专利名称：一种附加磁场检测方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及磁共振技术，特别涉及一种磁共振系统中的附加磁场检测方法和装置。
背景技术：
在磁共振系统中，由梯度脉冲所引起的磁场会附加在主磁场上，并衰减足够长的 时间，因此，可将这种由梯度脉冲所引起的磁场称为附加磁场。附加磁场的存在会对磁共振 系统中采集到的图像的图像质量造成严重影响，因此，希望能够检测出附加磁场的变化情 况，以便根据其变化情况对所采集的图像进行调整，以得到质量更好的图像，但现有技术中 还没有一种有效的附加磁场检测技术，来有效地检测出附加磁场的变化情况。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种附加磁场检测方法，能够有效地检测 出附加磁场的变化情况。本发明的另一目的在于提供一种附加磁场检测装置，能够有效地检测出附加磁场 的变化情况。为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的一种附加磁场检测方法，包括生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号； 其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减 信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。其中，所述获取两个自由感应衰减信号包括施加两个射频脉冲；在每个射频脉冲结束后，分别采集得到一个自由感应衰减信号。较佳地，所述采集得到自由感应衰减信号包括利用模数转换器采集得到自由感 应衰减信号。较佳地，所述通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情 况包括利用所述第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主磁场和附加磁场所组成 的混合磁场的变化情况；利用所述第二个自由感应衰减信号的相位计算得到主磁场的变化情况；通过比较所述混合磁场的变换情况以及所述主磁场的变化情况，确定所述附加磁 场的变化情况。其中，所述利用第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主磁场和附加磁 场所组成的混合磁场的变化情况包括利用以下公式计算得到混合磁场的变化情况
4Bm(t)=·^;其中，所述表示所述第一个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述 2πγφ,⑴
Y表示氢质子的磁旋比，所述Bm(t)表示混合磁场的变化情况；所述利用第二个自由感应衰减信号的相位计算得到主磁场的变化情况包括利用
以下公式计算得到主磁场的变化情况=BlXt)="^ ；其中，所述表示所述第二个自由
感应衰减信号的相位的一阶导数，所述Y表示氢质子的磁旋比；所述BtlU)表示主磁场的 变化情况。所述φ 和(p2’(t)通过数字微分计算得到；其中，
权利要求
一种附加磁场检测方法，该方法包括生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号；其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取两个自由感应衰减信号包括 施加两个射频脉冲；在每个射频脉冲结束后，分别采集得到一个自由感应衰减信号。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用模数转换器采集自由感应衰减信号。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过分析两个自由感应衰减信号的 相位差，确定附加磁场的变化情况包括利用所述第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主磁场和附加磁场所组成的混 合磁场的变化情况；利用所述第二个自由感应衰减信号的相位计算得到主磁场的变化情况； 通过比较所述混合磁场的变换情况以及所述主磁场的变化情况，确定所述附加磁场的 变化情况。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用以下公式计算得到混合磁场的变化情况Bm(t)=·^;其中，所述v、表示所述2ττγφ 丨(t)第一个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述Y表示氢质子的磁旋比，所述Bm (t)表 示混合磁场的变化情况；利用以下公式计算得到主磁场的变化情况-B^t)=·^^;其中，所述表示所述第2πγφ2 (t)二个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述Y表示氢质子的磁旋比；所述BtlU)表示 主磁场的变化情况。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述φ/Ct^ncp2(t)通过数字微分计算得 到；其中，12h3h(φ2(^)-φ2( +2Η))+^(φ2( +Η)-φ2(1-Η))； 12h3h所述h表示采样间隔。
7.一种附加磁场检测装置，包括一个生成获取单元(31)，用于生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取 两个自由感应衰减信号；其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影 响，第二个自由感应衰减信号只受到主磁场的影响；一个分析单元(32)，用于通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的 变化情况。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述生成获取单元(31)包括 一个生成子单元(311)，用于生成被测梯度脉冲；一个获取子单元(312)，用于在所述被测梯度脉冲结束后，施加两个射频脉冲，并在每 个射频脉冲结束后，分别采集得到一个自由感应衰减信号。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述分析单元(32)包括一个计算子单元(321)，用于利用所述第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主 磁场和附加磁场所组成的混合磁场的变化情况，利用所述第二个自由感应衰减信号的相位 计算得到主磁场的变化情况；一个确定子单元(322)，用于通过比较所述混合磁场的变换情况以及所述主磁场的变 化情况，确定所述附加磁场的变化情况。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述计算子单元(321)包括 一个第一处理子单元(3211)，用于利用以下公式计算得到混合磁场的变化情况Bm(t)=·^;其中，所述“表示所述第一个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述 2πγφ丨⑴Y表示氢质子的磁旋比，所述Bm (t)表示混合磁场的变化情况；一个第二处理子单元(3212)，用于利用以下公式计算得到主磁场的变化情况Bq(t)=·^^;其中，所述表示所述第二个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述 2πγφ2 (t)Y表示氢质子的磁旋比；所述BtlU)表示主磁场的变化情况。
全文摘要
本发明公开了一种附加磁场检测方法，包括生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号；其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。本发明同时公开了一种附加磁场检测装置。应用本发明所述的方法和装置，能够有效地检测出附加磁场的变化情况。
文档编号G01R33/24GK101963656SQ20091015775
公开日2011年2月2日 申请日期2009年7月24日 优先权日2009年7月24日
发明者戴勇鸣, 贺强 申请人:西门子迈迪特(深圳)磁共振有限公司