专利名称：铜带厚度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种利用光学测量铜带厚度的装置，确切地说是一种用 于铜带压轧生产线上的铜带厚度测量仪。
技术背景铜带生产过程中，对于厚度的要求特别高，必须严格控制铜带的厚度， 规模小的企业都是用卡尺人工测量，铜带在压轧生产线上是在不停地运行， 手工测量就很困难，误差也大，质量无法保证，只能生产要求较低的产品； 规模较大的企业广泛采用接触式测厚仪进行测量，接触式的测量会对铜带表 面造成伤害，具有一定的破坏性。实用新型内容-本实用新型的目的在于提供一种测量方便、精确度高的非接触式铜带厚 度测量仪。为实现上述目的，本实用新型采取如下技术方案 一种铜带厚度测量仪， 包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器， 所述的二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作 为两个干涉仪的反射面，所述的低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干 涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传 光光纤、光电接收器至信号处理器。本实用新型进一步的技术方案是，所述的低相干度光源为宽带光源，干 涉仪为迈克尔逊干涉仪。通过上述技术方案可以看出，将被测铜带位于两个干涉仪之间，铜带的 两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面， 一个低相干度光源经第一组传 光光纤射至第一个干涉仪，第一个干涉仪输出的干涉光经第二组传光光纤作 为光源照射至第二干涉仪，第二个干涉仪输出的干涉光经第三组传光光纤被光电接收器接收，经信号处理器处理得出被测铜带的厚度。本实用新型与现有技术相比，具有的有益效果是，测量精度高、测量速度快，由于是非接触式测量，对铜带表面没有任何损伤，特别适合不透明且两面都有较强反射度的带材的厚度测量。
附图为本实用新型实施例的结构框图。
具体实施方式
本实用新型由低相干度光源、二个迈克尔逊干涉仪、三组传光光纤、光 电接收器和信号处理器组成，如附图所示，二个迈克尔逊干涉仪3、 5对称设 置于被测铜带的两侧，低相干度光源采用宽带光源，铜带9的两个对应表面 分别作为两个迈克尔逊干涉仪的反射面， 一个低相干度光源1通过透镜经第一组传光光纤2射至第一迈克尔逊干涉仪3中的光纤耦合器31上，第一迈克 尔逊干涉仪3还包括测量反射镜32和参考反射镜33,测量反射镜32就是铜 带9的一个表面，第一迈克尔逊干涉仪3输出的干涉光经第二组传光光纤4 作为光源照射至第二迈克尔逊千涉仪5中的光纤耦合器51上，第二迈克尔逊 干涉仪5还包括测量反射镜52和参考反射镜53，测量反射镜52是铜带9的 另一个表面，第二迈克尔逊干涉仪5输出的干涉光经第三组传光光纤6被光 电接收器7接收，经信号处理器8处理得出被测铜带的厚度。
权利要求1、铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，其特征在于二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器。
2、 根据权利要求1所述的铜带厚度测量仪，其特征在于所述的低相干 度光源为宽带光源，干涉仪为迈克尔逊干涉仪。
专利摘要本实用新型公开一种铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，所述的二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述的低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器；具有的有益效果是，测量精度高、测量速度快，由于是非接触式测量，对铜带表面没有任何损伤，特别适合不透明且两面都有较强反射度的带材的厚度测量。
文档编号G01B11/06GK201352109SQ20082022539
公开日2009年11月25日 申请日期2008年11月9日 优先权日2008年11月9日
发明者封全虎 申请人:芜湖众源金属带箔有限公司