专利名称：测试装置及其自动化测试方法
技术领域：
本发明有关于一种测试装置，且特别是有关于一种测试装置及其自动化测试方法。
背景技术：
显示卡等各种板卡生产维修过程中，经常需要将其放置在测试机台上，并运行这 些板卡以检测其是否能正常运作。 测试机台可设置一正常良好的主机板，以方便待测试板卡可以插设在主机板上， 待测试板卡插设在主机板后，便可运行主机板来测试板卡的性能。 目前技术中，通常是将板卡放入测试机台后，操作人员打开测试机台的电源开关，
按压测试机台的上电开关，将主机板开机。测试完成之后，操作人员需要将主机板关机，断
开测试机台的电源开关，再按压测试机台的放电开关，将测试机台内的电压释放。 以上的操作流程中，操作人员需要手动进行上电、开机、关机和放电的步骤，作业
步骤繁琐，作业时间长，影响产能。
发明内容
本发明提供一种测试装置及其自动化测试方法，能够解决上述问题。
本发明提供一种测试装置，用以测试一待测电路板。测试装置包括主机板、侦测单 元以及控制电路，侦测单元用以侦测待测电路板是否位于预设位置。若待测电路板位于预 设位置，侦测单元提供侦测信号。控制电路耦接侦测单元和主机板，且依据侦测信号延迟一 个预设时间来控制主机板开机，以测试待测电路板。 本发明较佳实施例中，测试装置还包括模式切换开关，其用以切换控制电路的工 作模式。 本发明另提供一种自动化测试方法，用以测试一待测电路板，待测电路板可耦接 主机板，自动化测试方法包括以下步骤侦测待测电路板是否位于预设位置；若待测电路 板位于预设位置，则提供侦测信号；以及依据侦测信号延迟一个预设时间来控制主机板开 机，以测试待测电路板。 本发明有益效果为通过侦测单元和控制电路的设置，检测到待测电路板位于预 设位置时，即自动对主机板上电、开机，无需人工操作。控制电路还在主机板关机之后，对主 机板自动进行断电、放电操作。模式切换开关的设置整合了测试装置在生产测试中需求的 两种测试模式，方便测试装置的工作模式切换与调试。 本发明提供的测试装置简化了操作者的操作步骤，实现测试装置的上电、开机、断 电和放电的自动化控制。 为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例， 并配合所附图式，作详细说明如下。
图1为本发明较佳实施例的测试装置的功能方块图。 图2为本发明较佳实施例中测试装置的示意图。 图3为本发明较佳实施例的自动化测试方法的流程图。 图4a为本发明一较佳实施例的测试装置在第一测试模式的工作流程图。 图4b为本发明一较佳实施例的测试装置在第二测试模式的工作流程图。
具体实施例方式图1为本发明较佳实施例的测试装置的功能方块图。 本实施例所提供的测试装置100用以测试一待测电路板200，在本实施例中，待测 电路板200例如为显示卡，但本发明并不加以限制。待测电路板200包括第一连接部201。 测试装置100包括主机板101、侦测单元102、控制电路103以及模式切换开关105，其中主 机板101包括多个第二连接部104。 待测电路板200耦接至主机板101 。例如待测电路板200可通过第一连接部201 耦接至主机板101的第二连接部104之一。对应于不同规格的待测电路板200，待测电路板 200可以耦接至主机板101的不同第二连接部104。在其它实施例中，待测电路板200亦可 通过转接卡(图未示)或转接装置来耦接主机板101。 控制电路103分别耦接主机板101、侦测单元102以及模式切换开关105。
在本实施例中，主机板101、侦测单元102、控制电路103以及模式切换开关105是 设置在一机台(图未示)的各个不同位置。主机板101是可拆卸地设置于机台。此外，主 机板101是一能正常运作的板子，在测试时，其插设有中央处理单元(CPU)、内存、储存装置 (例如HDD)等运作时的相关电子元件。由此，主机板101在耦接至待测电路板200之后， 可进行开机，以测试待测电路板200。 在本实施例中，侦测单元102用以侦测待测电路板200是否位于预设位置。当待 测电路板200位于预设位置时，则侦测单元102提供侦测信号至控制电路103，使得控制电 路103可依据侦测信号延迟预设时间(例如5秒)来控制主机板101开机，以测试待测电 路板200。有关侦测单元102的设置位置及其相关说明，容后详述。 在本实施例中，模式切换开关105用以切换控制电路103的工作模式。举例来说， 控制电路103的工作模式分为第一测试模式和第二测试模式。 第一测试模式为当主机板101对待测电路板200测试完毕后，控制电路103控制 主机板101关机。之后，操作人员取出待测电路板200，插入另一块待测电路板200之后，再 次对主机板101进行开机。 第二测试模式为当主机板101对待测电路板200测试完毕后，控制电路103控制 已开机的主机板101进入休眠模式。继而，取出待测电路板200并插入另一块待测电路板 200之后，再唤醒主机板101。 模式切换开关105使控制电路103在第一测试模式和第二测试模式之间切换。
图2为本发明较佳实施例中测试装置的示意图。有关图2的说明，敬请一并参照 图1。 测试装置100还包括机台10、至少一个夹持部106、移动部107、操作部108、功能测试连接部109以及固定部110。 在本实施例中，夹持部106、移动部107、操作部108、功能测试连接部109以及固定 部IIO设置在机台10。在本实施例中，夹持部106为两个，夹持部106用以夹持待测电路 板200。夹持部106设置在移动部107上，使得夹持部106可在移动部107上移动而变换位 置。夹持部106移动的方式可以为手动或是机械控制，本发明在此不作限制。
在本实施例中，移动部107可为一可向前转动的螺杆或其它可使得夹持部106移 动的等效装置，本发明并不对此加以限制。 在本实施例中，操作部108耦接移动部107，当操作部108运作时其可连动移动部 107，使得移动部107移动，进而使得尚未耦接主机板101的待测电路板200位于预设位置， 以耦接主机板IOI。 在本实施例中，待测电路板200耦接主机板101时也会耦接功能测试连接部109。 在其它实施例中，待测电路板200耦接主机板101时亦可不耦接功能测试连接部109。
在本实施例中，功能测试连接部109可提供电视信号源、影像信号或其它测试信 号等。在其它实施例中，功能测试连接部109例如可耦接至网络或提供与待测电路板200 相关功能的测试信号。 在本实施例中，侦测单元102设置在机台10，且侦测待测电路板200位于预设位置 时，侦测单元102提供侦测信号至控制电路103。在本实施例中，侦测单元102的侦测方式 可以为按压式侦测。在其它实施例中，侦测单元102的侦测方式亦可以是其它侦测方式，例 如是光遮断侦测、声波侦测等自动侦测方式。 在本实施例中，侦测单元102为按压式弹片，待测电路板200未移动至预设位置 时，侦测单元102的弹片弹性地凸出于机台IO表面。当待测电路板200移动至预设位置时， 则待测电路板200会按压到侦测单元102的弹片，使得侦测单元102的弹片发生变形而接 通相关电路，并提供侦测信号至控制电路103。 在本实施例中，控制电路103可包括多个延时继电器、多个继电器以及多个开关， 以达成延迟预设时间来控制主机板IOI的操作(例如开机)。在其它实施例中，控制电路 103亦可包括其它晶体管、RC延迟电路、或其它等效之元件与相关电路来达成上述操作，本 发明对此并不加以限制。 另外，在本实施例中，控制电路103与主机板101的电源电路、电源开关(图未示) 相耦接。 图3为本发明较佳实施例的自动化测试方法的流程图。有关图3的说明，敬请一 并参照图l与图2。 在步骤S300中，操作者先将测试装置100设置好，并将待测电路板200准备好，以 开始测试待测电路板200。 在步骤S305中，操作者可将待测电路板200放置在夹持部106中，以夹持住待测 电路板200。 在步骤S310中，待测电路板200被夹持部106夹持住后，操作者可操作操作部 108，以移动待测电路板200至预设位置，使得待测电路板200可耦接主机板101与功能测 试连接部109。 在步骤S315中，侦测单元102侦测待测电路板200是否位于预设位置。若待测电
6路板200位于预设位置，则待测电路板200会使得侦测单元102提供一侦测信号至控制电 路103 (步骤S320)。若待测电路板200没有位于预设位置，则侦测单元102会持续侦测待 测电路板200是否位于预设位置。 在步骤S325中，控制电路103便依据侦测信号来延迟预设时间控制主机板101开 机。 在本实施例中，当待测电路板200测试完之后，控制电路103可控制断开主机板 101的电源，且对主机板101进行失电开机，用以对主机板101放电。 另外，本实施例所提供的测试装置IOO可被切换其工作模式，使得主机板101切换 至第一测试模式或第二测试模式下操作。在本实施例中，切换方式可通过硬件或软件的设 定来达成，本发明并不对此加以限制。 图4a为本发明一较佳实施例的测试装置在第一测试模式的工作流程图。图4b为 本发明一较佳实施例的测试装置在第二测试模式的工作流程图。 有关图4a与图4b的说明，敬请一并参照图1至图3。于图4a的流程图中，其操 作与图3的流程图类似，先将测试治具推压到位，继而通过控制电路103自动接通220V电 源，且控制电路103延迟预设时间(同时进行自动计数)后自动开机，继而进行待测电路板 200的相关功能测试。在图4a中，测试装置100在第一测试模式，其在测试完待测电路板 200后，控制电路103控制主机板IOI进行软关机，继而再控制自动切断主机板101的220V 电源，控制电路103并使得主机板101自动进行放电处理。之后，操作者便可拉出待测电路 板200。若还有其它待测电路板200尚未完成测试，即生产测试未结束，则操作者可再将另 一块待测电路板200放置在夹持部106，接着再重复上述的相关操作，请参照图4a。若已完 成生产测试，则关闭整个测试装置100的电源，以进行关机处理。 于图4b中，测试装置100在第二测试模式中，在这个模式中，其操作情形皆与图4a 类似。唯，测试装置100在测试完待测电路板200后，控制电路103控制主机板101进入系 统休眠状态，直到放入另一待测电路板200，且该另一待测电路板200在预设位置之后，控 制电路103会控制主机板101由睡眠状态唤醒。 在本实施例中，切换控制电路103为第一测试模式还是第二测试模式是根据主机 板101所运行的测试程序来决定的。当主机板101运行的为一般的测试程序，即测试完成 之后关机，那么选择第一测试模式。当主机板101运行的为热插拔测试程序，即测试完成之 后主机板休眠，那么选择第二测试模式。 综上所述，本实施例所提供的测试装置提供测试机台的上电、开机、(关机)断电 与放电自动化控制。另外，测试装置提供一种自动化测试方法，其可按照实际操作的时间顺 序来对待测电路板进行生产性的顺序测试，控制机台的上电、开机、及关机后的断电与测试 完后的机台放电处理，且测试装置具有两种操作模式，常规的正常测试模式与热插拔测试 工作模式，方便机台的工作模式切换与调试。 虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技 艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围 当视权利要求书所界定者为准。
权利要求
一种测试装置，用以测试待测电路板，其特征是，上述测试装置包括主机板；侦测单元，用以侦测上述待测电路板是否位于预设位置，若上述待测电路板位于上述预设位置，则上述侦测单元提供侦测信号；以及控制电路，耦接上述侦测单元和上述主机板，且依据上述侦测信号延迟一个预设时间来控制上述主机板开机，以测试上述待测电路板。
2. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述待测电路板包括第一连接部，上述 测试装置还包括多个第二连接部，上述这些第二连接部之一用以耦接上述待测电路板的上 述第一连接部。
3. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括 移动部；以及夹持部，可滑动地设置在上述移动部，上述夹持部用以夹持上述待测电路板，使得上述 待测电路板移动而与上述主机板耦接。
4. 根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，上述侦测单元为按压式弹片，当上述待 测电路板通过上述夹持部与上述移动部移动至上述预设位置时，上述待测电路板按压上述 侦测单元，上述侦测单元发生变形并接通电路，而发出上述侦测信号。
5. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括模式切换开关，耦 接上述控制电路，以切换上述控制电路于第一测试模式或第二测试模式下操作。
6. —种自动化测试方法，用以测试待测电路板，上述待测电路板可耦接主机板，其特征 是，上述自动化测试方法包括以下步骤侦测上述待测电路板是否位于预设位置；若上述待测电路板位于上述预设位置，则提供侦测信号；以及依据上述侦测信号延迟一个预设时间来控制上述主机板开机，以测试上述待测电路板。
7. 根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征是，上述自动化测试方法还包括 夹持上述待测电路板；以及移动上述待测电路板，使得上述待测电路板于上述预设位置耦接上述主机板。
8. 根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征是，在依据上述侦测信号延迟上述 预设时间来控制上述主机板开机，以测试上述待测电路板的步骤之后，使得上述主机板关 机。
9. 根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征是，在依据上述侦测信号延迟上述 预设时间来控制上述主机板开机，以测试上述待测电路板的步骤之后，断开上述主机板的 电源。
10. 根据权利要求9所述的自动化测试方法，其特征是，在断开上述主机板的电源之 后，对上述主机板进行失电开机，用以对上述主机板放电。
11. 根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征是，上述自动化测试方法还包括 切换工作模式，使得上述主机板于第一测试模式或第二测试模式下操作。
12. 根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征是，在依据上述侦测信号延迟上述 预设时间来控制上述主机板开机，以测试上述待测电路板的步骤之后，上述主机板进入休眠状态。
13.根据权利要求12所述的自动化测试方法，其特征是，在测试另一待测电路板时，若 上述另一待测电路板位于上述预设位置，则于上述预设时间后控制上述主机板由上述休眠 状态唤醒，以测试上述另一待测电路板。
全文摘要
本发明提供一种测试装置及其自动化测试方法。测试装置用以测试一待测电路板。测试装置包括主机板、侦测单元以及控制电路，侦测单元用以侦测待测电路板是否位于预设位置。若待测电路板位于预设位置，侦测单元提供侦测信号。控制电路耦接侦测单元和主机板，且依据侦测信号延迟一个预设时间来控制主机板开机，以测试待测电路板。
文档编号G01R31/28GK101788641SQ200910003920
公开日2010年7月28日 申请日期2009年1月23日 优先权日2009年1月23日
发明者吕昭融, 崔磊, 王晓峰 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司