接触部522的态样并非局限图示中所绘，举凡平头式、尖头式或其他形式皆可，需视其测试点的态样而能有所改变。
依据上述的结构说明，当使用该快拆式探针测试装置2进行测试时，是将所述上、下测试点61、 62分别置于该快拆式探针测试装置2的上下两侧，当该上测试点61接触到该第一替换件42的第一接触部422时，就会将该第一接触部422向下推移，而使该第一靠抵部421同时往该本体31方向推入，并造成该弹性件321与该橡胶制成的本体31产生压缩形变，此外，该下测试点62接触到该第二替换件52的第二接触部522，也会将该第二接触部522向上推移，而使该第二靠抵部521同时往该本体31方向推入，并造成该弹性件321与该橡胶制成的本体31产生压縮形变，测试讯号能够沿该上测试点61、该第一替换件42、该第二替换件52及该下测试点62形成电通路，并供该测试讯号传递。
由于所述第一、二替换件42、 52在测试过程中，频繁地与所述上、下测试点61、 62接触而容易使该第一、二接触部422、 522产生磨损或污塘，当导致讯号传递不良，而须更换探针时，就能够借由该第一、二快拆单元4、5的第一、二盖板41、 51与该测试组合体3分离的同时，将设置于该第一、二盖板41、 51上的所述第一、二替换件42、 52分离，进而替换另一批新的第一、二替换件42、 52零组件，在更换的作业中，不只免去如一般需要将整组探针汰换而造成部份未损坏的元件的浪费，而且能够选择受损的第一、二替换件42、 52进行替换就可，避免以往因单一组探针损坏就必需汰换整个测试介面而造成维修作业时间的延长，克服更换探针组的不方便性，也提高维修汰换的作业效率。
此外，该第一较佳实施例是以上下的第一、二快拆单元4、 5皆能够快速拆换为例来作说明，但实际应用时，也能够是只有第一、二快拆单元4、5的其中之一，例如只有第一盖板41能够以拆换的情况，本例中只是以上、下的第一、二快拆单元4、 5皆能够快速拆换的实施态样来作说明，不应局限于以上所述。
参阅图3，本实用新型快拆式探针测试装置2的第二较佳实施例，该第二较佳实施例大致上是与该第一较佳实施例相同，皆包含一个测试组合体3、 一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5。
不相同的地方在于，该第一快拆单元4更包括一片连接该第一盖板41的第一连接板43，且该第一连接板43能够与该测试组合体3的本体31组合在一起，该第一连接板43是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第一大孔径部412对应连接的第一通道部431，及多个对应设于所述第一通道部431的第一突桓432。
而该第二快拆单元5则更包括一连接该第二盖板51的第二连接板53，且该第二连接板53能够与该测试组合体3的本体31组合在一起，该第二连接板53同样是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第二大孔径部512对应连接的第二通道部531，及多个对应设置于所述第二通道部531的第二突桓532。
在此值得一提的是，于本较佳实施例中，由于所述第一、二替换件42、52是设置于相对应的孔径部与第一、二通道部431、 531中，并借由所述第一、二突桓432、 532将第一、二替换件42、 52限制于其中，能够使所述第一、二替换件42、 52随着该第一、二盖板41、 51与该本体31分离的同时而能够同步抽离，这意味着维修时，只要将该第一、二盖板41、 51与该第一、二连接板43、 53移走，就能够连带使得所述第一、二替换件42、 52同步移走，对于需要大面积地更换部品时，能够提高汰换所述第一、二替换件42、 52的作业效率。
参阅图4，为本实用新型快拆式探针测试装置2的第三较佳实施例，该
第三较佳实施大致上是与该第一较佳实施例相同，相同的地方在这里不再赘述，不相同的地方在于，该测试组合体3的本体31为硬质材料，所述探针组32是容置于该本体31中，每一个探针组32包括一根与该第一替换件42能够分离地连接在一起的上探针322、 一根与该第二替换件52能够分离地连接在一起的下探针323，及一个其两端分别顶抵该上探针322与下探针323的弹性件321。
其中，该下探针323是呈中空状的壳柱，该上探针322的底部能够活动地嵌设于该下探针323中，而顶部则突伸出该下探针323，该弹性件321同样位于该下探针323中并顶抵于该上探针322的底部。
借由该每一个探针组32的上、下探针322、 323分别与第一、二替换件42、 52能够分离地连接在一起，当所述第一、二替换件42、 52损毁时，借由直接替换所述第一、二替换件42、 52，避免产生汰换整个探针组32的困扰，所以，也能够达到前述提高维修汰换的作业效率，并提供使用者另一种不同的实施态样。
参阅图5，为本实用新型快拆式探针测试装置2的第四较佳实施例，该
第四较佳实施例大致上是与该第一较佳实施例相同，皆包含一个测试组合体3、 一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5。
不相同的地方在于，该本体31为硬质材料所制成，并具有一挡板311、分别组合于该挡板311上下两侧的一片上组合板312，及一片下组合板313。每一个探针组32包括一根容置于该上组合板312中且穿伸过该挡板311的上探针322、 一根容置于该下组合板313的下探针323、 一个其两端分别顶抵该上探针322与该挡板311的上弹性件324，及一个其两端分别顶抵该下探针323与该挡板311的下弹性件325，其中，该上探针322与该第一替换件42能够分离地连接在一起，该下探针323与该第二替换件52能够分离地连接在一起。
借由每一个探针组32的上、下弹性件324、 325的设计，使该上、下弹性件324、 325分别对该上、下探针322、 323产生不同的弹性回复力，不只能够减缓所述第一、二替换件42、 52与所对应的上、下测试点61、 62相互接触的压力，也能够达到前述提高维修汰换的作业效率，并提供使用者另一种不同的实施态样。
参阅图6，为本实用新型快拆式探针测试装置2的第五较佳实施例，该
第五较佳实施例大致上是与该第三较佳实施例相同，相同的地方于此不再赘述，不相同的地方在于，该第一盖板41的每一个大孔径部412上更凸设有二凸块414，以限制该第一替换件42所在位置。因此当该第一盖板41与该测试组合体3分离时，就能够连同所述第一替换件42同步与该测试组合体3分离，对于需要大面积地更换部品时，能够提高汰换所述第一替换件42的作业效率。
参阅图7，本实用新型快拆式探针测试装置2的第六较佳实施例，该第六较佳实施例大致上是与该第二较佳实施例相同，皆包含一个测试组合体3、 一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5。
不相同的地方在于，该第一替换件42更具有一个环设于该第一靠抵部421外的第一凸环部424，该第二替换件52更具有一个环设于该第二靠抵部521的第二凸环部524。
该第一连接板43更具有一个自该第一通道部431凹陷的第一缺口部433，该第二连接板53更具有一个自该第二通道部531凹陷的第二缺口部533，其中，该第一缺口部433能够供该第一凸环部424卡制，该第二缺口部533能够供该第二凸环部524卡制。
借由该第一缺口部433能够与该第一凸环部424卡制，该第二缺口部
ii533能够与该第二凸环部524卡制，而使该第一替换件42与第二替换件52能够随着第一、二连接板43、 53的拆移而进行更换，同样能够达到该第二较佳实施利提高维修汰换的作业效率，并提供使用者另一种不同的实施态样。
参阅图8，本实用新型快拆式探针测试装置2的第七较佳实施例，该第七较佳实施例大致上是与该第一较佳实施例相同，皆包含一个测试组合体3、 一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5。
不相同的地方在于，该第一替换件42的第一靠抵部421可伸入该本体31中，且该第一替换件42更具有一个环设于该第一靠抵部421外且与该本体31卡制的第一凸环部424,该第二替换件52的第二靠抵部521可伸入该本体31中，且该第二替换件52更具有一个环设于该第二靠抵部521外且与该本体31卡制的第二凸环部524。
借由该第一凸环部424与第二凸环部524能够与该本体31卡制，而使该第一替换件42与第二替换件52能够随着第一、二盖板41、 51的拆移而进行更换，同样能够达到该第一较佳实施利提高维修汰换的作业效率，并提供使用者另一种不同的实施态样。
归纳上述，本实用新型的快拆式探针测试装置2利用该第一、二快拆单元4、 5的第一、二盖板41、 51能够分别与该测试组合体3的本体31组合或分离，当令该第一、二盖板41、 51与本体31分离的同时，将设置于该第一、二盖板41、 51的所述第一、二替换件42、 52—并自相对应连接的所述探针组32上分离，进而更换另一批第一、二替换件42、 52，不只克服更换所述探针组32的不方便性，提高维修汰换的作业效率，更能够以降低维修的时间与成本，所以确实能达到本实用新型的目的。
权利要求1. 一种快拆式探针测试装置，包含一个测试组合体，及一个第一快拆单元，该测试组合体包括一个本体，及多个间隔设置地容置于该本体中的探针组，其特征在于该第一快拆单元包括一片能够分离地与该测试组合体的本体组合在一起的第一盖板，及多个设置于该第一盖板的第一替换件，所述第一替换件分别与所述探针组能够分离地连接在一起。
2. 如权利要求1所述的快拆式探针测试装置，其特征在于 该快拆式探针测试装置还包含一个第二快拆单元，该第二快拆单元 具有一片能够分离地与该测试组合体的本体组合在一起的第二盖 板，及多个设置于该第二盖板的第二替换件，所述第二替换件分别 与所述探针组能够分离地连接在一起。
3. 如权利要求2所述的快拆式探针测试装置，其特征在于-每一个探针组包括一根与该第一替换件能够分离地连接在一起的 上探针、 一根与该第二替换件能够分离地连接在一起并供该上探针 触接的下探针，及一个两端分别顶抵该上探针与下探针的弹性件， 且该下探针是呈中空状的壳柱，该上探针的底部能够活动地嵌设于 该下探针中，而顶部则突伸出该下探针，该弹性件同样位于该下探 针中并顶抵于该上探针的底部。
4. 如权利要求2所述的快拆式探针测试装置，其特征在于 该本体具有一片挡板、分别组合于该挡板上下两侧的一片上组合 板，及一片下组合板，每一个探针组包括一根容置于该上组合板中 且穿伸过该挡板的上探针、 一根容置于该下组合板的下探针、 一个 其两端分别顶抵该上探针与该挡板的上弹性件，及一个其两端分别 顶抵该下探针与该挡板的下弹性件，其中，该上探针与该第一替换 件能够分离地连接在一起，该下探针与该第二替换件能够分离地连 接在一起。
5. 如权利要求2所述的快拆式探针测试装置，其特征在于 该测试组合体的本体是由弹性胶质材料所制成，每一个探针组具有一设置在该本体内的弹性件，该弹性件两端分别能够顶抵相对应的 第一替换件与第二替换件。
6. 如权利要求5所述的快拆式探针测试装置，其特征在于 该第一盖板具有多个自端面形成且间隔设置的第一小孔径部、多个 自相反另一端面形成且间隔设置并对应连接所述第一小孔径部的 第一大孔径部，及多个界定于相对应的第一大孔径部与第一小孔径 部之间的第一肩部，其中，该第一大、小孔径部具有相同的圆心， 且该第一小孔径部的直径小于该第一大孔径部的直径，该第一替换 件具有一个能够靠抵该第一肩部的第一靠抵部，及一个自该第一靠 抵部延伸且伸入该第一小孔径部的第一接触部，而该第二盖板具有 多个自端面形成且间隔设置的第二小孔径部、多个自相反另一端面 形成且间隔设置并对应连接所述第二小孔径部的第二大孔径部，及 多个界定于相对应的第二大孔径部与第二小孔径部之间的第二肩 部，其中，该第二大、小孔径部具有相同的圆心，且该第二小孔径 部的直径小于该第二大孔径部的直径，且该第二替换件具有一能够 靠抵该第二肩部的第二靠抵部、一个自该第二靠抵部延伸且伸入该 第二小孔径部的第二接触部，及一个自该第二靠抵部延伸且伸入该 弹性件并能够顶触该第一靠抵部的第二伸入部。
7. 如权利要求6所述的快拆式探针测试装置，其特征在于 该第一替换件的第一靠抵部可伸入该本体中，且该第一替换件还 具有一个环设于该第一靠抵部外且与该本体卡制的第一凸环部， 该第二替换件的第二靠抵部可伸入该本体中，且该第二替换件还 具有一个环设于该第二靠抵部外且与该本体卡制的第二凸环部。
8. 如权利要求6所述的快拆式探针测试装置，其特征在于该第一快拆单元还包括一片连接该第一盖板且能够与该测试组合 体的本体组合在一起的第一连接板，该第一连接板是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第一大孔径部对应连接的第一通道 部，及多个对应设于所述第一通道部的第一突桓，该第二快拆单元 还包括一片连接该第二盖板且能够与该测试组合体的本体组合在 一起的第二连接板，该第二连接板是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第二大孔径部对应连接的第二通道部，及多个对应设于所述第二通道部的第二突桓。
9. 如权利要求6所述的快拆式探针测试装置，其特征在于该第一快拆单元还包括一片连接该第一盖板且能够与该测试组合体的本体组合在一起的第一连接板，该第一连接板是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第一大孔径部对应连接的第一通道部，及一个自该第一通道部凹陷的第一缺口部，该第一替换件还具有一个环设于该第一靠抵部外且卡制该第一缺口部的第一凸环部。
10. 如权利要求9所述的快拆式探针测试装置，其特征在于该第二快拆单元还包括一片连接该第二盖板且能够与该测试组合体的本体组合在一起的第二连接板，该第二连接板是由弹性胶质材料所制成，且形成有多个与所述第二大孔径部对应连接的第二通道部，及一个自该第二通道部凹陷的第二缺口部，该第二替换件还具有一个环设于该第二靠抵部外且卡制该第二缺口部的第二凸环部。
专利摘要一种快拆式探针测试装置，包含一个测试组合体，及一个第一快拆单元；该测试组合体包括一个本体，及多个间隔设置地容置于该本体中的探针组；该第一快拆单元包括一片能够分离地与该测试组合体的本体组合的第一盖板，及多个设置于该第一盖板的第一替换件，所述第一替换件分别与所述探针组能够分离地连接在一起，借由该第一盖板能够与该本体分离，使设置于该第一盖板的所述第一替换件能够一并自相对应连接的所述探针组上分离，进而更换另一批第一替换件，不只克服更换所述探针组的不方便性，更提高维修汰换的作业效率。
文档编号G01R31/00GK201285424SQ200820210018
公开日2009年8月5日 申请日期2008年10月23日 优先权日2008年10月23日
发明者吴俊杰 申请人:巧橡科技有限公司