专利名称：适用于生产线的射频识别标签测试方法
技术领域：
本发明属于测试测量技术领域，具体涉及一种适用于生产线的射频识别标签测试方法。
背景技术：
在射频识别标签测试中，测试条件众多，在具体测试条件下所需测试的标签参数更是 繁杂，这两个原因导致完成一次完整的射频识别标签需花费较长的时间(大于1分钟)， 远远无法达到生产线测试快速、高效的要求。现有的先进的射频识别标签生产线的生产速 率是600个/分，为了使生产和测试同步，达到生产线最高生产效率，单个产品的测试时间 必须控制在IOO毫秒以内。为了满足射频识别标签测试的特殊需求，必须寻求一种全新的 测试方法，完成射频识别标签在生产线上全面的快速测试。
传统的测试方法是从众多的标签参数中选取一部分典型参数进行测试，或是对标签进 行抽样测试。但是无论是用上述方法中的任何一种，都无法达到对所有标签进行全面的测 试。
发明内容
本发明的目的在于提供一种适用于生产线的射频识别标签测试方法。
本发明提出的适用于生产线的射频识别标签测试方法，具体步骤如下
(1) 首先将标签参数分为两类，第一类标签参数对生产工艺、精度较敏感，每张标签的 测试结果各异，所以必须对每张标签进行测量，第二类标签参数对生产工艺、精度不敏感， 同一批次产品有其一致性，在测试时每张标签只需提供部分测试结果，通过将多张标签的 测试结果进行总合的方法来获得测试的最终结果，相当于对每张标签的所有第二类标签参 数都进行了测试；
(2) 将标签参数按照对测试条件的敏感程度进行分类。标签参数对第--类测试条件敏 感，所以对于这类标签参数需要在每种测试条件下都进行测试。反之，标签参数对第二类 测试条件不敏感，所以对于这类标签参数无需在每种测试条件下都进行测试。
设共有m个标签参数，其中w ;^为第一类标签参数，共k个，附,+|~附 ,为第二类标
签参数共m-k个。
又设每个标签参数对应的测试条件数分别iV,，A^,…，Wm，根据标签参数！对测试条
3件的敏感程度将标签参数分为为第一类,7V,2为第二类(Z' e L0,m]):
入， w ,2,
假设每m个标签分为一组，则 第一类标签参数所需测试项mpn为
^V,(^" +…+ D+(w,2 +…+ a^)/m
第二类标签参数所需测试项Mp,2为
mp7.2 =(+…+ wml)+(a^+1)2 +…+ a^2 )/M
则单个标签所需测试项为
m,mp7.,+mp7.2/m
每个测试项的测试时间为t;,,则每张标签所需测试时间7;,:
(^7,+m,2/m) *t; 生产线生产一个标签速度为t， 7;,sr才能使测试与生产同步，由此可计算出每一
组测试标签的数量m。
本发明只要保证芯片和天线独立组件的可靠性，合理分类标签参数，就能保证本测试 方法的测试结果相当于对所有产品测试所有测试项的测试效果，同时调整m，保证7;,符
合生产线生产速度,就能实现和射频识别标签生产同步测试。
相比较于选取具有某些代表性标签参数以提高测试速度，以此满足生产线测试速度要 求的传统测试方法，本测试方法能够覆盖所有测试项，保证产品符合所有规范，使测试更可罪。
本测试方法对所有标签进行检测，实现全检，使测试结果更可信。
本测试方法运用自动化测试流程覆盖所有测试条件和标签参数，同时提高了测试速
度，使之符合生产线测试需求。
具体实施例方式
下面通过实施例进一步说明本发明。
实施例1:以射频识别标签的生产中的Inlay生产为例，根据EPC EPCglobal对一类二 代标签的协议一致性测试标准，可调节测试参数为频率、Tari、 P正x、调制方式、RTcal、 TRcal、 DR、编码方式和TRext共计9个测试条件，具体如下1. 频率分别为860MHz、 910MHz和960MHz，即",=3;
2. Tari分别为6.25us、 12.5us和25us，即"2=3;
3. PIEx分别为0.5*Tari和l*Tari，即"3 =2;
4. 调制方式分别为DSB-ASK和PR-ASK，即 =2;
5. RTcal分别为2.5*Tari和3.0Tari，即"5 =2;
6. TRcal分别为l.l*RTcal和3*RTcal，即"6=2;
7. DR分别为8和64/3，即"7=2;
8. 编码方式分别为FM、 Miller2、 Miller4和Miller8，即"8=4;
9. TRext分别为0禾口 1,即"9 =2;
所需测试的参数有频率范围、中心频率、最小工作功率及返回信号强度、解调方式、 占空比、前导码、数据速率、响应时间、信号频率准确度、调制特性、射频信号包络、载 波稳定度、TID存储器、CRC16、各类指令、各类状态等共计70余个测试参数。
根据测试参数的特性，并非每个测试参数都需在所有测试条件下进行测试， 一般只选 取其中几种，如测试频率范围时只改变发射信号的频率，解调方式时改变解调方式和频率。
为计算方便，假设^ = ^2 =200， m=70， ， k=l/35m, 7;, =6ms.
若用传统的测试方法需测试的测试项共计A^ + A^+…+ A^-20(T70-14000，每个测试项 所需测试时间为6ms,则完成一次完整的RFID标签协议一致性测试需84秒，远大于100 毫秒，根本无法和生产线同步。
若用本发明所述测试方法，贝IJ:
门= ,, . (W,2 +... + W2)/M
=k* W,2/M ,+390/M
+ ^,*w,,,l)+(w(A+l)2 + .- + wm2)
=(m-k)* , +(m-k) * W32 /M =340+13260/M
根据(7W^ + A^,2/M) ^7;,〈100ms，只要M>126，就能保证在100ms内测完1 张标签，若一巻标签的数量为IO万张，则相当于完成了 794次完整的射频标签测试。
权利要求
1、一种适用于生产线的射频识别标签测试方法，其特征在于具体步骤如下(1)首先将标签参数分为两类第一类标签参数对生产工艺、精度较敏感，每张标签的测试结果各异，必须对每张标签进行测量；第二类标签参数对生产工艺、精度不敏感，同一批次产品有一致性，在测试时每张标签只需提供部分测试结果，通过将多张标签的测试结果进行总合的方法来获得测试的最终结果，相当于对每张标签的所有第二类标签参数都进行测试；(2)将标签参数按照对测试条件的敏感程度进行分类标签参数对第一类测试条件敏感，对于这类标签参数需要在每种测试条件下都进行测试；反之，标签参数对第二类测试条件不敏感，对于这类标签参数无需在每种测试条件下都进行测试；设共有m个标签参数，其中m1～mk为第一类标签参数，共k个，mk+1～mm为第二类标签参数共m-k个；又设每个标签参数对应的测试条件数分别N1，N2，…，Nm，根据标签参数i对测试条件的敏感程度将标签参数分为Ni1为第一类，Ni2为第二类(i∈
)假设每M个标签分为一组，则第一类标签参数所需测试项MpT1为MpT1＝(N11+…+Nk1)+(N12+…+Nk2)/M第二类标签参数所需测试项MpT2为MpT2＝(N(k+1)1+…+Nm1)+(N(k+1)2+…+Nm2)/M则单个标签所需测试项MpT为MpT＝MpT1+MpT2/M每个测试项的测试时间为Tpi，则每张标签所需测试时间TpTTpT＝(MpT1+MpT2/M)*Tpi生产线生产一个标签速度为T，TpT≤T才能使测试与生产同步，由此可计算出标签数M。
全文摘要
本发明属于测试测量技术领域，具体涉及一种适用于生产线的射频识别标签测试方法。具体步骤为将标签参数分为两类，第一类标签参数对生产工艺、精度较敏感，必须对每张标签进行测量，第二类标签参数对生产工艺、精度不敏感，通过将多张标签的测试结果进行总合的方法来获得测试的最终结果，相当于对每张标签的所有第二类标签参数都进行了测试；将标签参数按照对测试条件的敏感程度进行分类。本发明只要保证芯片和天线独立组件的可靠性，合理分类标签参数，就能保证本测试方法的测试结果相当于对所有产品测试所有测试项的测试效果，同时调整M，保证T<sub>pT</sub>符合生产线生产速度，就能实现和射频识别标签生产同步测试。相比较于传统测试方法，本方法能够覆盖所有测试项，保证产品符合所有规范，使测试更可靠。
文档编号G01R31/28GK101487875SQ20091004666
公开日2009年7月22日 申请日期2009年2月26日 优先权日2009年2月26日
发明者何婷婷, 晖 邵, 柯 陈 申请人:上海聚星仪器有限公司